JPH07117406B2 - Shape measurement method - Google Patents
Shape measurement methodInfo
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- JPH07117406B2 JPH07117406B2 JP27267288A JP27267288A JPH07117406B2 JP H07117406 B2 JPH07117406 B2 JP H07117406B2 JP 27267288 A JP27267288 A JP 27267288A JP 27267288 A JP27267288 A JP 27267288A JP H07117406 B2 JPH07117406 B2 JP H07117406B2
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- measured
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Description
【発明の詳細な説明】 <本発明の産業上の利用分野> 本発明は、物体の表面形状を、その物体表面上の測定点
を予め設定された測定プログラムに従って移動させなが
ら測定を行なう形状測定方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Field of Use of the Present Invention> The present invention relates to shape measurement in which a surface shape of an object is measured while moving a measurement point on the surface of the object according to a preset measurement program. Regarding the method.
<従来技術> この種の装置では、被測定物に対してどのような測定を
行なうか予め設定する作業が必要であり、従来装置で
は、予め記憶された複数種類の測定項目の中から所望の
1つを選んで測定を行なわせるか、予めプログラムされ
コード化された測定動作および計測演算の要素群を作業
者自身が測定シーケンスを考慮しながら組合せ、測定項
目に適した測定プログラムを構成して所望の測定を行な
わせるようにしていた。<Prior Art> This type of device requires an operation for presetting what kind of measurement is to be performed on an object to be measured. In the conventional device, a desired operation is selected from a plurality of types of measurement items stored in advance. Select one to perform the measurement, or configure the measurement program suitable for the measurement item by combining the pre-programmed and coded elements of the measurement operation and the measurement operation while considering the measurement sequence. The desired measurements were made.
<発明が解決しようとする課題> しかしながら、このような測定方法では、予め用意され
ている測定項目しか測定できず汎用性に乏しく、また、
プログラム作成に熟練した者が作業者として必要になる
という問題があった。<Problems to be Solved by the Invention> However, in such a measurement method, it is possible to measure only prepared measurement items, which is poor in versatility, and
There is a problem that a person skilled in program creation is required as an operator.
本発明はこの課題を解決した形状測定方法を提供するこ
とを目的としている。An object of the present invention is to provide a shape measuring method that solves this problem.
<課題を解決するための手段> 前記課題を解決するために、本発明の形状測定方法は、 被測定表面に対して設定可能な複数の計測種類を表示し
て任意の計測種類を選択させる段階と、 前記選択された計測種類に対して設定可能な測定ルート
の種別を表示し、表示した測定ルートの種別のいずれか
を任意に選択される段階と、 前記選択された計測種類と測定ルートの種別との組み合
わせに対して設定可能な測定基準を表示し、表示した測
定基準のいずれかを任意に選択させる段階と、 前記選択された計測種類および測定ルートの種別に応じ
て前記測定点の移動に必要な測定条件を設定する段階
と、 選択された測定ルートの種別に必要な測定ルートの座標
要素を設定する段階とによって測定項目を設定し、 前記各段階によって選択設定された情報に基づいて自動
編集された測定プログラムに従って被測定表面に対する
形状測定を行なうようにしている。<Means for Solving the Problems> In order to solve the above problems, the shape measuring method of the present invention includes a step of displaying a plurality of measurement types that can be set for a surface to be measured and selecting an arbitrary measurement type. And a step of displaying the types of measurement routes that can be set for the selected measurement type and arbitrarily selecting one of the types of the displayed measurement routes, and the selected measurement type and measurement route Displaying a measurement standard that can be set for a combination with a type and arbitrarily selecting one of the displayed measurement standards, and moving the measurement point according to the selected measurement type and measurement route type. The measurement items are set by the steps of setting the necessary measurement conditions for the measurement and the steps of setting the coordinate elements of the measurement route necessary for the type of the selected measurement route. The shape of the surface to be measured is measured according to a measurement program that is automatically edited based on the information.
<作用> このようにしたため、所望の計測種類、測定ルートの種
別、測定基準、測定条件および測定ルートの座標を選択
設定することで1つの測定項目の設定が行なえ、設定さ
れた測定項目に基づいて自動編集された測定プログラム
に従って被測定表面に対する形状測定が行なわれる。<Operation> Since this is done, one measurement item can be set by selectively setting the desired measurement type, measurement route type, measurement standard, measurement condition, and coordinates of the measurement route, and based on the set measurement item. The shape of the surface to be measured is measured in accordance with the automatically edited measurement program.
<本発明の実施例>(第1〜12図) 以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説明する。<Embodiment of the present invention> (Figs. 1 to 12) One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図は、本発明の一実施例を適用した形状測定装置の
全体構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a shape measuring apparatus to which an embodiment of the present invention is applied.
図において、10は測定機構部であり、基台11上にはX−
Yステージ12が設けられており、X−Yステージ12の上
には被測定物を載置するための載置台5が固定されてい
る。In the figure, 10 is a measurement mechanism section, and X- is on the base 11.
A Y stage 12 is provided, and a mounting table 5 for mounting an object to be measured is fixed on the XY stage 12.
Xステージ12aは載置台5を左右方向(第1図におい
て)に移動させ、Yステージ12bは、Xステージ12aと直
交する方向に載置台5を移動させるように構成されてい
る。The X stage 12a is configured to move the mounting table 5 in the left-right direction (in FIG. 1), and the Y stage 12b is configured to move the mounting table 5 in a direction orthogonal to the X stage 12a.
また、Yステージ12b上には、Xステージ12aの基準位置
(載置台の基準原点)からの移動量を検出するX位置検
出基12cが設けられ、Yステージの側方には同様にYス
テージ12bの移動量を検出するY位置検出器12dが設けら
れている。Further, on the Y stage 12b, an X position detecting base 12c for detecting the amount of movement of the X stage 12a from the reference position (reference origin of the mounting table) is provided, and the Y stage 12b is similarly provided on the side of the Y stage 12b. A Y position detector 12d for detecting the amount of movement of is provided.
13は、載置台5の吸着穴7(第2図)から空気を吸い込
むバキューム装置である。A vacuum device 13 sucks air from the suction holes 7 (FIG. 2) of the mounting table 5.
14は、X−Yステージ12上方に配置された光センサ部で
あり、載置台5に光ビームを照射する投光部14aとその
反射光を受けて、照射点の高さ変化に対応する変位信号
を出力する受光検出部14bとから構成されている。Reference numeral 14 denotes an optical sensor section arranged above the XY stage 12, which receives a light projecting section 14a for irradiating the mounting table 5 with a light beam and its reflected light, and performs a displacement corresponding to a change in height of an irradiation point. It is composed of a light receiving detector 14b that outputs a signal.
この変位信号は光センサ部14から照射点までの距離に応
じて変化するもので、この信号に基づいて算出される距
離を、光センサ部14から載置台5のX−Y平面の原点ま
での高さから減算することによって、照射点の原点の高
さが得られる。This displacement signal changes according to the distance from the optical sensor unit 14 to the irradiation point, and the distance calculated based on this signal is measured from the optical sensor unit 14 to the origin of the XY plane of the mounting table 5. By subtracting from the height, the height of the origin of the irradiation point is obtained.
この光センサ部14には、照射点近傍を拡大して映像を出
力するモニタカメラ15が一体化されている。A monitor camera 15 that enlarges the vicinity of the irradiation point and outputs an image is integrated with the optical sensor unit 14.
16は、この光センサ部14をX−Yステージ12に直交する
Z方向に移動させるZステージであり、X−Yステージ
12およびZステージ16はともにXYZ駆動部17によって移
動制御される。Reference numeral 16 is a Z stage that moves the optical sensor unit 14 in the Z direction orthogonal to the XY stage 12, and is an XY stage.
Both the 12 and Z stage 16 are controlled to move by the XYZ drive unit 17.
18は、モニタカメラからの映像信号を画面に表示するモ
ニタテレビである。Reference numeral 18 denotes a monitor television that displays the video signal from the monitor camera on the screen.
19は、移動信号を直接XYZ駆動部17に入力することによ
り、X−Yステージ12を単独に移動させる手動操作部で
ある。Reference numeral 19 denotes a manual operation unit that moves the XY stage 12 independently by directly inputting a movement signal to the XYZ drive unit 17.
20は、コンピュータによって構成された測定制御部であ
り、設定された測定プログラムに従ってXYZ駆動部17か
ら各ステージに移動信号を与えて、光センサ部14の受光
検出部14bからの変位信号に基づいて、被測定物の測定
点のZ方向の高さを算出して、形状判定を行なう。Reference numeral 20 denotes a measurement control unit configured by a computer, which gives a movement signal to each stage from the XYZ drive unit 17 according to a set measurement program, and based on a displacement signal from the light reception detection unit 14b of the optical sensor unit 14. The height of the measurement point of the object to be measured in the Z direction is calculated to determine the shape.
この測定制御部20は、第2図に示すように載置台5の左
下の所定位置を絶対座標の基準原点(0、0、0)とし
てX−Yステージ12、Zステージ16等の制御を行なって
いる。As shown in FIG. 2, the measurement control unit 20 controls the XY stage 12, the Z stage 16, etc. with a predetermined lower left position of the mounting table 5 as a reference origin (0, 0, 0) of absolute coordinates. ing.
この載置台5には、9個の被測定物を3×3の配列で所
定の載置場所E1〜E9に載置するように、3つのガイド部
材6が取付けられており、各載置場所E1〜E9の左下(第
2図において)の角部は被測定物のバリ等を避けるため
に円形に切欠かれている。On this mounting table 5, three guide members 6 are attached so that nine objects to be measured are mounted in a predetermined mounting location E1 to E9 in a 3 × 3 arrangement. The lower left corner (in FIG. 2) of E1 to E9 is cut out in a circular shape in order to avoid burrs and the like of the object to be measured.
各載置場所E1〜E9に載置される被測定物の基準位置はこ
の角部の中央にあたる位置R1〜R9に設定されており、位
置R1〜R9のX方向の間隔はXp、Y方向の間隔はYpに設定
され、位置R7の基準原点からの座標位置は(X1、Y1)に
設定されているものとする。The reference positions of the objects to be measured placed on the respective mounting locations E1 to E9 are set to the positions R1 to R9 corresponding to the center of the corners, and the intervals of the positions R1 to R9 in the X direction are Xp and Y directions. The interval is set to Yp, and the coordinate position of the position R7 from the reference origin is set to (X1, Y1).
なお、光センサ14からの光ビームの照射位置Bは、第3
図に示すようにX−Yステージ12のほぼ中央にあり、載
置台5の初期位置(測定開始前の位置)は、この光ビー
ムを左上の角部に受ける位置となるように測定制御部20
によって常に制御されていて、例えば測定制御部20で
(0、0、0)の座標データが設定されると、載置台5
の基準原点(左下の角部)が光ビームの照射位置Bに一
致するように載置台5が移動し、(0、Yh、Zm)の座標
データが設定されると、光センサ14が最大高さZmに引上
げられ、第3図に示した初期位置に載置台5が移動する
ことになる。The irradiation position B of the light beam from the optical sensor 14 is set to the third position.
As shown in the figure, the measurement controller 20 is located approximately in the center of the XY stage 12 and the initial position of the mounting table 5 (the position before the start of measurement) is such that the upper left corner receives this light beam.
When the coordinate data of (0, 0, 0) is set by the measurement control unit 20, for example, the table 5 is always controlled by
When the mounting table 5 is moved so that the reference origin (the lower left corner) of is coincident with the irradiation position B of the light beam and the coordinate data of (0, Yh, Zm) is set, the optical sensor 14 is set to the maximum height. It is pulled up to Zm and the mounting table 5 moves to the initial position shown in FIG.
第4図は測定制御部20の構成を示す図である。FIG. 4 is a diagram showing the configuration of the measurement control unit 20.
第4図において、21はキー操作等により測定項目や測定
パラメータを入力設定するための入力操作部、22は設定
された測定項目に応じて測定プログラムを編集し、その
測定プログラムに従ってX−Yステージ12およびZステ
ージ16の移動を制御するとともに、光センサ14部からの
変位信号を受けて測定に必要な演算処理を行なう処理部
である。In FIG. 4, 21 is an input operation section for inputting and setting measurement items and measurement parameters by key operation, 22 is a measurement program edited according to the set measurement items, and the XY stage is according to the measurement program. This is a processing unit that controls the movements of the Z stage 12 and the Z stage 16 and receives the displacement signal from the optical sensor unit 14 to perform the arithmetic processing necessary for the measurement.
23は、測定項目や測定ルートの設定や測定結果等を表示
する表示部である。Reference numeral 23 denotes a display unit that displays measurement items, measurement route settings, measurement results, and the like.
第5図(a)、(b)は、被測定物に対して測定項目を
設定するための測定制御部20における処理手順を示すフ
ローチャート図であり、被測定物の配置情報や被測定物
の外形情報は予め入力されているものとする。FIGS. 5 (a) and 5 (b) are flowcharts showing the processing procedure in the measurement control unit 20 for setting the measurement items for the object to be measured, and the arrangement information of the object to be measured and the object to be measured. It is assumed that the outer shape information has been input in advance.
始めに処理部22のメモリ内に予め記憶されている計測種
類名(反り、うねり、平行度等)が表示部23に表示さ
れ、入力操作部21の操作により所望(例えば平行度)の
計測種類が選択され、その計測種類が記憶される(ステ
ップ1〜3)。First, the measurement type name (warp, undulation, parallelism, etc.) stored in advance in the memory of the processing unit 22 is displayed on the display unit 23, and the desired (for example, parallelism) measurement type is operated by the operation of the input operation unit 21. Is selected and the measurement type is stored (steps 1 to 3).
次に予め第6図に示すように各計測種類に対して設定可
能な測定ルートの種別が記憶された処理部22のメモリ内
から、前記ステップで選択された計測種類に対応した測
定ルートの種別名(例えば多点、多線)が読み出されて
表示される(ステップ4)。Next, as shown in FIG. 6, from the memory of the processing unit 22 in which the types of measurement routes that can be set for each measurement type are stored in advance, the types of measurement routes corresponding to the measurement types selected in the above step. The name (for example, multiple points, multiple lines) is read and displayed (step 4).
表示された測定ルートの種別の中から入力操作部21の操
作で所望(多点)の種別が選択されると、その選択され
た測定ルートの種別が記憶される(ステップ5、6)。When a desired (multipoint) type is selected from the displayed types of measurement routes by operating the input operation unit 21, the type of the selected measurement route is stored (steps 5 and 6).
次に予め第7図に示すように計測種類と測定ルートの種
別との各組み合わせに対して設定可能な測定基準が記憶
されたメモリ内から、前記ステップで選択された計測種
類と測定ルートの種別との組み合わせに対する測定基準
名(データム、ステージ)が読み出されて表示される
(ステップ7)。Next, as shown in FIG. 7, the measurement type and the measurement route type selected in the above step are stored in the memory in which the measurement criteria that can be set for each combination of the measurement type and the measurement route type are stored in advance. The measurement reference name (datum, stage) for the combination of and is read and displayed (step 7).
ここで、真直度、平面度、平行度等は測定ルートの種別
の選択結果に関係なく計測種類のみに対して測定基準が
記憶されている。Here, for straightness, flatness, parallelism, etc., the measurement reference is stored only for the measurement type regardless of the selection result of the type of the measurement route.
次に、表示された測定基準の中から所望(データム)の
測定基準が選択されるとその選択された測定基準が記憶
される(ステップ8、9)。Next, when a desired (datum) metric is selected from the displayed metrics, the selected metric is stored (steps 8 and 9).
次に前ステップで選択された測定ルートの種別および計
測種類に必要な測定条件名を例えば第8図のように表示
し、その値が入力操作部21から入力設定されると、その
測定条件が記憶される(ステップ10〜12)。Next, the measurement route name selected in the previous step and the measurement condition name required for the measurement type are displayed, for example, as shown in FIG. 8, and when the value is input and set from the input operation unit 21, the measurement condition is changed. It is stored (steps 10 to 12).
次に、予め入力されている被測定物の外形情報に基づい
て被測定物の外形が表示され、測定ルートの入力が指示
される(ステップ13)。Next, the outer shape of the object to be measured is displayed based on the previously input outer shape information of the object to be measured, and the input of the measurement route is instructed (step 13).
入力操作部21の操作によって入力される被測定物表面上
の測定ルートの要素位置は座標データに変換されて記憶
される(ステップ14)。The element position of the measurement route on the surface of the object to be measured input by the operation of the input operation unit 21 is converted into coordinate data and stored (step 14).
なお、この記憶は、測定ルートの点のときは点座標、測
定ルートが線のときは始点と終点の座標がそれぞれ測定
ルートの要素として記憶されることになる。In this memory, the point coordinates are stored as points of the measurement route, and the coordinates of the start point and the end point are stored as elements of the measurement route when the measurement route is a line.
なお、入力操作部21による測定ルートの位置決めの際、
X−Yステージ12も連動して移動し、その測定ルートを
モニタテレビに表示される(ステップ15)。When positioning the measurement route using the input operation unit 21,
The XY stage 12 also moves in conjunction, and the measurement route is displayed on the monitor TV (step 15).
測定ルートの要素位置が全て入力され、Aルート登録指
令が入力されると、第1のチェックとして、このルート
の座標位置が測定ルートの種別に対して幾何学的に矛盾
がないかが判別され、矛盾している場合はエラー表示が
なされ、測定ルートの再入力指示が表示される(ステッ
プ16〜18)。When all the element positions of the measurement route are input and the A route registration command is input, as a first check, it is determined whether the coordinate position of this route is geometrically consistent with the type of the measurement route, If they are inconsistent, an error message is displayed and an instruction to re-enter the measurement route is displayed (steps 16-18).
なお、例えば、測定ルートの種別が「1辺」のときに入
力された実際の要素座標について、第1のチェックは第
9図に示す処理により行なわれる。Note that, for example, for the actual element coordinates input when the type of the measurement route is "one side", the first check is performed by the processing shown in FIG.
即ち、入力された座標要素から、点の数が2以上、ある
いは線の数が1以上あるかにより、要素数の不足を判別
し、要素数が不足しているときはエラー、また点の数が
2あるいは線の数が1のときはOKと判定する。That is, from the input coordinate element, the number of elements is determined to be insufficient based on whether the number of points is 2 or more or the number of lines is 1 or more. If the number of elements is insufficient, an error or the number of points If is 2 or the number of lines is 1, it is determined to be OK.
また、入力された点の数が2以上あるいは線の数が1以
上のときは、入力された最初の2点あるいは線分で定ま
る直線をlとし、他の点座標が直線l上にあるか否かに
よりOKあるいはエラーの判定を行なう。When the number of input points is 2 or more or the number of lines is 1 or more, the straight line determined by the first two input points or line segments is set to 1, and other point coordinates are on the straight line l. Depending on whether it is OK or not, it is judged as OK or error.
第1のチェックでOKの場合、入力された測定ルートの要
素座標をAルートとして登録記憶し、前のステップで選
択された測定基準が「データム」でないときは第2のチ
ェックを行なう(第5図(b)ステップ19〜20)。If the first check is OK, the element coordinates of the input measurement route are registered and stored as the A route, and the second check is performed when the measurement reference selected in the previous step is not "datum" (fifth check). Figure (b) steps 19 to 20).
前のステップで「データム」が選択されている場合は、
基準となる測定ルートの入力が指示され、入力設定され
た測定ルートの要素座標をBルートとして登録し、第2
のチェックを行なう(ステップ22、23)。If Datum was selected in the previous step,
The input of the reference measurement route is instructed, and the element coordinates of the input measurement route are registered as the B route.
Is checked (steps 22 and 23).
第2のチェックは、前ステップで入力設定された測定条
件で、登録されたAルートおよびBルートの測定を実行
させる場合の総測定ポイント数がメモリ容量内であるか
否かをチェックするもので、点ルートであればその入力
点数、また、線ルートであれば線長を測定ピッチで除算
した数がメモリ容量内かを判別し、容量を越える場合
は、エラー表示とともに測定条件あるいは測定ルートの
変更指令を出力する(ステップ24)。The second check is to check whether the total number of measurement points when executing the measurement of the registered A route and B route under the measurement conditions input and set in the previous step is within the memory capacity. , If it is a point route, the number of input points is determined.If it is a line route, it is determined whether the number obtained by dividing the line length by the measurement pitch is within the memory capacity. If it exceeds the capacity, an error is displayed and the measurement condition or measurement route A change command is output (step 24).
第2のチェックでOKと判定されると、A、Bの測定ルー
トが平面形体が直線形体かをそれぞれ判別し、その判別
結果を測定ルートに対応した形で記憶させる(ステップ
25)。If the second check results in OK, the measurement routes A and B determine whether the planar feature is a linear feature, and the determination result is stored in a form corresponding to the measurement route (step
twenty five).
なお、この判別は第9図の処理手順と同様である。Note that this determination is similar to the processing procedure of FIG.
以上のような処理手順を完了すると、処理部22のメモリ
内には例えば第10図に示すような1つの測定項目に必要
な情報が設定記憶される。When the above processing procedure is completed, the information necessary for one measurement item as shown in FIG. 10 is set and stored in the memory of the processing unit 22, for example.
以上のようにして設定された測定項目は、測定機構部10
の動作形式に合った測定プログラムとして自動編集さ
れ、例えば第11図に示す処理手順に従って測定が行なわ
れる。The measurement items set as described above are the measurement mechanism unit 10
Is automatically edited as a measurement program suitable for the operation format of, and measurement is performed in accordance with the processing procedure shown in FIG. 11, for example.
このフローチャートは、測定ルートが点の場合を示すも
ので、測定スタート指令が入力されると、光センサ部14
の平均化数が8にセットされ、測定点座標の順番を表わ
す値nが1に初期化される(ステップ1〜3)。This flowchart shows the case where the measurement route is a point, and when the measurement start command is input, the optical sensor unit 14
Is set to 8 and the value n indicating the order of the measurement point coordinates is initialized to 1 (steps 1 to 3).
次に、X−Yステージ12を駆動して、測定ルートのn番
目の座標位置に測定点を移動させ、被測定物表面の高さ
を8回連続して検出される(ステップ4、5)。Next, the XY stage 12 is driven to move the measurement point to the nth coordinate position of the measurement route, and the height of the surface of the object to be measured is continuously detected eight times (steps 4 and 5). .
次に、この8回の高さデータの平均値Zが演算され、こ
の値がこの測定点のX−Y座標とともに1つの測定デー
タとして記憶された後、nの値がその測定ルートの要素
数に達したか否かが判別され、達していないときはnが
1増加してステップ4に戻る(ステップ6〜8)。Next, the average value Z of the height data of eight times is calculated, and this value is stored as one measurement data together with the XY coordinates of this measurement point, and then the value of n is the number of elements of the measurement route. It is discriminated whether or not has reached, and when it has not reached, n is incremented by 1 and the process returns to step 4 (steps 6 to 8).
このようにして測定ルートのすべての測定点の高さデー
タが記憶される。In this way, the height data of all the measurement points of the measurement route are stored.
なお、測定基準に「データム」が選択された場合は、B
ルートの測定を前記同様の処理によって行なうことにな
る。If "Datum" is selected as the measurement standard, B
The route is measured by the same process as described above.
以上のようにして得られた測定データは、測定基準に対
して形状判定が行なわれる。The shape determination is performed on the measurement data obtained as described above with respect to the measurement reference.
例えば、「一辺の反り」の測定を「両端」を基準として
行なわれた測定データが第12図(a)のように得られた
とすると、第12図(b)のように両端の点S、Eを結ぶ
直線を基準線L1として求め、第12図(c)のようにこの
基準線L1と平行で測定データの曲線に接する直線L2と基
準線L1との距離Rを一辺の反り形状値として記憶し、測
定結果として表示する。For example, suppose that measurement data obtained by measuring "warp of one side" with reference to "both ends" is obtained as shown in FIG. 12 (a), points S at both ends are measured as shown in FIG. 12 (b). The straight line connecting E is determined as the reference line L1, and the distance R between the reference line L1 and the straight line L2 that is parallel to the reference line L1 and is in contact with the curve of the measurement data as shown in FIG. Store and display as measurement result.
また、測定基準として「指定点」が選択されている場合
は、入力指定した2点を結ぶ直線あるいは入力指定した
3点で決まる平面を基準として、計測種類に応じた形状
判定が行なわれ、「セルフ」が選択されている場合は、
形状データ自身から最小自乗法によって算出される直線
あるいは平面を基準として形状判定が行なわれる。When “specified point” is selected as the measurement reference, the shape determination according to the measurement type is performed with reference to the straight line connecting the two input specified points or the plane determined by the three input specified points. If "Self" is selected,
The shape determination is performed with reference to a straight line or a plane calculated from the shape data itself by the least square method.
また、「データム」の場合は、Bルートの形状データか
ら最小自乗法によって算出される直線あるいは平面を基
準とし、「ステージ」の場合は、X−Yステージあるい
は載置面を基準平面としている。In the case of "datum", the straight line or plane calculated from the shape data of the B route by the method of least squares is used as a reference, and in the case of "stage", the XY stage or mounting surface is used as a reference plane.
処理部22には、JIS規格で定められた形状判定の演算が
予め記憶されており、計測種類や測定ルートの種別に対
応した演算方法により所定の形状判定が行なわれること
になる。The processing unit 22 stores in advance the calculation of the shape determination defined by the JIS standard, and the predetermined shape determination is performed by the calculation method corresponding to the type of measurement and the type of measurement route.
<本発明の他の実施例> なお、前記実施例では、測定表面対して1種類の測定項
目を設定する場合について説明していたが、1つの測定
表面に対して複数種類の測定項目を設定する場合は、前
記の入力手順を繰り返し行なうようにして複数種類の測
定項目を設定すればよい。<Other Embodiments of the Present Invention> In the above embodiments, the case where one type of measurement item is set for the measurement surface has been described, but a plurality of types of measurement items are set for one measurement surface. In this case, a plurality of types of measurement items may be set by repeating the above-mentioned input procedure.
<本発明の効果> 以上説明したように、本発明の形状測定方法によれば、
何の計測(計測種類)を、どんな測定(測定ルートの種
別)で、何を基準(測定基準)に、どのような条件(測
定条件)で、どこに対して(測定ルート)行なうかを順
次入力設定することによって所望の測定を開始させるこ
とができ、プログラム作成に習熟していないものであっ
ても容易に測定を行なうことができる。<Effects of the Present Invention> As described above, according to the shape measuring method of the present invention,
Input what measurement (measurement type), what measurement (measurement route type), what is the reference (measurement standard), what condition (measurement condition), and where (measurement route) is to be performed. By setting, the desired measurement can be started, and even those unfamiliar with program creation can easily perform the measurement.
また、それぞれの入力は前段階の設定に対して可能な自
由度をもって設定できるため、測定項目の種類が豊富と
なり汎用性を非常に高くすることができる。Moreover, since each input can be set with a degree of freedom that is possible with respect to the setting in the previous step, the types of measurement items are abundant and the versatility can be greatly enhanced.
第1図は、本発明を適用した形状測定装置の全体構成を
示す図、第2図は、第1図の一部を示す平面図、第3図
は第1図の配置を示す概略平面図である。 第4図は、第1図の要部を示すブロック図、第5図
(a)、(b)は第4図要部の処理手順を示すフローチ
ャート、第6図は、処理部内のメモリに記憶された計測
種類に対する測定ルートの種別名を示す対応図、第7図
は同じく計測種類と測定ルートの種別との組み合わせに
対する測定基準名を示す対応図である。 第8図は、第5図(a)、(b)の処理手順における表
示の一例を示す図、第9図は、第5図(a)、(b)の
一部を詳しく示すフローチャート、第10図は第5図
(a)、(b)の処理結果を示すメモリ図である。 第11図は、測定の処理手順を示すフローチャート、第12
図(a)、(b)、(c)は測定データから形状測定の
処理手順の一例を説明するための図である。 10……測定機構部、12……X−Yステージ、14……光セ
ンサ部、16……Zステージ、20……測定制御部、21……
入力操作部、22……処理部、23……表示部。FIG. 1 is a diagram showing an overall configuration of a shape measuring apparatus to which the present invention is applied, FIG. 2 is a plan view showing a part of FIG. 1, and FIG. 3 is a schematic plan view showing the arrangement of FIG. Is. FIG. 4 is a block diagram showing the main part of FIG. 1, FIGS. 5 (a) and 5 (b) are flowcharts showing the processing procedure of the main part of FIG. 4, and FIG. 6 is stored in the memory in the processing part. FIG. 7 is a correspondence diagram showing the type names of the measurement routes for the measured types, and FIG. 7 is a correspondence diagram showing the measurement reference names for the combinations of the measurement types and the types of the measurement routes. FIG. 8 is a diagram showing an example of a display in the processing procedure of FIGS. 5 (a) and 5 (b), and FIG. 9 is a flowchart showing a part of FIGS. 5 (a) and 5 (b) in detail. FIG. 10 is a memory diagram showing the processing results of FIGS. 5 (a) and 5 (b). FIG. 11 is a flowchart showing the processing procedure of measurement, FIG.
(A), (b), (c) is a figure for demonstrating an example of the processing procedure of shape measurement from measurement data. 10 …… Measurement mechanism section, 12 …… XY stage, 14 …… Optical sensor section, 16 …… Z stage, 20 …… Measurement control section, 21 ……
Input operation part, 22 …… Processing part, 23 …… Display part.
Claims (1)
測定物とセンサとを相対移動し、被測定表面の測定点の
所定方向の変位を前記センサによって検出することによ
り該被測定表面の形状を測定する形状測定方法におい
て、 被測定表面に対して設定可能な複数の計測種類を表示し
て任意の計測種類を選択させる段階と、 前記選択された計測種類に対して設定可能な測定ルート
の種別を表示し、表示した測定ルートの種別のいずれか
を任意に選択させる段階と、 前記選択された計測種類と測定ルートの種別との組み合
わせに対して設定可能な測定基準を表示し、表示した測
定基準のいずれかを任意に選択させる段階と、 前記選択された計測種類および測定ルートの種別に応じ
て前記測定点の移動に必要な測定条件を設定する段階
と、 前記選択された測定ルートの種別に必要な測定ルートの
座標要素を設定する段階とによって測定項目を設定し、 前記各段階によって選択設定された情報に基づいて自動
編集された測定プログラムに従って被測定表面に対する
形状測定を行なうようにしたことを特徴とする形状測定
方法。1. The shape of the surface to be measured by moving the object to be measured and the sensor relative to each other in accordance with the input and set measurement item information and detecting the displacement of the measurement point on the surface to be measured in a predetermined direction by the sensor. In the shape measuring method for measuring, a step of displaying a plurality of measurement types that can be set for the surface to be measured and selecting an arbitrary measurement type, and a measurement route that can be set for the selected measurement type A step of displaying the type and arbitrarily selecting one of the displayed measurement route types, and displaying and displaying a measurement standard that can be set for the combination of the selected measurement type and the measurement route type are displayed. Arbitrarily selecting one of the measurement criteria, and setting the measurement conditions necessary for the movement of the measurement point according to the selected measurement type and measurement route type, The measurement item is set by the step of setting the coordinate elements of the measurement route necessary for the selected measurement route type, and the surface to be measured according to the measurement program that is automatically edited based on the information selected and set in each step. A shape measuring method characterized in that the shape is measured.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27267288A JPH07117406B2 (en) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | Shape measurement method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27267288A JPH07117406B2 (en) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | Shape measurement method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02118412A JPH02118412A (en) | 1990-05-02 |
| JPH07117406B2 true JPH07117406B2 (en) | 1995-12-18 |
Family
ID=17517182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27267288A Expired - Lifetime JPH07117406B2 (en) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | Shape measurement method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07117406B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5189753B2 (en) * | 2006-10-24 | 2013-04-24 | 株式会社ミツトヨ | Part program generator |
| JP4578538B2 (en) * | 2008-05-09 | 2010-11-10 | 株式会社ミツトヨ | Non-contact 3D measurement method |
-
1988
- 1988-10-28 JP JP27267288A patent/JPH07117406B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02118412A (en) | 1990-05-02 |
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