JPH0793124B2 - Ion implanter - Google Patents
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- JPH0793124B2 JPH0793124B2 JP61234195A JP23419586A JPH0793124B2 JP H0793124 B2 JPH0793124 B2 JP H0793124B2 JP 61234195 A JP61234195 A JP 61234195A JP 23419586 A JP23419586 A JP 23419586A JP H0793124 B2 JPH0793124 B2 JP H0793124B2
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Links
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 claims description 75
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 60
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 49
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 25
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 19
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 claims description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 49
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 22
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 17
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 9
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 9
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 5
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 3
- 241000894007 species Species 0.000 description 3
- 239000007943 implant Substances 0.000 description 2
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- 244000309464 bull Species 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010891 electric arc Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体ウェハへイオンを注入するイオン注
入装置に関するものである。TECHNICAL FIELD The present invention relates to an ion implantation apparatus for implanting ions into a semiconductor wafer.
第4図は従来の静電スキャン型のイオン注入装置の一例
の構成を示している。この静電スキャン型のイオン注入
装置は、イオン注入装置本体I′と、このイオン注入装
置本体I′を監視制御するイオン注入監視制御部II′と
で構成され、イオン注入監視制御部II′とイオン注入装
置本体I′との間で制御信号および監視信号の受け渡し
を行うようになっている。FIG. 4 shows the configuration of an example of a conventional electrostatic scan type ion implantation apparatus. This electrostatic scan type ion implanter comprises an ion implanter body I'and an ion implant monitor controller II 'which monitors and controls the ion implanter body I', and an ion implant monitor controller II '. A control signal and a monitor signal are exchanged with the main body I'of the ion implanter.
イオン注入装置本体I′は、イオン源1,質量分析器3,加
速管4,エンドステーション6を主要要素として構成さ
れ、高電位部25には、上記の他に、ガスボックス7,イオ
ン源電8,引出電源9,マグネット電源10,テレメータ22が
設置され、大地部24には、上記の他に加速電源11,Qレン
ズ電源14,走査電源15,スキャンモード,スポットモード
の選択を行う注入モード選択部16,エンドステーション
制御部17,真空制御部18,インタロック部19,信号中継局2
0,テレメータ21が設置されている。The ion implanter main body I'is mainly composed of an ion source 1, a mass spectrometer 3, an accelerating tube 4, and an end station 6, and the high potential section 25 has a gas box 7, an ion source electric power source in addition to the above. 8, pull-out power source 9, magnet power source 10, telemeter 22 are installed, and in addition to the above, acceleration power source 11, Q lens power source 14, scanning power source 15, scanning mode, injection mode for selecting the spot mode on the ground 24. Selection unit 16, end station control unit 17, vacuum control unit 18, interlock unit 19, signal relay station 2
0, telemeter 21 is installed.
また、イオン注入監視制御部II′は、操作部31,表示部3
2,テレメータ33を含んで構成される。Further, the ion implantation monitoring control unit II ′ includes an operation unit 31, a display unit 3
2. The telemeter 33 is included.
イオン注入監視制御部II′とイオン注入装置本体I′と
の間は、光ファイバケーブルと導電ケーブルとで接続さ
れている。具体的には、電位的に問題のないイオン注入
監視制御部II′とイオン注入装置本体I′の大地部24内
の加速電源11,Qレンズ電源14,走査電源15,注入モード選
択部16,エンドステーション制御部17,真空制御部18,信
号中継局20との間は導電ケーブルで接続している。ま
た、大きな電位差があるイオン注入監視制御部II′と高
電位部25のガスボックス7,イオン源電源8,引出電源9,マ
グネット電源10との間はテレメータ33,22を介して光フ
ァイバケーブルで接続している。また、大地部24のテレ
メータ21は、イオン注入監視制御部II′に対し導電ケー
ブルで接続され、高電位部25のイオン源電源8,引出電源
9,マグネット電源10に対し光ファイバケーブルで接続さ
れている。また、テレメータ22は、引出電源9,マグネッ
ト電源10に導電ケーブルで接続されている。An optical fiber cable and a conductive cable are connected between the ion implantation monitoring controller II 'and the ion implantation apparatus body I'. Specifically, the ion implantation monitoring control unit II ′ and the acceleration power source 11, the Q lens power source 14, the scanning power source 15, the implantation mode selecting unit 16, in the ground portion 24 of the ion implantation apparatus main body I ′ having no potential problem, The end station controller 17, the vacuum controller 18, and the signal relay station 20 are connected by a conductive cable. Further, an optical fiber cable is used between the ion implantation monitoring control unit II ′ having a large potential difference and the gas box 7, ion source power source 8, extraction power source 9, and magnet power source 10 of the high potential unit 25 via telemeters 33 and 22. Connected. Further, the telemeter 21 of the ground portion 24 is connected to the ion implantation monitoring control unit II ′ by a conductive cable, and the ion source power source 8 and the extraction power source of the high potential portion 25 are connected.
9, It is connected to the magnet power supply 10 by an optical fiber cable. Further, the telemeter 22 is connected to the extraction power source 9 and the magnet power source 10 by a conductive cable.
なお、ガスボックス7,イオン源電源8,引出電源9,マグネ
ット電源10には、テレメータ21,33にそれぞれ対応する
テレメータが内蔵されている。Note that the gas box 7, the ion source power source 8, the extraction power source 9, and the magnet power source 10 have built-in telemeters corresponding to the telemeters 21 and 33, respectively.
このイオン注入装置においては、イオン注入監視制御部
II′の操作部31の各種スイッチの操作による制御信号
は、イオン注入装置本体I′の高電位部25のガスボック
ス7,イオン源電源8,引出電源9,マグネット電源10へはテ
レメータ33,21,22により光信号に変換されて伝送され、
監視信号は逆の経路で同様に光信号に変換されて伝送さ
れる。また、イオン注入監視制御部II′から大地部24の
加速電源11,Qレンズ電源14,走査電源15,注入モード選択
部16,エンドステーション制御部17,真空制御部18,イン
タロック部19等へ送られる制御信号は電気信号で送ら
れ、また監視信号は、逆の経路で同様に電気信号で送ら
れる。In this ion implantation apparatus, the ion implantation monitoring control unit
Control signals generated by operating various switches of the operation unit 31 of II 'are telemeters 33, 21 to the gas box 7, ion source power supply 8, extraction power supply 9 and magnet power supply 10 of the high potential part 25 of the ion implanter main body I'. , 22, converted into an optical signal and transmitted,
The supervisory signal is similarly converted into an optical signal and transmitted in the reverse path. Further, from the ion implantation monitoring control unit II ′ to the acceleration power supply 11, the Q lens power supply 14, the scanning power supply 15, the implantation mode selection unit 16, the end station control unit 17, the vacuum control unit 18, the interlock unit 19, etc. of the ground portion 24. The control signals sent are sent electronically, and the supervisory signals are also sent electronically on the reverse path.
そして、このような制御信号の伝送によって、ガスボッ
クス7,イオン源電源8,引出電源9,マグネット電源10,加
速電源11等に内蔵された電磁弁,電磁リレー等を駆動し
て、例えばガスボックス7の特定のガス供給を開始した
り、その量を調整したり、あるいは引出電源9の投入遮
断,マグネット電源10の投入遮断,電流加減等を行い、
また、イオン源電源8,引出電源9,マグネット電源10等の
各種電圧、電流値等の監視信号をイオン注入監視制御部
II′へ送り、表示部32でそれを表示する。Then, by transmitting such a control signal, a solenoid valve, a solenoid relay, etc. built in the gas box 7, the ion source power source 8, the extraction power source 9, the magnet power source 10, the acceleration power source 11, etc. are driven, and, for example, the gas box. 7, start the supply of specific gas, adjust the amount, turn on / off the pull-out power source 9, turn on / off the magnet power source 10, adjust the current,
Also, monitoring signals such as various voltage and current values of the ion source power supply 8, extraction power supply 9, magnet power supply 10, etc. are supplied to the ion implantation monitoring control unit.
It is sent to II 'and displayed on the display unit 32.
このような従来のイオン注入装置は、イオン注入装置本
体I′とイオン注入監視制御部II′との間で1種類の制
御信号または監視信号に対し一つの伝送路を使用する単
純な伝送方式で制御信号および監視信号の伝送を行って
いたため、イオン注入装置本体I′とイオン注入監視制
御部II′とを接続するケーブル本数が膨大であって、シ
ステム信頼性が低く、またメインテナンスを困難なもの
としていた。Such a conventional ion implanter is a simple transmission system that uses one transmission path for one type of control signal or supervisory signal between the ion implanter body I'and the ion implantation monitor control unit II '. Since the control signal and the monitoring signal are transmitted, the number of cables connecting the ion implantation apparatus main body I'and the ion implantation monitoring control section II 'is enormous, resulting in low system reliability and difficult maintenance. I was trying.
この発明の目的は、イオン注入装置本体とイオン注入監
視制御部との間のケーブル本数を少くしてシステム信頼
性を向上させるとともにメインテナンスを容易にするこ
とができるイオン注入装置を提供することである。An object of the present invention is to provide an ion implantation apparatus which can reduce the number of cables between the ion implantation apparatus main body and the ion implantation monitoring control unit to improve system reliability and facilitate maintenance. .
この発明のイオン注入装置は、イオン注入装置本体とイ
オン注入監視制御部との間で制御信号および監視信号の
受け渡しを行うイオン注入装置において、 前記イオン注入監視制御部に制御信号送信用および監視
信号受信用の多重伝送親器とこの多重伝送親器に接続さ
れる親器側光入出力ユニットとを内蔵し、 前記イオン注入装置本体に制御信号受信用および監視信
号送信用の多重伝送子器とこの多重伝送子器に接続され
る子器側光入出力ユニットとを複数組分散して内蔵し、
かつ少なくとも1組の多重伝送子器および子器側光入出
力ユニットは前記イオン注入装置本体の高電位部に配置
し、 前記イオン注入監視制御部の親器側光入出力ユニットと
前記イオン注入装置本体の一つの子器側光入出力ユニッ
トとを光ファイバケーブルで接続し、前記複数の子器側
光入出力ユニットを子器間光ファイバケーブルで接続し
たことを特徴とする。An ion implantation apparatus according to the present invention is an ion implantation apparatus that transfers a control signal and a monitoring signal between an ion implantation apparatus main body and an ion implantation monitoring control unit, wherein the ion implantation monitoring control unit transmits a control signal and a monitoring signal. A multi-transmission master for reception and a master-side optical input / output unit connected to this multi-transmission master are built-in, and a multi-transmission slave for control signal reception and supervisory signal transmission is provided in the ion implantation apparatus body. A plurality of slave unit side optical input / output units connected to this multiplex slave unit are distributed and built in,
And, at least one set of the multiplex transmission device and the slave device side optical input / output unit is arranged in a high potential part of the ion implantation device body, and the master device side optical input / output unit of the ion implantation monitoring control part and the ion implantation device. It is characterized in that one main unit side optical input / output unit of the main body is connected by an optical fiber cable, and the plurality of sub unit side optical input / output units are connected by an inter-subunit optical fiber cable.
この発明の構成によれば、イオン注入監視制御部に多重
伝送親器および親器側光入出力ユニットを内蔵し、イオ
ン注入装置本体に多重伝送子器および子器側光入出力ユ
ニットを複数組分散して内蔵し、かつ少なくとも1組の
多重伝送子器および子器側光入出力ユニットはイオン注
入装置本体の高電位部に配置し、親器側光入出力ユニッ
トおよび子器側光入出力ユニットを光ファイバケーブル
で接続し、複数の子器側光入出力ユニットを子器間光フ
ァイバケーブルで接続し、イオン注入監視制御部とイオ
ン注入装置本体との間で、制御信号および監視信号を多
重化しかつ光信号に変換して受け渡しを行うため、光フ
ァイバケーブルは制御信号用と監視信号用との2本でよ
く、イオン注入監視制御部とイオン注入装置本体と接続
するケーブル本数を2本ですませることができ、従来に
比べて大幅なケーブル本数の削減が可能となり、システ
ム信頼性を向上させることができ、またメインテナンス
を容易にすることができる。また、光信号で伝送するの
で、電位の大きく異なる箇所に信号伝送を行う場合で
も、電気的絶縁を確保できて安全性が高く、かつ外来ノ
イズにも影響されにくく、この点でも信頼性が高い。According to the configuration of the present invention, the multiplex transmission master unit and the master side optical input / output unit are built in the ion implantation monitoring control unit, and a plurality of multiple transmission slave units and slave unit side optical input / output units are set in the main body of the ion implantation apparatus. Distributed and built-in, and at least one set of multiplex transmission element and optical element input / output unit on the child device side is arranged in the high potential part of the main body of the ion implanter, and optical input / output unit on the parent device side and optical input / output apparatus on the child device side. Units are connected with an optical fiber cable, and multiple optical input / output units on the slave unit side are connected with an optical fiber cable between slave units, and a control signal and a monitor signal are sent between the ion implantation monitoring control unit and the ion implanter body. Since it is multiplexed and converted into an optical signal for delivery, only two optical fiber cables are required, one for control signals and one for monitoring signals. The number of cables connecting the ion implantation monitoring control unit and the ion implantation equipment body Can be dispensed in two, it is possible to reduce significantly the number of cables than the conventional, it is possible to increase system reliability and can facilitate maintenance. Further, since the signal is transmitted by an optical signal, even when the signal is transmitted to a portion having a large potential difference, electrical insulation can be ensured and safety is high, and it is also less susceptible to external noise, which is also highly reliable. .
第1図はこの発明の一実施例のイオン注入装置の構成を
示している。このイオン注入装置は、イオン注入装置本
体Iと、このイオン注入装置本体Iを監視制御するイオ
ン注入監視制御部IIとで構成され、イオン注入監視制御
部IIとイオン注入装置本体Iとの間で制御信号および監
視信号の受け渡しを行うようになっている。FIG. 1 shows the structure of an ion implantation apparatus according to an embodiment of the present invention. This ion implantation apparatus is composed of an ion implantation apparatus body I and an ion implantation monitoring control unit II that monitors and controls the ion implantation apparatus body I. Between the ion implantation monitoring control unit II and the ion implantation apparatus body I. Control signals and supervisory signals are passed.
イオン注入監視制御部IIは、制御信号送信用および監視
信号受信用の多重伝送親器41とこの多重伝送親器41に接
続される親器側光入出力ユニット42とを内蔵している。The ion implantation monitoring control unit II includes a multiplex transmission master 41 for transmitting control signals and receiving monitoring signals, and a master side optical input / output unit 42 connected to the multiplex transmission master 41.
また、前記イオン注入装置本体Iに制御信号受信用およ
び監視信号送信用の多重伝送子器51,53,55とこの多重伝
送子器51,53,55に接続される子器側光入出力ユニット5
2,54,56を内蔵している。In addition, the transmitter / receiver side optical input / output unit connected to the multiple transmitters 51, 53, 55 for receiving the control signal and transmitting the supervisory signal in the main body I of the ion implanter. Five
It has 2,54,56 built-in.
そして、前記イオン注入監視制御部IIの親器側光入出力
ユニット42と前記イオン注入装置本体Iの子器側光入出
力ユニット52とを光ファイバケーブル61で接続し、子器
側光入出力ユニット52,54,56の相互間は子器間光ファイ
バケーブル62,63で接続している。また、多重伝送親器4
1と親器側光入出力ユニット42の間および多重伝送子器5
1,53,55と子器側光入出力ユニット52,54,56の間は導電
ケーブルで接続している。Then, the master side optical input / output unit 42 of the ion implantation monitoring control section II and the slave side optical input / output unit 52 of the ion implantation apparatus body I are connected by an optical fiber cable 61, and the slave side optical input / output is connected. Units 52, 54 and 56 are connected to each other by inter-subunit optical fiber cables 62 and 63. Also, the multiplex transmission master unit 4
1 between the master side optical input / output unit 42 and the multiplex transmission unit 5
A conductive cable is connected between the optical input / output units 52, 54 and 56 on the slave unit side and the optical input / output units 52 and 54.
なお、光ファイバケーブル61および子器間光ファイバケ
ーブル62,63は、2芯(往路,復路)のものが使用され
ている。また、多重伝送子器51,53,55は、分散配置して
イオン注入装置本体Iの制御対象,監視対象の位置に各
々近接させており、子器側光入出力ユニット52,54,56も
それらの近傍に設置している。The optical fiber cable 61 and the inter-slave optical fiber cables 62, 63 are two-core (outgoing path, returning path). Further, the multiple transmitters 51, 53, 55 are arranged in a distributed manner to be close to the positions of the control target and the monitoring target of the ion implantation apparatus body I, respectively, and the slave side optical input / output units 52, 54, 56 are also arranged. It is installed near them.
第2図はこのイオン注入装置(静電スキャン型)の詳細
な構成図を示している。以下、この図に基づいて詳しく
説明する。FIG. 2 shows a detailed configuration diagram of this ion implantation apparatus (electrostatic scan type). Hereinafter, a detailed description will be given based on this figure.
イオン注入装置本体Iは、イオンを発生するイオン源1
と、イオン源1から引き出されたイオンビーム2から必
要なイオン種を選択する質量分析器3と、この質量分析
器3から出たイオンビーム2を加速する加速管4と、加
速管4を出たイオンビーム2をウェハ5に当ててイオン
注入を行うエンドステーション6を主要要素として構成
され、これらの内部は真空となっている。イオン源1に
は、ガスを供給するガスボックス7と各種電圧,電流を
供給するイオン源電源8と、イオンビーム2を引き出す
ための引出電源9がつながれている。質量分析器3に
は、質量分析マグネット(図示せず)に給電するための
分析マグネット電源10が、加速管4には、加速電源11が
それぞれつながれている。The ion implanter body I is an ion source 1 that generates ions.
A mass analyzer 3 for selecting a necessary ion species from the ion beam 2 extracted from the ion source 1, an accelerating tube 4 for accelerating the ion beam 2 emitted from the mass analyzer 3, and an accelerating tube 4. An end station 6 that applies the ion beam 2 to the wafer 5 to perform ion implantation is configured as a main element, and the inside of these is evacuated. The ion source 1 is connected to a gas box 7 for supplying gas, an ion source power source 8 for supplying various voltages and currents, and an extraction power source 9 for extracting the ion beam 2. An analysis magnet power supply 10 for supplying power to a mass analysis magnet (not shown) is connected to the mass analyzer 3, and an acceleration power supply 11 is connected to the acceleration tube 4.
イオン源1は、例えば固体オーブン付属の熱陰極PIG型
であって、フィラメント(図示せず)とアーク電極(図
示せず)とソースマグネット(図示せず)とを有し、イ
オン源電源(フィラメント電源,アーク電源,ソースマ
グネット電源,オーブン電源等)8からフィラメント,
アーク電極、ソースマグネット等にそれぞれ給電される
ことにより、ガスボックス7からアークチャンバに供給
されるガスをイオン化する。具体的には、フィラメント
からの熱電子放出をトリガとしてアーク放電を行うこと
によりプラズマを作る。そして、引出電源9から供給さ
れる引出電圧によってスリット状のイオン引き出し口1a
からイオンビーム2を引き出す。なお、ソースマグネッ
トはアークの走行距離を長くするためにアークチャンバ
に磁界を印加する。The ion source 1 is, for example, a hot cathode PIG type attached to a solid oven, has a filament (not shown), an arc electrode (not shown), and a source magnet (not shown). Power supply, arc power supply, source magnet power supply, oven power supply, etc.) 8 to filament,
By supplying power to the arc electrode, the source magnet, etc., the gas supplied from the gas box 7 to the arc chamber is ionized. Specifically, plasma is generated by performing arc discharge by using thermionic emission from the filament as a trigger. The slit-shaped ion extraction port 1a is formed by the extraction voltage supplied from the extraction power source 9.
Extract the ion beam 2 from. The source magnet applies a magnetic field to the arc chamber in order to increase the traveling distance of the arc.
このイオン源1は、イオン源物質として、ガスだけでな
く、固体(As,P,Sb等)の使用も可能であり、固体を使
用する場合には、固体のイオン源物質を固体オーブンで
蒸発させてアークチャンバに導くとともに、ガスボック
ス7からキャリアガス(Ar等)をアークチャンバに導
き、固体イオン源物質をイオン化する。This ion source 1 can use not only gas but also solid (As, P, Sb, etc.) as an ion source substance. When using a solid, the solid ion source substance is evaporated in a solid oven. The carrier gas (Ar or the like) is guided from the gas box 7 to the arc chamber while being guided to the arc chamber, and the solid ion source material is ionized.
ガスボックス7は、上記したイオン源1に接続され、例
えば4個のガスボトル(例えば、Ar,SiF4,BCl3,PCl等)
を内蔵し、必要なイオン種に対応していずれかの種類の
ガスを選択的にイオン源1へ供給する。The gas box 7 is connected to the above-mentioned ion source 1, and for example, four gas bottles (for example, Ar, SiF 4 , BCl 3 , PCl, etc.)
And a gas of any type corresponding to the required ion species is selectively supplied to the ion source 1.
質量分析器3は、分析マグネット電源10から90度偏向の
質量分析マグネットに給電され、イオン源1から引き出
されたイオンビーム2の中から必要なイオン種を選択す
るとともに、質量分析マグネットの磁気集束作用を利用
してイオンビーム2を加速管4へ導く。The mass analyzer 3 is fed from the analysis magnet power source 10 to the mass analysis magnet which is deflected by 90 degrees to select a necessary ion species from the ion beam 2 extracted from the ion source 1 and to perform magnetic focusing of the mass analysis magnet. The ion beam 2 is guided to the acceleration tube 4 by utilizing the action.
加速管4は、例えば絶縁物と金属製電極とを多段に接着
した構造で、各電極には加速電源11から抵抗(図示せ
ず)を通して一定の加速電圧が印加され、イオンビーム
2は前記した引出電圧とこの加速電圧とを合わせた電圧
で加速されてエンドステーション6に入ることになる。
この加速電圧は注入エネルギに応じて設定される。The accelerating tube 4 has, for example, a structure in which an insulator and a metal electrode are bonded in multiple stages, a constant accelerating voltage is applied to each electrode from a accelerating power source 11 through a resistor (not shown), and the ion beam 2 is described above. The end station 6 is accelerated by being accelerated by a voltage obtained by combining the extraction voltage and this acceleration voltage.
This accelerating voltage is set according to the injection energy.
加速管4を出たイオンビーム2は、エンドステーション
6へ入るまでにQレンズ12によって集束され、さらに走
査電極13によって走査され、エンドステーション6内の
ウェハ5の全面にスキャン照射される。Qレンズ12へ
は、Qレンズ電源14から給電され、走査電極13へは走査
電極15から給電される。このQレンズ電源14および走査
電源15はQレンズ/スイープコントロール部26によって
コントロールされる。The ion beam 2 exiting the accelerating tube 4 is focused by the Q lens 12 before entering the end station 6, and further scanned by the scanning electrode 13 to scan and irradiate the entire surface of the wafer 5 in the end station 6. Power is supplied from the Q lens power source 14 to the Q lens 12, and power is supplied from the scan electrode 15 to the scan electrode 13. The Q lens power supply 14 and the scanning power supply 15 are controlled by the Q lens / sweep control unit 26.
エンドステーション5は、エンドステーション制御部17
によって、ウェハ5の出し入れ等がコントロールされ
る。また、真空系統、すなわち真空ポンプ等は、真空制
御部18によってコントロールされる。The end station 5 has an end station controller 17
Thus, the loading / unloading of the wafer 5 is controlled. The vacuum system, that is, the vacuum pump, is controlled by the vacuum controller 18.
インタロック部19は、例えば冷却水が流れなくなって温
度が異常上昇したときに、運転を停止させて安全を確保
する機能を有する。The interlock unit 19 has a function of stopping the operation and ensuring safety when, for example, cooling water stops flowing and the temperature rises abnormally.
27は第1図の多重伝送子器51および子器側光入出力ユニ
ット52からなる子器ブロックを含む信号中継局、28は第
1図の多重伝送子器53および子器側光入出力ユニット54
からなる子器ブロックである。また、ガスボックス7に
は、第1図における多重伝送子器55および子器側光入出
力ユニット56からなる子器ブロックが内蔵されている。
イオン源電源8には、テレメータが内蔵されており、光
ファイバケーブルで子器ブロック28と接続される。23は
絶縁変圧器、24は大地部、25は高電位部である。27 is a signal relay station including a slave block composed of the multiplex transmitter 51 and slave side optical input / output unit 52 of FIG. 1, and 28 is the multiplex transmitter 53 and slave side optical input / output unit of FIG. 54
It is a child device block consisting of. Further, the gas box 7 has a slave unit block including a multiplex transmitter 55 and a slave-side optical input / output unit 56 shown in FIG.
The ion source power supply 8 has a built-in telemeter and is connected to the slave block 28 by an optical fiber cable. 23 is an insulation transformer, 24 is a ground part, and 25 is a high potential part.
このイオン注入装置本体Iにおいては、光ファイバケー
ブル61を通して送られた光信号は、信号中継局27から子
器ブロック28を通してガスボックス7,イオン源電源8内
の子器ブロックへ送られるが、各子器ブロックにおい
て、光信号を電気信号に変換し、さらに個々の制御信号
を復元し、イオン源1の各種電圧,電流,引出電圧、マ
グネット電流等を制御信号に基づいて復元する。この場
合、制御信号は、その種類毎にチャンネル割付されてお
り、例えば信号中継局27に内蔵された子器ブロックで
は、それにつながったQレンズ/スイープコントロール
部26,真空制御部18,エンドステーション制御部17等に対
応するチャンネルの制御信号のみ復元する。同様に子器
ブロック28では、引出電源9,マグネット電源10に対応し
たチャンネルの制御信号のみ復元する。ガスボックス7
に関しても同様である。In the ion implanter main body I, the optical signal sent through the optical fiber cable 61 is sent from the signal relay station 27 to the gas box 7 and the slave unit block in the ion source power source 8 through the slave unit block 28. In the slave unit block, an optical signal is converted into an electric signal, individual control signals are restored, and various voltages, currents, extraction voltages, magnet currents, etc. of the ion source 1 are restored based on the control signals. In this case, the control signal is assigned to each type of channel. For example, in the slave unit built in the signal relay station 27, the Q lens / sweep control unit 26, the vacuum control unit 18, and the end station control connected to the slave unit block. Only the control signal of the channel corresponding to the section 17 or the like is restored. Similarly, the slave unit block 28 restores only the control signals of the channels corresponding to the extraction power source 9 and the magnet power source 10. Gas box 7
Is also the same.
また、監視信号については、詳しくは説明しないが、各
部で得られたものが子器ブロックでチャンネル割付され
て多重化され、さらに光信号に変換され、制御信号とは
逆にイオン注入監視制御部IIへ送られることになる。Although the monitoring signal will not be described in detail, the signals obtained in each unit are channel-assigned and multiplexed in the slave unit block, and further converted into an optical signal. Contrary to the control signal, the ion implantation monitoring control unit is provided. Will be sent to II.
一方、イオン注入監視制御部IIは、オンオフスイッチ等
からなる操作部31と、ランプ等からなる表示部32と、第
1図に示したところの多重伝送親器41と親器側光入出力
ユニット42とを含んで構成され、操作部31はイオン注入
装置本体Iを制御するための制御信号を作り、表示部32
はイオン注入装置本体Iから送られた監視信号の状態を
表示する。上記の制御信号は、多重伝送親器41によって
多重化され、さらに親器側光入出力ユニット42によって
光信号に変換されて光ファイバケーブル61へ送られる。
また、光ファイバケーブル61を通して送られた光信号
は、親器側光入出力ユニット42で電気信号に変換され、
さらに多重伝送親器41でもって個別の監視信号に復元さ
れて表示部32へ送られる。On the other hand, the ion implantation monitoring control unit II includes an operation unit 31 including an on / off switch and the like, a display unit 32 including a lamp, the multiplex transmission master unit 41 and the master unit side optical input / output unit shown in FIG. The operation unit 31 produces a control signal for controlling the ion implantation apparatus main body I, and the display unit 32
Displays the status of the monitoring signal sent from the ion implanter body I. The control signal is multiplexed by the multiplex transmission master unit 41, further converted into an optical signal by the master unit side optical input / output unit 42 and sent to the optical fiber cable 61.
The optical signal sent through the optical fiber cable 61 is converted into an electric signal by the master side optical input / output unit 42,
Further, the multiplex transmission master device 41 restores the individual supervisory signals and sends them to the display unit 32.
そして、このような制御信号の伝送によって、ガスボッ
クス7,イオン源電源8,引出電源9,マグネット電源10,加
速電源11等に内蔵された電磁弁,電磁リレー等を駆動し
て、例えばガスボックス7の特定のガス供給を開始した
り、その量を調整したり、あるいは引出電源9の投入遮
断,マグネット電源10の投入遮断、電流加減等を行い、
また、イオン源電源8,引出電源9,マグネット電源10等の
各種電圧,電流値等の監視信号をイオン注入監視制御部
IIへ送り、表示部32でそれを表示する。Then, by transmitting such a control signal, a solenoid valve, a solenoid relay, etc. built in the gas box 7, the ion source power source 8, the extraction power source 9, the magnet power source 10, the acceleration power source 11, etc. are driven, and, for example, the gas box. 7, starting the supply of a specific gas, adjusting the amount thereof, turning on / off the extraction power source 9, turning on / off the magnet power source 10, adjusting the current,
Also, monitoring signals such as various voltage and current values of the ion source power supply 8, the extraction power supply 9, the magnet power supply 10, etc. are sent to the ion implantation monitoring control unit.
Send to II and display it on display 32.
第3図は、イオン注入監視制御部IIの具体的構成を示
し、41AはCPU、41BはCPUインタフェースであり、これら
はプログラマブルコントローラとして構成され、各種シ
ーケンス動作(オンオフ,インタロック等)を行うとと
もに、多重伝送親器41として機能する。FIG. 3 shows a specific configuration of the ion implantation monitoring control unit II. 41A is a CPU and 41B is a CPU interface, which are configured as a programmable controller and perform various sequence operations (ON / OFF, interlock, etc.). , Which functions as the multiplex transmission master device 41.
この実施例のイオン注入装置は、イオン注入監視制御部
IIに多重伝送親器41および親器側光入出力ユニット42を
内蔵し、イオン注入装置本体Iに多重伝送子器51,53,55
および子器側光入出力ユニット52,54,56を分散して内蔵
し、かつ少なくとも1組の多重伝送子器および子器側光
入出力ユニットはイオン注入装置本体Iの高電位部に配
置し、親器側光入出力ユニット42および子器側光入出力
ユニット52を光ファイバケーブル61で接続し、複数の子
器側光入出力ユニット52,54,56を子器間光ファイバケー
ブル62,63で接続し、イオン注入監視制御部IIとイオン
注入装置本体Iとの間で、制御信号および監視信号を多
重化しかつ光信号に変換して受け渡しを行うため、光フ
ァイバケーブル61は制御信号用と監視信号用との2本で
よく、イオン注入監視制御部IIとイオン注入装置本体1
と接続するケーブル本数を2本ですませることができ、
従来に比べて大幅なケーブル本数の削減が可能となり、
システム信頼性を向上させることができ、またメインテ
ナンスを容易にすることができる。また、光信号で伝送
するので、電位の大きく異なる箇所に信号伝送を行う場
合でも、電気的絶縁を確保できて安全性が高く、かつ外
来ノイズにも影響されにくく、この点でも信頼性が高
い。The ion implantation apparatus of this embodiment includes an ion implantation monitoring control unit.
The multi-transmission master device 41 and the master-device-side optical input / output unit 42 are built in II, and the multi-transmission slave devices 51, 53, 55 are provided in the ion implantation apparatus main body I.
And the slave unit side optical input / output units 52, 54, 56 are distributed and built in, and at least one set of multiplex transmitters and slave unit side optical input / output units are arranged in the high potential portion of the ion implantation apparatus main body I. , The master unit side optical input / output unit 42 and the slave unit side optical input / output unit 52 are connected by an optical fiber cable 61, and the plurality of slave unit side optical input / output units 52, 54, 56 are connected to the slave unit optical fiber cable 62, The optical fiber cable 61 is used for the control signal because the control signal and the monitoring signal are multiplexed and converted into an optical signal to be transferred between the ion implantation monitoring control unit II and the ion implantation apparatus main body I. 2 for the monitoring signal and the ion implantation monitoring controller II and the ion implantation apparatus main body 1
You can use only 2 cables to connect with
It is possible to significantly reduce the number of cables compared to the past,
System reliability can be improved and maintenance can be facilitated. Further, since the signal is transmitted by an optical signal, even when the signal is transmitted to a portion having a large potential difference, electrical insulation can be ensured and safety is high, and it is also less susceptible to external noise, which is also highly reliable. .
なお、上記実施例は、静電スキャン型のイオン注入装置
にこの発明を適用したものであるが、メカニカルスキャ
ン型のものにもこの発明を適用できる。In addition, although the present invention is applied to the electrostatic scan type ion implantation apparatus in the above-described embodiment, the present invention can also be applied to the mechanical scan type.
この発明のイオン注入装置によれば、イオン注入監視制
御部に多重伝送親器および親器側光入出力ユニットを内
蔵し、イオン注入装置本体に多重伝送子器および子器側
光入出力ユニットを複数組分散して内蔵し、かつ少なく
とも1組の多重伝送子器および子器側光入出力ユニット
はイオン注入装置本体の高電位部に配置し、親器側光入
出力ユニットおよび子器側光入出力ユニットを光ファイ
バケーブルで接続し、複数の子器側光入出力ユニットを
子器間光ファイバケーブルで接続し、イオン注入監視制
御部とイオン注入装置本体との間で、制御信号および監
視信号を多重化しかつ光信号に変換して受け渡しを行う
ため、光ファイバケーブルは制御信号用と監視信号用と
の2本でよく、イオン注入監視制御部とイオン注入装置
本体と接続するケーブル本数を2本ですませることがで
き、従来に比べて大幅なケーブル本数の削減が可能とな
り、システム信頼性を向上させることができ、またメイ
ンテナンスを容易にすることができる。また、光信号で
伝送するので電位の大きく異なる箇所に信号伝送を行う
場合でも、電気絶縁を確保できて安全性が高く、かつ外
来ノイズにも影響されにくく、この点でも信頼性が高
い。According to the ion implantation apparatus of the present invention, the ion implantation monitoring controller has the multiplex transmission master unit and the master unit side optical input / output unit built-in, and the ion implantation apparatus main body has the multiplex transmission slave unit and the slave unit side optical input / output unit. Plural sets are distributed and built-in, and at least one set of multiplex transmission device and slave device side optical input / output unit is arranged in the high potential part of the ion implantation apparatus main body, and the master device side optical input / output unit and slave device side optical device. Connect the input / output unit with an optical fiber cable, connect the optical input / output units on the slave units with a fiber-optic cable between the slave units, and control signals and monitor between the ion implantation monitoring control unit and the ion implanter body. In order to multiplex signals and convert them into optical signals for delivery, only two optical fiber cables are required, one for control signals and the other for monitoring signals. Bull number can be dispensed in two, it is possible to reduce significantly the number of cables than the conventional, it is possible to increase system reliability and can facilitate maintenance. Further, since the optical signal is transmitted, even when the signal is transmitted to a portion having a large potential difference, electrical insulation can be ensured, the safety is high, and it is hardly affected by external noise, and the reliability is also high in this respect.
【図面の簡単な説明】 第1図はこの発明の一実施例のブロック図、第2図はそ
の詳細なブロック図、第3図はイオン注入監視制御部の
具体構成を示すブロック図、第4図は従来例のブロック
図である。 I……イオン注入装置本体、II……イオン注入監視制御
部、41……多重伝送親器、42……親器側光入出力ユニッ
ト、51,53,55……多重伝送子器、52,54,56……子器側光
入出力ユニット、61……光ファイバケーブル、62,63…
…子器間光ファイバケーブルBRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a detailed block diagram thereof, and FIG. 3 is a block diagram showing a concrete configuration of an ion implantation monitoring control unit, and FIG. The figure is a block diagram of a conventional example. I ... Ion implanting device main body, II ... Ion implantation monitoring control unit, 41 ... Multiple transmission master unit, 42 ... Master side optical input / output unit, 51, 53, 55 ... Multiple transmitter slave unit, 52, 54,56 …… Slave side optical I / O unit, 61 …… Optical fiber cable, 62,63…
… Optical fiber cable between slave units
Claims (1)
部との間で制御信号および監視信号の受け渡しを行うイ
オン注入装置において、 前記イオン注入監視制御部に制御信号送信用および監視
信号受信用の多重伝送親器とこの多重伝送親器に接続さ
れる親器側光入出力ユニットとを内蔵し、 前記イオン注入装置本体に制御信号受信用および監視信
号送信用の多重伝送子器とこの多重伝送子器に接続され
る子器側光入出力ユニットとを複数組分散して内蔵し、
かつ少なくとも1組の多重伝送子器および子器側光入出
力ユニットは前記イオン注入装置本体の高電位部に配置
し、 前記イオン注入監視制御部の親器側光入出力ユニットと
前記イオン注入装置本体の一つの子器側光入出力ユニッ
トとを光ファイバケーブルで接続し、前記複数の子器側
光入出力ユニットを子器間光ファイバケーブルで接続し
たことを特徴とするイオン注入装置。1. An ion implantation apparatus for delivering a control signal and a monitoring signal between an ion implantation apparatus main body and an ion implantation monitoring control section, wherein the ion implantation monitoring control section is for transmitting a control signal and receiving a monitoring signal. A multi-transmission master unit and a master-side optical input / output unit connected to this multi-transmission master unit are built-in, and a multi-transmission slave unit for control signal reception and supervisory signal transmission to the ion implantation apparatus main body and this multi-transmission unit. Multiple sets of slave unit side optical input / output units connected to slave units are distributed and built in,
And, at least one set of the multiplex transmission device and the slave device side optical input / output unit is arranged in a high potential part of the ion implantation device body, and the master device side optical input / output unit of the ion implantation monitoring control part and the ion implantation device. An ion implanting device, wherein one of the slave unit side optical input / output units of the main body is connected by an optical fiber cable, and the plurality of slave unit side optical input / output units are connected by an inter-subunit optical fiber cable.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61234195A JPH0793124B2 (en) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | Ion implanter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61234195A JPH0793124B2 (en) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | Ion implanter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6388745A JPS6388745A (en) | 1988-04-19 |
| JPH0793124B2 true JPH0793124B2 (en) | 1995-10-09 |
Family
ID=16967171
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61234195A Expired - Lifetime JPH0793124B2 (en) | 1986-09-30 | 1986-09-30 | Ion implanter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0793124B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0633348U (en) * | 1992-09-30 | 1994-04-28 | 日新電機株式会社 | Ion implanter |
| JP4587733B2 (en) * | 2004-07-29 | 2010-11-24 | シャープ株式会社 | Ion beam generator, ion beam generating method, and functional element manufacturing method |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS605644A (en) * | 1983-06-23 | 1985-01-12 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Multiplex communication system |
| JPS60137156A (en) * | 1983-12-26 | 1985-07-20 | Nec Corp | Optical loop dispersed type exchange |
| JPS60254546A (en) * | 1984-05-30 | 1985-12-16 | Nissin Electric Co Ltd | Control device for ion implanter |
-
1986
- 1986-09-30 JP JP61234195A patent/JPH0793124B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6388745A (en) | 1988-04-19 |
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