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「W ion」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索
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「W ion」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索


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W ionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 108



例文

The ion beam etching method according to the embodiment comprises: a cooling stage S52 of cooling a drawing electrode E with an inert gas; and an etching stage S54 of etching a substrate W using an ion beam IB drawn by the drawing electrode E.例文帳に追加

実施形態に係るイオンビームエッチング方法は、引き出し電極Eを不活性ガスにより冷却する冷却工程S52と、引き出し電極Eによって引き出されたイオンビームIBを用いて基板Wをエッチングするエッチング工程S54とを含む。 - 特許庁

A wafer W is equipped with a resist cured film 79 formed through an ion implantation process, and the wafer W is subjected to processing so as to expose the resist cured film 79 to water vapor kept at a prescribed temperature, whereby the the resist cured film 79 is popped out (step 4).例文帳に追加

イオン注入処理等によって形成されたレジスト硬化膜79を備えたウエハWを、このレジスト硬化膜79が所定温度の水蒸気に曝されるように処理することによってレジスト硬化膜79にポッピングを生じさせる(ステップ4)。 - 特許庁

Since the density of plasma is controlled by the high-frequency power from the power source 51 and ion energy is controlled by the high-frequency power from the power source 41, high-selectivity plasma treatment can be performed on a wafer W, without giving damages to the wafer W.例文帳に追加

高周波電源51からの高周波電力でプラズマの密度の制御がなされ、高周波電源41の高周波電力によってイオンエネルギーが制御されるので、ダメージを与えることなく、選択性の高いプラズマ処理がウエハWに対して施される。 - 特許庁

Because a sputter particle 11 is made to be the constituting material (W, Ga) of the Ga liquid metal ion source 2-1, there does not occur contamination that changes physical property of Ga9 even if the sputter particle 11 is adhered to the Ga liquid metal ion source 2-1.例文帳に追加

スパッタ粒子11がGa液体金属イオン源2−1の構成材(W,Ga)となるようにすることにより、スパッタ粒子11がGa液体金属イオン源2−1に付着した場合でもGa9の物性を変えるような汚染が生じない。 - 特許庁

例文

By making a sputter particle 11 to be a constituent material (W, Ga) of the Ga liquid metal ion source 2-1, even if the sputter particle 11 is attached onto the Ga liquid metal ion source 2-1, contamination which makes physical properties of the Ga9 change is not generated.例文帳に追加

スパッタ粒子11がGa液体金属イオン源2−1の構成材(W,Ga)となるようにすることにより、スパッタ粒子11がGa液体金属イオン源2−1に付着した場合でもGa9の物性を変えるような汚染が生じない。 - 特許庁


例文

Almost of the film deposition particles produced by making Ar ion in the plasma incident to the sputtering target 52 are ionized by the plasma in the space over the sputtering target 52 to be made incident to the surface of a work W and then a highly oriented film free from damage is deposited on the work W by controlling the potential of the surface of the work W.例文帳に追加

このようなプラズマ中のArイオンがスパッタ・ターゲット52に入射することによって生じた成膜粒子は、スパッタ・ターゲット52上空のプラズマによってそのほとんどがイオン化されてワークW表面に入射するので、ワークW表面の電位を調節することにより、ワークW上にダメージない高配向膜を形成することができる。 - 特許庁

When ion irradiation is carried out onto the beam limit (GUN) aperture 2-3, Ga of the irradiation region 7-1 is melt to disperse Ga on the surface of the beam irradiation region of the W aperture.例文帳に追加

ビーム制限(GUN)アパーチャ2−3にイオン照射すると、照射領域7−1のGaが溶融してWアパーチャのビーム照射領域の表面にGaが拡散する。 - 特許庁

The powder 12 of W-type hexagonal ferrite is expressed by a composition formula Co_xMe_2-xBaFe_16O_27, and Me is one kind or more kinds selected from Mg, Mn, Fe, Ni, Cu, and Zn which may be in a bivalent metal ion state.例文帳に追加

W型六方晶フェライトの粉体12は組成式が Co_xMe_2-xBaFe_16O_27 で示され、Meは2価の金属イオン状態となり得る金属、Mg, Mn, Fe, Ni, CuおよびZnから選ばれた1種または2種以上である。 - 特許庁

The liquid W transported to the tip part of the transportation part2 is formed into a tailer cone T shape having a sharpened tip and the the liquid W formed into the tailer cone T shape is atomized to produce ion mist by impressing high voltage between the transportation part 2 and the counter electrode 3.例文帳に追加

搬送部2と対向電極3との間に高電圧を印加することにより搬送部2の先端部に搬送された液体Wが先端が尖ったテイラーコーンTとなると共に該テイラーコーンTとなった液体Wが霧化してナノメータサイズのイオンミストを発生させる。 - 特許庁

例文

A space 99 formed of the substrate W and an anode 98 disposed close to and substantially parallel to the substrate W is filled with plating solution containing metal ion and additives, and the concentration of the additive in the plating solution in the plating space 99 is changed during the plating operation.例文帳に追加

基板Wと該基板Wに対して略平行に近接配置されたアノード98で構成されるめっき空間99に金属イオンおよび添加剤を含有するめっき液を満たし、めっき処理中の該めっき空間99内のめっき液添加剤濃度を変化させる。 - 特許庁

例文

Further, an ultrasonic oscillator 6 is provided to this generator to apply not only ultrasonic vibration to the coral ceramic 1a and the water W in the detachable water vessel 2 but also ultrasonic vibration force to alkali ion water made by the reaction of the coral ceramic 1a with the water W.例文帳に追加

さらに、超音波発振器6があり、上記の脱着水溶器2内で上記の珊瑚セラミック1aを水Wとに超音波振動を与えると同時に、上記の珊瑚セラミック1aが水Wに反応させ作られたアルカリイオン水にその振動力を与える。 - 特許庁

In an ion plating apparatus 10, the center O2 of a substrate W is determined at a position deviated from the position immediately above the center O1 of a hearth 3a which has a vapor deposition material 6 filled in a through hole TH by a distance D which is one half of the length of one side of the substrate W.例文帳に追加

イオンプレーティング装置10は、蒸着材料6を貫通孔THに装填したハース3aの中心点O1の直上の位置から基板Wの1辺の半分の長さ分の距離Dだけずれた位置に基板Wの中心点O2が定められる。 - 特許庁

The masses of ion kinds on the surface of the wafer W, such as CH3Si+, C3H9Si+, C3H9Si-, etc., are analyzed by using an analytical section such as TOF-SIMS, etc., thereby of the analytical equipment A2 measuring the quantity of HMDS(hexamethyl disilazane) on the surface of the wafer W.例文帳に追加

分析装置A2では例えばTOF−SIMSなどの分析部においてウエハW表面の例えばCH3Si+,C3H9Si+,C3H9OSi-等のイオン種の量を質量分析し、これによりウエハW表面のHMDS量(ヘキサメチルジシラザン)の測定を行う。 - 特許庁

In a ferroelectric Pb(Zr, Ti)O_3 where the A site ion of a ferroelectric perovskite material contains at least 4 coordination Si^4+ or Ge^4+ by 1% or more, reliability is enhanced significantly by adding at least one kind of Nb, V and W to B site by total 5-40 mol%.例文帳に追加

強誘電体ペロブスカイト材料のAサイトイオンに少なくとも4配位のSi^4+又はGe^4+を1%以上含んだ強誘電体Pb(Zr,Ti)O_3において、BサイトにNb、V、Wのうち、少なくとも1種類以上を合計で5モル%以上40モル%以下含むことにより信頼性を著しく向上させる。 - 特許庁

In the manufacturing method, the iron core members 2 are punched sequentially from the plate W being processed such that the arc angle of at least one of the plurality of ion core members 2 constituting the same annular iron core member 3 is differentiated from the arc angle of other ion core member 2 constituting the same annular iron core member 3.例文帳に追加

当該製造方法は、同一の環状鉄心片3を構成する複数の鉄心片2の少なくとも1つの円弧角が、同一の環状鉄心片3を構成する他の鉄心片2の円弧角と異なるように前記被加工板Wから前記鉄心片2を順次打ち抜く。 - 特許庁

The method of generating high speed ion comprises a process of converging a laser by 10^15 W/cm^2 or higher on a low-density conductive first target having an effective thickness of 0.3 mm or thinner, and emitting the high speed ion from a back side of the laser irradiation part of the first target.例文帳に追加

有効な厚みが0.3mm以下である低密度導電性第一ターゲットにレーザーを10^15W/cm^2以上に集光し、該第一ターゲットのレーザー照射部の裏側から高速イオンを放出させる工程を含む、高速イオンの発生方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for cleaning an ion implanter, capable of cleaning using a raw material gas without additionally providing a complicated parameter setup or mechanism and a cleaning gas introduction system, for removing a W deposit between slits of extraction electrodes comprising tungsten W after performing ion implantation using BF_3 as a raw material gas, and to provide a cleaning device having a mechanism for the method.例文帳に追加

BF_3を原料ガスとするイオン注入を実施した後に、タングステンWで構成される引き出し電極のスリット間のW堆積物を除去するため、複雑なパラメータ設定あるいは機構、クリーニング用ガスの導入系を別途設けることなく、原料ガスを用いたクリーニングを可能とするイオン注入装置のクリーニング方法及びそのための機構を有するクリーニング装置を提供する。 - 特許庁

As a result, a metal ion, and a silicon oxide, which is an etching residue, do not combine together even when a etching processing of a silicon oxide film is conducted by soaking the substrate W into the hydrofluoric acid; the forming of particles can be prevented; and the particle transfer when lifting the substrate W from the deionized water can be restrained.例文帳に追加

その結果、基板Wをフッ酸中に浸漬してシリコン酸化膜のエッチング処理を行ったときにも、金属イオンとエッチング残渣であるシリコン酸化物とが結合することはなく、パーティクルの生成を防止することができ、純水から基板Wを引き揚げるときのパーティクル転写を抑制することができる。 - 特許庁

In the general formula (1), the Au denotes a monovalent or tervalent gold ion; the W denotes a compound selected from ones represented by specified general formulae; the dotted line denotes the fact that the W is coordinately bonded to the Au; the X denotes a monovalent anion; and the (m) denotes an integer of 1 to 3.例文帳に追加

一般式(1) W…AuX_m(一般式(1)において、Auは1価もしくは3価の金イオンを表し、Wはある特定の一般式より選ばれる化合物である。点線は、WがAuに配位結合していることを表す。Xは1価のアニオンを表し、mは1から3の整数を表す。) - 特許庁

An electron source 20A is provided so as to face the whole of the ion irradiation object part of a workpiece W, and filaments 2a, 2a', 2a" in the electron source 20A are distributed in parallel with each other in discontinuity in a plurality of steps over the whole electron source 20A.例文帳に追加

電子源20A を物品Wのイオン照射対象部分の全体に臨むように設け、電子源20A におけるフィラメント2a、2a’、2a”は、電子源20A の全体にわたり不連続に複数段に分散並列配置する。 - 特許庁

The formed ion beam is converged by an electrostatic lens 21, is accelerated by an after-accelerator 22, is shaped by a quadrupole lens 23, and irradiates a semiconductor wafer W arranged in a process chamber 31.例文帳に追加

生成されたイオンビームは、静電レンズ21によって収束され、後段加速器22によって加速され、四重極レンズ23によって整形されて、処理室31内に配置された半導体ウエハW上に照射される。 - 特許庁

As examples of the metal oxide, Ni oxide, Ti oxide, Hf oxide, Zr oxide, Zn oxide, W oxide, Co oxide, or Nb oxide can be cited, and the metal ion dopant may be transition-metal ions.例文帳に追加

金属酸化物の例としては、Ni酸化物、Ti酸化物、Hf酸化物、Zr酸化物、Zn酸化物、W酸化物、Co酸化物またはNb酸化物などがあり、金属イオンドーパントは、遷移金属イオンでありうる。 - 特許庁

The rock salt G dissolves into the hot water W, minus ion, far-infrared ray, and mineral components generate from the tourmaline ore K1, radium ore K2, and germanium ore K3, and the hot water becomes artificial hot spring in almost one minute.例文帳に追加

岩塩Gは湯水Wで溶解するとともにトルマリン鉱石K1,ラジウム鉱石K2,ゲルマニウム鉱石K3からマイナスイオンや遠赤外線,ミネラル成分が発生し、およそ1分で人工的な温泉となる。 - 特許庁

Since silver ion water containing ions containing silver is added to the circulating water W, by the electrodeposition effect of the silver ions, electric chrges are compensated, and the sticking force of the borax 15 to the inside face of the piping can be increased.例文帳に追加

循環水Wに銀を含有するイオンを含んだ銀イオン水を添加するため、銀イオンの電着効果により電荷を補償してホウ砂15の配管内面への付着力を大きくすることができる。 - 特許庁

A charge-up potential of the mask member 21 is detected by a mask potential sensor 30 at the time of ion implantation, and a sufficient amount of electrons for canceling the potential is generated at an electron source 28 to restrict the charge-up of a wafer W.例文帳に追加

イオン注入時、マスク電位センサ30によってマスク部材21のチャージアップ電位を検出し、この電位を打ち消すのに十分な量の電子を電子発生源28から発生させて、ウェーハWのチャージアップを抑制する。 - 特許庁

In the ion bombardment apparatus 1, a heating-type thermionic emission electrode 3 composed of a filament is arranged on one inside surface of a vacuum chamber 2, an anode 4 is arranged on the other inside surface, and the base material W is arranged between the heating-type thermionic emission electrode 3 and the anode 4.例文帳に追加

イオンボンバードメント装置1は、真空チャンバ2の一の内側面に、フィラメントで構成した加熱式の熱電子放出電極3と、他の内側面のアノード4と両者の間に基材Wが配置されている。 - 特許庁

A substrate W to be treated is placed on a susceptor 16 of a lower electrode, and wave of a first high frequency for plasma generation is applied from a high-frequency power source 30, and wave of a second high frequency for ion extraction is applied from a high-frequency power source 70.例文帳に追加

下部電極のサセプタ16には被処理基板Wが載置され、高周波電源30よりプラズマ生成用の第1高周波が印加され、高周波電源70よりイオン引き込み用の第2高周波が印加される。 - 特許庁

A silicon substrate W is placed on a susceptor 12 arranged inside a chamber 10 that can be evacuated an etching gas is electrically discharged inside the chamber 10 to generate a plasma; and a primary radio-frequency wave RF_L for pulling in ion to the susceptor 12 is impressed.例文帳に追加

真空可能なチャンバ10内に配置されたサセプタ12上にシリコン基板Wを載置し、チャンバ10内でエッチングガスを放電させてプラズマを生成し、サセプタ12にイオンを引き込むための第1の高周波RF_Lを印加する。 - 特許庁

When the calcium ion is generated, an ultrasonic vibrator 4 housed at the bottom of the pot is actuated by the current outputted from the ultrasonic vibrator actuating means and the generated ultrasonic wave is transmitted to the water W in a water tank 5.例文帳に追加

カルシウムイオンを発生する手段としては、まず、超音波振動子4がポットの内部底部に収納され超音波振動子稼働手段からの出力電流により稼働され、超音波をポットの水槽5内の水Wに伝える。 - 特許庁

After forming the barrier films, the substrates W are transferred to an ion plating unit 13, a Cu film material is vaporized by utilizing a plasma beam and, at the same time, a thin Cu seed film is formed on the barrier films by ionizing the Cu vapor.例文帳に追加

次に、イオンプレーティングユニット13に基板Wを移送し、プラズマビームを利用して膜材料Cuを蒸発させるとともにこのCu蒸気をイオン化させて基板W上であってバリア膜上にCuのシード膜を薄く形成する。 - 特許庁

Since the gettering layer 12 formed of the carbon diffusion layer is formed on a surface of a silicon wafer W, formation of the gettering layer 12 in contact with the epitaxial film 11 which is difficult by a conventional carbon ion implantation method is facilitated.例文帳に追加

シリコンウェーハWの表面には、炭素拡散層からなるゲッタリング層12が形成されているので、従来の炭素イオン注入法では困難であった、エピタキシャル膜11に接してのゲッタリング層12の形成が容易となる。 - 特許庁

As a result, secondary electrons e^-, emitted from an electrode plate 62 by γ discharge are accelerated, in a direction which is opposite to that of the ions in the electric field of an upper ion sheath SH_U and passes through the plasma PR, and further traverses a lower ion sheath SH_L, and is injected into a resist pattern 100 on the surface of a semiconductor wafer W on a susceptor 12.例文帳に追加

そうすると、γ放電によって電極板62より放出された2次電子e^-は、上部イオンシースSH_Uの電界でイオンとは逆方向に加速されてプラズマPRを通り抜け、さらに下部イオンシースSH_Lを横断して、サセプタ12上の半導体ウエハW表面のレジストパターン100に所定の高エネルギーで打ち込まれる。 - 特許庁

The alkaline zinc alloy electroplating solution contains (A) Zn ions in a content of 1-600g/L, (B) iron group element ions in a content of 1-600 g/L, (C) a tungstic acid-based compound in a content of 0.1-600 g/l as W ion and (D) a basic compound.例文帳に追加

(A)Znイオンを1〜600g/L、(B)鉄族元素イオンを1〜600g/L、(C)タングステン酸系化合物をWイオンとして0.1〜600g/L、及び(D)塩基性化合物を含有するアルカリ性電気亜鉛合金めっき液。 - 特許庁

The ion generator is composed of an arc chamber 11, two thermion sources 3, 5 for supplying thermion in the arc chamber, a filament power source 7, and wiring w serially connecting two thermion sources 3, 5 with the filament power source 7, and the direction of the current flowing from the filament power source 7 to the wiring w can be switched with a prescribed timing.例文帳に追加

アークチャンバー11と、このアークチャンバー11内へ熱電子を放出するための2つの熱電子発生源3,5と、フィラメント電源7と、2つの熱電子発生源3,5を互いに直列状態でフィラメント電源7に接続する配線wとを備え、フィラメント電源7から配線wに流される電流の向きは所定のタイミングで切り替えられる構成となっている。 - 特許庁

The W/O/W type double emulsion composition comprises an inner aqueous phase, an oil phase, and an outer aqueous phase, and is characterized in that the inner aqueous phase contains an ionic physiologically active substance and a physiologically acceptable compound having a molecular weight of 1,000 or less which produces a divalent or higher polyvalent counter ion to the ionic physiologically active substance.例文帳に追加

内水相、油相及び外水相からなるW/O/W型複合エマルジョン組成物であって、内水相に、イオン性生理活性物質と、該イオン性生理活性物質に対する2価以上の多価カウンターイオンを生じる分子量1000以下の生理的に許容できる化合物が含まれることを特徴とする、W/O/W型複合エマルジョン組成物。 - 特許庁

An electrolytic unit for the alkali water electrolytic device is composed of an electrolytic bath 1 in which an alkali solution W flows, the electrode 2 for the water electrolytic device and bipolar plates 3, 4, wherein the electrode 2 for the water electrolytic device is formed by interposing both side of an ion permeable diaphragm 5 between electrode bodies E.例文帳に追加

アルカリ水電解装置の電解ユニットは、アルカリ溶液Wが流通する電解槽1と、水電解装置用電極2と、バイポーラプレート3,4とからなり、水電解装置用電極2は、イオン透過性隔膜5の両側を電極体Eで挟んでなる。 - 特許庁

A static and dust elimination device 10A include: a windless type static eliminator 12 that generates ion 42; and a blowing device 14 that includes a plurality of blowing parts 46 (air tubes 52) the number of which is greater than the number of windless type static eliminators 12 and sends clean air 53 to a work W.例文帳に追加

除電除塵装置10Aは、イオン42を発生する無風型除電器12と、無風型除電器12の個数よりも多い複数の送風部46(エア管52)を有し、ワークWに向けて清浄空気53を送風する送風装置14とを備える。 - 特許庁

The substrate W delivered to the second carrying device 4 is carried to the delivery position in a delivery space S1 above, for example, a first ion plating apparatus 31, and placed on and fixed to a supporting member 53 provided on a first substrate handling device 51.例文帳に追加

第2搬送装置4に渡された基板Wは、例えば第1イオンプレーティング装置31の上方位置である受渡空間S1中の受渡位置に搬送され、ここで第1基板取扱装置51に設けた支持部材53上に載置されて固定される。 - 特許庁

Further, the ion supplying unit 21 supplies the hydride ions taken out into a treatment chamber 51 using an inert gas as a carrier gas to reduce an oxide film formed on the surface of a metal film on a semiconductor wafer W disposed in the treatment chamber 51.例文帳に追加

また、イオン供給ユニット21は、取り出した水素化物イオンを、キャリアガスである不活性ガスによって処理室51内に供給し、処理室51内に配置された半導体ウエハW上の金属膜表面に形成された酸化膜を還元する。 - 特許庁

The high-frequency power of 13.56 MHz is applied to a substrate S including the insulating film I in the range of 50-300 W while exposing the substrate S to the plasma, whereby the insulating film I is etched in a condition where an etching reaction by an ion component in the plasma becomes dominant.例文帳に追加

上記絶縁膜Iを有する基板Sをこのプラズマに曝しつつ、該基板Sに対し50W〜300Wの範囲で13.56MHzの高周波電力を印可することにより、プラズマ中のイオン成分によるエッチング反応が支配的となる条件で絶縁膜Iをエッチングする。 - 特許庁

During ion implantation, secondary electrons generated from an electron gun 12 for preventing charge-up are efficiently supplied to a semiconductor wafer W and prevent charge-up, because the electrons are hardly absorbed into the insulating film ZM formed on the internal wall surface of the cup 10.例文帳に追加

イオン注入中において、チャージアップ防止用電子銃12が生成した二次電子はファラデーカップ10に形成された絶縁膜ZMにより吸収されにくくなり、生成された二次電子が半導体ウエハWに効率よく供給され、チャージアップを防止する。 - 特許庁

In an ion implanter 10 in which ions are extracted from a plasma P formed in a vacuum chamber 1 via a grid electrode 6 and in which the ions are implanted into a substrate W, a voltage applying means to alternately supply positive ions and electrons in the plasma to the substrate via the grid electrode 6 is installed.例文帳に追加

真空チャンバ1内で形成したプラズマPからグリッド電極6を介してイオンを引き出し、基板Wへ当該イオンを注入するイオン注入装置10において、グリッド電極6を介してプラズマ中の正イオンと電子を基板へ交互に供給する電圧印加手段を設ける。 - 特許庁

The dry etching method of the device sheet includes a stage for sticking the device sheet 4 via wax W onto the flat surface of a ceramic substrate (substrate) 20 consisting of AlTiC or the like and a stage for performing dry etching e.g. ion beam etching(IBE) to the stuck device sheet 4.例文帳に追加

AlTiCなどからなるセラミック基板(基板)20の平坦な表面上に、ワックスWを介してデバイスシート4を貼り付ける工程と、この貼り付けられたデバイスシート4に対してイオンビームエッチング(IBE)などのドイラエッチングを施す工程と、を含む、デバイスシートのドライエッチング加工方法。 - 特許庁

In the laser beam machining process, the laser beam machining is performed while ions generated with an ion generating device 47 provided on a laser machining device 100 (printed wiring board manufacturing device) are supplied together with an auxiliary wind to the work substrate W and the swarf generated from the substrate during the machining is deelectrified.例文帳に追加

該レーザ加工工程においては、レーザ加工装置100(プリント配線基板製造装置)の備えるイオン発生装置47にて発生させたイオンを補助風とともに、ワーク基板Wに向けて供給し、加工の最中に生じた基板加工屑を徐電しつつレーザ加工を行う。 - 特許庁

This mica composite is obtained by ion exchange of 10-95 eq.% of exchangeable cations among the interlayer ions of a swellable synthetic mica with at least one kind of ions selected from the group consisting of K, Ba, Cu, Ag, Te, Bi, Pb, Ce, Fe, Mo, Nb, W, Sb, Sn, V, Mn, Ni, Co, Zn, Zr and Ti ions.例文帳に追加

膨潤性合成雲母の層間イオンのうち、交換性陽イオンの10〜95当量%を、K,Ba,Cu,Ag,Te,Bi,Pb,Ce,Fe,Mo,Nb,W,Sb,Sn,V,Mn,Ni,Co,Zn,ZrおよびTiからなる群から選ばれる1種または2種以上のイオンとイオン交換させて得られる合成雲母複合体により課題を解決できる。 - 特許庁

The stencil printing emulsion ink of the water-in-oil type(W/O) comprises, in the aqueous phase, a sulfite ion or a thiosulfate or dithionous acid, pyrosulfurous acid or a salt thereof which is a substance to reduce the amount of a dissolved oxygen by reacting with the dissolved oxygen in the aqueous phase.例文帳に追加

油中水(W/O)型孔版印刷用エマルションインキの水相中に、該水相中の溶存酸素と反応して該溶存酸素量を減少させる物質である亜硫酸イオンまたはチオ硫酸塩、あるいは亜二チオン酸、ピロ亜硫酸またはこれらの塩を含有させる。 - 特許庁

To prevent in the method of manufacturing a semiconductor device that ions are deeply implanted due to channeling by employing a very simplified means on the occasion of forming, with the ion implantation, a source region and a drain region of a MOSFET (Metal-Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) where a gate electrode is formed of a columnar crystal metal such as Mo, Al, and W.例文帳に追加

半導体装置の製造方法に関し、Mo、Al、Wなど柱状結晶のメタルをゲート電極とするMOSFETのソース領域及びドレイン領域をイオン注入で形成する際、極めて簡単な手段を採ることでイオンがチャネリングに依って深く打ち込まれることを防止できるようにする。 - 特許庁

The cylindrical lithium ion battery 20 is provided with a wound-up group W which has a positive electrode with a positive electrode active material layer W2 formed on a positive electrode collector W1 and a negative electrode with a negative electrode active material layer W4 formed on a negative electrode collector W3 wound up spirally in cross section through a separator W5.例文帳に追加

円筒形リチウムイオン電池20は、正極集電体W1に正極活物質層W2が形成された正極と、負極集電体W3に負極活物質層W4が形成された負極とがセパレータW5を介して断面渦巻状に捲回された捲回群Wを備えている。 - 特許庁

A catalyst for oxidative decomposition of ammonia or amines and a catalyst for selective reduction of nitrogen oxides containing a manganate doped with at least one kind of metal or metal ion selected from a group consisting of Pt, Pd, Rh, Ir, Au, Ag, Ti, Zr, Al, V, Mo, W, Cr, Co, Ni, Zn, In and La are used for removing nitrogen oxide.例文帳に追加

Pt、Pd、Rh、Ru、Ir、Au、Ag、Ti、Zr、Al、V、Mo、W、Cr、Co、Ni、Zn、In及びLaからなる群から選ばれる少なくとも1種の金属または金属イオンがドープされたマンガン酸塩を含むアンモニアないしアミンの酸化分解触媒、窒素酸化物の選択還元触媒。 - 特許庁

例文

The leachate W of a final disposal site is divided using an amphoteric ion-exchange resin 4, into a first solution having low Ca^2+ concentration and high Na^+ and SO_4^2- concentrations and a second solution having concentrations opposite thereof, and the first and second solutions are separately treated.例文帳に追加

最終処分場の浸出水Wを、両性イオン交換樹脂4を用い、Ca<sup>2+</sup>濃度が低く、Na<sup>+</sup>濃度及びSO<sub>4</sub><sup>2-</sup>濃度が高い第1の溶液と、Ca<sup>2+</sup>濃度が高く、Na<sup>+</sup>濃度及びSO<sub>4</sub><sup>2-</sup>濃度が低い第2の溶液とに分離し、該第1及び第2の溶液を別々に処理する。 - 特許庁




  
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