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JPH0816568B2 - Thermal shock tester - Google Patents
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JPH0816568B2 - Thermal shock tester - Google Patents

Thermal shock tester

Info

Publication number
JPH0816568B2
JPH0816568B2 JP1173504A JP17350489A JPH0816568B2 JP H0816568 B2 JPH0816568 B2 JP H0816568B2 JP 1173504 A JP1173504 A JP 1173504A JP 17350489 A JP17350489 A JP 17350489A JP H0816568 B2 JPH0816568 B2 JP H0816568B2
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JP
Japan
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temperature
control amount
control
reference value
low temperature
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP1173504A
Other languages
Japanese (ja)
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JPH0339879A (en
Inventor
実 田中
恵一 村野
Original Assignee
山武ハネウエル株式会社
タバイエスペツク株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 山武ハネウエル株式会社, タバイエスペツク株式会社 filed Critical 山武ハネウエル株式会社
Priority to JP1173504A priority Critical patent/JPH0816568B2/en
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention 【産業上の利用分野】[Industrial applications]

この発明は、低温槽を冷凍機で冷却すると共に、温度
制御ヒータにより設定温度に制御するようにした冷却装
置において、冷凍機に付着した霜の付着量を測定するた
めの冷却装置の霜付着量測定装置に関するものである。 また、被試験物を低温さらし試験及び高温さらし試験
する熱衝撃試験機に関するものである。
This invention cools a low temperature tank with a refrigerator and controls the temperature to a set temperature by a temperature control heater. In the cooling device, the amount of frost adhered to the refrigerator for measuring the amount of frost adhered to the refrigerator. The present invention relates to a measuring device. The present invention also relates to a thermal shock tester for performing a low temperature exposure test and a high temperature exposure test on an object to be tested.

【従来の技術】[Prior art]

従来の冷却装置においては、低温槽を冷凍機により常
に冷却すると共に、低温槽の温度を温度センサで検出
し、その検出値と設定温度とに基いてPID演算を行うこ
とにより、制御量を算出し、この制御量に応じて低温槽
内に設けられた温度制御用ヒータを加熱することによ
り、低温槽を設定温度に制御するようにしている。 このような冷却装置においては、冷凍機に霜が付着す
ると冷凍能力が低下するため、霜の付着量がある程度に
達すると除霜を行うようにしている。 従来は、この除霜を行う時期を、冷却装置のオペレー
タが霜の付着の状態を目で見て判断することにより決め
るようにしている。その場合、霜が目で見える場合は良
いが、霜が隠れて見えない場合は、オペレータがその冷
凍機の運転時間や周囲の温度等を総合的に考慮して経験
により判断するようにしている。
In the conventional cooling device, the low temperature tank is always cooled by the refrigerator, the temperature of the low temperature tank is detected by the temperature sensor, and the PID calculation is performed based on the detected value and the set temperature to calculate the control amount. Then, the temperature control heater provided in the low temperature tank is heated according to the control amount to control the low temperature tank to the set temperature. In such a cooling device, if frost adheres to the refrigerator, the refrigerating capacity decreases, so defrosting is performed when the amount of frost reaches a certain level. Conventionally, an operator of the cooling device determines the time to perform this defrosting by visually observing the state of frost adhesion. In that case, it is good if the frost is visible, but if the frost is hidden and not visible, the operator decides based on experience by comprehensively considering the operating time of the refrigerator and the ambient temperature. .

【発明が解決しようとする課題】[Problems to be Solved by the Invention]

従来の除霜を行うか否かを決めるのは、専らオペレー
タの判断に頼っているため、オペレータに負担がかか
り、また熟練を要し、さらにオペレータが不在で冷却装
置が運転された場合は、適切な除霜を行うことができな
くなり、運転に支障を来していた。 また、一定の使用時間毎に除霜を行うようにすると、
冷凍機は一般に固体差や経年変化が激しいため、一定時
間毎に一定量の霜が付着するわけではなく、このため、
霜の付着速度が速い場合は、除霜作業が遅れ、その間冷
凍能力が低下してエネルギーの無駄が生じ、また霜の付
着速度が遅い場合は、除霜作業が早すぎて、無駄な労力
と時間が費やされると共に、冷凍機の運転効率が悪くな
る。 そこで、霜の付着状態を自動的に表示することが考え
られるが、霜の付着状態を数量化する適切な方法がない
等の問題点があった。 この発明は上記の実情に鑑みて成されたもので、適切
な除霜要求信号を出力することのできる熱衝撃試験機を
得ることを目的としている。
Whether or not to perform the conventional defrosting depends on the operator's judgment exclusively, which imposes a burden on the operator and requires skill, and when the cooling device is operated in the absence of the operator, It became impossible to perform proper defrosting, which hindered driving. Also, if defrosting is performed at regular intervals,
Refrigerators generally have large differences in solids and aging, so a fixed amount of frost does not adhere to them at regular intervals.
If the frost deposition rate is fast, the defrosting work is delayed, and during that time, the refrigerating capacity is reduced and energy is wasted.If the frost deposition rate is slow, the defrosting work is too fast, resulting in unnecessary labor. As time is consumed, the operating efficiency of the refrigerator becomes poor. Therefore, it is possible to automatically display the frost adhesion state, but there is a problem that there is no suitable method for quantifying the frost adhesion state. The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to obtain a thermal shock tester that can output an appropriate defrosting request signal.

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

この発明においては、所定の予冷温度に予冷して置い
てから設定温度の制御を行う場合に、予冷温度に達した
時点から設定温度の制御を開始するまでの余裕時間の基
準値と、制御量の基準値とを設定し、これらの基準値と
実際にサンプリングされた余裕時間及び制御量とをそれ
ぞれ比較し、その比較結果に応じて除霜要求信号を出力
するか又は上記2つの基準値を更新するようにしてい
る。
In the present invention, when the preset temperature is controlled after precooling to a predetermined precooling temperature, the reference value of the margin time from the time when the precooling temperature is reached until the control of the preset temperature is started, and the control amount The reference values of the above are set, and these reference values are compared with the actually sampled margin time and control amount, and a defrost request signal is output according to the comparison result, or the above two reference values are set. I am trying to update.

【作 用】[Work]

この発明の場合は、余裕時間の基準値及び制御量の基
準値が更新されることにより、自己学習が行われ、最終
的に2つの基準値は理想的な値に落ち着き、これに基づ
いて適切なタイミングで除霜要求信号が出力される。
In the case of the present invention, the reference value of the allowance time and the reference value of the control amount are updated to perform self-learning, and finally the two reference values settle to ideal values, and appropriate values are set based on this. The defrosting request signal is output at various timings.

【実施例】【Example】

以下、この発明の第1の実施例を図について説明す
る。 第1図において、1は低温槽、2は低温槽1を常時冷
却する冷凍機、3は低温槽1に設けられた温度制御用ヒ
ータ、4は低温槽1内の温度を検出する温度センサ、5
は温度センサ4の検出温度をディジタルの温度データに
変換するA/D変換器、6は上記温度データと設定温度と
に基いて制御量を算出するPID制御演算部、7は上記算
出された制御量をアナログの制御量に変換するD/A変換
器、8は上記アナログの制御量に応じて温度制御用ヒー
タ3を通電するヒータ駆動回路、9は上記設定温度,そ
の他冷却装置の運転に必要なデータを入力するキーボー
ド、10はキーボード9からの入力データをPID制御演算
部6に送るキーボードコントローラである。 11はA/D変換器5から得られる温度データとPID制御演
算部6から得られる温度,制御量等のデータとに基づい
て、後述する演算処理を行うことにより、低温槽内の霜
付着量を算出する霜付着量演算部、12は霜付着量演算部
11で求められた霜付着量を算出するための後述する所定
のデータが格納されるメモリ、13は霜付着量演算部11で
求められた現在の霜付着量データが供給されるディスプ
レイコントローラ、14はディスプレイコントローラ13に
より制御されて、現在の霜付着量を表示するデイスプレ
イ装置、15はPID制御演算部6で用いられるタイマであ
る。 次に動作について説明する。 温度センサ4で検出された温度はA/D変換器5で温度
データに変換され、この温度データはPID制御演算部6
に送られる。PID制御演算部6は、この温度データとキ
ーボード9から入力されている設定温度とに基いてPID
演算を行うことにより、制御量MVを算出する。この制御
量MVはD/A変換器7でアナログ量に変換された後、ヒー
タ駆動回路8に供給される。ヒータ駆動回路8は上記制
御量に応じた時間に温度制御用ヒータ3を通電して加熱
を行う。 以上により、通常のPID制御が行われて、低温槽1は
設定温度に保持される。 次に、メモリ12に格納される温度に対する霜付着量を
演算するためのデータを作成する方法について説明す
る。 (1)先ず、冷凍機2を充分に除霜して霜付着量ゼロ状
態と成す。 (2)次に、キーボード9により、ある温度T1を設定
し、充分に安定した状態において、上述したPID制御を
行い、その制御中に得られる制御量MVを1秒間隔でサン
プリングする。 (3)上記サンプリングした値は変動するので、時間平
均をとるためにサンプル値を1分間積算することにより
制御量の和VS01を求め、これを霜付着量ゼロに対する標
準制御量MVS01としてメモリ12に記憶して置く。 (4)上記(1)〜(3)の作業を温度T1〜Tnについて
行い、各標準制御量(制御量の和)MVS01〜MVS0nを記憶
する。尚、設定温度T1〜Tnは5℃づつ変えるものとす
る。 ここまでの工程により、霜付着量ゼロにおける設定温
度T1〜Tnと標準制御量MVS01〜MVS0nとの関係が求められ
る。 (5)次に、冷凍機2に強制的に1g(グラム)の霜を付
着させる。これは除霜を行い、さらに充分乾燥させた後
で、1gの水分を含む空気を噴霧することにより行われ
る。 (6)上記1gの霜が付着した状態において、上記(1)
〜(4)と同様の作業を行う。これによって、1gの霜付
着量における設定温度T1〜Tnに対する制御量の和MVS11
〜MVS1nが記憶される。 (7)次に、2gに1gづつ霜付着量を変えて、各霜付着量
について、上記(6)と同様の作業を繰り返す。 以上によれば、霜付着量0〜mgについて、それぞれ制
御量の和MVS01〜MVS0n,MVS11〜MVS1n・・・MVSm1〜MV
Smnが設定温度T1〜Tn毎に求められ、メモリ12に登録さ
れたことになる。これより、あるj番目の設定温度Tjに
おいて、霜付着量igのときの制御量の和MVSijを知るこ
とができる。 そこで、全ての設定温度T1〜Tnについて、最小二乗法
を用いて、 i=αj+βjMVsij+γjMVsij2…(1) となるような、定数αj,βj,γjを算出して、メモリ12
に登録する。 上述のようにして作成されメモリ12に登録された各デ
ータに基づいて、現在の霜付着量を次のようにして知る
ことができる。 (1)冷凍機2の運転時に、PID制御演算部6から得ら
れる制御量MVを霜付着量演算部11において1秒毎にサン
プリングし、そのサンプル値を1分間積算して制御量の
和MSVijを算出して置く。 (2)温度センサ4から得られた温度データが示す現在
の温度と等しい又は最も近い温度をT1〜Tnから求め、そ
れと対応するMVSijから上記(1)式を用いて霜付着量
iを算出する。 (3)この算出されたiの値はディスプレイ装置14で表
示される。 上記(2),(3)の作業を毎分行うようにすれば、
常に霜の付着量を監視することができる。 以上説明したこの発明の実施例は、温度制御用ヒータ
3に与えられる制御量を、霜の付着を数量化するための
パラメータとして利用している。即ち、同一設定温度に
おいて、上記制御量が除霜直後の霜付着量ゼロのときよ
り低下した場合は、それを霜付着による冷凍機2の冷凍
能力の低下によるものと見倣すという考え方を用いてい
る。 次に冷却装置を熱衝撃試験機に用いた場合のこの発明
の第2の実施例について説明する。 熱衝撃試験機は、被試験物を収容する試験槽と、冷凍
機で冷却された冷気を試験槽に送る低温槽と、ヒータで
加熱された熱気を試験槽に送り高温槽とから構成され
る。そして、冷気と熱気とを交互に所定時間づつ試験槽
内に送ることにより、被試験物の低温さらし試験と高温
さらし試験とが行われる。第2図は試験中における試験
槽内の温度変化特性pと低温槽の温度変化特性qを示
す。 第2図において、高温さらし時には試験槽の温度はT1
に保持され、低温さらし時にはT2に保持される。高温さ
らしを行っている時は、低温槽は所定の予冷温度T3(<
T2)で予冷を行っており、この予冷により、高温さらし
から低温さらしに移行したときに、速やかに目標温度T2
に達するようにしている。また、低温さらしが終了して
予冷に移ると、低温槽の温度はT2から徐々に下ってA点
でT3に到達する。そして、高温さらしが終了してB点か
ら低温さらしが開始されると、低温槽の温度は速やかに
立上り、一旦目標温度T2をオーバシュートした後、T2
落ち着く。ここで、上記A点からB点までの時間taを余
裕時間と呼ぶものとすると、この余裕時間taは、低温槽
の霜の付着量が多い程、短くなる。即ち、霜の付着量が
多いと冷凍機の冷却能力が低下するため、予冷開始から
A点に到達するまでの時間が長くなる。 この第2の実施例は、このような熱衝撃試験機におけ
る低温槽の着霜状態を判断して、適切なタイミングで除
霜要求信号を出すようにしたものである。なお、熱衝撃
試験機としては、第1図の低温槽1に対して試験槽及び
高温槽を追加した構成でよく、他の回路ブロックも同一
構成でよい。但し、高温槽の制御等については、図示及
び説明を省略する。 次に、このような熱衝撃試験機における霜付着量演算
部11の動作について第3図のフローチャートと共に説明
する。 先ず、ステップST1で、前述した余裕時間taの基準値t
bと、余裕時間taの最短の下限値tcと、PID制御演算部6
で算出される前記制御量MVの基準値MVbとを、経験的に
適当と思われる大きさに設定する。次に、ステップST2
で冷凍機2を運転して低温槽1の冷却を行う。そして、
ステップST3により、冷却中における現在の余裕時間ta
及び現在の制御量MVaを検出する。これらの値MVaはサン
プリング値を時間平均したものとする。次に、ステップ
ST4で、ステップST3での検出が、低温槽1の除霜を行っ
た直後の1回目の検出か否かを判断する。1回目の検出
でない場合はステップST5に進み、ここで、検出値ta
基準値tbとを比較する。そして、ta<tbの場合は、ステ
ップST6で除霜要求信号を出力した後、ステップST2に戻
る。上記除霜要求信号は、デイスプレイ装置14により、
視覚的あるいは聴覚的に表示される。ta<tbでない場合
はステップST7に進み、ここで、検出値MVaと基準値MVb
とを比較する。MVa<MVbであればステップST6で除霜要
求信号を出力し、MVa<MVbでなければ、ステップST8に
進む。ここで、検出値taと下限値tcとが比較され、ta
tcであれば、ステップST2に戻り、ta>tcでない場合は
ステップST9に進む。ここで余裕時間及び制御量の基準
をきつくする、即ち、tb及びMVbを共に所定量だけ大き
くするように変更した後、ステップST2に戻る。 上記ステップST6により除霜要求信号が出力され、こ
れに応じて低温槽1の除霜作業が行われた直後では、ス
テップST4の判断はYESとなるので、その場合はステップ
ST10に進む。ここでは、直前に出された除霜要求信号の
要因がta>tbによるものか又はMVa<MVbによるものか調
べると共に、その要因が除霜を行ったことにより除去さ
れているかを調べる。要因が除去されていればステップ
ST5以下が実行され、要因が除去されていない場合はス
テップST11に進む。ここでは、それまで用いられた基準
がきつすぎたものとして、上記の要因に応じて、基準値
tb又はMVb(場合により両方)をゆるめる。即ち、所定
量だけ小さくなるように変更する。 以上によれば、ステップST11で、基準値tb,MVbを小さ
くすると、これに伴って、ステップST5及びステップST7
の判断も、検出値ta,MVaが小さくても、NOの方向に進む
ようになる。従って、ta,MVaも徐々に小さくなり、これ
とステップST9の動作と相俟って、ルーチンを繰り返し
実行していく間に、自己学習が成されて基準値tb,MVb
理想的な値に近づいていく。
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In FIG. 1, 1 is a low temperature tank, 2 is a refrigerator for constantly cooling the low temperature tank 1, 3 is a temperature control heater provided in the low temperature tank 1, 4 is a temperature sensor for detecting the temperature in the low temperature tank 1, 5
Is an A / D converter that converts the temperature detected by the temperature sensor 4 into digital temperature data, 6 is a PID control calculation unit that calculates a control amount based on the temperature data and the set temperature, and 7 is the calculated control D / A converter for converting the amount into an analog control amount, 8 is a heater drive circuit for energizing the temperature control heater 3 according to the analog control amount, and 9 is required for operating the set temperature and other cooling devices. A keyboard controller 10 for inputting various data, and a keyboard controller 10 for sending the input data from the keyboard 9 to the PID control calculation unit 6. Reference numeral 11 indicates the amount of frost adhered in the low temperature tank by performing a calculation process described later based on the temperature data obtained from the A / D converter 5 and the data such as temperature and control amount obtained from the PID control calculation unit 6. Frost adhesion amount calculation unit for calculating
A memory in which predetermined data to be described later for calculating the frost adhesion amount obtained in 11 is stored, 13 is a display controller to which the current frost adhesion amount data obtained in the frost adhesion amount calculation unit 11 is supplied, 14 Is a display device which is controlled by the display controller 13 to display the current frost adhesion amount, and 15 is a timer used in the PID control calculation unit 6. Next, the operation will be described. The temperature detected by the temperature sensor 4 is converted into temperature data by the A / D converter 5, and this temperature data is transferred to the PID control calculation unit 6
Sent to The PID control calculation unit 6 determines the PID based on this temperature data and the set temperature input from the keyboard 9.
The control amount MV is calculated by performing the calculation. The control amount MV is converted into an analog amount by the D / A converter 7 and then supplied to the heater drive circuit 8. The heater drive circuit 8 energizes and heats the temperature control heater 3 at a time corresponding to the control amount. As described above, the normal PID control is performed and the low temperature tank 1 is maintained at the set temperature. Next, a method of creating data for calculating the frost adhesion amount with respect to the temperature stored in the memory 12 will be described. (1) First, the refrigerator 2 is sufficiently defrosted so that the frost adhesion amount is zero. (2) Next, a certain temperature T 1 is set by the keyboard 9, the PID control described above is performed in a sufficiently stable state, and the control amount MV obtained during the control is sampled at 1 second intervals. (3) Since the sampled value varies, the sum V S01 of the controlled variables is obtained by integrating the sampled values for 1 minute in order to obtain the time average, and this is stored as the standard controlled variable MV S01 for the zero frost deposition amount. Remember and put in 12. (4) above (1) performed for the temperature T 1 to Tn working to (3), stores each (sum of the controlled variable) Standard control amount MV S01 ~MV S0n. The set temperatures T 1 to Tn are changed in steps of 5 ° C. By the steps up to this point, the relationship between the setting in the frost deposition amount zero temperature T 1 to Tn and the standard control amount MV S01 to MV S0n are obtained. (5) Next, 1 g (gram) of frost is forcibly attached to the refrigerator 2. This is done by defrosting, then thoroughly drying and then spraying with air containing 1 g of water. (6) When 1 g of frost adheres to the above (1)
~ Perform the same work as (4). As a result, the sum MV S11 of the control amounts for the set temperatures T 1 to Tn in the frost adhesion amount of 1 g
~ MV S1n is stored. (7) Next, the amount of frost adhering is changed from 2 g to 1 g, and the same work as (6) above is repeated for each amount of frost adhering. According to the above, the frost deposition amount 0~Mg, each control amount of the sum MV S01 ~MV S0n, MV S11 ~MV S1n ··· MV Sm1 ~MV
Smn is obtained for each of the set temperatures T 1 to Tn and is registered in the memory 12. From this, at a certain j-th set temperature Tj, it is possible to know the sum MV Sij of the control amounts when the frost adhesion amount is ig. Therefore, for all the set temperatures T 1 to Tn, the least squares method is used to calculate constants αj, βj, γj such that i = αj + βjMVsij + γjMVsij 2 (1), and the memory 12
Register with. Based on each data created as described above and registered in the memory 12, the current frost adhesion amount can be known as follows. (1) During operation of the refrigerator 2, the control amount MV obtained from the PID control calculation unit 6 is sampled at every 1 second in the frost adhesion amount calculation unit 11, and the sample value is integrated for 1 minute to sum the control amounts MSVij Calculate and put. (2) A temperature equal to or closest to the current temperature indicated by the temperature data obtained from the temperature sensor 4 is obtained from T 1 to Tn, and the corresponding MV Sij is used to calculate the frost adhesion amount i using the above equation (1). calculate. (3) The calculated value of i is displayed on the display device 14. If you perform the work of (2) and (3) above every minute,
The amount of frost adhered can be constantly monitored. In the embodiment of the present invention described above, the control amount given to the temperature control heater 3 is used as a parameter for quantifying the adhesion of frost. That is, at the same set temperature, when the control amount is lower than when the frost adhesion amount is zero immediately after defrosting, it is assumed that it is due to the decrease in the refrigerating capacity of the refrigerator 2 due to the frost adhesion. ing. Next, a second embodiment of the present invention when the cooling device is used in a thermal shock tester will be described. The thermal shock tester is composed of a test tank containing the DUT, a low temperature tank that sends cold air cooled by a refrigerator to the test tank, and a high temperature tank that sends hot air heated by a heater to the test tank. . Then, a low temperature exposure test and a high temperature exposure test of the test object are performed by alternately sending cold air and hot air into the test tank for a predetermined time. FIG. 2 shows the temperature change characteristic p in the test tank and the temperature change characteristic q of the low temperature tank during the test. In Fig. 2, the temperature of the test tank is T 1 when exposed to high temperature.
And T 2 during low temperature exposure. When performing high temperature exposure, the low temperature tank will have a prescribed pre-cooling temperature T 3 (<
Pre-cooling is performed at T 2 ), and this pre-cooling promptly sets the target temperature T 2 when the high-temperature exposure changes to the low-temperature exposure.
Trying to reach. Further, when the low temperature exposure is completed and the precooling is started, the temperature of the low temperature tank gradually decreases from T 2 and reaches T 3 at point A. Then, when the high temperature exposure is finished and the low temperature exposure is started from the point B, the temperature of the low temperature tank rises promptly, overshoots the target temperature T 2 once, and then settles at T 2 . Here, it is referred to as a margin time period t a from the point A to point B, the margin time t a, the larger the amount of adhering frost cryostat shortened. That is, when the amount of frost adhered is large, the cooling capacity of the refrigerator decreases, and therefore the time from the start of precooling to the point A becomes long. In the second embodiment, the frosting state of the low temperature tank in such a thermal shock tester is judged and a defrosting request signal is output at an appropriate timing. As the thermal shock tester, a test tank and a high temperature tank may be added to the low temperature tank 1 shown in FIG. 1, and other circuit blocks may have the same structure. However, the illustration and description of the control of the high temperature tank and the like are omitted. Next, the operation of the frost adhesion amount calculation unit 11 in such a thermal shock tester will be described with reference to the flowchart of FIG. First, at step ST1, the reference value t of the margin time t a the aforementioned
and b, and the lower limit value t c of the shortest margin time t a, PID control calculation unit 6
The reference value MV b of the control amount MV calculated in step 1 is set to a size that is empirically considered to be appropriate. Next, step ST2
The refrigerator 2 is operated to cool the low temperature tank 1. And
By step ST3, the current margin time t a during cooling
And the current controlled variable MV a are detected. These values MV a are time-averaged sampled values. Then step
In ST4, it is determined whether or not the detection in step ST3 is the first detection immediately after defrosting the low temperature tank 1. If not first detection, the process proceeds to step ST5, where the comparing the detected value t a and the reference value t b. If t a <t b, the defrosting request signal is output in step ST 6 and then the process returns to step ST 2. The defrost request signal, the display device 14,
Displayed visually or audibly. If not t a <t b , the process proceeds to step ST7, where the detected value MV a and the reference value MV b.
Compare with If MV a <MV b , a defrost request signal is output in step ST6, and if MV a <MV b , the process proceeds to step ST8. Here, the detected value t a and the lower limit value t c are compared, t a>
If t c , the process returns to step ST2, and if not t a > t c , the process proceeds to step ST9. Here tighter criteria margin time and the control amount, i.e., after changing the t b and MV b together so as to increase by a predetermined amount, the flow returns to step ST2. Immediately after the defrosting request signal is output in step ST6 and the defrosting operation of the low temperature tank 1 is performed accordingly, the determination in step ST4 is YES.
Continue to ST10. Here, it is checked whether the factor of the defrost request signal issued immediately before is due to t a > t b or MV a <MV b , and whether the factor is removed by performing defrosting. Find out. Step if factor is removed
If ST5 and the subsequent steps are executed and the cause is not removed, the process proceeds to step ST11. Here, it is assumed that the standard used up to that point is too tight, and the standard value depends on the above factors.
Loosen t b or MV b (both depending on the case). That is, the size is changed by a predetermined amount. According to the above, when the reference values t b and MV b are reduced in step ST11, accordingly, step ST5 and step ST7
Also in the determination of, even if the detected values t a and M Va are small, the process proceeds in the direction of NO. Therefore, t a, MV a gradually reduced, I operation coupled with this and step ST9, while going repeatedly executes a routine, self-learning is made in the reference value t b, MV b is the ideal Approaching the target value.

【発明の効果】【The invention's effect】

この発明によれば、余裕時間及び制御量の基準値と実
際の検出値とをそれぞれ比較し、その比較結果に応じて
除霜要求信号を出すか又は上記基準値を更新するように
構成したので、冷却装置の運転中に基準値がその冷却装
置に関して理想的な値に近づいていき、除霜要求信号を
最も適切なタイミングで得ることができると共に、除霜
要求信号の頻度から冷却装置の能力を知ることができる
効果がある。
According to the present invention, the reference value of the allowance time and the control amount and the actual detection value are respectively compared, and the defrosting request signal is output or the reference value is updated according to the comparison result. The reference value approaches the ideal value for the cooling device during operation of the cooling device, and the defrost request signal can be obtained at the most appropriate timing, and the cooling device capacity can be determined from the frequency of the defrost request signal. There is an effect that you can know.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明の第1の実施例による冷却装置の霜付
着量測定装置を示すブロック図、第2図は熱衝撃試験機
の温度特性図、第3図はこの発明の第2の実施例による
熱衝撃試験機の動作を示すフローチャートである。 1は低温槽、2は冷凍機、3はヒータ、4は温度セン
サ、6はPID制御演算部、11は霜付着量演算部、12はメ
モリ。
FIG. 1 is a block diagram showing a frost adhesion amount measuring device for a cooling device according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a temperature characteristic diagram of a thermal shock tester, and FIG. 3 is a second embodiment of the present invention. 3 is a flowchart showing the operation of the thermal shock tester according to the example. 1 is a low temperature tank, 2 is a refrigerator, 3 is a heater, 4 is a temperature sensor, 6 is a PID control calculation unit, 11 is a frost adhesion amount calculation unit, and 12 is a memory.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】冷凍機で冷却される低温槽内の温度を設定
温度より低い所定の予冷温度に予冷する予冷期間と、上
記低温槽内の温度を温度センサで検出し、検出された温
度と上記設定温度とに基づいて制御量を算出し、この制
御量に応じて温度制御ヒータを加熱することにより、上
記低温槽内の温度を上記設定温度に制御する制御期間と
が交互に繰り返される熱衝撃試験機において、上記予冷
期間に上記低温槽内の温度が上記所定の予冷温度に達し
た時点から上記制御期間の開始時点までの余裕時間の基
準値と上記制御量の基準値とを設定する設定手段と、上
記冷凍機の運転中における上記余裕時間と上記制御量と
を検出する検出手段と、上記検出された2つの検出値と
上記余裕時間の基準値及び上記制御量の基準値とをそれ
ぞれ比較し、その比較結果に応じて除霜要求信号を出力
する除霜要求手段と、上記除霜要求信号が出力された直
後に検出された上記2つの検出値と上記余裕時間の基準
値及び上記制御量の基準値とをそれぞれ比較し、その比
較結果に応じて上記2つの基準値を変更する変更手段と
を備えたことを特徴とする熱衝撃試験機。
1. A precooling period for precooling a temperature in a low temperature tank cooled by a refrigerator to a predetermined precooling temperature lower than a set temperature, and a temperature detected by detecting the temperature in the low temperature tank with a temperature sensor. The control amount is calculated based on the set temperature, and the temperature control heater is heated according to the control amount, so that the control period for controlling the temperature in the low temperature tank to the set temperature is alternately repeated. In the impact tester, the reference value of the margin time and the reference value of the control amount from the time when the temperature in the low temperature tank reaches the predetermined precooling temperature during the precooling period to the start time of the control period is set. Setting means, detecting means for detecting the margin time and the control amount during operation of the refrigerator, two detection values detected, a reference value of the margin time and a reference value of the control amount. Compare each and that Defrost requesting means for outputting a defrost request signal according to the comparison result, the two detection values detected immediately after the defrost request signal is output, the reference value of the margin time, and the reference of the control amount. A thermal shock tester, comprising: a changing unit that compares the two reference values with each other and changes the two reference values according to the comparison result.
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