JPH0756501B2 - Synchronous measurement method for different point information - Google Patents
Synchronous measurement method for different point informationInfo
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- JPH0756501B2 JPH0756501B2 JP61093069A JP9306986A JPH0756501B2 JP H0756501 B2 JPH0756501 B2 JP H0756501B2 JP 61093069 A JP61093069 A JP 61093069A JP 9306986 A JP9306986 A JP 9306986A JP H0756501 B2 JPH0756501 B2 JP H0756501B2
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Description
本発明は異地点で独立に計測された各情報を同期をとっ
て現象解析や特性把握の処理に利用するための異地点情
報の同期計測方式に関する。The present invention relates to a synchronous measurement method of different point information for synchronizing each piece of information independently measured at different points and using it for processing of phenomenon analysis and characteristic grasp.
電力系統の状態を監視したり、保護制御のためには異地
点で計測した複数の計測情報が利用される。この計測情
報は対象系統に故障等が発生した場合に変化を生ずる
が、変化したときの計測情報ばかりでなく、変化後の計
測情報も必要とされることがある。例えば、故障点標定
では計測情報として故障継続中の値が使用される。この
ために、従来は異地点でそれぞれ計測された計測情報を
1箇所に収集して現象解析や特性把握の処理に利用して
いる。しかし、このような方法によれば、伝送による遅
れがあるために各地点の計測情報に同期がとれておら
ず、したがって現象解析や特性把握の精度に問題があっ
た。特に故障点標定においては、系統の2端子で測定さ
れた計測情報がベクトル量であるため、ベクトル演算を
行なう際に各地点の計測情報の同期が必要とされる。A plurality of pieces of measurement information measured at different points are used for monitoring the state of the power system and for protection control. Although this measurement information changes when a failure or the like occurs in the target system, not only the measurement information when the change occurs but also the measurement information after the change may be needed. For example, in the fault location, the value of the ongoing fault is used as the measurement information. For this reason, conventionally, the measurement information measured at different points is collected in one place and used for the process of phenomenon analysis and characteristic grasp. However, according to such a method, since there is a delay due to transmission, the measurement information at each point is not synchronized, and therefore there is a problem in accuracy of phenomenon analysis and characteristic grasp. Particularly in fault location, since the measurement information measured at the two terminals of the system is a vector quantity, it is necessary to synchronize the measurement information at each point when performing vector calculation.
本発明は上記に鑑み、特に異地点における各計測値を1
カ所あるいは複数の異なるところに集合して利用すると
き、それぞれの関係を時間的に同一、すなわち同期計測
されたものと同等の扱いができるようにした異地点情報
の同期計測方式を提供することを目的とする。In view of the above, the present invention sets the measured values at different points to 1
It is necessary to provide a synchronous measurement method of different point information that enables the same relationship in time, that is, equivalent to the synchronized measurement, when used collectively at one place or a plurality of different places. To aim.
本発明は、故障等が発生すると異地点で計測されるデー
タには同一時点で故障等に対応する状態変化が発生する
ことに着目してなされたものであり、異地点において非
同期に一定周期でデータをサンプリングする際に、デー
タに状態変化が検知された時点と前あるいは次のサンプ
リング時点との時間間隔を測定し、この時間間隔に基づ
いてサンプリングされたデータの同期をとるようにした
ことを特徴とするものである。The present invention has been made by paying attention to the fact that when a failure or the like occurs, the data measured at different points will have a state change corresponding to the failure or the like at the same time point, and at different points asynchronously at a constant cycle. When sampling data, measure the time interval between the time when a state change is detected in the data and the previous or next sampling time, and synchronize the sampled data based on this time interval. It is a feature.
第4図(a),(b)は一定周期でサンプリングを行っ
ているデータの位相の説明図であり、系統の2端子A,B
のうち(a)はA端子の電圧、(b)はA端子の電流を
示している。図において、A端子における各90゜間隔の
2つの電気量を(V1 A,V2 A),(I1 A,I2 A)とすると、90
゜間隔の2つの電気量より最大値VA,IAと波形の零点か
らサンプリングまでの位相θVA、θIAは、次のように求
めることができる。まず、電圧については、 V1 A=VAsinθVA V2 A=VAsin(θVA+π/2)=VAcosθVA 同様にして、電流については、 I1 A=IAsinθIA I2 A=IAsin(θIA+π/2)=IAcosθIA ベクトル演算を行うために、各電気量の位相を合わせる
場合,電圧VAを基準とすると、A =|VA|∠0゜,A =|IA|∠(θIA−θVA) とあらわすことができる。 B端子についても同様に次の式が成立する。 B=|VB|∠0゜B =|IB|∠(θIB−θVB) ここで、A端子とB端子でサンプリングされたデータの
位相について考えてみると、A端子とB端子では各々独
自にサンプリングが行われているのでサンプリングデー
タの同期はとれていない。第5図(a),(b)はA端
子とB端子で測定される電圧VA,VBの位相関係の説明図
であり、(a)はA端子に電圧VAの波形、(b)はB端
子の電圧VBの波形を示している。図からも明らかなよう
にA端子とB端子ではサンプリングのタイミング(t1,t
2,t3……)の位相が異なっている。しかし、故障が発生
した時点tFでは電圧VA,VBの両方に同時に変化が生じ
る。そこで、本発明では各端子で同時信号である故障検
知信号を基にして、故障検知信号が出力された時点から
最初のサンプリング時点までの時間(ΔtA,ΔtB)をタ
イマを設けて測定し、このタイマの時間差(Δt=ΔtA
−ΔtB)、すなわちサンプリングのずれ量を用いてA端
子とB端子のデータの同期をとるように構成される。第
5図において、電圧VA,VBの位相差φVABは、 φVAB=(θVB−2πfΔtB)−(θVA−2πfΔtA) =(θVB−θVA)+2πfΔt 同様にして、A端子の電圧VAとB端子の電流IBの位相差
φIABは、 φIAB=(θIB−θVA)+2πfΔt にて表わすことができる。ここで電圧VAを基準にする
と、A =|VA|∠0゜A =|IA|∠(θIA−θVA)B =|VB|∠{(θVB−θVA)+2πfΔt}B =|IB|∠{(θIB−θVA)+2πfΔt} というように系統のA端子,B端子で測定される電圧,電
流を同期をとって表わすことができる。なお,以上の説
明では故障検知信号の出力時点から次のサンプリング時
点までの時間を測定するようにしているが、サンプリン
グ時点から故障検出信号の出力時点までの時間を測定す
るようにしてもよいことは勿論である。 次に、故障検知信号が出力された時点から最初のサンプ
リング時点までの時間を測定するように構成された系統
の各端子に設置される端末装置について説明する。 第1図は各端子に設置される端末装置の一実施例を示す
ブロック図ある。図において,1は変圧器,2は変流器,3,4
はアナログフィルタ,5はサンプリング手段,6はアナログ
・ディジタル変換器(以下においてはAD変換器とい
う)、7はディジタルフィルタ,8はサンプリングされた
データを記憶する第1メモリ,9は伝送のために第1メモ
リ8から選択されたデータ等を記憶する第2メモリ,10
は故障検知手段,11は故障検知時点から次のサンプリン
グまでの時間を測定するためのタイマを示している。 このような構成において、系統の電圧量,電流量は変圧
器1,変流器2により取込まれ、アナログフィルタ3,4を
介してサンプリング手段5により一定周期(例えば30゜
間隔)でサンプリングされる。このサンプリングされた
データはAD変換器6によりディジタル量に変換されたの
ちディジタルフィルタ7にかけられ、高調波分,直流分
が除去されて第1メモリ8に格納される。一方、変圧器
1,変流器2により取込まれたデータは故障検出手段10に
入力され、故障検知が行われる。故障検知手段10は第2
図に示すように、入力を反転し、かつ半サイクル分だけ
遅延を行わせるフィルタ12と、抵抗13,14と、レベル検
出器15と、レベル検出器15の出力信号を2サイクル分だ
け保持出力させる出力回路16とから構成されている。第
3図は故障検知手段10の動作説明図であり、(a)が通
常時、(b)が故障発生時を示している。故障検知手段
10は、通常時は第3図(a)に示すように入力I1とこの
入力I1をフィルタ12により反転,遅延させた入力I2とは
絶対値は等しく,極性が反対となるため、レベル検出器
15の入力はI1−I2=0となっているため零であり、出力
回路16からは故障検知信号が出力されない。これに対し
て、第3図(b)に示すように時点tFで故障が発生する
と、I1とI2とは大きさが異なるためにI1−I2≠0とな
り、レベル検知器15からの信号が出力回路16に加えられ
て故障検知信号が出力される。この故障検知信号はタイ
マ11と第1メモリ8に加えられる。タイマ11は故障検知
信号が入力されるとカウントを開始し、次のサンプリン
グ信号が入力されると、カウントを停止するように構成
される。したがってタイマ11には故障検知信号が出力さ
れてから次のサンプリング信号が入力されるまでの時間
がカウントされる。また、第1メモリ8は故障検知信号
が入力されると、故障点標定のために必要なデータを選
択して第2メモリ9に出力する。ここで、故障点標定の
ために必要なデータとしては、例えば故障発生時から2
サイクル後の90゜間隔の2量と、故障発生前の1サイク
ルの2量が考えられる。故障発生時から2サイクル後の
2量を用いるのは2サイクルがフィルタ処理のために必
要なためであり、また、故障発生前の1サイクルの2量
を用いるのは零相循環電流を除去するためである。第2
メモリにはこのほかにタイマ11のカウント値と、系統の
保護リレーのトリップ番号が記憶される。このトリップ
番号は故障検知手段10がとらえたデータの変化が実際の
故障によるものかどうかを判別するために用いられる。
第2メモリに記憶された第1メモリ8からの選択データ
と、タイマ11のカウント値と、トリップ番号は中央装置
に伝送される。 中央装置では、各端末装置からのデータを受信し、各端
末装置のタイマのカウント値から各端末装置のタイマの
カウントから各端末装置におけるサンプリングのずれ量
を求め、このずれ量に応じてサンプリングデータを補正
して各端末装置からのサンプリングデータの同期をとっ
たのち現象解析や特性把握(故障点標定の場合には故障
点位置の算出)を行い、トリップ信号の有無により出力
の判断を行う。 なお、以上の説明では各端末装置のデータを中央装置に
伝送するようにしたが、中央装置は設けずに、一方の端
末装置のデータを他方の端末に伝送し、そこでサンプリ
ングデータの同期をとって故障点標定を行うようにして
も良いことは勿論である。FIGS. 4 (a) and 4 (b) are explanatory diagrams of the phase of the data sampled at a constant cycle, and the two terminals A and B of the system.
Of these, (a) shows the voltage of the A terminal and (b) shows the current of the A terminal. In the figure, if two electric quantities at 90 ° intervals at the A terminal are (V 1 A , V 2 A ) and (I 1 A , I 2 A ), 90
The maximum values V A , I A from the two electrical quantities at intervals of ° and the phases θ VA , θ IA from the zero point of the waveform to the sampling can be obtained as follows. First, regarding voltage, V 1 A = V A sin θ VA V 2 A = V A sin (θ VA + π / 2) = V A cos θ VA Similarly, for the current, I 1 A = I A sin θ IA I 2 A = I A sin (θ IA + π / 2) = I A cos θ IA Represents ∠ and (θ IA -θ VA) | In order to perform vector operations, when to adjust the phase of each electrical quantity and a reference voltage V A, A = | V A | ∠0 °, A = | I A be able to. Similarly, the following equation holds for the B terminal. B = | V B | ∠0 ° B = | I B | ∠ ( θ IB -θ VB) Here, when we consider the phase of the data sampled by the A terminal and the B terminal, the A terminal and the B terminal The sampling data are not synchronized because they are individually sampled. FIGS. 5 (a) and 5 (b) are explanatory views of the phase relationship between the voltages V A and V B measured at the A terminal and the B terminal. FIG. 5 (a) is a waveform of the voltage V A at the A terminal, and FIG. ) Indicates the waveform of the voltage V B at the B terminal. As is clear from the figure, the sampling timing (t 1 , t
2 , t 3 ……) are out of phase. However, at the time t F when the failure occurs, both the voltages V A and V B change at the same time. Therefore, in the present invention, the time (Δt A , Δt B ) from the time when the failure detection signal is output to the first sampling time is measured with a timer based on the failure detection signal which is a simultaneous signal at each terminal. , The time difference of this timer (Δt = Δt A
-Δt B ), that is, the amount of sampling deviation is used to synchronize the data at the A and B terminals. In Figure 5, the voltage V A, a phase difference .phi.V AB of V B is, φV AB = (θ VB -2πfΔt B) - (θ VA -2πfΔt A) = (θ VB -θ VA) + 2πfΔt similarly, A The phase difference φI AB between the terminal voltage V A and the terminal B current I B can be expressed as φI AB = (θ IB −θ VA ) + 2πfΔt. When the voltage V A is used as a reference here, A = | V A | ∠0 ° A = | I A | ∠ (θ IA −θ VA ) B = | V B | ∠ {(θ VB −θ VA ) + 2πfΔt} B = | I B | can be expressed by taking ∠ {(θ IB -θ VA) + 2πfΔt} strains a terminal so on, the voltage measured at the B terminal, a synchronous current. In the above description, the time from the output time of the failure detection signal to the next sampling time is measured, but the time from the sampling time to the output time of the failure detection signal may be measured. Of course. Next, the terminal device installed in each terminal of the system configured to measure the time from the time when the failure detection signal is output to the first sampling time will be described. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a terminal device installed at each terminal. In the figure, 1 is a transformer, 2 is a current transformer, and 3 and 4
Is an analog filter, 5 is sampling means, 6 is an analog / digital converter (hereinafter referred to as AD converter), 7 is a digital filter, 8 is a first memory for storing sampled data, and 9 is for transmission. A second memory, 10 for storing data selected from the first memory 8
Is a failure detection means, and 11 is a timer for measuring the time from the failure detection time to the next sampling. In such a configuration, the voltage amount and current amount of the system are taken in by the transformer 1 and the current transformer 2 and sampled at a constant period (for example, 30 ° intervals) by the sampling means 5 via the analog filters 3 and 4. It The sampled data is converted into a digital amount by the AD converter 6 and then applied to the digital filter 7 to remove harmonic components and DC components and stored in the first memory 8. Meanwhile, the transformer
1, the data taken in by the current transformer 2 is inputted to the failure detecting means 10 and the failure is detected. The failure detection means 10 is the second
As shown in the figure, the filter 12 that inverts the input and delays by half cycle, the resistors 13 and 14, the level detector 15, and the output signal of the level detector 15 are held for two cycles and output. And an output circuit 16 for controlling the output. 3A and 3B are explanatory diagrams of the operation of the failure detecting means 10. FIG. 3A shows a normal time and FIG. 3B shows a failure occurrence time. Failure detection means
Because 10 is normal is inverted by the filter 12 to the input I 1 Toko input I 1 as shown in FIG. 3 (a), the absolute value of the input I 2 obtained by delaying the equal polarities are opposite, Level detector
The input of 15 is zero because I 1 −I 2 = 0, and the failure detection signal is not output from the output circuit 16. On the other hand, when a failure occurs at time t F as shown in FIG. 3B, I 1 −I 2 ≠ 0 because I 1 and I 2 are different in magnitude, and the level detector 15 Is applied to the output circuit 16 to output a failure detection signal. This failure detection signal is applied to the timer 11 and the first memory 8. The timer 11 is configured to start counting when a failure detection signal is input and stop counting when the next sampling signal is input. Therefore, the timer 11 counts the time from the output of the failure detection signal to the input of the next sampling signal. Further, when the failure detection signal is input, the first memory 8 selects the data required for locating the failure point and outputs it to the second memory 9. Here, the data necessary for fault location is, for example, 2
There are two quantities at 90 ° intervals after the cycle and two quantities at one cycle before the failure. The reason why the two quantities after two cycles from the time of the failure occurrence are used is that two cycles are necessary for the filtering process, and the two quantities of the one cycle before the failure occurrence are used to eliminate the zero-phase circulating current. This is because. Second
The memory also stores the count value of the timer 11 and the trip number of the protection relay of the system. This trip number is used to determine whether or not the change in the data captured by the failure detection means 10 is due to an actual failure.
The selection data from the first memory 8 stored in the second memory, the count value of the timer 11 and the trip number are transmitted to the central unit. The central device receives data from each terminal device, obtains the sampling deviation amount in each terminal device from the count value of the timer of each terminal device, and samples the sampling data according to this deviation amount. After correcting the error and synchronizing the sampling data from each terminal device, the phenomenon is analyzed and the characteristics are grasped (in the case of fault location, the location of the fault point is calculated), and the output is judged by the presence or absence of the trip signal. In the above description, the data of each terminal device is transmitted to the central device, but without providing the central device, the data of one terminal device is transmitted to the other terminal and the sampling data is synchronized there. Needless to say, fault point localization may be performed by using the above method.
本発明によれば、各異地点において故障検知時点から前
あるいは次のサンプリング時点までの時間間隔を測定
し、この測定した時間に基づいて各異地点のサンプリン
グデータを補正して同期をとるように構成したので、サ
ンプリングデータを同期計測されたものと同等に取扱う
ことができるようになり、現象解析や特性把握の精度を
向上させることができる。According to the present invention, the time interval from the failure detection time point to the previous or next sampling time point is measured at each different point, and the sampling data of each different point is corrected based on the measured time so that synchronization is achieved. Since it is configured, it becomes possible to handle the sampling data in the same manner as the data measured synchronously, and it is possible to improve the accuracy of phenomenon analysis and characteristic grasp.
第1図は本発明に使用される端末装置の構成を示すブロ
ック図、第2図は故障検知手段の構成を示すブロック
図,第3図は故障検知手段の動作を説明するための波形
図,第4図はサンプリングデータの位相の説明美,第5
図は各端末装置でサンプリングされるデータの位相関係
の説明図を示している。 1:変圧器、2:変流器、3,4:アナログフィルタ、5:サンプ
リング手段、6:AD変換器、7:ディジタルフィルタ、8:第
1メモリ、9:第2メモリ、10:故障検知手段、11:タイ
マ、12:フィルタ、13,14:抵抗、15:レベル検出器、16:
出力回路。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a terminal device used in the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of failure detection means, and FIG. 3 is a waveform diagram for explaining the operation of the failure detection means. Fig. 4 shows the explanation of the phase of sampling data, No. 5
The figure shows an explanatory diagram of the phase relationship of the data sampled by each terminal device. 1: Transformer, 2: Current transformer, 3,4: Analog filter, 5: Sampling means, 6: AD converter, 7: Digital filter, 8: First memory, 9: Second memory, 10: Failure detection Means, 11: Timer, 12: Filter, 13, 14: Resistor, 15: Level detector, 16:
Output circuit.
フロントページの続き (72)発明者 斉藤 満雄 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 富士電機株式会社内 (72)発明者 成田 茂 神奈川県川崎市川崎区田辺新田1番1号 富士電機株式会社内Front page continued (72) Inventor Mitsuo Saito 1-1 Tanabe Nitta, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Fuji Electric Co., Ltd. (72) Inventor Shigeru Narita 1-1 Tanabe Nitta, Kawasaki-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Fuji Electric Co., Ltd.
Claims (1)
末装置には、故障等による状態変化が同一時点で発生す
るデータを非同期にて一定周期でサンプリングする手段
と、前記データに状態変化が発生した時点と前あるいは
次のサンプリング時点との時間間隔を測定する手段と、
所定のサンプリングデータと前記測定時間とを所定箇所
に伝送する手段とを設け、前記所定箇所では前記測定時
間に基づき、伝送されたサンプリングデータの同期をと
ることを特徴とする異地点情報の同期計測方式。1. A terminal device is installed at each of different points, and each terminal device asynchronously samples data at a constant period when a state change due to a failure or the like occurs, and a state change in the data. Means for measuring the time interval between the time when the occurrence of and the previous or next sampling time;
A means for transmitting predetermined sampling data and the measurement time to a predetermined place is provided, and at the predetermined place, the transmitted sampling data is synchronized based on the measurement time, and synchronous measurement of different point information is performed. method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61093069A JPH0756501B2 (en) | 1986-04-22 | 1986-04-22 | Synchronous measurement method for different point information |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61093069A JPH0756501B2 (en) | 1986-04-22 | 1986-04-22 | Synchronous measurement method for different point information |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62249077A JPS62249077A (en) | 1987-10-30 |
| JPH0756501B2 true JPH0756501B2 (en) | 1995-06-14 |
Family
ID=14072224
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61093069A Expired - Lifetime JPH0756501B2 (en) | 1986-04-22 | 1986-04-22 | Synchronous measurement method for different point information |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0756501B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4775882B2 (en) * | 2005-01-25 | 2011-09-21 | 東京電力株式会社 | Multipoint simultaneous measurement data processing apparatus and method |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58174863A (en) * | 1982-04-07 | 1983-10-13 | Fuji Electric Co Ltd | Fault locating system |
| JPS58219462A (en) * | 1982-06-15 | 1983-12-20 | Fuji Facom Corp | Fault point location system |
-
1986
- 1986-04-22 JP JP61093069A patent/JPH0756501B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62249077A (en) | 1987-10-30 |
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