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JPH0816764B2 - Camera battery circuit - Google Patents
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JPH0816764B2 - Camera battery circuit - Google Patents

Camera battery circuit

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JPH0816764B2
JPH0816764B2 JP60179937A JP17993785A JPH0816764B2 JP H0816764 B2 JPH0816764 B2 JP H0816764B2 JP 60179937 A JP60179937 A JP 60179937A JP 17993785 A JP17993785 A JP 17993785A JP H0816764 B2 JPH0816764 B2 JP H0816764B2
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voltage
temperature coefficient
battery
temperature
circuit
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洋 長谷川
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Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明はカメラのバッテリチェック回路に関するもの
である。
Description: TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a battery check circuit for a camera.

(発明の背景) 被写体輝度を測定するには、一般に、シリコンフォト
ダイオードや硫化カドミウム等の受光素子が用いられ
る。これらの受光素子の出力は周囲温度に影響されるの
で、従来から種々の形態で受光素子出力の温度補償が行
われている。
(Background of the Invention) A light receiving element such as a silicon photodiode or cadmium sulfide is generally used to measure the brightness of an object. Since the outputs of these light receiving elements are affected by the ambient temperature, temperature compensation of the light receiving element outputs has been conventionally performed in various forms.

その温度補償のひとつとして、絶対温度に比例した電
圧を発生する電圧発生回路を設けたものがある。露出制
御等でアナログ系およびデジタル系を用いるものにおい
ては、絶対温度に比例した電圧は、アナログ系の電圧源
として、また、アナログ−デジタルコンバータ(A/Dコ
ンバータ)やデジタル−アナログコンバータ(D/Aコン
バータ)の基準電圧として用いられている。
As one of the temperature compensations, there is one provided with a voltage generation circuit that generates a voltage proportional to absolute temperature. In the case of using an analog system and a digital system for exposure control etc., the voltage proportional to the absolute temperature is used as a voltage source of the analog system, and also as an analog-digital converter (A / D converter) or digital-analog converter (D / It is used as a reference voltage for the A converter.

ところで、カメラのバッテリの電圧が所定値より低下
すると、適正な露出制御等ができなくなるので、自動露
出制御機能等を有するカメラには、従来からバッテリチ
ェック機構が備えられている。バッテリチェックは、バ
ッテリ電圧を基準値と比較して行うが、通常、バッテリ
電圧は周囲温度に影響を受けないので、上述した温度補
償を行うアナログ系とデジタル系とを有するカメラにお
いて、バッテリ電圧を温度に比例する基準電圧によりA/
D変換し、そのデジタル値を基準値と比較してバッテリ
チェックを行う場合には、同一レベルのバッテリ電圧で
も温度によってそのデジタル値が変わってしまい、基準
値そのものを温度に比例して変更させなくてはならず回
路が複雑になり高価なものになってしまう。
By the way, when the voltage of the battery of the camera falls below a predetermined value, proper exposure control and the like cannot be performed. Therefore, a camera having an automatic exposure control function or the like has conventionally been provided with a battery check mechanism. The battery check is performed by comparing the battery voltage with a reference value. Normally, the battery voltage is not affected by the ambient temperature. Therefore, in the camera having the analog system and the digital system for performing the temperature compensation, the battery voltage is checked. A / by a reference voltage proportional to temperature
When performing D-conversion and comparing the digital value with the reference value to check the battery, even if the battery voltage is at the same level, the digital value changes depending on the temperature, and the reference value itself does not change in proportion to the temperature. If not, the circuit becomes complicated and expensive.

(発明の目的) 本発明の目的は、このような従来の問題点を解消する
ため、絶対温度に比例した電圧を基準電圧とするA/Dコ
ンバータでバッテリ電圧をデジタル変換し、そのデジタ
ル値を基準値と比較してバッテリチェックする際に基準
値を周囲温度に応じて変更する必要のないカメラのバッ
テリチェック回路を提供することにある。
(Object of the invention) In order to solve such a conventional problem, an object of the present invention is to convert a battery voltage into a digital value with an A / D converter using a voltage proportional to absolute temperature as a reference voltage, and convert the digital value to It is an object of the present invention to provide a battery check circuit for a camera that does not need to change the reference value according to the ambient temperature when the battery is compared with the reference value.

(発明の概要) 本発明は、第1の温度係数に従って絶対温度に比例す
る電圧を発生する電圧発生手段を有し、その出力電圧は
アナログ−デジタル変換手段の基準電圧とされている。
本発明は更に、第1の温度係数より小さい第2の温度係
数をバッテリ電圧に付与する温度係数付与手段を有し、
第2の温度係数が付与されたバッテリチェック電圧を、
基準電圧に基づいてアナログ−デジタル変換手段でデジ
タル値に変換し、その値を比較判定手段に予め定められ
た基準値と比較し、その比較結果からバッテリ電圧の良
否を判定する。
(Summary of the Invention) The present invention has a voltage generating means for generating a voltage proportional to an absolute temperature according to a first temperature coefficient, and its output voltage is used as a reference voltage of an analog-digital converting means.
The present invention further includes temperature coefficient applying means for applying a second temperature coefficient smaller than the first temperature coefficient to the battery voltage,
The battery check voltage provided with the second temperature coefficient is
Based on the reference voltage, it is converted into a digital value by the analog-digital conversion means, the value is compared with a predetermined reference value by the comparison and determination means, and the quality of the battery voltage is judged from the comparison result.

(実施例) 第1図は本発明バッテリチェック回路の一実施例を含
むカメラの露出制御回路の一例を示し、1はバッテリE
と、そのバッテリ電圧を所定の値で取り出すための分圧
抵抗R1およびR2とを有する電源回路であり、バッテリE
は、後述する電圧発生回路3に接続されていて、抵抗R1
と抵抗R2の接続点は、トランジスタQ1のベースと接続さ
れている。トランジスタQ1のエミッタはダイオードD1の
アノードに接続され、そのカソードは抵抗R3を介して接
地されている。また、ダイオードD1のカソードはA/Dコ
ンバータ4のチャンネルCH2に接続されている。ここ
で、トランジスタQ1とダイオードD1とにより温度係数付
与回路2が構成され、その付与回路2により、抵抗R1と
R2の接続点の電圧Vxに所定の温度係数が付与される。
(Embodiment) FIG. 1 shows an example of an exposure control circuit of a camera including an embodiment of a battery check circuit of the present invention, and 1 is a battery E
And a voltage dividing resistors R1 and R2 for extracting the battery voltage at a predetermined value.
Is connected to the voltage generation circuit 3 described later, and is connected to the resistor R1.
The connection point between the resistor R2 and the resistor R2 is connected to the base of the transistor Q1. The emitter of the transistor Q1 is connected to the anode of the diode D1 and its cathode is grounded via the resistor R3. The cathode of the diode D1 is connected to the channel CH2 of the A / D converter 4. Here, the transistor Q1 and the diode D1 constitute a temperature coefficient giving circuit 2, and the giving circuit 2 causes a resistor R1 and
A predetermined temperature coefficient is given to the voltage Vx at the connection point of R2.

電圧発生回路3は絶対温度に比例した電圧を発生する
ように構成されている。すなわち、抵抗R4,ダイオードD
2およびD3はバッテリEに直列に接続され、定電流源C1
と抵抗R4との接続点は抵抗R5を介して演算増幅器A1の反
転入力端子に、抵抗R4とダイオードD2の接続点は演算増
幅器A1の非反転入力端子に接続されている。演算増幅器
A1の出力端子はA/Dコンバータ4の基準電圧入力端子VR
および後述の測光回路5に接続されるとともに抵抗R6お
よびR7を介して接地されている。その抵抗R6とR7との接
続点と演算増幅器A1の反転入力端子との間にはダイオー
ドD4およびD5が接続されている。
The voltage generation circuit 3 is configured to generate a voltage proportional to absolute temperature. That is, resistor R4, diode D
2 and D3 are connected in series with the battery E, and the constant current source C1
The connection point between the resistor R4 and the resistor R4 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier A1 via the resistor R5, and the connection point between the resistor R4 and the diode D2 is connected to the non-inverting input terminal of the operational amplifier A1. Operational amplifier
The output terminal of A1 is the reference voltage input terminal VR of the A / D converter 4.
It is also connected to a photometric circuit 5 described later and is grounded via resistors R6 and R7. Diodes D4 and D5 are connected between the connection point of the resistors R6 and R7 and the inverting input terminal of the operational amplifier A1.

符号5は測光回路を示し、演算増幅器A2の二つの入力
端子間にはフォトダイオードPDが介装されるとともに、
演算増幅器A2の出力端子と反転入力端子との間には二つ
のダイオードD6およびD7が直列に接続されている。更
に、演算増幅器A2の出力端子は直列接続されたダイオー
ドD8,D9と接続され、ダイオードD9のカソードは定電流
源C2を介して接地されるとともに、A/Dコンバータ4の
入力チャンネルCH1に接続されている。
Reference numeral 5 indicates a photometric circuit, in which a photodiode PD is interposed between two input terminals of the operational amplifier A2,
Two diodes D6 and D7 are connected in series between the output terminal and the inverting input terminal of the operational amplifier A2. Further, the output terminal of the operational amplifier A2 is connected to the diodes D8 and D9 connected in series, and the cathode of the diode D9 is grounded via the constant current source C2 and also connected to the input channel CH1 of the A / D converter 4. ing.

A/Dコンバータ4にはマイクロプロセッサ6が後続
し、このマイクロプロセッサ6は周知のように不図示の
CPU,ROM,RAM等から成り、メインルーチンや後述するバ
ッテリチェックサブルーチン等の各種プログラムがROM
に予め格納され、そのプログラムに従って演算された結
果に基づいてカメラの露出制御等の各種制御が実行され
る。
The A / D converter 4 is followed by a microprocessor 6, which is well known and is not shown.
It consists of a CPU, ROM, RAM, etc., and various programs such as the main routine and the battery check subroutine described later are in ROM.
Is stored in advance and various controls such as exposure control of the camera are executed based on the result calculated according to the program.

第2図のバッテリチェックサブルーチンを参照して本
例におけるバッテリ電圧のチェックについて説明する。
The battery voltage check in this example will be described with reference to the battery check subroutine of FIG.

このサブルーチンは、カメラの電源スイッチ(不図
示)が投入されている間常時起動されているメインルー
チンからジャンプして起動されるものであり、所定のタ
イミングでメインルーチンからこのルーチンにジャンプ
すると、まず、ステップS1において、A/Dコンバータ4
の入力チャンネルCH2の入力電圧、すなわちバッテリチ
ェック電圧Vch2を量子化したデジタルデータVinを読込
む。次いで、ステップS2において、そのデジタルデータ
Vinを、予めROMに格納されているバッテリチェック用基
準値RNとその大小関係を比較する。デジタルデータVin
が大きければ何もせずにメインルーチンへ戻り、デジタ
ルデータVinが基準値RNより小さい場合には否定判定さ
れてステップS3に進み、レリーズを禁止するとともにバ
ッテリ交換を表示したりバッテリ電圧が低いことを表示
したりし、その後メインルーチンへ戻る。
This subroutine is started by jumping from the main routine that is always activated while the power switch (not shown) of the camera is turned on, and when jumping to this routine from the main routine at a predetermined timing, , A / D converter 4 in step S1
The input voltage of the input channel CH2, that is, the digital data Vin obtained by quantizing the battery check voltage Vch2 is read. Then, in step S2, the digital data
Vin is compared with the reference value RN for battery check stored in the ROM in advance and its magnitude relationship. Digital data Vin
If is larger, the operation returns to the main routine without doing anything, and if the digital data Vin is smaller than the reference value RN, a negative determination is made and the operation proceeds to step S3 to prohibit the release and display the battery replacement or confirm that the battery voltage is low. Display it, then return to the main routine.

ここで、バッテリチェック用基準値RNを定めるにあた
っては、A/Dコンバータ4の基準電圧として絶対温度に
比例した電圧を用いている点を考慮する必要がある。
Here, in determining the battery check reference value RN, it is necessary to consider that a voltage proportional to the absolute temperature is used as the reference voltage of the A / D converter 4.

すなわち、電圧発生回路3の出力電圧VA1は、 と表わすことができ、その電圧VA1が供給されている測
光回路5の測光出力VA2は、 但し、q:電子電荷 K:ボルツマン定数 T:絶対温度 と表わすことができる。
That is, the output voltage VA1 of the voltage generation circuit 3 is The photometric output VA2 of the photometric circuit 5 to which the voltage VA1 is supplied is However, it can be expressed as q: electronic charge K: Boltzmann constant T: absolute temperature.

従って、抵抗R4〜R7および定電流源C2の電流I2および
光電流ILの各温度係数を同一とすれば、電圧発生回路3
および測光回路5の各出力電圧VA1およびVA2は絶対温度
Tに比例することがわかる。
Therefore, if the temperature coefficients of the currents I2 and photocurrent IL of the resistors R4 to R7 and the constant current source C2 are the same, the voltage generating circuit 3
It can be seen that the output voltages VA1 and VA2 of the photometric circuit 5 are proportional to the absolute temperature T.

ここで、フォトダイオードPDへの入射光量が2倍にな
ると光電流ILも2倍となり、その光量変化に伴なう測光
出力、すなわち演算増幅器A2の出力電圧の変化分ΔVA2
は、 と表わすことができる。すなわち、入射光量が2倍にな
ると演算増幅器A2の出力電圧が、 だけ増加することになる。光量が2倍になることは1EV
相当光量が増加したことに他ならないので、本実施例に
おいては、周囲温度25℃において、1EV相当の露出に関
係する因子の変動による電圧変化量を としている。また、1EVの1/6の分解能があればカメラの
露出制御等には十分であるので、A/D変換器4のLSBに対
応する電圧を、 に選んでいる。そして、A/Dコンバータ4を8ビットと
すれば、周囲温度25℃におけるA/Dコンバータ4の基準
電圧Vref(=VA1)を、 とすべく、電圧発生回路3の抵抗R4〜R7の抵抗値を定
め、これにより所望の分解能で各露出因子を制御してい
る。
Here, when the amount of light incident on the photodiode PD doubles, the photocurrent IL also doubles, and the photometric output associated with the change in the amount of light, that is, the change ΔVA2 in the output voltage of the operational amplifier A2.
Is Can be expressed as That is, when the amount of incident light is doubled, the output voltage of the operational amplifier A2 becomes Will only increase. Double the amount of light is 1 EV
Since this is nothing but an increase in the equivalent light amount, in this embodiment, at an ambient temperature of 25 ° C., the amount of voltage change due to a change in a factor related to exposure equivalent to 1 EV was calculated. And In addition, if the resolution of 1/6 of 1EV is enough for exposure control of the camera, the voltage corresponding to the LSB of the A / D converter 4 should be Have chosen. If the A / D converter 4 has 8 bits, the reference voltage Vref (= VA1) of the A / D converter 4 at an ambient temperature of 25 ° C. Therefore, the resistance values of the resistors R4 to R7 of the voltage generating circuit 3 are determined, and thereby each exposure factor is controlled with a desired resolution.

今、A/Dコンバータ4の基準電圧入力端子VRに供給さ
れる基準電圧Vrefの温度係数を求めるため、第4式の両
辺を絶対温度Tで微分すると、 となり、従って、基準電圧Vrefの温度係数は約5.1〔mV/
deg〕であることがわかる。
Now, in order to obtain the temperature coefficient of the reference voltage Vref supplied to the reference voltage input terminal VR of the A / D converter 4, when both sides of the fourth equation are differentiated by the absolute temperature T, Therefore, the temperature coefficient of the reference voltage Vref is about 5.1 [mV /
deg].

一方、第1図において、抵抗R1とR2の接続点の電圧を
Vx,トランジスタQ1のベース・エミッタ接合電圧をVe,ダ
イオードD1の順方向電圧をVdとすると、A/Dコンバータ
4のチャンネルCH2に供給されるバッテリチェック電圧V
ch2は、 Vch2=Vx−Ve−Vd …(6) と表わすことができる。この第6式を絶対温度Tで微分
すると、 となる。電圧Vxは、 但し、E:バッテリ電圧 と表わすことができるから、抵抗R1およびR2の温度係数
を等しいものとすれば、 となる。また、トランジスタのベース・エミッタ接合電
圧やダイオードの順方向電圧は、−2〔mV/deg〕程度の
温度係数をもっているので、 とおけば、第7式は、 となる。すなわち本例では、バッテリチェックのために
A/Dコンバータ4の入力チャンネルCH2に供給されるバッ
テリチェック電圧Vch2の温度係数が4〔mV/deg〕である
ことがわかる。
On the other hand, in Fig. 1, the voltage at the connection point of resistors R1 and R2 is
Vx, the base-emitter junction voltage of the transistor Q1 is Ve, and the forward voltage of the diode D1 is Vd, the battery check voltage V supplied to the channel CH2 of the A / D converter 4
ch2 can be expressed as Vch2 = Vx-Ve-Vd (6). Differentiating this equation 6 by the absolute temperature T, Becomes The voltage Vx is However, since it can be expressed as E: battery voltage, if resistors R1 and R2 have the same temperature coefficient, Becomes Also, since the base-emitter junction voltage of the transistor and the forward voltage of the diode have a temperature coefficient of about -2 [mV / deg], In other words, formula 7 is Becomes That is, in this example, to check the battery
It can be seen that the temperature coefficient of the battery check voltage Vch2 supplied to the input channel CH2 of the A / D converter 4 is 4 [mV / deg].

上述したように、本実施例のカメラでは、周囲温度25
℃について考えれば、A/Dコンバータ4の基準電圧Vref
が1.52〔V〕以上なければならないから、そのときのバ
ッテリ電圧もそれに応じた値以上でなければならない。
As described above, in the camera of this embodiment, the ambient temperature is 25
Considering ℃, the reference voltage Vref of A / D converter 4
Must be 1.52 [V] or higher, and the battery voltage at that time must also be higher than that value.

そこで、バッテリチェック用基準値RNは、上述した基
準電圧Vrefおよびバッテリチェック電圧Vch2の温度係数
を考慮して次のようにして定める。すなわち、周囲温度
25℃のときに基準電圧Vrefが1.52〔V〕となる場合、両
者間の温度係数の相違からバッテリチェック電圧Vch2
は、 となっていればよいことになる。ここで、A/Dコンバー
タ4のフルスケール(256:10進数)は1.52〔V〕に相当
するので、チャンネルCH2に1.18〔V〕が入力される場
合には、A/D出力は、 となる。従って、本実施例の場合には、基準値RNを201
(10進数)と定めればよいことになる。勿論、電源1の
分圧抵抗R1およびR2の値は、ダイオードD1の順方向電圧
も考慮して、バッテリチェック電圧Vch2が1.18〔V〕
(周囲温度25℃)となるように定めておく必要がある。
Therefore, the battery check reference value RN is determined as follows in consideration of the above-mentioned temperature coefficient of the reference voltage Vref and the battery check voltage Vch2. Ie ambient temperature
If the reference voltage Vref becomes 1.52 [V] at 25 ℃, the battery check voltage Vch2
Is It means that it has become. Here, since the full scale (256: decimal number) of the A / D converter 4 corresponds to 1.52 [V], when 1.18 [V] is input to the channel CH2, the A / D output is Becomes Therefore, in the case of this embodiment, the reference value RN is 201
(Decimal number) should be set. Of course, regarding the values of the voltage dividing resistors R1 and R2 of the power source 1, the battery check voltage Vch2 is 1.18 [V] in consideration of the forward voltage of the diode D1.
It is necessary to set it so that the ambient temperature is 25 ° C.

このように本実施例では、トランジスタQ1およびダイ
オードD1を用いてバッテリ電圧に4〔mV/deg〕の正の温
度係数を付与するとともに、A/Dコンバータ4の基準電
圧の温度係数を5.1〔mV/deg〕に設定するとともに、A/D
コンバータ4の分解能を28とし、バッテリチェック用基
準値RNを と定めた。従って、基準電圧Vrefおよびバッテリチェッ
ク電圧Vch2ともに温度係数を有するので、温度が変わる
度毎に基準値RNを変えなくとも正確なバッテリ電圧のチ
ェックが可能となる。
As described above, in the present embodiment, the transistor Q1 and the diode D1 are used to give a positive temperature coefficient of 4 [mV / deg] to the battery voltage, and the temperature coefficient of the reference voltage of the A / D converter 4 is set to 5.1 [mV]. / deg] and A / D
The resolution of the converter 4 and 2 8, a battery check reference value RN I decided. Therefore, since both the reference voltage Vref and the battery check voltage Vch2 have a temperature coefficient, it is possible to accurately check the battery voltage without changing the reference value RN every time the temperature changes.

第10式を一般的に表わすと次のようになる。 The general expression of the tenth formula is as follows.

但し、NはA/Dコンバータ4のビット数である。 However, N is the number of bits of the A / D converter 4.

ところで、第11式のバッテリチェック電圧の温度係数
は、温度係数付与回路2におけるトランジスタやダイオ
ードの半導体の接合による温度係数であり、本実施例で
は、基準電圧Vrefの有する温度係数よりも小さく設定し
ている。ここで、温度係数付与回路2でバッテリ電圧Vc
h2に付与する温度係数を、A/Dコンバータ4の基準電圧V
refが有する温度係数より大きくすると、バッテリ電圧
の分圧比にもよるがある温度でバッテリチェック電圧Vc
h2が基準電圧Vrefを越えてしまい、A/Dコンバータ4か
らのA/D出力はバッテリチェック電圧Vch2に反映しなく
なり、正確なバッテリチェックができなくなってしま
う。従って、バッテリチェック電圧Vch2に付与する温度
係数が必ず基準電圧Vrefの温度係数より小さくしなくて
はならない。これを一般的に表わすと、 m×αj≦β …(12) 但し、mは温度係数付与回路2で用いる半導体の数、
αjは半導体の接合温度係数、βは基準電圧Vrefの温度
係数 と表わすことができる。使用半導体の温度係数がそれぞ
れ異なる場合は、 (α+α+……α)≦β …(13) となる。一方、通常、トランジスタやダイオードの接合
温度係数は約2〔mV/deg〕であり、温度係数付与回路2
で用いる半導体の数は整数なので、第11式や第12式で示
される温度係数付与回路2の温度係数は任意に選択する
ことのできない不連続な値である。
By the way, the temperature coefficient of the battery check voltage of the eleventh equation is a temperature coefficient due to the junction of the semiconductors of the transistor and the diode in the temperature coefficient giving circuit 2, and is set smaller than the temperature coefficient of the reference voltage Vref in this embodiment. ing. Here, in the temperature coefficient giving circuit 2, the battery voltage Vc
The temperature coefficient given to h2 is the reference voltage V of the A / D converter 4.
If it is larger than the temperature coefficient of ref, the battery check voltage Vc will rise at a certain temperature depending on the voltage division ratio of the battery voltage.
h2 exceeds the reference voltage Vref, the A / D output from the A / D converter 4 is not reflected in the battery check voltage Vch2, and accurate battery check cannot be performed. Therefore, the temperature coefficient applied to the battery check voltage Vch2 must be smaller than the temperature coefficient of the reference voltage Vref. This is generally expressed as follows: m × αj ≦ β (12) where m is the number of semiconductors used in the temperature coefficient giving circuit 2,
αj can be expressed as a junction temperature coefficient of the semiconductor, and β can be expressed as a temperature coefficient of the reference voltage Vref. When the temperature coefficients of the semiconductors used differ, (α 1 + α 2 + ... α m ) ≦ β (13) On the other hand, normally, the junction temperature coefficient of a transistor or a diode is about 2 [mV / deg], and the temperature coefficient applying circuit 2
Since the number of semiconductors used in (3) is an integer, the temperature coefficient of the temperature coefficient giving circuit 2 shown in the 11th and 12th equations is a discontinuous value that cannot be arbitrarily selected.

なお、第3図および第4図に、温度係数付与回路2の
他の2例を示す。第3図では2個のトランジスタQ1,Q
1′を用い、第4図では2個のダイオードD1,D1′を用い
た場合を示す。
3 and 4 show other two examples of the temperature coefficient giving circuit 2. In FIG. 3, two transistors Q1 and Q
1'is used and FIG. 4 shows a case where two diodes D1 and D1 'are used.

(発明の効果) 本発明によれば、第1の温度係数を有する基準電圧に
従って、第1の温度係数より小さい第2の温度係数を有
するバッテリチェック電圧をA/D変換し、予め第1およ
び第2の温度係数に応じて定められたバッテリチェック
用基準値とそのA/D変換値とを比較することによりバッ
テリ電圧をチェックするようにしたので、バッテリチェ
ック用基準値を温度に応じて変える必要がなく構成が簡
素化される。
According to the present invention, the battery check voltage having the second temperature coefficient smaller than the first temperature coefficient is A / D converted according to the reference voltage having the first temperature coefficient, and the first and Since the battery voltage is checked by comparing the battery check reference value determined according to the second temperature coefficient with the A / D converted value, the battery check reference value is changed according to the temperature. There is no need and the configuration is simplified.

また、測光回路に供給する基準電圧を、バッテリチェ
ック電圧をA/D変換する際の基準電圧として用いるよう
にしたため、A/D変換する際の基準電圧を新たに生成す
る必要がなく、回路規模を小型化できる。
Also, the reference voltage supplied to the photometric circuit is used as the reference voltage for A / D conversion of the battery check voltage, so there is no need to generate a new reference voltage for A / D conversion, and the circuit scale Can be downsized.

さらに、半導体の接合温度係数に応じて第2の温度係
数を定めるため、半導体の数を調整することで第2の温
度係数値を容易に変更・調整でき、第2の温度係数を最
適化しやすくなる。
Further, since the second temperature coefficient is determined according to the junction temperature coefficient of the semiconductor, the second temperature coefficient value can be easily changed / adjusted by adjusting the number of semiconductors, and the second temperature coefficient can be easily optimized. Become.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図はバッ
テリチェックの処理手順例を示すフローチャート、第3
図および第4図は温度係数付与回路の2実施例を示す回
路図である。 1:電源 E:バッテリ、R1,R2:抵抗 2:温度係数付与回路 Q1:トランジスタ、D1:ダイオード R3:抵抗 3:基準電圧発生回路 D2〜D5:ダイオード R4〜R7:抵抗 C1:定電流源 4:A/Dコンバータ 5:測光回路 D6〜D9:ダイオード PD:フォトダイオード C2:定電流源 6:マイクロプロセッサ
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a flowchart showing an example of a battery check processing procedure, and FIG.
FIG. 4 and FIG. 4 are circuit diagrams showing a second embodiment of the temperature coefficient giving circuit. 1: Power supply E: Battery, R1, R2: Resistor 2: Temperature coefficient giving circuit Q1: Transistor, D1: Diode R3: Resistor 3: Reference voltage generation circuit D2 to D5: Diode R4 to R7: Resistor C1: Constant current source 4 : A / D converter 5: Photometric circuit D6 to D9: Diode PD: Photodiode C2: Constant current source 6: Microprocessor

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】電源と接続され、第1の温度係数に従って
絶対温度に比例した電圧を発生し、測光回路に電圧を供
給する電圧発生手段と、 前記電源の電圧に前記第1の温度係数より小さい第2の
温度係数を付与する温度係数付与手段と、 前記電圧発生手段から前記測光回路に供給される電圧を
基準電圧として、前記温度係数付与手段からの電圧をデ
ジタル値に変換するアナログ−デジタル変換手段と、 前記アナログ−デジタル変換手段の前記デジタル値のビ
ット数をNとしたときに、(a)式により求められるバ
ッテリチェック用基準値と比較して前記電源の電圧を判
定する比較判定手段と、を具備したことを特徴とするカ
メラのバッテリチェック回路。 バッテリチェック用基準値=2N×(前記第2の温度係
数) /(前記第1の温度係数)
…(a)
1. A voltage generator that is connected to a power source, generates a voltage proportional to an absolute temperature according to a first temperature coefficient, and supplies a voltage to a photometric circuit, and a voltage of the power source that is higher than the first temperature coefficient. Temperature coefficient applying means for applying a small second temperature coefficient, and analog-digital for converting the voltage from the temperature coefficient applying means into a digital value using the voltage supplied from the voltage generating means to the photometric circuit as a reference voltage. When the number of bits of the digital value of the conversion means and the analog-digital conversion means is N, a comparison determination means for determining the voltage of the power supply by comparing with a reference value for battery check obtained by the equation (a). And a battery check circuit for the camera. Reference value for battery check = 2 N × (the second temperature coefficient) / (the first temperature coefficient)
… (A)
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