Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JPH085757B2 - 配向性結晶膜 - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JPH085757B2 - 配向性結晶膜 - Google Patents

配向性結晶膜

Info

Publication number
JPH085757B2
JPH085757B2 JP1183468A JP18346889A JPH085757B2 JP H085757 B2 JPH085757 B2 JP H085757B2 JP 1183468 A JP1183468 A JP 1183468A JP 18346889 A JP18346889 A JP 18346889A JP H085757 B2 JPH085757 B2 JP H085757B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
oriented
crystal film
oriented crystal
niobate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP1183468A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0350197A (ja
Inventor
翼 増尾
滋人 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
Priority to JP1183468A priority Critical patent/JPH085757B2/ja
Publication of JPH0350197A publication Critical patent/JPH0350197A/ja
Publication of JPH085757B2 publication Critical patent/JPH085757B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Integrated Circuits (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Inorganic Insulating Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明はニオブ酸バリウムナトリウムからなる配向
性結晶膜に関し、c軸が基板に対して垂直に配向してい
る配向性結晶膜に関するものである。
(従来の技術) ニオブ酸バリウムナトリウムからなる配向性結晶膜は
屈折率が高く、可視領域での光の透過性が良好で光導波
路として有用である。
また、この配向性結晶膜に圧電性を付与することによ
り、光スイッチなどの光集積回路への応用も期待されて
いる。
(従来技術の問題) このニオブ酸バリウムナトリウムからなる薄膜を形成
するには、一般的にスパッタリング法が用いられるが、
この方法で形成された優先配向したニオブ酸バリウムナ
トリウムの薄膜そのものは内部応力が大きいため、基板
から剥離したり、膜そのものに亀裂が入るという欠陥が
発生しやすかった。
(この発明の目的) この発明は、ニオブ酸バリウムナトリウムに添加物を
加えることにより、c軸が基板に対して垂直に配向し、
しかも膜自体の応力が少なく、基板から剥離しにくい配
向性結晶膜を提供することを目的とする。
(発明の構成) この発明は、基板の上に形成された結晶性のニオブ酸
バリウムナトリウムを主成分とする配向性結晶膜であっ
て、当該配向性結晶膜にはニオブ酸バリウムナトリウム
に対してランタンが0.01〜20.0原子%含有されており、
かつ当該配向性結晶膜のc軸が前記基板に対して垂直に
配向していることを特徴とする配向性結晶膜である。
また、この配向性結晶膜が形成される基板としては、
単結晶や、結晶化ガラス、ステンレス、エリンバなどの
恒弾性鋼などの多結晶体基板、あるいはガラスなどのア
モルファス基板が用いられる。
(実施例) 以下に、この発明を実施例にしたがって説明する。
この発明にかかる配向性結晶膜の形成方法としては、
スパッタリング法、真空蒸着法、イオンプレーティング
法、イオンクラスター法、CVD法などがあるが、この実
施例ではスパッタリング法で形成した例にしたがって説
明する。
薄膜の形成に先立ち、まずターゲツトの作成を行なっ
た。
ニオブ酸バリウムナトリウムの構成原料としては、Na
2CO37.2モル%、BaCO342.2モル%、Nb2O550.6モル%か
らなる組成比とし、これにLa2O3をLaに換算して第1表
の割合で添加した混合原料を準備した。この混合原料を
1250℃、24時間の条件で仮焼した。この仮焼原料を粉砕
し、有機バインダであるポリビニルアルコールを5重量
%加えて混合し、整粒した。こと整粒粉末を圧力1ton/c
m2で成形し、大きさが直径100mm、厚み7mmの円板とし
た。この円板を1325℃で4時間焼成し、ターゲットを作
成した。このターゲツトはタングステンブロンズ構造で
あることがX線回折により確認された。
次に、このターゲットを用い、高周波マグネトロンス
パッタリング装置で薄膜の形成を行なった。
薄膜の形成条件は下表に示す通りであった。
スパッタリングガス流量 Ar:12cc/分、O2:28cc/分 スパッタリング中のガス圧 1×10-2Torr 高周波印加電圧 200W(周波数:13.56MHz) 基板温度 650℃ 基板とターゲット間距離 125mm 基板としてSiウェハの(111)面の上に熱酸化によりS
iO2を1μmの厚みに形成したものを用い、Laを含有す
るニオブ酸バリウムナトリウムからなる薄膜を得た。
第1表には、ニオブ酸バリウムナトリウムに対するLa
の量を変化させたときの配向度、半値幅、電気抵抗、タ
ーゲツトの焼結密度、薄膜の剥がれ率を示した。
第1表において、配向度はCu Kα線によるX線回折分
析でニオブ酸バリウムナトリウムの全ピーク強度の和に
対するc軸面のピーク強度の割合を%で表したものであ
る。
また、半値幅は、(004)の回折ピークについてピー
ク値の半分の高さの回折線の幅を2θの角度で表現した
もので、半値幅が小さいほど結晶の欠陥や歪が少ないこ
とを示し、良質な薄膜が得られていることを意味してい
る。
また、薄膜の剥がれ率は50mm×50mm×0.2mmの大きさ
からなるエリンバの基板に、4mm×4mmの角形の孔を碁盤
目状に49個有するステンレス製のマスクを配置し、エリ
ンバの基板の上にニオブ酸バリウムナトリウムの薄膜を
形成し、49個のうちニオブ酸バリウムナトリウムの薄膜
が基板から剥がれたときの個数の割合を%で表したもの
である。
第1図はLa量が5原子%の薄膜についてのX線回折分
析図であり、c軸が基板に対して垂直に配向したときに
現れる(002)面、(004)面が検出されている。
上記した第1表から明らかなように、ニオブ酸バリウ
ムナトリウムに対してLaが0.01〜20.0原子%の範囲で、
基板に対してc軸が垂直に優先配向しており、かつ基板
から剥がれにくい配向性結晶膜が得られている。
ここで、La量をニオブ酸バリウムナトリウムに対して
0.01〜20.0原子%の範囲に限定した理由は、0.01原子%
未満では半値幅、焼結密度、薄膜の剥がれ率について改
善効果がみられず、一方20.0原子%を超えると電気抵抗
が低下し、配向性も低下するからである。
(効果) 以上のようにこの発明によれば、ニオブ酸バリウムナ
トリウムに対してランタンを0.01〜20.0原子%含有させ
たことにより、膜の内部応力が少なくて基板から剥離し
にくく、しかも配向度および電気抵抗の高い配向性結晶
膜を実現することができる。
また、ニオブ酸バリウムナトリウムにおいて圧電性の
ある結晶軸はc軸であり、ニオブ酸バリウムナトリウム
膜がc軸方向に配向していなければ、分域構造を固定で
きなくなって圧電性が低下するけれども、この発明の配
向性結晶膜は、そのc軸が基板に対して垂直に配向して
おり、しかもその配向度が上記のように高いので、圧電
性が非常に高い。
また、ニオブ酸バリウムナトリウム膜を例えば表面波
励起を利用した表面波フィルタに使用する場合、ニオブ
酸バリウムナトリウム膜のc軸が一方向に配向していな
ければ、膜を伝播する表面波は分域構造で乱反射するの
で損失が大きくなるけれども、この発明の配向性結晶膜
は、そのc軸が基板に対して垂直に配向しており、しか
もその配向度が上記のように高いので、表面波の損失が
少なく、従って表面波励起を利用した表面波フィルタ等
にも効果的に使用することができる。
また、この発明によればステンレス、恒弾性鋼、結晶
化ガラスといった多結晶体の上に形成できるほか、単結
晶やアモルファス基板の上にも形成することができるも
のであり、工業的な利用価値の高いものである。
さらに、この発明によればスパッタリング法のみなら
ず、そのほかの薄膜形成技術である真空蒸着法、イオン
プレーティング法、イオンクラスター法、CVD法などの
薄膜形成ができる点でも有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の実施例で得られたランタンを含むニ
オブ酸バリウムナトリウムからなる薄膜のX線回折分析
図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板の上に形成された結晶性のニオブ酸バ
    リウムナトリウムを主成分とする配向性結晶膜であっ
    て、当該配向性結晶膜にはニオブ酸バリウムナトリウム
    に対してランタンが0.01〜20.0原子%含有されており、
    かつ当該配向性結晶膜のc軸が前記基板に対して垂直に
    配向していることを特徴とする配向性結晶膜。
JP1183468A 1989-07-14 1989-07-14 配向性結晶膜 Expired - Fee Related JPH085757B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1183468A JPH085757B2 (ja) 1989-07-14 1989-07-14 配向性結晶膜

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1183468A JPH085757B2 (ja) 1989-07-14 1989-07-14 配向性結晶膜

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0350197A JPH0350197A (ja) 1991-03-04
JPH085757B2 true JPH085757B2 (ja) 1996-01-24

Family

ID=16136322

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1183468A Expired - Fee Related JPH085757B2 (ja) 1989-07-14 1989-07-14 配向性結晶膜

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH085757B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4569491B2 (ja) * 1998-09-28 2010-10-27 日産自動車株式会社 圧電材アクチュエータ

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5083799A (ja) * 1973-11-21 1975-07-07

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0350197A (ja) 1991-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Krupanidhi et al. Position and pressure effects in rf magnetron reactive sputter deposition of piezoelectric zinc oxide
Ondo-Ndong et al. Properties of RF magnetron sputtered zinc oxide thin films
KR101344594B1 (ko) 스퍼터링 타겟, 그것을 이용한 비정질 산화물 박막의 형성 방법, 및 박막 트랜지스터의 제조 방법
JP4033286B2 (ja) 高屈折率誘電体膜とその製造方法
JP4397511B2 (ja) 低抵抗ito薄膜及びその製造方法
JP3344441B2 (ja) 表面弾性波素子
JPWO2009142289A6 (ja) スパッタリングターゲット、それを用いたアモルファス酸化物薄膜の形成方法、及び薄膜トランジスタの製造方法
US5106687A (en) Composite material with chemically vapor deposited layer of silicon carbide formed thereon
Adurodija et al. Effects of stress on the structure of indium-tin-oxide thin films grown by pulsed laser deposition
JP7806988B2 (ja) 圧電体膜、圧電体膜の製造方法、圧電素子及び圧電デバイス
US4219608A (en) Piezoelectric crystalline film of zinc oxide and method for making same
JPH085757B2 (ja) 配向性結晶膜
US4139678A (en) Piezoelectric crystalline films and method of preparing the same
JP2834355B2 (ja) 強誘電体薄膜構成体の製造方法
JP5035857B2 (ja) 低抵抗ito薄膜及びその製造方法
Ho et al. Preferred orientation control and characterization of AlN thin films using reactive sputtering
JP4237861B2 (ja) 高単結晶性酸化亜鉛薄膜及び製造方法
JPH05254991A (ja) 薄膜積層結晶体およびその製造方法
Mitsuyu et al. Structures and Optical Properties of Rf‐Sputtered Bi12GeO20 Films
US4174421A (en) Piezoelectric crystalline film of zinc oxide and method for making same
US4151324A (en) Piezoelectric crystalline films and method of preparing the same
JPS6241311B2 (ja)
Wasa Sputter deposition technology as a materials engineering
Lu et al. Preparation and crystallization of Pb (Zr0. 95Ti0. 05) O3 thin films deposited by radio-frequency magnetron sputtering with a stoichiometric ceramic target
JP2590505B2 (ja) 配向性結晶膜

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees