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JPH0791146B2 - シリコン単結晶製造用加熱炉 - Google Patents
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JPH0791146B2 - シリコン単結晶製造用加熱炉 - Google Patents

シリコン単結晶製造用加熱炉

Info

Publication number
JPH0791146B2
JPH0791146B2 JP3116187A JP3116187A JPH0791146B2 JP H0791146 B2 JPH0791146 B2 JP H0791146B2 JP 3116187 A JP3116187 A JP 3116187A JP 3116187 A JP3116187 A JP 3116187A JP H0791146 B2 JPH0791146 B2 JP H0791146B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
single crystal
silicon single
heating furnace
gate
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP3116187A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63201091A (ja
Inventor
典夫 橋本
治 米川
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Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
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Publication date
Application filed by Komatsu Ltd filed Critical Komatsu Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、いわゆるチョクラルスキー法に基づいてシリ
コン単結晶を引き上げ形成するさいに適用される加熱炉
に関する。
〔従来の技術〕
いわゆるチョクラルスキー法は、加熱炉によって溶融さ
れたシリコン溶融液に種結晶を接触させ、この種結晶を
引き上げながら、シリコン単結晶を成長、形成する方法
である。この方法によつて形成されたシリコン単結晶を
加熱炉から取り出す場合、従来はこの単結晶を引き上げ
装置によって加熱炉外まで引き上げるようにしている。
すなわち、単結晶の下端が加熱炉最上部に位置されるゲ
ートチャンバよりもさらに上に位置されるまで引き上げ
られる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、シリコン単結晶の歩留りを向上するには、で
きるだけ長さの大きなシリコン単結晶を得る必要があ
る。
上記したように、従来はシリコン単結晶の下端が加熱炉
外に完全に露出するまで該結晶を引き上げていたので、
大きな長さの単結晶を得ようとする場合、加熱炉が配設
されたクリーンルームの天井高さと引き上げ装置の設置
高さを十分に高くする必要があり、このためクリーンル
ームおよび引き上げ装置が大型化かつ高コスト化すると
いう不都合を生じていた。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもの
で、ゲートチャンバと、このゲートチャンバの下方に位
置されるトップチャンバと、このトップチャンバの下方
に位置されるメインチャンバとに分割された炉体と、上
記ゲートチャンバを上下動可能に支持する手段と、上記
トップチャンバを上記メインチャンバに対する載置域外
に、かつ水平方向に退避可能に支持する手段とを有した
チャンバ支持手段とを備えている。
〔実施例〕
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。
第1図は、本発明に係るシリコン単結晶製造用加熱炉の
一実施例を示している。
同図に示すようにこの実施例に係る加熱炉は、炉体1と
支持装置2とから構成されている。
炉体1は、ゲートチャンバ3と、このチャンバ3の下方
に位置されるトップチャンバ4と、このトップチャンバ
4の下方に位置されるメインチャンバ5とに分割されて
いる。
一方支持装置2は、炉体1の側方に併設された支持柱6
と、この支持柱6にそれぞれ回動可能にかつ上下動可能
に支承された上部ホルダ7および下部ホルダ8と、これ
らのホルダ7,8間において上記支持柱6に上下動可能に
支承された上部アーム9および下部アーム10と、上記支
持柱6に対し平行配置されたシリンダ11とを備えてい
る。そして前記ゲートチャンバ3は、上部ホルダ7に、
またトップチャンバ4は下部ホルダ8にそれぞれ固定さ
れている。
上記シリンダ11のロッド11aの先端部には、押上げブロ
ック12が固定されている。上記ブロック12は、小径部12
a、12cと大径部12bを有し、小径部12aは下部アーム10に
上下動可能に嵌入されている。また、小径部12cは上部
アーム9に上下動可能に嵌入されている。そして、シリ
ンダ11が縮退されている状態において、上記ブロック12
の小径部12aの上面と上部アーム9の下面間にはギャッ
プd1が形成され、該ブロック12の大径部12bの上面と下
部アーム10の下面間にはギャップd2(>d1)が形成され
ている。
そしてブロック12cの先端に設けられたストッパ13は図
示したシリンダ縮退時において上部アーム9を下方に押
圧している。
また、この実施例では、上記ギャップd1が5mmに、また
ギャップd2が20mmにそれぞれ設定されている。
上記メインチャンバ5の内部には多結晶シリコン14を収
容させた容器(るつぼ)15が配設され、かつこの容器の
周囲に図示されていないヒータが配設されている。上記
容器15内の多結晶シリコン14は上記ヒータで加熱されて
溶融される。
上記チャンバ3,4および5を貫通する引き上げシャフト1
6は、図示されていない引き上げ機構によって上下動さ
れ、かつ中心軸線まわりに回転される。
つぎに、本実施例の作用について第2図〜第6図を参照
して説明する。
まず、上記引き上げシャフト16の先端に種結晶17が取付
けられ、しかるのち該結晶17が多結晶シリコン14に接触
するまで、このシャフト16が下降される。その後、上記
シャフト16が回転しながら引き上げられ、これに伴って
その引き上げ方向にシリコン単結晶が成長していく。そ
して、この引き上げ処理によって得られたシリコン単結
晶のインゴット18は、つぎのようにして炉体1から取り
出される。
すなわち、まず第2図に示すように形成されたインゴッ
ト18の下端高さがトップチャンバ4の上端高さより若干
大きくなるまで上記シャフト16が上動される。
つぎに、シリンダ11が上方作動される。これによって前
記ブロック12が5mm上昇した時点で前記ギャップd1が消
失する。ギャップd1がなくなると、ブロック12の小径部
12aの上面とアーム9の下面とが当接するので、以後、
シリンダ11の上動に伴ってゲートチャンバ3が上動され
る。
その後、ゲートチャバ3がd2−d1(=15mm)だけ上動さ
れると、前記ギャップd2が消失してブロック12の大径部
12bの上面とアーム10の下面とが当接する(第2図参
照)。
第2図に示す位置から、さらにシリンダ12が上動される
と、距離15mmを保持した状態でチャンバ3,4が一体的に
上昇される(第3図参照)。
以後、トップチャンバ4とメインチャンバ5とのなす間
隔が所定の大きさ(たとえば20mm)になった時点でシリ
ンダ11の作動が停止される。ついで、トップチャンバ4
が第4図に示すように支持柱6を中心軸として水平旋回
され、これによってトップチャンバ4が、メインチャン
バ5に対する載置域外の位置まで退避される。つぎに、
第5図に示すようにゲートチャンバ3の上端がインゴッ
ト18の下端よりも低く位置されるまで、シリンダ11が下
動される。この状態では、インゴット18が炉体1から完
全露出されている。そこで、第6図に示すようにゲート
チャンバ3をメインチャンバ5の上方から側方に旋回さ
せれば、インゴット18を容易に取り出すことができる。
つまり、インゴット18がゲートチャンバ3内にあるよう
な低位置にもかかわらず(第4図参照)、トップチャン
バ4を水平旋回させ、ゲートチャンバ3を下動させるこ
とで、インゴット18を取り出すことができるわけであり
(第5図参照)、ゲートチャンバ3の高さ分だけインゴ
ット18の上昇ストロークが小さくてすみ、加熱炉が設置
された部屋を低くすることができる。
なお、上記実施例では、シリンダ11の上下動操作および
チャンバ3,4の旋回操作を手動で行っているが、これを
シーケンス制御によって自動的に行なうことも当然可能
である。
〔発明の効果〕
上記するように、本発明によれば、シリコン単結晶を炉
体の上方まで引き上げることなく取り出すことができ
る。したがって、クリーンルームの天井を高くすること
なく従来よりも長いシリコン単結晶を取り出すことが可
能であり、これにより製品の分留りを著しく向上するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係るシリコン単結晶製造用加熱炉の
一実施例を示した正面図、第2図、第3図、第4図、第
5図および第6図は、それぞれ第1図に示したシリコン
単結晶製造用加熱炉の作用を説明した図である。 1……炉体、2……支持装置、3……ゲートチャンバ、
4……トップチャンバ、5……メインチャンバ、6……
支持柱、7……上部ホルダ、8……下部ホルダ、9……
上部アーム、10……下部アーム、11……シリンダ、11a
……ロッド、12……押上げブロック、12a……小径部、1
2b……大径部、13……ストッパ、14……多結晶シリコ
ン、15……容器、16……引き上げシャフト、17……種結
晶、18……インゴット。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】シリコン単結晶を引き上げ成長させる際に
    使用される加熱炉であって、 ゲートチャンバと、このゲートチャンバの下方に位置さ
    れるトップチャンバと、このトップチャンバの下方に位
    置されるメインチャンバとに分割された炉体と、 上記ゲートチャンバを上下動可能に支持する手段と、上
    記トップチャンバを上記メインチャンバに対する載置域
    外に、かつ水平方向に退避可能に支持する手段とを有し
    たチャンバ支持手段 とを備えることを特徴とするシリコン単結晶製造用加熱
    炉。
JP3116187A 1987-02-13 1987-02-13 シリコン単結晶製造用加熱炉 Expired - Lifetime JPH0791146B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3116187A JPH0791146B2 (ja) 1987-02-13 1987-02-13 シリコン単結晶製造用加熱炉

Applications Claiming Priority (1)

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JP3116187A JPH0791146B2 (ja) 1987-02-13 1987-02-13 シリコン単結晶製造用加熱炉

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63201091A JPS63201091A (ja) 1988-08-19
JPH0791146B2 true JPH0791146B2 (ja) 1995-10-04

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JP3116187A Expired - Lifetime JPH0791146B2 (ja) 1987-02-13 1987-02-13 シリコン単結晶製造用加熱炉

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DE19538857A1 (de) * 1995-10-19 1997-04-24 Leybold Ag Verfahren und Vorrichtung zum Ziehen von Einkristallen aus einer in einem Tiegel befindlichen Schmelze
JP3826472B2 (ja) * 1996-02-08 2006-09-27 株式会社Sumco 単結晶製造装置およびこれを使用した単結晶製造方法
DE19628316B4 (de) * 1996-07-13 2006-07-13 Crystal Growing Systems Gmbh Vorrichtung zum Heben, Schwenken und Drehen des Deckels eines Vakuumkessels einer Kristallziehanlage

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JPS63201091A (ja) 1988-08-19

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