JPH0711831B2 - Pattern elasticity calculator - Google Patents
Pattern elasticity calculatorInfo
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- JPH0711831B2 JPH0711831B2 JP63005777A JP577788A JPH0711831B2 JP H0711831 B2 JPH0711831 B2 JP H0711831B2 JP 63005777 A JP63005777 A JP 63005777A JP 577788 A JP577788 A JP 577788A JP H0711831 B2 JPH0711831 B2 JP H0711831B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はパターン伸縮度算出装置、特に、伸縮を伴なう
パターン間の比較検査を行なう際に、高精度な位置決め
を行なうためのパターン伸縮度算出装置に関する。The present invention relates to a pattern expansion / contraction degree calculating device, and more particularly to a pattern expansion / contraction for highly accurate positioning when performing a comparative inspection between patterns accompanied by expansion / contraction. Degree calculator.
従来の技術としては、例えば、原,柄崎,宇都“プリン
ト基板パターンの外観検査自動化”信学論J67−C,8,P43
5(昭59−05)にみられる様に、伸縮のあるパターン間
の比較検査を行なう場合には、位置合わせ誤差が生じ、
例えば本例にみられる様に、他の手段即ち局所的特徴を
用いて、位置合わせ誤差の回避を計っている。As conventional techniques, for example, Hara, Esaki, and Utsu "Automation of appearance inspection of printed circuit board pattern", Theory J67-C, 8, P43
As shown in 5 (Sho 59-05), when performing comparison inspection between stretchable patterns, alignment error occurs,
For example, as seen in this example, other means or local features are used to avoid registration errors.
上述した従来の技術では、伸縮度の大きいパターン間の
比較検査を行なう事が不可能であり、また、高密度化に
伴なう高精度な比較検査も不可能となる問題あり、パタ
ーン間の伸縮度算出装置が必要である。The above-described conventional technique has a problem in that it is impossible to perform a comparative inspection between patterns having a large degree of expansion and contraction, and it is also impossible to perform a high-precision comparative inspection due to high density. An elasticity calculation device is required.
本発明のパターン伸縮度算出装置は、光電変換スキャナ
で走査して読み出した標準パターン画像信号を多値レベ
ルのデイジタル画像に変換するためのA/D変換回路と、
前記デイジタル画像の水平方向および垂直方向の各々に
ついて平均値を算出して各々垂直方向および水平方向の
濃度分布として求める濃度分布算出回路と、算出された
濃度分布を用いて各々の方向に対する自己相関関数を算
出する自己相関関数算出回路と、算出した自己相関関数
のずれ量0の近傍の複数個の点の値を用いて直線近似を
行ない近似自己相関直線として求め近似自己相関直線の
値が0となるずれ量の位置を等価パルス幅として算出す
る等価パルス幅算出回路と、前記算出した等価パルス幅
を前記垂直方向および水平方向の各々について記憶させ
る等価パルス幅記憶回路と、伸縮パターン画像に対して
前述と同様の処理を行なつて前記等価パルス幅を垂直方
向および水平方向の各々について算出しこの算出した等
価パルス幅と前記等価パルス幅記憶回路に記憶されてい
る標準パターンに対する等価パルス幅との比を垂直方向
および水平方向各々について算出する伸縮度算出回路と
を含んで構成される。The pattern elasticity calculation device of the present invention is an A / D conversion circuit for converting a standard pattern image signal read by scanning with a photoelectric conversion scanner into a digital image of a multi-value level,
A density distribution calculating circuit for calculating an average value in each of the horizontal and vertical directions of the digital image to obtain a density distribution in each of the vertical direction and the horizontal direction, and an autocorrelation function for each direction using the calculated density distribution. And an autocorrelation function calculating circuit for calculating a value of a plurality of points in the vicinity of the calculated amount of deviation of the autocorrelation function of 0, and a linear approximation is performed to obtain an approximate autocorrelation line. An equivalent pulse width calculation circuit for calculating the position of the shift amount as an equivalent pulse width, an equivalent pulse width storage circuit for storing the calculated equivalent pulse width for each of the vertical direction and the horizontal direction, and an expansion / contraction pattern image. By performing the same processing as described above, the equivalent pulse width is calculated for each of the vertical direction and the horizontal direction, and the calculated equivalent pulse width and the Configured to include a stretchable calculating circuit for calculating the ratio of the equivalent pulse width for the standard patterns stored in the valence pulse width memory circuit for the vertical and horizontal directions, respectively.
次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第1図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
光電変換スキャナ1を走査して読み出した入力画像2
は、A/D変換回路3により、多値レベルのデイジタル画
像4に変換される。Input image 2 scanned and read by photoelectric conversion scanner 1
Is converted into a digital image 4 of multilevel by the A / D conversion circuit 3.
濃度分布算出回路9では、前記デイジタル画像4の水平
方向および垂直方向の各々についての平均値を算出し
て、それぞれ垂直方向および水平方向の濃度分布として
求め、濃度分布信号10を出力する。The density distribution calculation circuit 9 calculates an average value in each of the horizontal and vertical directions of the digital image 4 to obtain a vertical and horizontal density distribution, and outputs a density distribution signal 10.
自己相関関数算出回路11では、前記濃度分布信号10を用
いて、垂直方向および水平方向の各々の方向に対する自
己相関関数12を算出する。An autocorrelation function calculation circuit 11 uses the concentration distribution signal 10 to calculate an autocorrelation function 12 for each of the vertical and horizontal directions.
更に、等価パルス幅算出回路13では、前述自己相関関数
12のずれ量0の近傍の複数個の点の値を用いて直線近似
を行ない近似自己相関値直線として求め、その近似自己
相関直線の値が0となるずれ量の位置を等価パルス幅14
として算出する。Further, in the equivalent pulse width calculation circuit 13, the above-mentioned autocorrelation function
A linear approximation is performed by using the values of a plurality of points near the deviation amount 0 of 12 to obtain an approximate autocorrelation value straight line, and the position of the deviation amount at which the value of the approximate autocorrelation straight line is 0 is equivalent pulse width 14
Calculate as
等価パルス幅記憶回路15では、標準パターンに対して前
述の処理を行なった結果得られる垂直方向および水平方
向に対する前記等価パルス幅14を記憶する。The equivalent pulse width storage circuit 15 stores the equivalent pulse width 14 in the vertical direction and the horizontal direction, which is obtained as a result of performing the above-described processing on the standard pattern.
伸縮度算出回路17では、伸縮パターンに対して前述の処
理を行なった結果得られる垂直方向および水平方向に対
する前記等価パルス幅14と、前述の等価パルス幅記憶回
路15より出力される標準パターンに対する等価パルス幅
記憶信号との比を、垂直方向および水平方向各々につい
て算出し、この算出した比の値を伸縮度信号18として出
力する。In the expansion / contraction degree calculation circuit 17, the equivalent pulse width 14 in the vertical direction and the horizontal direction obtained as a result of performing the above-described processing on the expansion / contraction pattern, and the equivalent to the standard pattern output from the equivalent pulse width storage circuit 15 described above. The ratio with the pulse width storage signal is calculated in each of the vertical direction and the horizontal direction, and the value of the calculated ratio is output as the elasticity signal 18.
次に各部の詳細について説明を行なう。Next, details of each unit will be described.
第2図(a)〜(c)は、水平方向についてのみのパタ
ーン伸縮度算出方法を示す模式図である。2A to 2C are schematic diagrams showing a method of calculating the pattern expansion / contraction degree only in the horizontal direction.
第2図(a)は、標準パターン22と伸縮パターン21との
差異を説明するために、両者のデイジタル画像を重ね合
わせて表示したものである。FIG. 2A shows the digital images of the standard pattern 22 and the expansion / contraction pattern 21 superimposed on each other in order to explain the difference between them.
第2図(b)では、第2図(a)で示されるデイジタル
画像を、前述した濃度分布算出回路9を用いて、垂直方
向についてのみ平均値を算出して水平方向の濃度分布と
して求め、各々標準パターン濃度分布23および伸縮パタ
ーン濃度分布24として示している。In FIG. 2B, the digital image shown in FIG. 2A is calculated as a horizontal density distribution by calculating an average value only in the vertical direction using the density distribution calculation circuit 9 described above. These are shown as a standard pattern density distribution 23 and a stretch pattern density distribution 24, respectively.
第2図(c)は、第2図(b)で示す標準パターン濃度
分布23および伸縮パターン濃度分布24について求めた標
準パターン自己相関関数25および伸縮パターン自己相関
関数26を示す。FIG. 2C shows the standard pattern autocorrelation function 25 and the expansion / contraction pattern autocorrelation function 26 obtained for the standard pattern density distribution 23 and the expansion / contraction pattern density distribution 24 shown in FIG. 2B.
一般に、第2図(b)に示される様な濃度分布信号の自
己相関関数は、第2図(c)に示される様になり、ま
た、この自己相関関数の形状は単一矩形パルスと同一と
なる。(日野幹雄著“スペクトル解析”朝倉書店)。Generally, the autocorrelation function of the concentration distribution signal as shown in FIG. 2 (b) is as shown in FIG. 2 (c), and the shape of this autocorrelation function is the same as that of a single rectangular pulse. Becomes (Mikio Hino "Spectral Analysis" Asakura Shoten).
従って、標準パターン自己相関関数25および伸縮パター
ン自己相関関数26各々が対応する等価な矩形パルスのパ
ルス幅bおよびb′を等価パルス幅として求めて、両者
の比γxを (1)式により求めれば、この値が、標準パターンに対
する伸縮パターンの伸縮度となる。Therefore, the pulse widths b and b ′ of the equivalent rectangular pulses corresponding to the standard pattern autocorrelation function 25 and the expansion / contraction pattern autocorrelation function 26 are obtained as the equivalent pulse widths, and the ratio γx of both is obtained. Obtained by the equation (1), this value becomes the expansion / contraction degree of the expansion / contraction pattern with respect to the standard pattern.
第3図は、等価パルス幅算出方法を示す模式図である。FIG. 3 is a schematic diagram showing an equivalent pulse width calculation method.
前述の自己相関関数算出回路11で算出した自己相関関数
の値C(k)(但し、k=0,±1,±2…±N)の値を用
いて、最小2乗法による直線近似により近似自己相関直
線27(K1およびK2)を求める。更に、この近似自己相関
直線27(K1およびK2)の値が0となるずれ量の位置b1お
よびb2を求めて、前述した等価パルス幅bを (2)式より算出する。Approximation by linear approximation by the least squares method using the value of the autocorrelation function value C (k) (where k = 0, ± 1, ± 2 ... ± N) calculated by the autocorrelation function calculation circuit 11 described above. Find the autocorrelation line 27 (K1 and K2). Furthermore, the positions b1 and b2 of the shift amount at which the value of the approximate autocorrelation line 27 (K1 and K2) becomes 0 are obtained, and the equivalent pulse width b described above is calculated. It is calculated from the equation (2).
本発明のパターン伸縮度算出装置は、伸縮の大きいパタ
ーンの伸縮度が算出きるため、算出された伸縮度を用い
て、入力画像の補正を行なう事ができるので、伸縮度の
大きいパターン間の比較検査および高精度な比較検査が
できるという効果がある。Since the pattern expansion / contraction degree calculation device of the present invention can calculate the expansion / contraction degree of a pattern with large expansion / contraction, it is possible to correct the input image using the calculated expansion / contraction degree. There is an effect that inspection and highly accurate comparison inspection can be performed.
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図
(a)〜(c)は水平方向についてのみのパターン伸縮
度算出方法を示す模式図、第3図は等価パルス幅算出方
法を示す模式図である。 1……光電変換スキャナ、2……入力画像、3……A/D
変換回路、4……デイジタル画像、9……濃度分布算出
回路、10……濃度分布信号、11……自己相関関数算出回
路、12……自己相関関数、13……等価パルス幅算出回
路、14……等価パルス幅、15……等価パルス幅記憶回
路、16……等価パルス幅記憶信号、17……伸縮度算出回
路、18……伸縮度信号、20……デイジタル画像、21……
伸縮パターン、22……標準パターン、23……標準パター
ン濃度分布、24……伸縮パターン濃度分布、25……標準
パターン自己相関関数、26……伸縮パターン自己相関関
数、27……近似自己相関直線。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIGS. 2 (a) to 2 (c) are schematic diagrams showing a pattern expansion / contraction degree calculation method only in the horizontal direction, and FIG. 3 is an equivalent pulse width calculation method. It is a schematic diagram which shows. 1 ... Photoelectric conversion scanner, 2 ... Input image, 3 ... A / D
Conversion circuit, 4 ... Digital image, 9 ... Density distribution calculation circuit, 10 ... Density distribution signal, 11 ... Autocorrelation function calculation circuit, 12 ... Autocorrelation function, 13 ... Equivalent pulse width calculation circuit, 14 ...... Equivalent pulse width, 15 …… Equivalent pulse width memory circuit, 16 …… Equivalent pulse width memory signal, 17 …… Scaling factor calculation circuit, 18 …… Scaling factor signal, 20 …… Digital image, 21 ……
Stretching pattern, 22 …… Standard pattern, 23 …… Standard pattern density distribution, 24 …… Stretching pattern density distribution, 25 …… Standard pattern autocorrelation function, 26 …… Stretching pattern autocorrelation function, 27 …… Approximate autocorrelation line .
Claims (1)
準パターン画像信号を多値レベルのデイジタル画像に変
換するためのA/D変換回路と、前記デイジタル画像の水
平方向および垂直方向の各々について平均値を算出して
各々垂直方向および水平方向の濃度分布として求める濃
度分布算出回路と、算出された濃度分布を用いて各々の
方向に対する自己相関関数を算出する自己相関関数算出
回路と、算出した自己相関関数のずれ量0の近傍の複数
個の点の値を用いて直線近似を行ない近似自己相関直線
として求め近似自己相関直線の値が0となるずれ量の位
置を等価パルス幅として算出する等価パルス幅算出回路
と、前記算出した等価パルス幅を前記垂直方向および水
平方向の各々について記憶させる等価パルス幅記憶回路
と、伸縮パターン画像に対して前述と同様の処理を行な
つて前記等価パルス幅を垂直方向および水平方向の各々
について算出しこの算出した等価パルス幅と前記等価パ
ルス幅記憶回路に記憶されている標準パターンに対する
等価パルス幅との比を垂直方向および水平方向各々につ
いて算出する伸縮度算出回路とを含むことを特徴とする
パターン伸縮度算出装置。1. An A / D conversion circuit for converting a standard pattern image signal scanned and read by a photoelectric conversion scanner into a multi-valued digital image, and an average for each of the horizontal and vertical directions of the digital image. A density distribution calculation circuit that calculates values and obtains vertical and horizontal density distributions, an autocorrelation function calculation circuit that calculates an autocorrelation function for each direction using the calculated density distributions, and a calculated self Equivalent to calculate the position of the deviation amount where the value of the approximate autocorrelation line becomes 0 by performing linear approximation using the values of a plurality of points near the deviation amount 0 of the correlation function as the equivalent pulse width A pulse width calculation circuit, an equivalent pulse width storage circuit for storing the calculated equivalent pulse width in each of the vertical direction and the horizontal direction, and an expansion / contraction pattern image. The equivalent pulse width is calculated for each of the vertical direction and the horizontal direction by performing the same process as described above, and the calculated equivalent pulse width and the equivalent pulse for the standard pattern stored in the equivalent pulse width storage circuit are calculated. An expansion / contraction degree calculating device, comprising: an expansion / contraction degree calculating circuit for calculating a ratio to a width in each of the vertical direction and the horizontal direction.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63005777A JPH0711831B2 (en) | 1988-01-13 | 1988-01-13 | Pattern elasticity calculator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63005777A JPH0711831B2 (en) | 1988-01-13 | 1988-01-13 | Pattern elasticity calculator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01181167A JPH01181167A (en) | 1989-07-19 |
| JPH0711831B2 true JPH0711831B2 (en) | 1995-02-08 |
Family
ID=11620544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63005777A Expired - Lifetime JPH0711831B2 (en) | 1988-01-13 | 1988-01-13 | Pattern elasticity calculator |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0711831B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4366318B2 (en) | 2005-01-11 | 2009-11-18 | キヤノン株式会社 | Image processing apparatus and method, and program |
-
1988
- 1988-01-13 JP JP63005777A patent/JPH0711831B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01181167A (en) | 1989-07-19 |
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