JPH0783090B2 - Semiconductor device - Google Patents
Semiconductor deviceInfo
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- JPH0783090B2 JPH0783090B2 JP59058447A JP5844784A JPH0783090B2 JP H0783090 B2 JPH0783090 B2 JP H0783090B2 JP 59058447 A JP59058447 A JP 59058447A JP 5844784 A JP5844784 A JP 5844784A JP H0783090 B2 JPH0783090 B2 JP H0783090B2
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10D—INORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
- H10D84/00—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
- H10D84/201—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers characterised by the integration of only components covered by H10D1/00 or H10D8/00, e.g. RLC circuits
- H10D84/204—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers characterised by the integration of only components covered by H10D1/00 or H10D8/00, e.g. RLC circuits of combinations of diodes or capacitors or resistors
- H10D84/212—Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers characterised by the integration of only components covered by H10D1/00 or H10D8/00, e.g. RLC circuits of combinations of diodes or capacitors or resistors of only capacitors
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- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Element Separation (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Bipolar Integrated Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、PN接合分離技術により互に分離されたモノリ
シック集積素子で素子間特性が等しいことを要求される
半導体装置に関するもので、特に外囲器TO−236(JEDEC
形名)の3端子ツィンショットキーダイオードの端子間
容量バランスの補正に使用される。Description: TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a semiconductor device in which monolithic integrated elements separated from each other by a PN junction isolation technique are required to have the same inter-element characteristics. Vessel TO-236 (JEDEC
It is used to correct the capacitance balance between the terminals of the 3-terminal twin Schottky diode (model name).
一般に電子回路では例えば差動増幅回路やプッシュプル
電力増幅回路などのように特性の揃った半導体素子を適
当に組合せて高品質の機能素子を得ることが多い。バラ
ンスドミキサー回路等に特に用いられる3端子ショット
キーダイオードもこの種の装置で、同一半導体基板に同
時に形成される2つの電気特性のほぼ等しいショットキ
ーダイオードを組合せた高品質の半導体装置である。Generally, in an electronic circuit, a high quality functional element is often obtained by appropriately combining semiconductor elements having uniform characteristics such as a differential amplifier circuit and a push-pull power amplifier circuit. A three-terminal Schottky diode that is particularly used in a balanced mixer circuit or the like is also a device of this type, and is a high-quality semiconductor device that combines two Schottky diodes having substantially the same electrical characteristics that are simultaneously formed on the same semiconductor substrate.
以下PN接合分離技術による3端子ツィンショットキーダ
イオードを例として背景技術について説明する。The background art will be described below by taking a three-terminal twin Schottky diode by the PN junction separation technology as an example.
第1図は従来のTO−236に組み込まれた3端子ツィンシ
ョットキーダイオードの断面図である。1はP形シリコ
ン基板、2aおよび2bはN形分離層(以下N形層という)
で互に同形である。4は絶縁膜SiO2膜)、5aおよび5bは
ショットキー電極で互に同形である。6は配線電極、
6′は接続線、また7,8,9はTO−236(JEDECにより標準
化されているトランジスタ外形名)のフレームの一部
で、それぞれ外部接続端子を兼ねている。端子8には上
記シリコン基板1がマウントされる。ショットキー電極
5aとN形層2aとによりショットキーダイオードA、また
ショットキー電極5bとN形層2bとによりショットキーダ
イオードBがそれぞれ形成される。ダイオードA,Bは同
形であり、同じ工程を経て同時に形成されるため、その
特性はほぼ等しいものとなる。ショットキーダイオード
Aの電極5aとショットキーダイオードBのN形層2bとは
配線電極6により接続され、その中点は接続線10により
端子8に連結されている。また端子7と端子9とはそれ
ぞれ配線電極6を介してN形層2aと電極5bに接続されて
いる。N形層2aおよび2bはP形基板1との間にPN接合を
形成し、動作時には接合空乏層によって互に分離され
る。以上の構成の3端子ツィンショットキーダイオード
の3つの端子7,8,9より素子側をみた電気容量に着目し
た容量等価回路を第2図に示す。CSaおよびCSbはそれぞ
れショットキーダイオードAおよびBのショットキー容
量、CpNaはN形層2aをP形基板1より分離したときのPN
接合容量、CMOSaおよびCMOSbは絶縁膜をシリコン酸化膜
としたときの配線電極と基板との間に形成されるいわゆ
るMOS容量である。FIG. 1 is a sectional view of a 3-terminal twin Schottky diode incorporated in a conventional TO-236. 1 is a P-type silicon substrate, 2a and 2b are N-type isolation layers (hereinafter referred to as N-type layers)
And are isomorphic to each other. 4 is an insulating film SiO 2 film), and 5a and 5b are Schottky electrodes having the same shape. 6 is a wiring electrode,
6'is a connecting line, and 7,8,9 are parts of the frame of TO-236 (transistor outline name standardized by JEDEC), which also serve as external connection terminals. The silicon substrate 1 is mounted on the terminal 8. Schottky electrode
Schottky diode A is formed by 5a and N-type layer 2a, and Schottky diode B is formed by Schottky electrode 5b and N-type layer 2b. Since the diodes A and B have the same shape and are simultaneously formed through the same process, their characteristics are almost the same. The electrode 5a of the Schottky diode A and the N-type layer 2b of the Schottky diode B are connected by the wiring electrode 6, and the midpoint thereof is connected to the terminal 8 by the connection line 10. The terminals 7 and 9 are connected to the N-type layer 2a and the electrode 5b through the wiring electrodes 6, respectively. The N-type layers 2a and 2b form a PN junction with the P-type substrate 1 and are separated from each other by a junction depletion layer during operation. FIG. 2 shows a capacitance equivalent circuit focusing on the electric capacitance when the element side is viewed from the three terminals 7, 8 and 9 of the three-terminal twin Schottky diode having the above configuration. C Sa and C Sb are Schottky capacitors of Schottky diodes A and B, respectively, and C pNa is PN when the N-type layer 2a is separated from the P-type substrate 1.
The junction capacitors C MOSa and C MOSb are so-called MOS capacitors formed between the wiring electrode and the substrate when the insulating film is a silicon oxide film.
バランスド・ミキサー回路等に特に用いられるツィンタ
イプのショットキーダイオードは前記の如く製品で端子
間特性ができるだけ等しいことが要求される。特に順方
向の電圧電流特性と容量について揃っている要求が強
い。これに対し上記従来技術によるPN接合分離方式の3
端子ツィンショットキーダイオードでは第2図の容量等
価回路で示される通り端子間にあらわれる容量が不均衡
となっている。これはN形層2bをP形基板1より分離し
たときのPN接合容量が接続線10(第1図参照)によって
外部で短絡されていることによる。従来技術では避ける
ことのできない問題点である。As described above, the twin-type Schottky diode used particularly in the balanced mixer circuit is required to have the same terminal characteristics in the product. In particular, there is a strong demand that the forward voltage-current characteristics and the capacity are the same. On the other hand, the PN junction separation method according to the above-mentioned prior art 3
In the terminal twin Schottky diode, the capacitances appearing between the terminals are unbalanced as shown in the capacitance equivalent circuit of FIG. This is because the PN junction capacitance when the N-type layer 2b is separated from the P-type substrate 1 is short-circuited externally by the connection line 10 (see FIG. 1). This is a problem that cannot be avoided by the conventional technology.
本発明は、PN接合分離方式により互に分離された複数の
同形のモノリシック集積素子において、前記問題点を解
決し、素子間の容量バランスのとれた半導体装置を提供
することを目的とする。An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems in a plurality of monolithic integrated devices of the same shape which are separated from each other by the PN junction separation method, and to provide a semiconductor device in which the capacitance between the devices is balanced.
本発明は、PN接合分離方式にて分離された複数の同形で
電気特性の等しい素子で、かつPN分離接合容量の無視で
きない周波数での使用状況において、PN分離接合容量に
よる素子の外部端子間の容量不均衡を改善するものであ
る。PN接合容量は周知の通り電圧依存性を有するので、
一定値を有する普通のコンデンサを使用しては十分な容
量バランスを得ることは困難である。等しい電圧依存性
を持つ接合容量を不均衡を示す素子の所望端子間に並列
に接続する必要がある。すなわち本発明は、半導体基板
の一主面にモノリシックに集積されるとともにPN接合分
離方式により互いに分離された2つの同形のショットキ
ーダイオードと1つのバランス用PN接合容量とが併設さ
れた3端子ツインショットキーダイオードからなる半導
体装置であって、上記3端子ツインショットキーダイオ
ードにおける第1端子が第1ダイオードのアノード端子
であるとともに上記バランス用PN接合容量に接続され、
第2端子が第2ダイオードのカソード端子であり、そし
て第3端子が第1ダイオードのカソードと第2ダイオー
ドのアノードの共通端子であるとともに半導体基板をマ
ウントしていることを特徴とする半導体装置である。The present invention relates to a plurality of elements having the same shape and the same electrical characteristics that are separated by the PN junction separation method, and when the PN isolation junction capacitance is used at a frequency that cannot be ignored, between the external terminals of the element due to the PN isolation junction capacitance. It improves the capacity imbalance. As is well known, the PN junction capacitance has voltage dependence, so
It is difficult to obtain sufficient capacitance balance by using an ordinary capacitor having a constant value. It is necessary to connect junction capacitances having equal voltage dependence in parallel between the desired terminals of the element exhibiting imbalance. That is, the present invention relates to a three-terminal twin in which two Schottky diodes of the same shape monolithically integrated on one main surface of a semiconductor substrate and separated from each other by a PN junction separation method and one balancing PN junction capacitor are provided. A semiconductor device comprising a Schottky diode, wherein a first terminal of the three-terminal twin Schottky diode is an anode terminal of the first diode and is connected to the balancing PN junction capacitance,
A second terminal is a cathode terminal of a second diode, a third terminal is a common terminal of a cathode of the first diode and an anode of the second diode, and a semiconductor substrate is mounted on the semiconductor device. is there.
3端子ツィンショットキーダイオードを実施例として以
下本発明について説明する。第3図は本発明による3端
子ツィンショットキーダイオードの断面図、第4図はそ
の容量等価回路図である。第1図および第2図と同符号
のものは同一の部分をあらわす。本発明による3端子ツ
ィンショットキーダイオード(第3図)は従来のもの
(第1図)に容量バランス補正用のN形分離層(以下N
形層という)2cを新たに設けたものである。N形層2cは
N形層2aおよび2bと同形で同一工程によりP形シリコン
基板1の同一主面に形成されたものである。N形層2cは
P形基板1との接合領域にバランス用PN接合容量を形成
する。またN形層2cは配線電極6によりショットキー電
極5bと連結されるとともに端子9に接続される。製造工
程は従来のそれとほぼ同一で、前記の電極配線、ワイヤ
ボンディングを行ないTO−236に組込まれる。The present invention will be described below using a three-terminal twin Schottky diode as an example. FIG. 3 is a sectional view of a three-terminal twin Schottky diode according to the present invention, and FIG. 4 is a capacitance equivalent circuit diagram thereof. The same parts as those in FIGS. 1 and 2 represent the same parts. The three-terminal twin Schottky diode (FIG. 3) according to the present invention is the same as the conventional one (FIG. 1) and has an N-type separation layer (hereinafter referred to as N
Form layer) 2c is newly provided. The N-type layer 2c has the same shape as the N-type layers 2a and 2b and is formed on the same main surface of the P-type silicon substrate 1 by the same step. The N-type layer 2c forms a balancing PN junction capacitor in the junction region with the P-type substrate 1. The N-type layer 2c is connected to the Schottky electrode 5b by the wiring electrode 6 and also to the terminal 9. The manufacturing process is almost the same as that of the conventional one, and the electrode wiring and wire bonding described above are carried out and it is incorporated into the TO-236.
3端子ツィンショットキーダイオードの特性は共通端子
8(使用方法によっては中性端子とも呼ばれる)と2つ
の端子7,9との端子間特性が揃っていることが要求され
る。第4図は容量特性についての3端子間の容量等価回
路図である。CSaおよびCSbはショットキーダイオードA
およびBのショットキー容量(ショットキーダイオード
を非直線抵抗と静電容量との並列等価回路であらわした
ときの静電容量)をそれぞれあらわし、ダイオードA,B
の電気特性がほぼ等しいのでCas=CSbとなる。CMOSaお
よびCMOSbはそれぞれシリコン酸化膜を誘電体とする配
線電極と基板とのいわゆるMOS容量の合成等価容量で、
配線電極の形状をほぼ等しくすればCMOSa=CMOSbとする
ことは可能である。N形層2bとP形基板1との間に形成
される接合容量は、接続線10がN形層2bの配線電極6と
端子8とを短絡しているため容量等価回路には無視でき
る。CpNaはN形層2aをP形基板1と分離したときのPN接
合容量であり、CpNcはN形層2cをP形基板1と分離した
ときのバランス用PN接合容量である。N形層2aとN形層
2cとは同一のP形基板1上に同形、同一拡散工程で形成
されるので、バイアスの加わらない場合には当然CPNa=
CPNcとなる。3端子ツインダイオードに順方向バイアス
が加わると、N形層2aとP形基板の間(CPNa)には順方
向バイアスが印加され、N形層2cとP形基板の間
(CPNc)には逆方向バイアスが印加されて、CPNaとCPNc
とは一致せずその間に差が生じるけれども、バランスド
ミキサー回路におけるバイアスはせいぜい0.4V以下であ
るのでその差は極めて小さい。PN接合容量は、例えば、
全体容量0.8pF(ショットキー容量0.5pF、MOS容量など
0.1pF)のもののう0.2pFの大きさを占めるから、0.4V以
下のバイアスによるPN接合容量の変動は相対的にみて小
さいのである。したがって端子7と共通端子8との間の
合成容量C78は(CSa+CMOSa+CPNa)となり、端子9と
共通端子8との間の合成容量C98は、(CSb+CMOSb+C
PNc)となり、バランス用接合容量CPNcを設けない場合
と比較すればC78とC98の一致性は格段に改善される。The characteristics of the three-terminal twin Schottky diode are required to have the same characteristics between the common terminal 8 (also called a neutral terminal depending on the usage) and the two terminals 7 and 9. FIG. 4 is a capacitance equivalent circuit diagram between three terminals regarding the capacitance characteristic. C Sa and C Sb are Schottky diodes A
And B are represented by Schottky capacitances (capacitances when a Schottky diode is represented by a parallel equivalent circuit of a non-linear resistance and an electrostatic capacitance).
Since the electric characteristics of are almost equal, Cas = C Sb . C MOSa and C MOSb are the total equivalent capacitances of the so-called MOS capacitances of the wiring electrode and the substrate, each of which has a silicon oxide film as a dielectric,
It is possible to set C MOSa = C MOSb by making the shapes of the wiring electrodes almost the same. The junction capacitance formed between the N-type layer 2b and the P-type substrate 1 can be ignored in the capacitance equivalent circuit because the connection line 10 short-circuits the wiring electrode 6 and the terminal 8 of the N-type layer 2b. C pNa is a PN junction capacitance when the N-type layer 2a is separated from the P-type substrate 1, and C pNc is a balancing PN junction capacitance when the N-type layer 2c is separated from the P-type substrate 1. N-type layer 2a and N-type layer
Since 2c is formed on the same P-type substrate 1 in the same shape and in the same diffusion process, C PNa = naturally when no bias is applied.
It becomes C PNc . When a forward bias is applied to the 3-terminal twin diode, a forward bias is applied between the N-type layer 2a and the P-type substrate (C PNa ) and between the N-type layer 2c and the P-type substrate (C PNc ). Is reverse biased and C PNa and C PNc
However, the difference is extremely small because the bias in the balanced mixer circuit is at most 0.4 V or less. The PN junction capacitance is, for example,
Total capacitance 0.8pF (Schottky capacitance 0.5pF, MOS capacitance, etc.
(0.1pF), which accounts for 0.2pF, the fluctuation of PN junction capacitance due to bias of 0.4V or less is relatively small. Therefore, the combined capacitance C 78 between the terminal 7 and the common terminal 8 is (C Sa + C MOSa + C PNa ), and the combined capacitance C 98 between the terminal 9 and the common terminal 8 is (C Sb + C MOSb + C
PNc ), and the agreement between C 78 and C 98 is significantly improved compared to the case where the balancing junction capacitance C PNc is not provided.
なおバランス用PN接合容量CpNcの値は本実施例のごとく
CpNaに等しくする場合に限定されない。例えば配線電極
構造の不同によってCMOSaとCMOSbと相異する場合には、
バランス用PN接合面積を調整してCpNcの値が(CpNa+C
MOSa−CMOSb)とすることもできる。The value of the balance PN junction capacitance C pNc is as in this example.
It is not limited to making it equal to C pNa . For example, when C MOSa and C MOSb are different due to the difference in wiring electrode structure,
The value of C PNC adjusts the PN junction area for balance (C pNa + C
MOSa- C MOSb ).
周知のとおり集積回路において同一基板上に近接して同
一工程にて形成される半導体素子の電気的特性は、温度
変化があっても互にほぼ等しいという特徴がある。この
特徴に加えて、素子間の容量バランスのとれた構造とす
る本発明を適用すれば極めて高品質の半導体装置が得ら
れる。実施例にあげた本発明による3端子ツィンショッ
トキーダイオードにおいては製品の端子間の容量C78とC
98との差は無視できるほど小さく、2つのショットキー
ダイオードの特性の均一性と相まって、これをバランス
ドミキサー回路に使用した結果、局部発振電圧の漏れは
十分低減され、混合効率の良い、高品質のミキサー回路
特性が得られた。As is well known, the electric characteristics of semiconductor elements formed in the same step on the same substrate in an integrated circuit are substantially equal to each other even if the temperature changes. In addition to this feature, by applying the present invention having a structure in which capacitance between elements is well balanced, an extremely high quality semiconductor device can be obtained. In the 3-terminal twin Schottky diode according to the present invention described in the embodiments, the capacitance C 78 and C between the terminals of the product
The difference with 98 is so small that it can be ignored, and as a result of using this in the balanced mixer circuit in combination with the uniformity of the characteristics of the two Schottky diodes, the leakage of the local oscillation voltage is sufficiently reduced and the mixing efficiency is high. A quality mixer circuit characteristic was obtained.
第1図および第2図は従来技術を説明するための3端子
ツィンショットキーダイオードのそれぞれ断面図および
その端子間容量等価回路図、第3図および第4図は本発
明による3端子ツィンショットキーダイオードのそれぞ
れ断面図およびその端子間容量等価回路図である。 1……P形シリコン基板、2a,2b……N形分離層(N形
層という)、2c……容量バランス補正用N形分離層(N
形層という)、4……絶縁膜、5a,5b……ショットキー
電極、6……配線電極、7,8,9……端子(TO−236のフレ
ームを兼ねる)、A,B……ショットキーダイオード、
Csa,Csbショットキー容量、CpNa……PN分離の接合容
量、CpNc……バランス用PN接合容量。1 and 2 are cross-sectional views of a three-terminal twin Schottky diode and a capacitance equivalent circuit diagram thereof, respectively, for explaining the prior art, and FIGS. 3 and 4 are three-terminal twin Schottky diodes according to the present invention. FIG. 3 is a cross-sectional view of a diode and an equivalent circuit diagram of capacitance between terminals thereof. 1 ... P-type silicon substrate, 2a, 2b ... N-type isolation layer (referred to as N-type layer), 2c ... N-type isolation layer for capacitance balance correction (N
Form layer) 4 ... Insulating film, 5a, 5b ... Schottky electrode, 6 ... Wiring electrode, 7,8, 9 ... Terminal (also serves as the frame of TO-236), A, B ... Shot Key diode,
C sa , C sb Schottky capacitance, C pNa …… PN separation junction capacitance, C pNc …… Balance PN junction capacitance.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/8222 27/06 29/872 7514−4M H01L 27/06 101 D 8826−4M 29/48 F ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Internal reference number FI Technical display location H01L 21/8222 27/06 29/872 7514-4M H01L 27/06 101 D 8826-4M 29/48 F
Claims (1)
されるとともにPN接合分離方式により互いに分離された
2つの同形のショットキーダイオードと1つのバランス
用PN接合容量とが併設された3端子ツインショットキー
ダイオードからなる半導体装置であって、上記3端子ツ
インショットキーダイオードにおける第1端子が第1ダ
イオードのアノード端子であるとともに上記バランス用
PN接合容量に接続され、第2端子が第2ダイオードのカ
ソード端子であり、そして第3端子が第1ダイオードの
カソードと第2ダイオードのアノードの共通端子である
とともに半導体基板をマウントしていることを特徴とす
る半導体装置。1. A three-terminal twin in which two Schottky diodes of the same shape monolithically integrated on one main surface of a semiconductor substrate and separated from each other by a PN junction separation method and one balancing PN junction capacitor are provided side by side. A semiconductor device comprising a Schottky diode, wherein the first terminal of the three-terminal twin Schottky diode is the anode terminal of the first diode and the balance
It is connected to the PN junction capacitor, the second terminal is the cathode terminal of the second diode, the third terminal is the common terminal of the cathode of the first diode and the anode of the second diode, and the semiconductor substrate is mounted. A semiconductor device characterized by:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59058447A JPH0783090B2 (en) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59058447A JPH0783090B2 (en) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | Semiconductor device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60202960A JPS60202960A (en) | 1985-10-14 |
| JPH0783090B2 true JPH0783090B2 (en) | 1995-09-06 |
Family
ID=13084660
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59058447A Expired - Lifetime JPH0783090B2 (en) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | Semiconductor device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0783090B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0666457B2 (en) * | 1985-03-19 | 1994-08-24 | 三洋電機株式会社 | Semiconductor device |
-
1984
- 1984-03-28 JP JP59058447A patent/JPH0783090B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60202960A (en) | 1985-10-14 |
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