Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPH084585B2 - Ct装置用電極板およびその製造方法 - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPH084585B2 - Ct装置用電極板およびその製造方法 - Google Patents

Ct装置用電極板およびその製造方法

Info

Publication number
JPH084585B2
JPH084585B2 JP3203776A JP20377691A JPH084585B2 JP H084585 B2 JPH084585 B2 JP H084585B2 JP 3203776 A JP3203776 A JP 3203776A JP 20377691 A JP20377691 A JP 20377691A JP H084585 B2 JPH084585 B2 JP H084585B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plate
electrode plate
molybdenum
manufacturing
rolling
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP3203776A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0523327A (ja
Inventor
康二 朝日
保夫 山淵
道雄 黒田
Original Assignee
東京タングステン株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 東京タングステン株式会社 filed Critical 東京タングステン株式会社
Priority to JP3203776A priority Critical patent/JPH084585B2/ja
Publication of JPH0523327A publication Critical patent/JPH0523327A/ja
Publication of JPH084585B2 publication Critical patent/JPH084585B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンピュータ断層撮影
(CT)装置に用いられる検出器の構造に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、CT装置は被測定物(例えば、
人体)にX線を照射するX線照射手段と、被測定物内の
構成物(例えば、人体内の臓器、血液、蛋白質部分等)
を透過したX線を検出する検出手段と、検出手段からの
検出信号を処理して画像信号を出力する処理手段と、照
射手段と検出手段とを被測定物の周囲を移動させる駆動
手段とを有する。被測定物の測定を高精度に行うために
は、各手段の精度や安定性が要求される。検出手段は検
出器を有する。即ち、図3において、照射手段のX線が
出射される焦点Pから同心円円弧上に、圧縮されたXe
ガスの封入された筐体を有する検出器10が配設されて
いる。この筐体内には、図4において、焦点Pから同心
放射線上に陽極板101と陰極板102とが交互に所定
寸法の間隙部103(例えば、その幅Wは2mm)をお
いてセラミック基板105に支持されて配設されてい
る。陽極板101および陰極板102(以後、両板を総
称して電極板と呼ぶ)は、純タングステンや純モリブデ
ンから成り、その板厚は、例えば、0.15乃至0.2
0mmである。CT装置稼働時には、各陽極板101に
は直流電圧(例えば、500V)が印加され、間隙部1
03内のXeガスが被測定物9を透過したX線により電
離が生じ、陽極板101と陰極板102間に電流が流れ
る。これを検出器の検出信号として出力する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】近年、測定の精細度化
に伴い電極板の板厚や間隙部の寸法の微小化が所望され
ている。また、被測定物を透過したX線の成分には、被
測定物内の構成物によって散乱したX線が含まれてい
る。このため、精度の高い検出を行うためには焦点Pか
ら真直ぐに透過したX線のみを検出する必要がある。換
言すれば、検出器には高い指向特性が必要である。しか
し、従来の電極板は純タングステンや純モリブデンから
成るため、板厚を薄くすると筐体内で圧縮されたXeガ
スの圧力により変形したり、駆動手段による振動に共振
して不要なX線を検出してしまうという問題点がある。
本発明の課題は、変形や共振することのないCT装置の
検出器用電極板を提供することである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、真空雰
囲気下で所定温度にて炭化処理および矯正処理されたモ
リブデン焼結板材から成ることを特徴とするCT装置用
電極板が得られる。本発明によれば、さらに、モリブデ
ン焼結体板材を所定の圧延率で圧延処理してモリブデン
圧延板とする圧延工程と、真空雰囲気下で所定温度にて
前記モリブデン圧延板を炭化処理して電極板とする炭化
処理工程とを有し、前記炭化処理工程は、前記モリブデ
ン圧延板を矯正処理するステップを含むことを特徴とす
るCT装置用電極板の製造方法が得られる。
【0005】
【実施例】以下、本発明による電極板の製造方法を説明
する。製造の手順を以下に示す。 モリブデンの焼結板材を熱間圧延処理と冷間圧延処理
とを連続して行う。板厚は、例えば、0.05乃至0.
15mmとする。圧延率は90%未満では後述する熱処
理後の引張り強さおよびヤング率が比較的低い。圧延率
は90%以上が好ましい。 この焼結板材を真空雰囲気下で所定の熱処理温度T1
にて、炭化処理を行う。この時、焼結板材の全面に対し
垂直方向に所定の荷重を付加することにより矯正処理も
同時に行う。 熱処理温度T1 に対する本実施例および従来の焼結板材
の引張り強さおよびヤング率を、それぞれ図1および図
2に示す。尚、これら焼結板材は、手順で圧延率9
9.7%で板厚が0.1mmに圧延処理されたものであ
る。図1および図2を参照すると、熱処理温度T1 が1
373K未満の熱処理では、ヤング率が比較的低い。こ
れは、1373K未満では表面部のみしか炭化されない
ためと考えられる。したがって、熱処理温度T1 は13
73K以上が好ましい。さらに、熱処理温度1673K
では引張り強さは950N/mm2 、ヤング率は830
0KN/mm2 と比較的高い値が得られた。尚、板材
は、モリブデンに限らずタングステン等であってもよい
ことはいうまでもない。
【0006】
【発明の効果】本発明によるCT装置用電極板の製造方
法は、モリブデン焼結体板材を所定の圧延率で圧延処理
し、真空雰囲気下で所定温度にて炭化処理と矯正処理と
を行うから、引張り強さおよびヤング率が比較的高い電
極板が得られる。本発明によるCT装置用電極板は、所
定温度にて炭化処理および矯正処理されたモリブデン焼
結板材から成り引張り強さおよびヤング率が比較的高い
から、板厚を薄くしても筐体内で圧縮されたXeガスの
圧力により変形したり、駆動手段による振動に共振して
不要なX線を検出してしまうことがない。したがって、
CT装置の高精度化を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明および従来の電極板の熱処理温度に対す
る引張り強さを示す図である。
【図2】本発明および従来の電極板の熱処理温度に対す
るヤング率を示す図である。
【図3】本発明および従来の電極板が使用されるCT装
置を説明するための概略図である。
【図4】図3に示す検出器を詳細に説明するための概略
図である。
【符号の説明】
9 被測定物 10 検出器 101 陽極板 102 陰極板 103 間隙部 105 セラミック基板

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 真空雰囲気下で所定温度にて炭化処理
    よび矯正処理されたモリブデン焼結板材から成ることを
    特徴とするCT装置用電極板。
  2. 【請求項2】 引張り強さが800N/mm2 以上、か
    つ、ヤング率が4000KN/mm2 以上であることを
    特徴とする請求項1記載のCT装置用電極板。
  3. 【請求項3】 モリブデン焼結体板材を所定の圧延率で
    圧延処理してモリブデン圧延板とする圧延工程と、前記
    モリブデン圧延板を真空雰囲気下で所定温度にて炭化処
    理して電極板とする炭化処理工程とを有し、前記炭化処
    理工程は、前記モリブデン圧延板を矯正処理するステッ
    プを含むことを特徴とするCT装置用電極板の製造方
    法。
JP3203776A 1991-07-19 1991-07-19 Ct装置用電極板およびその製造方法 Expired - Lifetime JPH084585B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3203776A JPH084585B2 (ja) 1991-07-19 1991-07-19 Ct装置用電極板およびその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3203776A JPH084585B2 (ja) 1991-07-19 1991-07-19 Ct装置用電極板およびその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0523327A JPH0523327A (ja) 1993-02-02
JPH084585B2 true JPH084585B2 (ja) 1996-01-24

Family

ID=16479601

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3203776A Expired - Lifetime JPH084585B2 (ja) 1991-07-19 1991-07-19 Ct装置用電極板およびその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH084585B2 (ja)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5824904B2 (ja) * 1977-04-06 1983-05-24 株式会社東芝 放射線検出器

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0523327A (ja) 1993-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7991120B2 (en) Multi X-ray generating apparatus and X-ray imaging apparatus
US7826595B2 (en) Micro-focus field emission x-ray sources and related methods
JP2002514772A (ja) 多用途用多密度多原子番号検出器媒体
US20150030119A1 (en) Multi-source radiation generator and radiographic imaging system
JP2013525807A (ja) 放射線撮像デバイスおよび放射線撮像デバイス用の検出器
EP3578104A1 (en) Computed tomography system and method configured to image at different energy levels and focal spot positions
RU2248013C2 (ru) Детектор на основе множества плотностей и множества атомных чисел с газовым электронным умножителем для формирования изображения
Baldelli et al. A prototype of a quasi-monochromatic system for mammography applications
JPH09224929A (ja) ツイン・ビーム計算機式断層写真スキャナ
JPH084585B2 (ja) Ct装置用電極板およびその製造方法
JPH11244275A (ja) X線ct装置
JP5622371B2 (ja) X線管及びそれを用いたx線ct装置
JP2007103016A (ja) X線画像撮影システム
JP4237301B2 (ja) X線管装置
JP2001004559A (ja) X線検査装置
Sauli Applications of gaseous particle detectors in physics and medicine
JP2989089B2 (ja) セラミックスシンチレータ材料
JPH04221533A (ja) Ct用電極板材及びその製造方法
Urbański et al. X-rays on a chip: characterization of a monolithically integrated MEMS X-ray source
JPH04224652A (ja) モリブデン板材及びその製造方法
JPH06108045A (ja) セラミックスシンチレータ材料の製造方法
JPH0533721B2 (ja)
JPH06100856A (ja) X線ct用シンチレータ材料
JP2872536B2 (ja) セラミックスシンチレータ材料の製造方法
JP2003502627A (ja) X線ビーム位置モニタ

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19960723