RSMを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 24件
The glass substrate for a flat display is provided in which an arithmetic mean roughness Ra and an average length RSm of a substrate surface having a transparent electrode deposited thereon are at least 0.4≤Ra/RSm≤1.2, respectively.例文帳に追加
少なくとも透明電極が成膜される基板表面の算術平均粗さRaとその平均長さRSmが、0.4≦Ra/RSm≦1.2である。 - 特許庁
In detail, the surface is formed so that a maximum height Rp satisfies 4 μm≤Rp≤15 μm in the circumference direction and an average interval RSm of ruggedness satisfies 150 μm≤RSm≤600 μm.例文帳に追加
詳細には、周方向において、最大山高さRpが4μm≦Rp≦15μm、凹凸平均間隔RSmが150μm≦RSm≦600μmとなるように形成される。 - 特許庁
An RMS three-dimensional shape measurement part 37 applies an RMS technique to a plurality of images input in turn from the image-taking part 34 in RMS mode and measures the three-dimensional shape of the subject.例文帳に追加
RSM3次元形状計測部37は、RSMモードにおいて、画像取り込み部34から順次入力される複数の画像に対してRSM技術を適用して被写体の3次元形状を計測する。 - 特許庁
The immunological detection reagent of the Kawasaki disease, using peptide of 186-205 as residues counted from the total length of nSm-hPAF, the total length of the Sm-hPAF (rSm-hPAF) or the N-terminal of recomination Sm-hPAF as the antigen, is provided.例文帳に追加
本発明は、nSm-hPAFの全長、組み換えSm-hPAF(rSm-hPAF)の全長あるいは組み換えSm-hPAFのN−末端から数えて186残基〜205残基のペプチドを抗原とした川崎病の免疫学的検出試薬を提供する。 - 特許庁
There are protrusions and recesses on the surface of a conductive member 3, and average length Rsm value is one index of surface roughness.例文帳に追加
導電性部材3の表面には凹凸があり、表面粗さの指標の一つに平均長さRsm値がある。 - 特許庁
Very minute recessed and projecting parts are formed on the surface of the charging layer 43B, and a distance RSm between the recessed and projecting parts on the surface thereof is set to 30μm≤RSm≤320μm, and the ten-point average surface roughness Rz of the surface thereof is set to 1.1μm≤Rz≤5μm.例文帳に追加
帯電層43Bの表面は微小な凹凸が形成されており、凹凸間距離RSmは、30μm≦RSm≦320μmに設定され、かつ、表面の十点平均表面粗さRzは、1.1μm≦Rz≦5μmに設定されている。 - 特許庁
In the glass substrate for flat panel displays which has the end surface part subjected to round chamfering, the end surface part subjected to round chamfering has RSm/Ra of ≥80 wherein Ra is an arithmetic mean height of contour curves and RSm is a mean length of contour curve elements.例文帳に追加
端面部にR面取りが施されたフラットパネルディスプレイ用ガラス基板であって、輪郭曲線の算術平均高さをRa、輪郭曲線要素の平均長さをRSmとした場合に、R面取りが施された端面部を、RSm/Raが80以上となるようにする。 - 特許庁
IMMUNOLOGICAL DETECTION REAGENT OF KAWASAKI DISEASE BY USING PEPTIDE OF PART FROM 186-TH AMINO RESIDE, CALCULATED FROM FIRST AMINO ACID BASE OF nSm-hPAF, THE TOTAL LENGTH OF rSm-hPAF OR N-TERMINAL OF rSm-hPAF TO 205-TH AMINO RESIDUE AS ANTIGEN例文帳に追加
nSm−hPAF、rSm−hPAFの全長、あるいはrSm−hPAFのN−末端の第1番目アミノ酸塩基から数えて第186番目のアミノ酸残基から第205番目のアミノ酸残基までの部分のペプチドを抗原とした川崎病の免疫学的検出試薬 - 特許庁
A differential circuit 11 compares a read power designation voltage RPD with the detection signal RSM of a low emitted light quantity which is sampled by a sampling hold circuit 12.例文帳に追加
差動回路11はリードパワー指定電圧RPDと、サンプルホールド回路12によりサンプルされた低発光量検出信号RSMとを比較する。 - 特許庁
An upper surface 37 of the second plate 19, which supports a reverse surface of a sheet film F, has an uneven shape, and satisfies 2 μm≤Rz≤11 μm and RSm≤25 μm, wherein Rz is a maximum height defined by JIS B 0601-2001 and RSm is a mean length of a roughness curve element.例文帳に追加
第2プレート19のうちシートフィルムFの裏面を支持する上面37は凹凸形状を有し、JIS B 0601−2001で定義される最大高さをRz、粗さ曲線要素の平均長さをRSmとしたとき、 2μm≦Rz≦11μm、かつ、 RSm≦25μmの関係を満たしている。 - 特許庁
A rolled copper foil for a lithium battery collector satisfies the relations: 0.01 μm≤Ra≤0.10 μm and RSm≤20 μm regarding surface roughness, in a direction parallel to the rolling direction of the upper and the lower surfaces.例文帳に追加
上下面の圧延平行方向における表面粗さについて、0.01μm≦Ra≦0.10μmを満たし、且つ、RSm≦20μmを満たすリチウム電池集電体用圧延銅箔。 - 特許庁
Switches SHS, RSM are closed to store a video signal to a negative electrode of a capacitor Cs and a switch SHN is closed to store a noise signal to a positive electrode of a capacitor Cn.例文帳に追加
スイッチSHS,RSMをONとして映像信号をキャパシタCsの負の電極に保持し、スイッチSHNをONとしてノイズ信号をキャパシタCnの正の電極に保持する。 - 特許庁
In addition, the maximum height Rz of an interface for adhesion between the insulating rubber layer 3 and the semiconducting rubber layer 4, is 0.5 to 80 μm, and the mean length RSm of an uneven contour curve factor, is 25 to 150 μm.例文帳に追加
絶縁ゴム層3と半導電ゴム層4との接着する界面の最大高さRzが0.5〜80μm、かつ、凹凸の輪郭曲線要素の平均長さRSmが25〜150μmである。 - 特許庁
In the optical deflector, the mean length RSm of profile elements of a cross section of the deflection surface of a polygon mirror 104 in the sub scan direction is set to be less than to spacing b between spots of the adjacent light beams formed in the sub scan direction of the deflection surface.例文帳に追加
ポリゴンミラー104の偏向面の、副走査方向の断面曲線要素の平均長さRSmを、偏向面に副走査方向に隣接して形成される光ビームのスポット間の距離bよりも小さくする。 - 特許庁
In the surface light source 20, the surface 23a of the light diffusion plate 23 on the lamp box 22 side has an arithmetic average roughness RA of ≤1.0 μm and an irregular average interval RSm of ≤200 μm in a contact region with at least each of the spacer pins 25.例文帳に追加
面光源装置20では、光拡散板23のランプボックス22側の表面23aにおいて、少なくとも各スペーサピン25との接触領域の算術平均粗さRaが1.0μm以下且つ凹凸の平均間隔RSmが200μm以下である。 - 特許庁
The actual values of the collected related parameters are plotted in a multidimensional space by each collection of the related parameters, a response surface model is created by technology of RSM-S, and a present optimum water supply temperature TSsp is determined on the basis of the created response surface model.例文帳に追加
関連パラメータを収集する毎に、その収集した関連パラメータの実績値を多次元空間にプロットし、RSM−Sの技術により応答曲面モデルを作成し、その作成した応答曲面モデルより現在の最適送水温度TSspを決定する。 - 特許庁
An ER effect can be effectively utilized by controlling the maximum height roughness (Rz), defined by JIS Z0601, of the surface of the electrode at a non-immobilized treatment side, to 1-0.001 mm, and the average length (RSm) of a rough curve element to 5-0.001 mm.例文帳に追加
また、非固定化処理がなされた側の電極の表面のJIS Z0601に規定された最大高さ粗さ(Rz)が1〜0.001mmであって、粗さ曲線要素の平均長さ(RSm)が5〜0.001mmであるとより効果的にER効果を利用することができる。 - 特許庁
By using a material consisting of insulating particle powder 7 having a diameter smaller than the Rsm value, an insulating coating 6 is deposited by painting on the surface of the conductive member 3, and the recesses of the conductive member 3 are filled tightly with the insulating particle powder 7 thus enhancing bondability of the conductive member 3 and the insulating coating 6.例文帳に追加
本発明では、Rsm値よりも小径の粉体絶縁粒子7よりなる材料を用い、導電性部材3の表面に絶縁被膜6を塗装によって堆積させ、導電性部材3の凹部に、密に粉体絶縁粒子7を詰めこみ、導電性部材3と絶縁被膜6との接合性を向上させる。 - 特許庁
Depending upon geographic region information determined from the discovered network's identity information, a logic structure in the wireless equipment is operable to download (806) those network list data entries relevant to the geographic region information from a removable storage module (RSM) coupled to the wireless device.例文帳に追加
その発見されたネットワークの識別情報から決定される地理的領域情報に依存して、ワイヤレス装置におけるロジック構造は、ワイヤレス装置に結合される着脱可能な記憶装置モジュール(RSM)からの地理的領域情報に関連するそれらのネットワークリストデータエントリをダウンロードする(806)ように動作可能である。 - 特許庁
The surface coated cutting tool has a hard coated layer including a titanium carbonitride layer (TiCN layer) made of columnar particles vertically extending against a substrate on a surface of the substrate and has characteristics of a particle width of the titanium carbonitride layer (TiCN layer) of 0.01 to 0.5μm and an Rsm of the hard coated layer of 10 to 30μm.例文帳に追加
基体の表面に、基体に対して垂直に伸びる柱状粒子からなる炭窒化チタン層(TiCN層)を含む硬質被覆層を有する表面被覆切削工具において、炭窒化チタン層(TiCN層)の粒子幅を0.01〜0.5μmとして、硬質被覆層のRsmが10〜30μmであることを特徴とした表面被覆切削工具とする。 - 特許庁
The semiconductor device stores plural AOB composing plural tracks, and PlayList information showing order of reproduction concerning these tracks, and stores Playlist-Number showing the PlayList information used just before the preceding reproduction, Track-Number showing a reproduced track, and Playback-Time showing the point just before the preceding reproduction by a relative time with respect to the head of the audio block as resume information (PLMG-RSM-PL).例文帳に追加
半導体メモリカードは、複数のトラックを構成する複数のAOBと、これらトラックについての再生順序を示すPlayList情報とを格納しており、前記直前の再生時に用いられたPlayList情報を示すPlaylist_Numberと、再生されたトラックを示すTrack_Numberと、オーディオブロックの先頭を基準にした相対時間により、直前に再生された箇所を示すPlayback_Timeとがレジューム情報(PLMG_RSM_PL)として格納されている。 - 特許庁
The electrophotographic photoreceptor has an under layer containing metal compound particles and a binder resin and a photosensitive layer on a conductive substrate, wherein the under layer has ≥0.05 μm average roughness (Ra), ≤150 μm average interval (RSm) of projecting and recessed parts and ≤15% both transmittance and diffuse reflectance at 780 nm.例文帳に追加
導電性基体上に、金属化合物粒子およびバインダー樹脂を含有する下引き層と、感光層を有する電子写真感光体において、該下引き層の平均粗さ(Ra)が0.05μm以上、凹凸の平均間隔(RSm)が150μm以下であって、且つ、780nmにおける、透過率および拡散反射率が、ともに15%以下であることを特徴とする電子写真感光体。 - 特許庁
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