JPH07105041B2 - Glide tester of magnetic disk - Google Patents
Glide tester of magnetic diskInfo
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- JPH07105041B2 JPH07105041B2 JP4839587A JP4839587A JPH07105041B2 JP H07105041 B2 JPH07105041 B2 JP H07105041B2 JP 4839587 A JP4839587 A JP 4839587A JP 4839587 A JP4839587 A JP 4839587A JP H07105041 B2 JPH07105041 B2 JP H07105041B2
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Landscapes
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Magnetic Record Carriers (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、磁気ディスクの表面に存在する突起の除去
とその結果を検査する、磁気ディスクのグライドテスタ
ーに関するものである。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a glide tester for a magnetic disk, which removes protrusions existing on the surface of the magnetic disk and inspects the results.
[従来の技術] コンピュータシスタムの記憶装置として使用される磁気
ディスクは、磁気媒体の微細化と性能の向上によります
ます高密度化している。このために、その表面は極めて
平滑なことが要求される。磁気ディスクの製造において
は、磁気媒体膜を塗布後、これを平滑にするため研磨
(グラインド)されるが、研磨してもある程度、平滑度
(グライド)を阻害する突起があるので、さらにバーニ
ッシュとよばれる工程により突起の除去がなされてい
る。このようなバーニッシュ工程に併せて突起の有無が
検査される。この場合、研磨工程においては研磨屑の微
粒子が多量に発生するので、それが検査装置およびその
周辺に侵入するのを避けて、バーニッシュと検査は研磨
と別の工程とし、一括してグライドテスターにより行わ
れている。[Prior Art] A magnetic disk used as a storage device of a computer system is becoming higher in density due to miniaturization of a magnetic medium and improvement of performance. This requires that the surface be extremely smooth. In the manufacture of magnetic disks, after coating a magnetic medium film, it is ground (grinded) to make it smooth, but even if it is polished, there are protrusions that hinder the smoothness (glide) to some extent. The protrusion is removed by a process called. In addition to the burnishing process, the presence or absence of protrusions is inspected. In this case, a large amount of fine particles of polishing dust are generated in the polishing process, so avoid invading it into the inspection device and its surroundings, and burnish and inspection are separate processes from polishing, and the glide tester is used collectively. Is done by.
ここで、グライドテスターにおける、突起のバーニッシ
ュと検査の方法について説明する。Here, a method of burnishing and inspecting the protrusions in the glide tester will be described.
第5図は磁気ディスク装置において、書き込み/読み出
し用の磁気ヘッドの浮上動作を説明するもので、磁気デ
ィスク1が矢印θ方向に回転すると、表面に矢印Aで示
すエアフローが生ずる。これに対して磁気ヘッド2を保
持するスライダー2aが図示のように傾斜しているので浮
上し、磁気ヘッド2は表面と非接触の状態で磁気媒体と
の間に作用する。なお、スライダー2aは、ばね4により
適当な力で下方に付勢されている。また、浮上の高さΔ
hは0.2μm程度の微小なものである。グライドテスタ
ーにおいては、この磁気ヘッドと同様の浮上特性で突起
検査を行うことが必要で、このために第5図に示したス
ライダー2aと同一のスライダー3aを使用し、磁気ヘッド
2の代わりに、ピエゾ素子による突起センサ3bを取り付
けて突起検出ヘッド3とする。突起センサ3bは突起5と
の衝突の際の衝撃力により起電力を発生して突起の存在
を検出する。FIG. 5 illustrates the floating operation of the write / read magnetic head in the magnetic disk device. When the magnetic disk 1 rotates in the direction of arrow θ, an air flow indicated by arrow A is generated on the surface. On the other hand, since the slider 2a holding the magnetic head 2 is inclined as shown in the figure, the slider 2a floats, and the magnetic head 2 acts between the magnetic medium and the surface thereof in a non-contact state. The slider 2a is urged downward by a spring 4 with an appropriate force. Also, the flying height Δ
h is as small as 0.2 μm. In the glide tester, it is necessary to perform a protrusion inspection with the same flying characteristics as this magnetic head. For this purpose, the same slider 3a as the slider 2a shown in FIG. 5 is used, and instead of the magnetic head 2, The protrusion detection head 3 is formed by attaching the protrusion sensor 3b using a piezo element. The protrusion sensor 3b generates an electromotive force by the impact force at the time of collision with the protrusion 5 to detect the presence of the protrusion.
第6図は、グライドテスターのバーニッシュヘッド6の
説明図で、前記の磁気ヘッドと同様に、エアフローAに
より浮上するスライダー方式とするが、スライダーとし
ては、磁気ヘッドのものより硬い材料のものとし、磁気
ディスク1の表面側に例えば斜方向の鋭い切り刃6aが刻
まれており、突起5がこれに衝突すると削り取られて、
バーニッシュされるものである。なお、ばね4の押圧力
も、磁気ヘッドの場合より大きくされる。FIG. 6 is an explanatory view of the burnish head 6 of the glide tester. Like the magnetic head described above, a slider system that floats by the air flow A is used, but the slider is made of a harder material than that of the magnetic head. , A sharp cutting edge 6a in the oblique direction is carved on the surface side of the magnetic disk 1, and when the projection 5 collides with this, it is scraped off,
It will be burnished. The pressing force of the spring 4 is also made larger than that of the magnetic head.
第7図は従来使用されているグライドテスターの構成図
で、突起検出ヘッド3とバーニッシュヘッド6がそれぞ
れ、磁気ディスク1の半径のR1およびR2方向に移動する
キャリッジ7および8に取り付けられている。モータ7a
によりキャリッジ7の移動部7bが移動して、その先端の
バーニッシュヘッド6により、突起5のバーニッシュ作
業を行い、またモータ8aによりキャリッジ8の移動部8b
が移動して、突起検出ヘッド3により突起5のバーニッ
シュの結果の検査を行う。FIG. 7 is a block diagram of a conventionally used glide tester, in which the projection detecting head 3 and the burnishing head 6 are attached to carriages 7 and 8 which move in the directions R 1 and R 2 of the radius of the magnetic disk 1, respectively. ing. Motor 7a
The moving portion 7b of the carriage 7 is moved by this, the burnishing work of the projection 5 is performed by the burnishing head 6 at the tip thereof, and the moving portion 8b of the carriage 8 is moved by the motor 8a.
Is moved, and the result of burnishing of the protrusion 5 is inspected by the protrusion detection head 3.
さて、磁気ディスク1の表面には、大きさ、形状の異な
るさまざまな突起が存在しており、実際のバーニッシュ
とその検査作業は単純でなく、むしろかなり複雑であ
る。すなわち、まず突起検査が行われて、突起の位置が
メモリに記憶され、この位置を対象としてバーニッシュ
が数回行われた後、検査を行い、その結果が十分でない
ときはさらにバーニッシュが繰り返されるもので、特に
突起が大きいときは、バーニッシュと検査の交互の繰り
返しが何回か続く。また、バーニッシュにおける回転速
度の取り方、押圧力の調整、ないしはバーニッシュヘッ
ドの移動方向、速度などが重要であるなど、グライドテ
スターの使用にはノウハウがあり、いずれにしても、煩
さな作業である。この場合、バーニッシュと検査の切り
替えには、バーニッシュヘッドと突起検出ヘッドの交換
のために時間を必要とし、所要時間すなわちタクトタイ
ムが長くなることが問題である。By the way, since various protrusions having different sizes and shapes are present on the surface of the magnetic disk 1, the actual burnish and its inspection work are not simple but rather rather complicated. That is, the protrusion inspection is first performed, the position of the protrusion is stored in the memory, the burnish is performed several times at this position, and then the inspection is performed, and when the result is not sufficient, the burnish is repeated. When the protrusion is large, the varnish and the inspection are alternately repeated several times. In addition, there is know-how to use the glide tester, such as how to take the rotation speed in the burnish, adjustment of the pressing force, or the moving direction and speed of the burnish head are important, and in any case, it is troublesome. It is work. In this case, switching between the burnishing and the inspection requires time for exchanging the burnishing head and the protrusion detecting head, which causes a problem that the required time, that is, the tact time becomes long.
これに対して、バーニッシュヘッドに突起検出センサを
取り付けて、バーニッシュと検査作業を一元的に同時処
理する考えがあるが、バーニッシュヘッドは、実用の磁
気ディスク装置の磁気ヘッドと形状、重量が異なるので
荷重、浮上特性が相違するので、精度のよい突起の検査
ができない。On the other hand, it is considered that a protrusion detection sensor is attached to the burnish head to carry out the burnishing and the inspection work centrally and simultaneously, but the burnishing head is similar to the magnetic head of a practical magnetic disk device in shape and weight. Since the load and the levitation characteristics are different, it is impossible to accurately inspect the protrusion.
以上に対して、バーニッシュと検査の交互の切り替え回
数をできるだけ減少して、タクトタイムを短縮できる効
果的なグライドテスターが望ましい。On the other hand, it is desirable to have an effective glide tester capable of shortening the tact time by reducing the number of times the burnish and inspection are alternately switched as much as possible.
[発明の目的] この発明は、上記した事情に鑑み、従来のグライドテス
ターの欠点であるバーニッシュと突起検査作業り切り替
え回数を減少できる。グライドテスターを提供すること
を目的とするものである。[Object of the Invention] In view of the above circumstances, the present invention can reduce the number of times of switching between burnish and projection inspection work, which is a drawback of the conventional glide tester. The purpose is to provide a glide tester.
[問題点を解決するための手段] この発明は、回転する磁気ディスクの表面に生ずるエア
フローにより浮上し、表面に存在する突起に衝突して突
起を除去するバーニッシュヘッドと、バーニッシュヘッ
ドに突起の大きさの大凡の概略値を検出する第1の突起
センサを取り付け、バーニッシュヘッドによる突起の除
去作業の後、表面に残留する突起を高精度で検出する第
2の突起センサを有する突起検出ヘッドとよりなる磁気
ディスクのグライドテスターである。[Means for Solving Problems] The present invention is directed to a burnish head that floats by an air flow generated on the surface of a rotating magnetic disk and collides with a projection existing on the surface to remove the projection, and a projection on the burnish head. With a first protrusion sensor for detecting the approximate value of the size of the protrusion, and a protrusion protrusion having a second protrusion sensor for detecting the protrusion remaining on the surface with high accuracy after the protrusion removal work by the burnish head. It is a glide tester for magnetic disks consisting of a head.
実施態様としては、磁気ディスクの回転中心において直
交又は対向する、磁気ディスクの半径方向に移動可能な
2組のキャリッジを設け、その一方のキャリッジに磁気
ディスクの上側表面および下側表面にそれぞれ対向す
る、第1の突起センサを有する2個のバーニッシュヘッ
ドを設け、また他の一方に、上記の上側表面および下側
表面に対向する、第2の突起センサを有する2個の突起
検出ヘッドを設けたものである。As an embodiment, two sets of carriages that are orthogonal to or opposite to each other in the center of rotation of the magnetic disk and are movable in the radial direction of the magnetic disk are provided, and one carriage is opposed to the upper surface and the lower surface of the magnetic disk, respectively. Provided are two burnishing heads having a first protrusion sensor, and at the other one are provided two protrusion detection heads having a second protrusion sensor facing the above-mentioned upper surface and lower surface. It is a thing.
また別の実施態様としては、磁気ディスクの周辺部に、
磁気ディスクの半径方向に移動するY軸キャリッジを設
け、このY軸キャリッジの移動部に半径と直角方向に移
動するX軸キャリッジを取り付け、X軸キャリッジに、
磁気ディスクの上側表面および下側表面にそれぞれ対向
する、第1の突起センサを有する2個のバーニッシュヘ
ッドと、上記の上側表面および下側表面にそれぞれ対向
する、第2の突起センサを有する2個の突起検出ヘッド
とを、一定間隔で配設したものである。As another embodiment, in the peripheral portion of the magnetic disk,
A Y-axis carriage that moves in the radial direction of the magnetic disk is provided, and an X-axis carriage that moves in the direction perpendicular to the radius is attached to the moving portion of the Y-axis carriage.
Two burnish heads each having a first protrusion sensor facing the upper surface and the lower surface of the magnetic disk, and two burnish heads having a second protrusion sensor respectively facing the upper surface and the lower surface. The projection detecting heads are arranged at regular intervals.
[作用] この発明による磁気ディスクのグライドテスターにおい
ては、バーニッシュヘッドにより磁気ディスクの表面の
突起をバーニッシュするとともに、第1の突起センサに
より突起の大きさについて大凡の値を検出するのであ
る。たたし、バーニッシュヘッドの浮上などの動作特性
は、磁気ディスク装置の磁気ヘッドに比較してかなり鈍
いので、えられる検出データは突起の概略の大きさに限
られている。しかし、バーニッシュの繰り返しにより、
漸次突起が削り取られる状況が第1の突起センサにより
随時観察できるので、バーニッシュ作業が円滑に行われ
る。このような突起の検査を併用したバーニッシュ作業
が十分なされた後、突起検出ヘッドに切り替えて、第2
の突起センサにより精度の高い最終的な検査を行い、グ
ライドテストを完了するものである。これにより、従来
のグライドテスターにおけるより、ヘッドの切り替え回
数が減少して、タクトタイムを大幅に短縮するものであ
る。[Operation] In the glide tester for a magnetic disk according to the present invention, the burnishing head burns the projection on the surface of the magnetic disk, and the first projection sensor detects an approximate value of the size of the projection. However, since the operating characteristics such as the flying of the burnish head are considerably dull as compared with the magnetic head of the magnetic disk device, the obtained detection data is limited to the approximate size of the protrusion. However, due to repeated burnishing,
Since the first protrusion sensor can observe the situation where the protrusions are gradually scraped off, the burnishing work can be performed smoothly. After sufficient burnishing work is performed in combination with such a protrusion inspection, the protrusion detection head is switched to the second
The glide test is completed by performing a highly accurate final inspection with the projection sensor of. As a result, the number of times the heads are switched is reduced as compared with the conventional glide tester, and the takt time is greatly shortened.
[実施例] 第1図は、この発明による磁気ディスクのグライドテス
ターにおいて、第1の突起センサ3b′を有するバーニッ
シュヘッド6の構造の実施例を示す図で、既述した従来
と同様のスライダー6aの溝6bにピエゾ素子の第1の突起
センサ3b′を埋め込み固定する。バーニッシュヘッド6
のバーニッシュ作用は従来と同じであるが、浮上などの
動作特性は、磁気ヘッドに比較して緩慢であるので、第
1の検出センサ3b′の検出感度は鈍く、突起の概略の大
きさを知りうるのみである。[Embodiment] FIG. 1 is a view showing an embodiment of the structure of a burnish head 6 having a first protrusion sensor 3b 'in a glide tester for a magnetic disk according to the present invention, and a slider similar to the conventional one described above. The first protrusion sensor 3b 'of the piezo element is embedded and fixed in the groove 6b of 6a. Burnish head 6
Has the same burnishing action as that of the conventional one, but the operating characteristics such as levitation are slower than those of the magnetic head, so the detection sensitivity of the first detection sensor 3b 'is low, and the approximate size of the protrusion is I can only know.
第2図(a),(b)は、この発明による発明による磁
気ディスクのグライドテスターの実施例の構造を示す平
面図である。図(a)において、磁気ディスク1に対し
て、その回転中心0で直交するR1およびR2の2方向にバ
ーニッシュヘッド6および突起検出ヘッド3をそれぞれ
移動するキャリッジ7および8を設ける。バーニッシュ
ヘッド6には上記した第1の検出センサ3b′が取り付け
られている。また、突起検出センサ3は既述した従来の
ものと同様とし、スライダー3aに第2の検出センサ3bを
取り付けたものである。図(b)は、磁気ディスク1の
周辺部で直交するX,Y軸をとり、Y軸を磁気ディスク1
の半径Rの方向として、この方向に移動するキャリッジ
9を設け、その移動部(図示を省略)にX軸方向に移動
するキャリッジ10を取り付ける。キャリッジ10の移動部
(図示を省略)に支持棒10bを用いて、バーニッシュヘ
ッド6および突起検出ヘッド3を一定間隔で配設する。
なお、図(a)と(b)はキャリッジの配置が異なる
が、両者のバーニッシュヘッド6と突起検出ヘッド3は
磁気ディスク1の表面上を任意に移動して同様な動作を
行うものである。2 (a) and 2 (b) are plan views showing the structure of an embodiment of a glide tester for a magnetic disk according to the present invention. In FIG. 1A, carriages 7 and 8 for moving the burnishing head 6 and the projection detecting head 3 in two directions R 1 and R 2 orthogonal to the rotation center 0 are provided for the magnetic disk 1. The above-mentioned first detection sensor 3b 'is attached to the burnish head 6. The protrusion detection sensor 3 is similar to the conventional one described above, and the second detection sensor 3b is attached to the slider 3a. FIG. 1B shows the X and Y axes which are orthogonal to each other in the peripheral portion of the magnetic disk 1, and the Y axis is the magnetic disk 1.
The carriage 9 that moves in this direction is provided as the direction of the radius R, and the carriage 10 that moves in the X-axis direction is attached to the moving portion (not shown). The burnish head 6 and the projection detection head 3 are arranged at regular intervals by using a support rod 10b on a moving portion (not shown) of the carriage 10.
Although the arrangement of the carriage is different between FIGS. (A) and (b), the burnishing head 6 and the projection detecting head 3 of both of them perform the same operation by arbitrarily moving on the surface of the magnetic disk 1. .
第3図は、第2図(a)に対する側面を示す図で、ベー
ス盤11の中心部にはスピンドル12が設けられこの上に磁
気ディスク1が載置される。磁気ディスク1の周辺部に
おいてベース盤11に配設されたキャリッジ7および8に
は、磁気ディスク1の上側表面および下側表面に対向し
て、それぞれ2個のバーニッシュヘッド6−1,6−2お
よび突起検出ヘッド3−1,3−2とが取り付けられる。
これにより、バーニッシュおよび検査作業は、上、下両
面を同時に行うことができる。モータ7a,8aはキャリッ
ジ7,8の回転用である。FIG. 3 is a view showing a side surface with respect to FIG. 2 (a), in which a spindle 12 is provided at the center of the base board 11 and the magnetic disk 1 is mounted thereon. On the carriages 7 and 8 arranged on the base board 11 in the peripheral portion of the magnetic disk 1, two burnish heads 6-1 and 6- are provided so as to face the upper surface and the lower surface of the magnetic disk 1, respectively. 2 and the protrusion detection heads 3-1 and 3-2 are attached.
As a result, the burnishing and inspection work can be performed on both the upper and lower surfaces at the same time. The motors 7a and 8a are for rotating the carriages 7 and 8.
第4図は、この発明による磁気ディスクのグライドテス
ターの実施例における回路の基本構成図である。図にお
いて、マイクロコンピュータ19の制御により、ドライバ
A13−1およびドライバB13−2より駆動電流がモーター
AおよびモータBの供給されて、それぞれキャリッジ7
またはキャリッジ8が移動する。また、同様にドライバ
Cよりの電流によりスピンドル12が回転する。FIG. 4 is a basic configuration diagram of a circuit in an embodiment of a glide tester for a magnetic disk according to the present invention. In the figure, the driver is controlled by the control of the microcomputer 19.
Driving currents are supplied from the motor A and the motor B from the driver A13-1 and the driver B13-2, respectively, and the carriage 7 is driven.
Alternatively, the carriage 8 moves. Similarly, the current from the driver C causes the spindle 12 to rotate.
2個の第1の突起センサ3b′−1,3b′−2、および2個
の第2の突起センサ3b−1,3b−2は、それぞれプリアン
プ14−1,14−2,14−3および14−4により適当に増幅さ
れて、マイクロコンピュータ15の指示により、動作中の
ものが選択回路15により選択されてメインアンプ16、バ
ンドパス・フィルタ17を経て突起検出回路18に入力す
る。ここで、バンドパス・フィルタ17は、突起センサ3
b,3b′の検出した信号に含まれる、センサの固有振動な
どの不用な高周波部分をカットし、突起に衝突した瞬間
の基本波のみを捕らえるためのものである。The two first protrusion sensors 3b'-1, 3b'-2 and the two second protrusion sensors 3b-1, 3b-2 are respectively preamplifiers 14-1, 14-2, 14-3 and The signal is appropriately amplified by 14-4, and the one in operation is selected by the selection circuit 15 according to the instruction of the microcomputer 15 and input to the protrusion detection circuit 18 via the main amplifier 16 and the bandpass filter 17. Here, the bandpass filter 17 is the protrusion sensor 3
This is for cutting unnecessary high-frequency parts such as the natural vibration of the sensor included in the signals detected by b and 3b ', and capturing only the fundamental wave at the moment of collision with the protrusion.
突起検出回路18には、端子18aに予め閾値Vsを設定し、
これを越える検出電圧を有意として出力しノイズをカッ
トする。突起検出回路18の出力信号はマイクロコンピュ
ータ19により所定の処理がなされる。既に述べたよう
に、グライドテスターによるバーニッシュおよび突起検
査作業は、大小さまざまな突起に対して、多数回が繰り
返されるものであるが、この発明においては、バーニッ
シュヘッド6に設けられた突起センサ3b′により、バー
ニッシュの作業中に随時に突起の削り取られる状態が随
時に検出できるもので、従来のグライドテスターにおけ
るような、ヘッドの切り替えは不用である。なお、バー
ニッシュおよび検査作業は経験をもととしたデータによ
りすべてマイクロコンピュータ19により行われるもので
あるが、上記の機構および回路はそれらの制御に十分対
応できるものである。In the protrusion detection circuit 18, the threshold value V s is set in advance at the terminal 18a,
The detection voltage exceeding this is output as significant and noise is cut. The output signal of the protrusion detection circuit 18 is subjected to predetermined processing by the microcomputer 19. As described above, the burnish and protrusion inspection work by the glide tester is repeated a large number of times for protrusions of various sizes, but in the present invention, the protrusion sensor provided on the burnish head 6 is used. With 3b ', the state where the projection is scraped off can be detected at any time during the burnishing work, and the head switching as in the conventional glide tester is unnecessary. It should be noted that the burnishing and inspecting operations are all performed by the microcomputer 19 based on empirical data, but the above-described mechanism and circuit are sufficiently capable of controlling them.
[発明の効果] 以上の説明により明らかなように、この発明による磁気
ディスクのグライドテスターによれば、バーニッシュ作
業中に、突起がバーニッシュされて漸次消滅する状態
が、突起検出ヘッドに切り替えることなくバーニッシュ
ヘッドのままで随時に検出して観察できるので、各種さ
まざまな大きさ、形状の突起を効率よくバーニッシュす
ることが可能となる。また、これによりタクトタイムが
大幅に短縮できる効果には、はなはだ大きいものがあ
る。[Effects of the Invention] As is apparent from the above description, according to the glide tester for a magnetic disk of the present invention, the state in which the protrusions are burnished and gradually disappear during the burnishing operation is switched to the protrusion detection head. Since it is possible to detect and observe any time with the burnish head as it is, it is possible to efficiently burnish protrusions of various sizes and shapes. In addition, the effect that the tact time can be greatly shortened by this is extremely large.
第1図は、この発明による磁気ディスクのグライドテス
ターにおいて、第1の突起センサを取り付けたバーニッ
シュヘッドの構造図、第2図(a)および(b)は、こ
の発明による磁気ディスクのグライドテスターの実施例
の構造を示す平面図、第3図は第2図(a)に対する側
面図、第4図は第3図に対する回路の基本構成図、第5
図は磁気ヘッドおよびグライドテスターの突起検出ヘッ
ドの構造図、第6図は従来のグライドテスターのバーニ
ッシュヘッドの構造図、第7図は従来のグライドテスタ
ーにおける、バーニッシュヘッドと突起検出ヘッドの配
置と動作を説明する平面図である。 1……磁気ディスク、2……磁気ヘッド、2a,3a……ス
ライダー、3b,3b′……突起センサ、4……ばね、4…
…突起、6……バーニッシュヘッド、6a……切り刃、6b
……溝、7,8,9,10……キャリッジ、10b……支持棒、11
……ベース盤、12……スピンドル、13……ドライバ、14
……プリアンプ、15……選択回路、16……メインアン
プ、17……バンドパス・フィルタ、18……突起検出回
路、18a……端子、19……マイクロコンピュータ。FIG. 1 is a structural diagram of a burnish head in which a first protrusion sensor is mounted in a magnetic disk glide tester according to the present invention, and FIGS. 2A and 2B are magnetic disk glide tester according to the present invention. 3 is a plan view showing the structure of the embodiment of FIG. 3, FIG. 3 is a side view with respect to FIG. 2 (a), FIG. 4 is a basic configuration diagram of a circuit with respect to FIG. 3, and FIG.
Fig. 6 is a structural diagram of a magnetic head and protrusion detection head of a glide tester, Fig. 6 is a structural diagram of a burnish head of a conventional glide tester, and Fig. 7 is an arrangement of a burnish head and a protrusion detection head in a conventional glide tester. It is a top view explaining the operation. 1 ... magnetic disk, 2 ... magnetic head, 2a, 3a ... slider, 3b, 3b '... protrusion sensor, 4 ... spring, 4 ...
… Protrusions, 6 …… Burnish head, 6a …… Cutting blade, 6b
...... Groove, 7,8,9,10 …… Carriage, 10b …… Support rod, 11
...... Base board, 12 ...... Spindle, 13 ...... Driver, 14
...... Preamplifier, 15 …… Selection circuit, 16 …… Main amplifier, 17 …… Band pass filter, 18 …… Protrusion detection circuit, 18 a …… Terminal, 19 …… Microcomputer.
Claims (3)
フローにより浮上し、該表面に存在する突起に衝突して
該突起を除去するバーニッシュヘッドと、該バーニッシ
ュヘッドに該突起の大きさの大凡の概略値を検出する第
1の突起センサを取り付け、上記バーニッシュヘッドに
よる突起の除去作業の後、上記表面に残存する突起を高
精度で検出する第2の突起センサを有する突起検出ヘッ
ドとよりなることを特徴とする、磁気ディスクのグライ
ドテスター。1. A burnish head which floats by an air flow generated on the surface of a rotating magnetic disk and collides with a projection existing on the surface to remove the projection, and the size of the projection on the burnish head. And a projection detection head having a second projection sensor for highly accurately detecting the projections remaining on the surface after the work of removing the projections by the burnish head is attached. A glide tester for magnetic disks, which is characterized by
のキャリッジを設け、該2組のキャリッジの一方に、上
記磁気ディスクの上側表面および下側表面にそれぞれ対
向する、上記第1の突起センサを有する2個のバーニッ
シュヘッドを設け、かつ上記2組のキャリッジの他の一
方に、上記上側表面および下側表面にそれぞれ対向す
る、上記第2の突起センサを有する2個の突起検出ヘッ
ドを設けた、特許請求の範囲第1項記載の磁気ディスク
のグライドテスター。2. A first projection, wherein two sets of carriages that are movable in the radial direction of the magnetic disk are provided, and one of the two carriages faces the upper surface and the lower surface of the magnetic disk, respectively. Two protrusion detection heads provided with two burnish heads each having a sensor and having the second protrusion sensor, which faces the upper surface and the lower surface of the other carriage of the two sets, respectively. The glide tester for a magnetic disk according to claim 1, further comprising:
の半径方向に移動するY軸キャリッジを設け、該Y軸キ
ャリッジの移動部に該半径と直角方向に移動するX軸キ
ャリッジを取り付け、該X軸方向のキャリッジに、上記
磁気ディスクの上側表面および下側表面にそれぞれ対向
する、上記第1の突起センサを有する2個のバーニッシ
ュヘッドと、上記上側表面および下側表面にそれぞれ対
向する、上記第2の突起センサを有する2個の突起検出
ヘッドとを一定間隔で配設した、特許請求の範囲第1項
記載の磁気ディスクのグライドテスター。3. A Y-axis carriage that moves in the radial direction of the magnetic disk is provided in the peripheral part of the magnetic disk, and an X-axis carriage that moves in the direction perpendicular to the radius is attached to the moving part of the Y-axis carriage. Two burnish heads having the first protrusion sensor, which face the upper surface and the lower surface of the magnetic disk, respectively, and a carriage in the X-axis direction, which face the upper surface and the lower surface, respectively. The glide tester for a magnetic disk according to claim 1, wherein the two protrusion detection heads having the second protrusion sensor are arranged at regular intervals.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4839587A JPH07105041B2 (en) | 1987-03-03 | 1987-03-03 | Glide tester of magnetic disk |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4839587A JPH07105041B2 (en) | 1987-03-03 | 1987-03-03 | Glide tester of magnetic disk |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63214916A JPS63214916A (en) | 1988-09-07 |
| JPH07105041B2 true JPH07105041B2 (en) | 1995-11-13 |
Family
ID=12802109
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4839587A Expired - Lifetime JPH07105041B2 (en) | 1987-03-03 | 1987-03-03 | Glide tester of magnetic disk |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07105041B2 (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2588622B2 (en) * | 1990-02-05 | 1997-03-05 | 株式会社日立製作所 | Adhesion measuring device |
| JP2606395B2 (en) * | 1990-02-05 | 1997-04-30 | 富士電機株式会社 | Method for removing surface protrusions on magnetic disk |
| JP4513655B2 (en) * | 2005-06-09 | 2010-07-28 | 富士電機デバイステクノロジー株式会社 | Method for inspecting magnetic medium protrusions |
-
1987
- 1987-03-03 JP JP4839587A patent/JPH07105041B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63214916A (en) | 1988-09-07 |
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