JPH07110456B2 - Wafer bonding method - Google Patents
Wafer bonding methodInfo
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- JPH07110456B2 JPH07110456B2 JP61238793A JP23879386A JPH07110456B2 JP H07110456 B2 JPH07110456 B2 JP H07110456B2 JP 61238793 A JP61238793 A JP 61238793A JP 23879386 A JP23879386 A JP 23879386A JP H07110456 B2 JPH07110456 B2 JP H07110456B2
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- wafer
- carrier plate
- plate
- wax
- cylinder
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- Jigs For Machine Tools (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ワックスによってウェーハをキャリアプレー
トに接着するウェーハの接着方法に関する。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a wafer bonding method for bonding a wafer to a carrier plate with wax.
一般、ウェーハの表面を鏡面仕上げする場合には、ウェ
ーハをキャリアプレートの端面にワックスによって貼着
して行なうようにしている。例えば、ウェーハの表面に
溶融したワックスを塗布した後、該ウェーハをキャリア
プレート上に押圧して接着して、全面均一な接着面を得
るようにしている。Generally, when the surface of the wafer is mirror-finished, the wafer is adhered to the end surface of the carrier plate with wax. For example, after applying molten wax to the surface of a wafer, the wafer is pressed onto a carrier plate and bonded to obtain a uniform bonding surface over the entire surface.
しかしながら、このようにして、ウェーハをキャリアプ
レートに接着した状態のままで放置しておくと、ウェー
ハとキャリアプレートとの間に介在するワックスが固化
収縮するが、この収縮の割合がウェーハの各部において
異なるために、ウェーハに歪が生じるという問題があ
る。また、キャリアプレートとウェーハとをワックスで
接着する際に、キャリアプレートとウェーハとの間に気
泡が介在し易く、この気泡のために全面均一な接着面を
得るのが難しいという問題がある。However, when the wafer is left in the state of being adhered to the carrier plate in this manner, the wax interposed between the wafer and the carrier plate is solidified and shrunk, but the shrinkage ratio is different in each part of the wafer. Since they are different, there is a problem that the wafer is distorted. In addition, when the carrier plate and the wafer are bonded with wax, air bubbles are likely to be present between the carrier plate and the wafer, and it is difficult to obtain a uniform bonding surface due to the air bubbles.
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、キャリアプレートに接着されたウェー
ハに生じる歪を除くことができると共に、キャリアプレ
ートとウェーハとの間に気泡が生じることがなく、かつ
全面均一な接着面を得ることができ、従って、後工程で
あるウェーハの研摩を円滑に行なうことができるウェー
ハの接着方法を提供することにある。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to be able to remove the strain generated in the wafer bonded to the carrier plate, and to generate bubbles between the carrier plate and the wafer. It is an object of the present invention to provide a wafer bonding method that can obtain a uniform bonding surface over the entire surface and therefore can smoothly perform polishing of the wafer in the subsequent step.
上記目的を達成するために、本発明は、ウェーハをキャ
リアプレートに押圧接触させた後、該ウェーハを所定角
度回動させるものである。In order to achieve the above object, the present invention is to press a wafer against a carrier plate and then rotate the wafer by a predetermined angle.
本発明のウェーハの接着方法にあっては、ウェーハをキ
ャリアプレートに押圧接触した場合、ウェーハとキャリ
アプレートとの間に介在したワックスが冷却し、粘度が
高くなった時点で、ウェーハを回動させて該ウェーハの
歪を除去し、かつ気泡を外部に追い出す。In the wafer bonding method of the present invention, when the wafer is pressed against the carrier plate, the wax interposed between the wafer and the carrier plate is cooled, and when the viscosity becomes high, the wafer is rotated. To remove the strain on the wafer and expel air bubbles to the outside.
以下、第1図ないし第6図に基づいて本発明の一実施例
を説明する。An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 6.
第5図と第6図はウェーハの捻り装置の一例を示すもの
で、第5図は正面図、第6図は平面図である。このウェ
ーハの捻り装置は、基台1上に、第5図において、左か
ら右へ下るように傾斜して設置された傾斜テーブル2
と、この傾斜テーブル2の右端側に設置されたキャリア
プレート昇降機構3と、上記傾斜テーブル2上に立設さ
れた捻り機回転機構4と、この捻り機回転機構4に支持
された捻り機5とを主体として構成されている。5 and 6 show an example of a wafer twisting device, FIG. 5 is a front view, and FIG. 6 is a plan view. This wafer twisting device is provided with a tilting table 2 which is installed on a base 1 so as to descend from left to right in FIG.
A carrier plate elevating mechanism 3 installed on the right end side of the tilt table 2, a twisting machine rotating mechanism 4 standing on the tilting table 2, and a twisting machine 5 supported by the twisting machine rotating mechanism 4. It is composed mainly of and.
上記傾斜テーブル2には、その長手方向(傾斜方向)に
沿って一対の平行な搬送ローラ列20が設けられると共
に、該両搬送ローラ列20の側方の適宜位置には、案内ロ
ーラ21が設置されている。そして、これらの搬送ローラ
列20及び案内ローラ21により、ウェーハWを接着したキ
ャリアプレートCPが移送されるようになっている。ま
た、上記傾斜テーブル2の右端部の、上記キャリアプレ
ート昇降機構3の近傍には、衝撃吸収機構22及び一対の
ストッパ23が設置されている。The tilt table 2 is provided with a pair of parallel transport roller rows 20 along the longitudinal direction (tilt direction) thereof, and guide rollers 21 are installed at appropriate positions laterally of the both transport roller rows 20. Has been done. The carrier plate CP to which the wafer W is adhered is transferred by the transfer roller row 20 and the guide roller 21. Further, a shock absorbing mechanism 22 and a pair of stoppers 23 are installed in the right end portion of the tilt table 2 near the carrier plate lifting mechanism 3.
上記キャリアプレート昇降機構3は、基台1に固定され
たシリンダ30と、このシリンダ30及びガイド機構(図示
せず)により上下方向に移動自在に支持された上下テー
ブル31と、この上下テーブル31上に適宜配置され、かつ
上記傾斜テーブル2から出没してキャリアプレートCPを
持上げる7個のクッション材32とから構成されている。The carrier plate elevating mechanism 3 includes a cylinder 30 fixed to the base 1, an upper and lower table 31 movably supported in the up and down direction by the cylinder 30 and a guide mechanism (not shown), and an upper and lower table 31. And 7 cushioning members 32 which are appropriately arranged in the upper and lower portions of the tilt table 2 and lift the carrier plate CP.
上記捻り機回転機構4は、上記傾斜ケーブル2上に立設
した支柱40の上端に、取付板41が回転自在に、かつ所定
角度毎に(第6図において120°度毎に)位置決め停止
するように取付けられている。そして、上記取付板41
は、円板を等間隔に3箇所切欠いて形成されたもので、
これらの切欠部には、上記捻り機5がそれぞれ取付けら
れている。In the twisting machine rotating mechanism 4, the mounting plate 41 is rotatably mounted on the upper end of the column 40 standing on the inclined cable 2 and the positioning is stopped at a predetermined angle (every 120 ° in FIG. 6). Is installed as. Then, the mounting plate 41
Is formed by notching three discs at equal intervals.
The twisting machine 5 is attached to each of these notches.
上記各捻り機5は、それぞれ、4インチ、5インチ、6
インチ径のウェーハWを捻るためのもので、4インチ径
のウェーハWは、キャリアプレートCP上に8枚ないし7
枚接着され、同様に、5インチ、6インチ径のウェーハ
Wは、それぞれ、キャリアプレートCP上に6枚ないし5
枚、4枚ないし3枚接着されている。そして、各捻り機
5は、それぞれ同様の構成を有するものであり、代表と
して5インチ径のウェーハWのものについて第1図ない
し第4図を参照して説明する。The twisting machines 5 are 4 inches, 5 inches, and 6 inches, respectively.
This is for twisting the wafer W of inch diameter. The wafer W of 4 inch diameter has 8 to 7 wafers on the carrier plate CP.
Similarly, wafers W having a diameter of 5 inches and a diameter of 6 inches are bonded to each other on the carrier plate CP by 6 to 5 pieces, respectively.
One, four or three are glued together. Each of the twisting machines 5 has the same configuration, and as a representative, a wafer W having a diameter of 5 inches will be described with reference to FIGS. 1 to 4.
上記5インチ径ウェーハW用の捻り機5は、上記取付板
41上にブラケット50を介して取付けられたシリンダ51
と、このシリンダ51のピストンロッド51aに連結され、
かつ取付板41及びガイド軸受52を貫通して、該ガイド軸
受52によって上下に摺動自在に支持された中心軸53と、
この中心軸53の先端に取付けられ、かつ上記取付板41に
対向して接近、離反し得るように配置された台板54と、
上記取付板41に上端を固定し、かつ下端を、上記台板54
上のガイド軸受55に摺動自在に嵌合したスライド軸56
と、上記中心軸53の中間部に軸受57を介して回転自在に
装着された駆動歯車58と、この駆動歯車58の下面に取付
けられた捻りアーム59と、この捻りアーム59に穿設され
た複数の孔59aのうちの一つ及び上記台板54の上面に固
定されたシリンダ受具60の間に回動自在に連結されたシ
リンダ61と、上記駆動歯車58から台板54を貫通して下方
に至る位置まで配設された3種類の押圧回動機構62,63,
64とを主体として構成されている。そして、上記押圧回
動機構62は、上記駆動歯車58に噛合された従動歯車65
と、この従動歯車65をスプリングピン66を介して装着し
た支持軸67と、この支持軸67を軸線回りに回動自在にか
つ上下に摺動自在に支持すると共に、台板54に穿設した
円弧状の2種の長孔54a,54bに嵌め込まれたガイド軸受6
8と、上記台板54にピン69を介して回動自在に連結さ
れ、かつ上記ガイド軸受68を各長孔54a,54bに沿って該
ピン69を中心にして回動させる回動アーム70,71と、該
各回動アーム70,71の中間部に回動自在に取付けたピン7
2及び、上記台板54の上面に取付けたブラケット73の間
に回動自在に連結され、かつ上記各回動アーム70,71を
駆動するシリンダ74,75と、上記支持軸67の下端に取付
けられたシリコンゴム製で孔76a付の吸着パッド(押圧
部)76と、この吸着パッド76の上部に装着されたウェイ
ト77とから構成されている。上記スプリングピン66は、
従動歯車65と支持軸67との間に過大なトルクが生じた場
合に、両者の係合関係を解除するものである。また、上
記各長孔54a,54bに嵌合されたガイド軸受68が、該各長
孔54a,54bの両端に位置する場合において、ガイド軸受6
8に嵌め込まれた支持軸67の上端の従動歯車65が駆動歯
車58に確実に噛合するようになっている。The twisting machine 5 for the 5-inch diameter wafer W is the mounting plate.
Cylinder 51 mounted on bracket 41 via bracket 50
And is connected to the piston rod 51a of this cylinder 51,
Also, a central shaft 53 which penetrates the mounting plate 41 and the guide bearing 52 and is slidably supported in the vertical direction by the guide bearing 52,
A base plate 54 attached to the tip of the central shaft 53, and arranged so as to face the attachment plate 41 so as to approach and separate from each other,
The upper end is fixed to the mounting plate 41 and the lower end is fixed to the base plate 54.
Slide shaft 56 slidably fitted in the upper guide bearing 55
A drive gear 58 rotatably attached to an intermediate portion of the central shaft 53 via a bearing 57, a twist arm 59 attached to the lower surface of the drive gear 58, and a drill provided in the twist arm 59. A cylinder 61 rotatably connected between one of the plurality of holes 59a and a cylinder receiving member 60 fixed to the upper surface of the base plate 54, and the drive gear 58 penetrating the base plate 54. Three types of pressing and rotating mechanisms 62, 63, which are arranged down to the position
It is mainly composed of 64 and. The pressing rotation mechanism 62 is driven by the driven gear 65 meshed with the drive gear 58.
And a support shaft 67 having the driven gear 65 mounted thereto via a spring pin 66, and supporting the support shaft 67 rotatably around the axis and slidably up and down, and piercing the base plate 54. Guide bearings 6 fitted in two arc-shaped long holes 54a, 54b
8 and a rotation arm 70, which is rotatably connected to the base plate 54 via a pin 69, and rotates the guide bearing 68 about the pin 69 along the elongated holes 54a, 54b. 71 and a pin 7 rotatably attached to an intermediate portion of the rotating arms 70, 71.
2 and cylinders 74 and 75 that are rotatably connected between brackets 73 that are attached to the upper surface of the base plate 54 and that drive the rotating arms 70 and 71, and that are attached to the lower ends of the support shafts 67. The suction pad (pressing portion) 76 is made of silicon rubber and has a hole 76a, and a weight 77 mounted on the suction pad 76. The spring pin 66 is
When an excessive torque is generated between the driven gear 65 and the support shaft 67, the engagement relationship between the two is released. Further, when the guide bearings 68 fitted in the long holes 54a, 54b are located at both ends of the long holes 54a, 54b, the guide bearing 6
The driven gear 65 at the upper end of the support shaft 67 fitted into the gear 8 surely meshes with the drive gear 58.
さらに、上記押圧回動機構63は、上記支持軸67の上端に
エンドプレート78が連結され、かつこのエンドプレート
78に、上下に所定長さ遊動を許容する形態で、断面略逆
U字状の係止金具79が係合されると共に、この係止金具
79が、上記台板54上にブラケット80を介して設置したシ
リンダ81のピストンロッド81aの下端に連結される一
方、支持軸67を支持するガイド軸受68が台板54に固定さ
れたものであり、その他の構成は上記押圧回動機構62と
同様なので同符号を付して説明を省略する。また、上記
押圧回動機構64も、支持軸67を支持するガイド軸受68が
台板54に固定されたものであり、その他の構成は上記押
圧回動機構62と同様なので同符号を付けて説明を省略す
る。Further, in the pressing / rotating mechanism 63, an end plate 78 is connected to the upper end of the support shaft 67, and the end plate 78 is connected to the end plate 78.
A locking metal fitting 79 having a substantially inverted U-shaped cross section is engaged with 78 so as to allow a predetermined length of vertical motion, and
79 is connected to the lower end of the piston rod 81a of the cylinder 81 installed via the bracket 80 on the base plate 54, while the guide bearing 68 for supporting the support shaft 67 is fixed to the base plate 54. Since other configurations are the same as those of the pressing and rotating mechanism 62, the same reference numerals are given and the description thereof will be omitted. Further, in the pressing rotation mechanism 64 as well, a guide bearing 68 for supporting the support shaft 67 is fixed to the base plate 54, and other configurations are similar to those of the pressing rotation mechanism 62, so the same reference numerals are given and described. Is omitted.
上記のように構成された捻り装置を用いて、本発明の方
法を実施する場合、すなわち、キャリアプレートCP上に
ワックスにより接着されたウェーハWを捻る場合には、
まず、ウェーハWの径(4,5,6インチ)に応じて、キャ
リアプレート昇降機構3の上方に、捻り機回転機構4に
よって所定の捻り機5を位置させる。ここで、捻るウェ
ーハWの径を5インチすると、上述したように5インチ
用の捻り機5が上記キャリアプレート昇降機構3の上方
に対向配置される。それと共に、キャリアプレートCP上
のウェーハWの枚数(6枚、5枚)に応じて各シリンダ
74,75を作動させ、各回動アーム70,71を介して、4個の
ガイド軸受68を各長孔54a,54bの両端部のうち一方の端
部に位置させる。すなわち、ウェーハWの枚数が6枚の
場合には、第2図において、6個の従動歯車65が駆動歯
車58の回りに等間隔に位置するように配設される。ま
た、ウェーハWの枚数が5枚の場合には、第2図におい
て、最下部の従動歯車65を除く5枚の従動歯車65が、駆
動歯車58の周りに等間隔に位置するように配設される。
この場合、上記最下部の従動歯車65を有する押圧回動機
構63は、第4図において、シリンダ81のピストンロッド
81aの先端の係止金具79を引き上げることにより、エン
ドプレート78とともに支持軸67を持ち上げて、支持軸67
の下端の吸着パッド76を、他の押圧回動機構62,62,62,6
2,64の各吸着パッド76より高く位置させる。さらに、シ
リンダ61のピストンロッドの先端を、駆動歯車58に取付
けた捻りアーム59の複数の孔59aのうちの一つに連結す
ることにより、各吸着パッド76の捻り角度(例えば、30
°〜16°)を調整する。When performing the method of the present invention using the twisting device configured as described above, that is, when twisting the wafer W adhered by wax on the carrier plate CP,
First, a predetermined twisting machine 5 is positioned above the carrier plate elevating mechanism 3 by the twisting machine rotating mechanism 4 according to the diameter of the wafer W (4,5, 6 inches). Here, when the diameter of the wafer W to be twisted is 5 inches, the twisting machine 5 for 5 inches is disposed above the carrier plate elevating mechanism 3 as described above. At the same time, each cylinder is selected according to the number of wafers W on the carrier plate CP (6 or 5).
74 and 75 are actuated to position the four guide bearings 68 at one end of both ends of the elongated holes 54a and 54b through the rotating arms 70 and 71. That is, when the number of wafers W is 6, in FIG. 2, six driven gears 65 are arranged around the drive gear 58 at equal intervals. Further, when the number of the wafers W is 5, in FIG. 2, the five driven gears 65 except the lowermost driven gear 65 are arranged at equal intervals around the drive gear 58. To be done.
In this case, the pressing rotation mechanism 63 having the lowermost driven gear 65 is the piston rod of the cylinder 81 in FIG.
By pulling up the locking metal fitting 79 at the tip of 81a, the support shaft 67 is lifted together with the end plate 78,
The suction pad 76 at the lower end of the other of the pressing rotation mechanism 62,62,62,6
It is located higher than the suction pads 76 of 2,64. Furthermore, by connecting the tip of the piston rod of the cylinder 61 to one of the plurality of holes 59a of the twist arm 59 attached to the drive gear 58, the twist angle of each suction pad 76 (for example, 30
To 16 °).
この状態において、第6図の左方から、所定数のェーハ
Wを所定位置にワックスによって接着載置したキャリア
プレートCPを、一対の搬送ローラ列20上に載せ、かつ両
側部の案内ローラ21に案内させて、傾斜テーブル2の右
端まで移送してくる。そして、衝撃吸収機構22と一対の
ストッパ23とによって、キャリアプレート昇降機構3の
上方の傾斜テーブル2上に上記キャリアプレートCPが停
止すると、キャリアプレート昇降機構3のシリンダ30に
よって、上下テーブル31を上昇させ、上下テーブル31上
のクッション材32を介してキャリアプレートCPを持ち上
げる一方、捻り機5のシリンダ51により、中心軸53とと
もに台板54を下降させて、押圧回動機構62,63,64の各吸
着パッド76をキャリアプレートCP上の各ウェーハWに接
触させる。この場合、上記各吸着パッド76は、その上部
に取付けたウェイト77により、ウェーハWの上面に押し
付けられる。In this state, from the left side of FIG. 6, the carrier plate CP, in which a predetermined number of wafers W are adhesively mounted at predetermined positions with wax, is placed on the pair of transport roller rows 20 and on the guide rollers 21 on both sides. It guides and transfers it to the right end of the tilt table 2. When the carrier plate CP stops on the tilt table 2 above the carrier plate lifting mechanism 3 by the shock absorbing mechanism 22 and the pair of stoppers 23, the cylinder 30 of the carrier plate lifting mechanism 3 lifts the upper and lower tables 31. Then, the carrier plate CP is lifted via the cushion material 32 on the upper and lower tables 31, while the cylinder 51 of the twisting machine 5 lowers the base plate 54 together with the central shaft 53, and the pressing and rotating mechanisms 62, 63, 64 are moved. Each suction pad 76 is brought into contact with each wafer W on the carrier plate CP. In this case, each suction pad 76 is pressed against the upper surface of the wafer W by the weight 77 attached to the upper part thereof.
次いで、上記シリンダ61を作動させることにり、駆動歯
車58を所定角度回動させる。この結果、該駆動歯車58に
噛合されている各従動歯車65が所要の捻り角度回動する
ことによって、各従動歯車65を装着している支持軸67
が、その下端の吸着パッド76とともに、上記捻り角度だ
け回動する。従って、該各吸着パッド76によって、各ウ
ェーハWが所要の角度だけ捻られる。これにより、キャ
リアプレートCPとウェーハWとの間のワックスの収縮に
よるウェーハWの歪が除去されると共に、キャリアプレ
ートCPとウェーハWとの間に介在している気泡が外部に
追い出される。この場合、ウェーハWは、シリンダ61の
ピストンロッドを往復移動させることにより、1回ない
し複数回捻ると共に、捻る時期は、ウェーハWとキャリ
アプレートCPとの間に介在したワックスが冷却され、粘
度が増した時点からワックスが固化する直前までが望ま
しい。Then, by operating the cylinder 61, the drive gear 58 is rotated by a predetermined angle. As a result, each driven gear 65 meshed with the drive gear 58 rotates by a required twist angle, so that the support shaft 67 on which each driven gear 65 is mounted.
However, it rotates by the above-mentioned twist angle together with the suction pad 76 at its lower end. Therefore, each wafer W is twisted by a required angle by each suction pad 76. As a result, the distortion of the wafer W due to the contraction of the wax between the carrier plate CP and the wafer W is removed, and the bubbles existing between the carrier plate CP and the wafer W are expelled to the outside. In this case, the wafer W is twisted once or plural times by reciprocating the piston rod of the cylinder 61, and at the time of twisting, the wax interposed between the wafer W and the carrier plate CP is cooled and the viscosity is It is desirable from the time when the wax is added to just before the wax is solidified.
以上説明したように、本発明によれば、ウェーハをキャ
リアプレートに押圧接触した後に、該ウェーハを所定角
度回動させるものであるから、ウェーハに生じるワック
スによる歪を除去することができると共に、キャリアプ
レートとウェーハとの間に気泡が生じることなく、全面
均一な接着面を得ることができ、従って、ウェーハの研
摩を円滑に行なうことができるという優れた効果を有す
る。As described above, according to the present invention, since the wafer is rotated by a predetermined angle after the wafer is pressed and brought into contact with the carrier plate, it is possible to remove the distortion caused by the wax generated in the wafer, and the carrier. There is an excellent effect that a uniform adhesive surface can be obtained over the entire surface without generating bubbles between the plate and the wafer, and therefore the wafer can be polished smoothly.
第1図ないし第6図は本発明の一実施例を示すもので、
第1図は捻り機の正面図、第2図は同平面図、第3図は
第2図のIII-III線矢視図、第4図は第2図のIV-IV線矢
視図、第5図は全体構成を示す正面図、第6図は同平面
図である。 W……ウェーハ、CP……キャリアプレート。1 to 6 show an embodiment of the present invention,
1 is a front view of the twisting machine, FIG. 2 is a plan view thereof, FIG. 3 is a view taken along the line III-III of FIG. 2, and FIG. 4 is a view taken along the line IV-IV of FIG. FIG. 5 is a front view showing the overall structure, and FIG. 6 is a plan view of the same. W: Wafer, CP: Carrier plate.
Claims (1)
ートに接着するウェーハの接着方法において、ウェーハ
をキャリアプレートに押圧接触させた後、該ウェーハを
所定角度回動させることを特徴とするウェーハの接着方
法。1. A wafer bonding method for bonding a wafer to a carrier plate with wax, which comprises pressing the wafer against the carrier plate and then rotating the wafer by a predetermined angle.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61238793A JPH07110456B2 (en) | 1986-10-07 | 1986-10-07 | Wafer bonding method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61238793A JPH07110456B2 (en) | 1986-10-07 | 1986-10-07 | Wafer bonding method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6393538A JPS6393538A (en) | 1988-04-23 |
| JPH07110456B2 true JPH07110456B2 (en) | 1995-11-29 |
Family
ID=17035365
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61238793A Expired - Lifetime JPH07110456B2 (en) | 1986-10-07 | 1986-10-07 | Wafer bonding method |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JPH07110456B2 (en) |
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-
1986
- 1986-10-07 JP JP61238793A patent/JPH07110456B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6393538A (en) | 1988-04-23 |
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Legal Events
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