JPH0814663B2 - Collimating lens for semiconductor laser - Google Patents
Collimating lens for semiconductor laserInfo
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- JPH0814663B2 JPH0814663B2 JP15112086A JP15112086A JPH0814663B2 JP H0814663 B2 JPH0814663 B2 JP H0814663B2 JP 15112086 A JP15112086 A JP 15112086A JP 15112086 A JP15112086 A JP 15112086A JP H0814663 B2 JPH0814663 B2 JP H0814663B2
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Description
【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、半導体レーザー用コリメートレンズに関す
る。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a collimating lens for a semiconductor laser.
(従来技術) 光ディスクシステムの光ピックアップや、レーザープ
リンター等の光源として、半導体レーザーが一般的に用
いられるようになってきた。(Prior Art) A semiconductor laser has been generally used as a light source for an optical pickup of an optical disc system, a laser printer, and the like.
良く知られるように、半導体レーザーから発せられる
レーザー光は発散光束であり、この発散光束をカップリ
ングするために、コリメートレンズが用いられる。As is well known, the laser light emitted from a semiconductor laser is a divergent light beam, and a collimator lens is used to couple this divergent light beam.
コリメートレンズと半導体レーザーとは、半導体レー
ザーの発光点が、コリメートレンズの焦点位置を占める
ように位置関係を定められ、保持体により相互に一体化
される。The collimator lens and the semiconductor laser have a positional relationship such that the light emitting point of the semiconductor laser occupies the focal position of the collimator lens, and are integrated with each other by a holder.
ところで、半導体レーザーとコリメートレンズとを保
持体により一体化してなる光源装置は、所定の基準温
度、例えば20℃にあわせて設計,製作されるのである
が、実際における光源装置の使用状況では、光源装置に
対する環境温度は、ときと所によって、かなり大きく、
変動し、例えば、0〜60℃の温度領域で変動することも
めずらしくはない。By the way, a light source device in which a semiconductor laser and a collimator lens are integrated by a holder is designed and manufactured in accordance with a predetermined reference temperature, for example, 20 ° C. The ambient temperature to the device is quite large depending on the time and place,
It is not uncommon to fluctuate, for example, fluctuate in the temperature range of 0 to 60 ° C.
このように、光源装置に対する環境温度が基準温度か
らずれると、コリメートレンズから射出する光束は、平
行光束にならなくなってしまい、光ピックアップのフォ
ーカシングや、光プリンターの書込に支障が生じてしま
う。これには、2つの原因が作用している。As described above, when the environmental temperature of the light source device deviates from the reference temperature, the light flux emitted from the collimator lens is not a parallel light flux, which hinders focusing of the optical pickup and writing in the optical printer. There are two causes for this.
第1の原因は、半導体レーザーとコリメートレンズと
を一体的に保持する保持体が、温度変化に応じて熱変形
を生じ、半導体レーザーの位置が、コリメートレンズの
焦点からずれる位置ずれである。The first reason is that the holder that integrally holds the semiconductor laser and the collimator lens undergoes thermal deformation according to the temperature change, and the position of the semiconductor laser deviates from the focus of the collimator lens.
第2の原因は、温度変化に伴う半導体レーザーの発振
波長の変化である。すなわち、半導体レーザーから放射
されるレーザー光の波長は、温度とともに変化し、この
ように光波長が変化するとコリメートレンズの分散性の
ために、コリメートレンズの屈折率が変化し、これが見
かけ上、コリメートレンズの焦点距離変化としてあらわ
れるのである。The second cause is a change in the oscillation wavelength of the semiconductor laser due to a change in temperature. That is, the wavelength of the laser light emitted from the semiconductor laser changes with temperature, and when the light wavelength changes like this, the refractive index of the collimator lens changes due to the dispersibility of the collimator lens, which is apparently collimated. It appears as a change in the focal length of the lens.
従来、かかる問題を解決する方法としては、一方にお
いて、半導体レーザーを温度制御してレーザー波長を安
定させるとともに、他方において、保持体を、線膨張係
数の異なる2種以上の材料で複合的に作製し、コリメー
トレンズと半導体レーザーとの位置関係を、温度変化に
拘らず略一定にするという方法が知られている(特開昭
59−15206号公報)。Conventionally, as a method for solving such a problem, on the one hand, the semiconductor laser is temperature-controlled to stabilize the laser wavelength, and on the other hand, the holder is made of two or more materials having different linear expansion coefficients. However, there is known a method in which the positional relationship between the collimator lens and the semiconductor laser is made substantially constant regardless of the temperature change (Japanese Patent Laid-Open No. Sho 61-187).
59-15206).
しかし、この従来方法は、保持体のコストが高くつく
ほか、半導体レーザーの温度制御もコスト高の原因とな
る。However, in this conventional method, the cost of the holder is high, and the temperature control of the semiconductor laser causes a high cost.
(目的) 本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであっ
て、その目的とするところは、半導体レーザーの温度制
御を不要となし、保持体も低コストで製造しうる、半導
体レーザー用の新規なコリメートレンズの提供にある。(Object) The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and an object of the present invention is to provide a semiconductor laser for a semiconductor laser that does not require temperature control of the semiconductor laser and can also manufacture a holder at low cost. To provide a new collimator lens.
(構成) 以下、本発明を説明する。(Configuration) Hereinafter, the present invention will be described.
本発明のコリメートレンズは、半導体レーザーからの
発散性の光束をカップリングするためのものである。こ
のため、このコリメートレンズは、半導体レーザーと所
定の位置関係を保って、保持体により、半導体レーザー
に一体化される。The collimator lens of the present invention is for coupling a divergent light beam from a semiconductor laser. Therefore, the collimator lens is integrated with the semiconductor laser by the holder while maintaining a predetermined positional relationship with the semiconductor laser.
さて、本発明のコリメートレンズは、第1図に符号10
をもって示すように、1群2枚構成であり、凸レンズ12
と凹レンズ14とによって構成され、これらレンズ12、14
は、互いに接合されている。Now, the collimating lens of the present invention is shown in FIG.
As shown in FIG. 1, the convex lens 12 is composed of two lenses in one group.
And the concave lens 14 and these lenses 12, 14
Are joined together.
第1図左方は、像側すなわち、光が射出する側であっ
て、こちら側には凸レンズ12が配される。第1図右方は
光源側すなわち、半導体レーザーの側であって、この側
には凹レンズ14が配される。半導体レーザーの発光点は
光軸AX上のp点におかれる。なお、符号16は半導体レー
ザーのカバーガラスを示す。The left side of FIG. 1 is the image side, that is, the side from which light is emitted, and the convex lens 12 is arranged on this side. The right side of FIG. 1 is the light source side, that is, the semiconductor laser side, and the concave lens 14 is arranged on this side. The emission point of the semiconductor laser is placed at point p on the optical axis AX. Reference numeral 16 represents a cover glass of the semiconductor laser.
凸レンズ12に関し、屈折率をn1,アッベ数をυ1,焦点
距離をf1,凹レンズ14に関し、屈折率をn2,アッベ数をυ
2,焦点距離をf2とする。ただし、アッベ数υ1,υ2はd
線に対するものである。For the convex lens 12, the refractive index is n 1 , the Abbe number is υ 1 , the focal length is f 1 , and for the concave lens 14, the refractive index is n 2 , the Abbe number is υ
2 and the focal length is f 2 . However, the Abbe number υ 1 , υ 2 is d
For lines.
また全系の焦点距離をfとする。さらに、第1図の如
く、射出側から光源側へ向って、i番目のレンズ面の曲
率半径をri(i=1〜3),レンズ面間距離をdi(i=
1〜2)とする。The focal length of the entire system is f. Further, as shown in FIG. 1, the radius of curvature of the i-th lens surface is r i (i = 1 to 3) and the distance between the lens surfaces is d i (i =
1-2).
すると、上記n1,n2,υ1,υ2,f1,f2,f,およびr2は、以
下の条件を満足する。Then, the n 1, n 2, υ 1 , υ 2, f 1, f 2, f, and r 2 satisfy the following conditions.
(i)n1<n2 (ii)r2<0 本発明の原理的な考え方は、以下の通りである。(I) n 1 <n 2 (ii) r 2 <0 The principle of the present invention is as follows.
第2図は、本発明のコリメートレンズ10を用いた光源
装置を示している。FIG. 2 shows a light source device using the collimator lens 10 of the present invention.
コリメートレンズ10は、セル22に嵌装されて中空シリ
ンダー状の保持体20にねじ止めされている。The collimator lens 10 is fitted in the cell 22 and screwed to the hollow cylindrical holder 20.
一方、半導体レーザー30は、ホルダー21にねじ止めさ
れ、ホルダー21が保持体20にねじ止めされることにより
保持体20と一体化されている。On the other hand, the semiconductor laser 30 is screwed to the holder 21, and the holder 21 is screwed to the holder 20 to be integrated with the holder 20.
さて、基準温度に対する環境温度のずれを△Tとし、
保持体20における線膨張係数をαとする。Now, let ΔT be the deviation of the environmental temperature from the reference temperature,
The linear expansion coefficient of the holder 20 is α.
コリメートレンズ10の光源側主点と半導体レーザーの
発光点との間の光学的距離は基準温度下においてfであ
るから、この光源側主点と発光点との間の距離は、上記
温度変化△Tについて、保持体20の熱変形により △l=f・α・△T (1) だけ変化する。f=1と規格化すれば △l=α・△T (2) である。Since the optical distance between the principal point on the light source side of the collimator lens 10 and the light emitting point of the semiconductor laser is f at the reference temperature, the distance between the principal point on the light source side and the light emitting point is the temperature change Δ. With respect to T, due to thermal deformation of the holder 20, it changes by Δl = f · α · ΔT (1). If standardized as f = 1, Δl = α · ΔT (2).
一方、周知の如く、半導体レーザーの発光波長の変化
δλは、△Tに比例する。すなわち、 δλ=β・△T (3) 従って、 が得られる。これを、(2)式に入れると、 なる関係が得られる。On the other hand, as is well known, the change δλ in the emission wavelength of the semiconductor laser is proportional to ΔT. That is, δλ = β · ΔT (3) Therefore, Is obtained. If you put this in equation (2), Is obtained.
そこで、波長λがδλだけずれたとき、色収差により
コリメートレンズの焦点距離が、f=1として△l′だ
け変化するものとすると、△l△l′となるようにす
れば、温度変化△Tによる、コリメートレンズ,半導体
レーザー間の位置ずれは、波長変化による焦点距離変化
により相殺されるので、環境温度の変化に拘らず、光源
装置からは常に、平行光束が射出することになる。Therefore, if the focal length of the collimator lens changes by Δl ′ when f = 1 when the wavelength λ shifts by δλ, the temperature change ΔT can be obtained by setting Δl′l ′. Since the positional deviation between the collimator lens and the semiconductor laser due to the above is canceled by the change in the focal length due to the change in wavelength, the parallel light flux is always emitted from the light source device regardless of the change in the environmental temperature.
さて、一般に、半導体レーザーにおいて、温度変化△
Tに対して波長変化δλを与える、波長変化の割合β
は、0.2〜0.3nm/degである。また、保持体20には一般に
アルミニウムもしくはアルミダイキャストが材料として
用いられるが、これらの材料における線膨張係数αは、
アルミニウムについてα=23×10-6 1/deg、アルミダイ
キャストについてα=20×10-6 1/degである。Now, generally, in a semiconductor laser, temperature change Δ
Wavelength change ratio β giving wavelength change δλ for T
Is 0.2 to 0.3 nm / deg. Further, aluminum or aluminum die cast is generally used as a material for the holding body 20, and the linear expansion coefficient α of these materials is
For aluminum, α = 23 × 10 -6 1 / deg, and for aluminum die casting, α = 20 × 10 -6 1 / deg.
上述の(4)式を用い、α=20×10-6〜23×10-6,β
=0.2〜0.3を用いると、△lの変動領域は、波長変化δ
λに対して 67×10-6δλ△l115×10-6δλ (5) となる。従って、軸上色収差△Cとしては、δλ=10nm
として 0.67×10-3△C1.15×10-3 (6) となる。Using equation (4) above, α = 20 × 10 −6 to 23 × 10 −6 , β
= 0.2 to 0.3, the variation region of Δl is the wavelength change δ
For λ, 67 × 10 -6 δλ Δl 115 × 10 -6 δλ (5) Therefore, the axial chromatic aberration ΔC is δλ = 10 nm
Is 0.67 × 10 -3 ΔC1.15 × 10 -3 (6).
従って、(6)式を満足するように、コリメートレン
ズの軸上色収差を大きくすればよい。Therefore, the axial chromatic aberration of the collimator lens may be increased so as to satisfy the expression (6).
ここで、前述の条件式(i),(ii),(iii)につ
いて説明すると、 条件(i)n1<n2は、残存球面収差を小さくするため
の条件である。この条件はまた、r2の絶対値を大きくと
ることを許容するので、条件(i)によりレンズ加工上
も有利となる。Here, the above conditional expressions (i), (ii), and (iii) will be described. Condition (i) n 1 <n 2 is a condition for reducing the residual spherical aberration. This condition also allows the absolute value of r 2 to be large, so that condition (i) is advantageous in lens processing.
条件(ii)r2<0は、第1面,第3面で発生する負の
球面収差を条件(i)のもとで補正するための条件であ
り、r20となると負の球面収差の発生により補正がで
きなくなる。Condition (ii) r 2 <0, the first face is a condition for correcting under negative spherical aberration terms generated by the third surface (i), negative spherical aberration when the r 2 0 It becomes impossible to correct due to the occurrence of.
条件(iii) は、軸上色収差を大きくするための条件であり、下限を
こえると、軸上色収差が小さくなり、保持体の熱変形を
相殺できなくなる。上記条件の充足により、標準温度20
℃の場合、0゜〜60℃の環境温度下で、実質的に常に平
行光束を得るようにできる。Condition (iii) Is a condition for increasing the axial chromatic aberration. Above the lower limit, the axial chromatic aberration becomes small, and the thermal deformation of the holder cannot be canceled out. Standard temperature of 20 by satisfying the above conditions
In the case of 0 ° C., it is possible to obtain a parallel light flux substantially constantly at an environmental temperature of 0 ° to 60 ° C.
以下、具体的な実施例を4例示す。 Hereinafter, four specific examples will be shown.
(実施例1) f=1.0 NA=0.14 r1=0.6795 d1=0.2375,n1=1.63553 υ1=33.84 r2=−0.4913 d2=0.1159,n2=1.81961 υ2=37.54 r3=−1.7410 I=0.030,△C=0.68×10-3 この実施例の収差図を第3図に示す。(Example 1) f = 1.0 NA = 0.14 r 1 = 0.6795 d 1 = 0.2375, n 1 = 1.63553 υ 1 = 33.84 r 2 = -0.4913 d 2 = 0.1159, n 2 = 1.81961 υ 2 = 37.54 r 3 = - 1.7410 I = 0.030, ΔC = 0.68 × 10 -3 The aberration diagram of this example is shown in FIG.
なお、この実施例および以下の実施例においても、 であり、n1,n2は波長780nmに対する値、△Cは、波長79
0nm,780nmの焦点距離の差を表している。In addition, also in this embodiment and the following embodiments, Where n 1 and n 2 are values for a wavelength of 780 nm, and ΔC is a wavelength of 79
The difference between the focal lengths of 0 nm and 780 nm is shown.
(実施例2) f=1.0,NA=0.17 r1=0.662 d1=0.2847 n1=1.60909 υ1=36.3 r2=−0.396 d2=0.1368 n2=1.70399 υ2=64.2 r3=−1.956 I=0.040,△C=0.77×10-3 (実施例3) f=1.0,NA=0.17 r1=0.7159 d1=0.133 n1=1.71221 υ1=28.31 r2=−0.5161 d2=0.1467 n2=1.81961 υ2=37.3 r3=−3.575 I=0.044 △C=0.92×10-3 (実施例4) f=1.0,NA=0.17 r1=0.7849 d1=0.1069 n1=1.76605 υ1=25.7 r2=−0.4402 d2=0.2722 n2=1.81961 υ2=37.3 r3=−4.805 I=0.058 △C=1.07×10-3 実施例2,3,4に関する収差図を、第4,第5,第6図に示
す。これら収差図から明らかなように、各実施例とも収
差は良好に補正されている。(Example 2) f = 1.0, NA = 0.17 r 1 = 0.662 d 1 = 0.2847 n 1 = 1.60909 υ 1 = 36.3 r 2 = -0.396 d 2 = 0.1368 n 2 = 1.70399 υ 2 = 64.2 r 3 = -1.956 I = 0.040, ΔC = 0.77 × 10 −3 (Example 3) f = 1.0, NA = 0.17 r 1 = 0.7159 d 1 = 0.133 n 1 = 1.71221 υ 1 = 28.31 r 2 = −0.5161 d 2 = 0.1467 n 2 = 1.81961 υ 2 = 37.3 r 3 = -3.575 I = 0.044 △ C = 0.92 × 10 -3 (Example 4) f = 1.0, NA = 0.17 r 1 = 0.7849 d 1 = 0.1069 n 1 = 1.76605 υ 1 = 1 25.7 r 2 = -0.4402 d 2 = 0.2722 n 2 = 1.81961 υ 2 = 37.3 r 3 = -4.805 I = 0.058 ΔC = 1.07 × 10 -3 Aberration diagrams for Examples 2, 3 and 4 are shown as 5, shown in FIG. As is clear from these aberration diagrams, the aberrations are satisfactorily corrected in each of the examples.
比較のために、従来、半導体レーザー用コリメートレ
ンズとして知られているものの1例をあげる。For comparison, an example of what is conventionally known as a collimating lens for semiconductor lasers will be given.
(比較例) r1=0.6377 d1=0.1333 n1=1.51118 υ1=64.2 r2=−0.4604 d2=0.1333 n2=1.76605 υ2=25.7 r3=−0.9753 このコリメートレンズの場合、波長780nmにおける焦
点距離f780=0.99997、波長790nmにおける焦点距離f790
=1.00007であって△C=f790−f780=0.1×10-3と軸上
色収差が小さく、保持体の熱変形による位置ずれを補正
できない。また の値は−0.0002となっている。Iの値が、このように小
さいのは、υ1>υ2,n1<n2となっているためである。(Comparative example) r 1 = 0.6377 d 1 = 0.1333 n 1 = 1.51118 υ 1 = 64.2 r 2 = -0.4604 d 2 = 0.1333 n 2 = 1.76605 υ 2 = 25.7 r 3 = -0.9753 With this collimating lens, the wavelength is 780 nm. Focal length f 780 = 0.99997, focal length f 790 at wavelength 790 nm
= 1.00007 and ΔC = f 790 −f 780 = 0.1 × 10 −3 , the axial chromatic aberration is small and the positional deviation due to thermal deformation of the holder cannot be corrected. Also The value of is -0.0002. The value of I is so small because ν 1 > ν 2 , n 1 <n 2 .
本発明では、υ1<υ2なる硝材の組合せにより、I
の大きさを大ならしめるのである。In the present invention, by combining glass materials such that υ 1 <υ 2 , I
The size of is enlarged.
(効果) 以上、本発明によれば、半導体レーザー用の新規なコ
リメートレンズを提供できる。このコリメートレンズは
上記の如く構成されているので、これを保持する保持体
を単一材料で低コストに製造することが可能となる。ま
た、半導体レーザーの温度制御を行う必要がない。従っ
て構成簡素にして低コストの光源装置が可能となる。(Effect) As described above, according to the present invention, a novel collimating lens for a semiconductor laser can be provided. Since this collimator lens is configured as described above, it becomes possible to manufacture the holder for holding it with a single material at low cost. Further, it is not necessary to control the temperature of the semiconductor laser. Therefore, a light source device with a simple structure and low cost can be realized.
第1図は、本発明によるコリメートレンズの構成を説明
するための図、第2図は、本発明のコリメートレンズの
使用状態を説明するための図、第3図ないし第6図は収
差図である。 10……コリメートレンズ、12……凸レンズ、14……凹レ
ンズ、30……半導体レーザーFIG. 1 is a diagram for explaining the configuration of the collimator lens according to the present invention, FIG. 2 is a diagram for explaining the use state of the collimator lens of the present invention, and FIGS. 3 to 6 are aberration diagrams. is there. 10 ... Collimating lens, 12 ... Convex lens, 14 ... Concave lens, 30 ... Semiconductor laser
Claims (1)
ングするためのコリメートレンズであって、 半導体レーザーと所定の位置関係を保って、保持体によ
り、半導体レーザーと一体化され、 光束の射出する側から半導体レーザーの側へ、凸レン
ズ,凹レンズを、この順序に配してなる1群2枚構成で
あって、 凸レンズの屈折率をn1,凹レンズの屈折率をn2、凸レン
ズのd線に対するアッベ数をν1,凹レンズのd線に対す
るアッベ数をν2、凸レンズの焦点距離をf1,凹レンズ
の焦点距離をf2,全系の焦点距離をf、第2面の曲率半
径をr2とするとき、これらが、 (I) n1<n2 (II) r2<0 (III) f[{1/(f1ν1)} +{1/(f2ν2)}]≧0.03 なる条件を満足し、 温度変化による上記保持体の変形に伴う、半導体レーザ
ーとコリメートレンズとの間の距離の変化が、上記温度
変化に伴う半導体レーザーの発振波長変化によるコリメ
ートレンズの軸上色収差により相殺されるように構成し
たことを特徴とする、半導体レーザー用コリメートレン
ズ。1. A collimating lens for coupling a divergent light beam from a semiconductor laser, which is integrated with the semiconductor laser by a holder and maintains a predetermined positional relationship with the semiconductor laser, and a side from which the light beam is emitted. From the semiconductor laser side to the semiconductor laser side, in which a convex lens and a concave lens are arranged in this order, a two-group construction is used. The refractive index of the convex lens is n 1 , the refractive index of the concave lens is n 2 , and the Abbe line for the d-line of the convex lens 1 the number [nu, 2 the Abbe number [nu respect to the d-line of the concave lens, the focal length of the convex lens f 1, a focal length of the concave lens f 2, a focal length of the entire system f, and the radius of curvature of the second face and r 2 Then, these are (I) n 1 <n 2 (II) r 2 <0 (III) f [{1 / (f 1 ν 1 )} + {1 / (f 2 ν 2 )}] ≧ 0.03 When the holding body is deformed due to temperature change, Change in the distance between the Torenzu, characterized by being configured so as to be offset by the axial chromatic aberration of the collimator lens by the oscillation wavelength change of the semiconductor laser due to the temperature change, the semiconductor laser collimating lens.
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| JPH0775405B2 (en) * | 1989-04-17 | 1995-08-09 | 三洋電機株式会社 | Driving method for solid-state imaging device |
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