「X-ray Diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

Each of the titania-based porous bodies consists essentially of titania and has X-ray diffraction peaks assigned to lattice-planes having 0.290±0.002 nm interplanar spacing and contains also crystals other than anatase phase crystals.例文帳に追加

チタニアを主成分とする多孔体であり、面間隔 0.290± 0.002nmの格子面に帰属されるＸ線回折ピークをもつ。 - 特許庁

The GaN type sample is subjected to X-ray diffraction measurement to calculate an hkl profile for each of a plurality of selected different reflection indexes hkl.例文帳に追加

ＧａＮ系試料をＸ線回折測定して、選択した複数の異なる反射指数hklごとのhklプロファイルを求める。 - 特許庁

An X-ray diffraction is measured with respect to the GaN type sample to calculate hkl profiles at every a plurality of selected reflection indexes hkl.例文帳に追加

ＧａＮ系試料に対してＸ線回折測定をし、選択した複数の異なる反射指数hklごとのhklプロファイルを求める。 - 特許庁

The oxide containing vanadium is an oxide containing vanadium that exhibits a main peak at 2θ=26.2°(±0.2°) in X-ray diffraction spectrum.例文帳に追加

バナジウム含有酸化物は、Ｘ線回折スペクトルにおいて２θ＝２６．２°（±０．２°）にメインピークを示すバナジウム含有酸化物である。 - 特許庁

To provide a new carrier which contains an alcohol and which is based on magnesium chloride, having a specific X-ray powder diffraction spectrum.例文帳に追加

アルコールを含み、特別なＸ線粉末回折スペクトルを有する新規の塩化マグネシウムをベースとする担体を提供すること。 - 特許庁

The crystal is confirmed to be a single crystal β-FeSi2 phase from X-ray diffraction of the formed β-FeSi2.例文帳に追加

生成したβ−ＦｅＳｉ_2のＸ線回折から、結晶は単結晶β−ＦｅＳｉ_2相であることが確認された。 - 特許庁

A solid IM-11 with the LTA-type structure has an X-ray diffraction pattern having at least its peaks shown in Table 1.例文帳に追加

ＬＴＡ型構造を有する固体のＩＭ−１１は、少なくとも表１に示す線を持つＸ線回折図を有する。 - 特許庁

To provide a measuring substrate usable in X-ray diffraction measurement, even in a trace amount of sample.例文帳に追加

微少量の試料であってもＸ線回折測定に用いることが可能な測定用基板を提供することを目的とする。 - 特許庁

The cement quality control method is carried out by analysis of a mineral composition using Rietvelt analysis of a powder X-ray diffraction chart.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折チャートのリートベルト解析を利用した鉱物組成の分析によってセメントの品質管理を行う。 - 特許庁

This carrier has no lattice defect and magnesia is not detected even by X-ray diffraction and the lattice constant of the carrier is near to a theoretical value.例文帳に追加

この担体は格子欠陥がなく、Ｘ線回折によってもマグネシアが検出されず、格子定数が理論値に近い。 - 特許庁

The particles 10 are formed so that the average size of crystallites 1 found by the X-ray diffraction method is ≥30 nm.例文帳に追加

金属磁性粒子１０は、Ｘ線回折法によって求められる結晶子１の平均の大きさが３０ｎｍ以上である。 - 特許庁

In the sample fixing method of X-ray diffraction measurement, a sample is pasted to one surface of a base having a hollow exceeding an X-ray irradiation area for irradiating the sample with X rays from a target and capturing and counting diffracted X rays from the sample.例文帳に追加

Ｘ線回折測定における試料固定方法は、ターゲットからＸ線を試料に照射し、試料からの回折されたＸ線を捕捉して計数するために、Ｘ線照射面積を越える中空を有する土台の片面に試料を貼るものである。 - 特許庁

This recording liquid contains, as the colorant, a pseudo- unidimensional organic phthalocyanine pigment of which a diffraction ray exhibiting the maximum strength is the main peak in the X-ray diffraction spectrum.例文帳に追加

Ｘ線回折スペクトルにおいて、最大強度を示す回折線を主要ピークとして有する擬１次元結晶性フタロシアニン系有機顔料からなることを特徴とする色剤により、上記の課題を解決する。 - 特許庁

To enable detection for diffraction X rays as well appearing in a higher angle region as in the measurement of the stress of a sample in the X-ray diffraction apparatus using a curved PSPC(Position Sensitive Proportional Counter).例文帳に追加

湾曲ＰＳＰＣ（Position Sensitive Proportional Counter：位置感応型Ｘ線検出器）を用いたＸ線回折装置において、試料の応力測定のごとく高角度領域にあらわれる回折Ｘ線についても検出できるようにする。 - 特許庁

Related to the lithium manganate, a 1/4 value width of (440) plane peak containing Kα1 ray and Kα2 ray which appears near 2θ=64° at powder X-ray diffraction method is at least 2.5 times of 3/4 value width of peak.例文帳に追加

マンガン酸リチウムが、粉末Ｘ線回折法において２θ＝６４°近傍に現れる、Ｋα１線とＫα２線とを含む（４４０）面ピークの１／４値幅が、ピークの３／４値幅の２．５倍以上である。 - 特許庁

To speed up a series of process operations of exposure - reading - erasure relatively easily, and to miniaturize a device and simplify the configuration, in an X-ray diffraction device for accumulating and recording an X-ray diffraction image in stimulable phosphor for reading.例文帳に追加

Ｘ線回折像を輝尽性蛍光体に蓄積記録させて読み取るＸ線回折装置において、露光−読取−消去の一連の工程動作を比較的簡単に高速化させるとともに、装置の小型化および構成の簡略化を可能にする。 - 特許庁

The azo pigment composition includes at least one of an azo pigment having a characteristic X-ray diffraction peak at Bragg angle (2θ±0.2°) of 7.6°, 25.6° and 27.7° in CuKα characteristic X-ray diffraction and represented by formula (1), and a tautomer.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．６°、２５．６°、２７．７°に特徴的なＸ線回折ピークを有する下式（１）で表されるアゾ顔料又は互変異性体を少なくとも１種含有することを特徴とするアゾ顔料組成物。 - 特許庁

The azo pigment composition contains at least either an azo pigment represented by formula (1) having a characteristic X ray diffraction peak of the Bragg angle (2θ±0.2°) in the CuKα characteristic X ray diffraction at 7.6°, 25.6°, 27.7° or a tautomer thereof.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．６°、２５．６°、２７．７°に特徴的なＸ線回折ピークを有する下式（１）で表されるアゾ顔料または互変異性体を少なくとも１種含有することを特徴とするアゾ顔料組成物。 - 特許庁

The azo pigment composition contains at least either an azo pigment represented by formula (1) having a characteristic X ray diffraction peak of the Bragg angle (2θ±0.2°) in the CuKα characteristic X ray diffraction at 7.2°and 25.9° or a tautomer thereof.例文帳に追加

ＣｕＫα特性Ｘ線回折におけるブラッグ角（２θ±０．２°）が７．２°及び２５．９°に特徴的なＸ線回折ピークを有する下式（１）で表されるアゾ顔料または互変異性体を少なくとも１種含有することを特徴とするアゾ顔料組成物。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction device which has exceedingly high resolution and also can acquire an X-ray diffraction image with high intensity, by enabling both cylindrical surface conversion processing and time delay integration processing to be performed in the same arithmetic control process.例文帳に追加

円筒面変換処理と時間遅延積分処理との両方を同じ演算制御過程内で行うことを可能にすることにより、極めて分解能が高く、しかも強度の高い回折Ｘ線像を得ることができるＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

(1) When a half-value width of a diffraction peak 'a' in which a diffraction angle 2θ in powder X-ray diffraction measurement using CuKα_1 rays exists around 22 to 27° is FWHMa, an FWHMa value is to be 0.6 or more.例文帳に追加

（イ）ＣｕＫα_１線を使用した粉末Ｘ線回折測定における回折角２θが２２〜２７°付近に存在する回折ピークａの半価幅をＦＷＨＭａとした時に、ＦＷＨＭａ値が０．６以上である。 - 特許庁

This method yields the porcelain composition containing merwinite as a crystal phase, wherein a main diffraction intensity of X ray diffraction of a co-existing akermanite corresponds to ≤6% of a main diffraction intensity of the merwinite crystal.例文帳に追加

この方法によれば、メルウィナイトを結晶相として含有し、共存するアケマナイト結晶のＸ線回折における主回折強度がメルウィナイト結晶の主回折強度の６％以下である磁器組成物が得られる。 - 特許庁

The hydrobromide salt of the donepezil or a crystal of a solvate thereof has diffraction peaks at 6.6° and 26.9° diffraction angles (2θ±0.2°), etc., in powder X-ray diffraction.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折において、回折角度（２θ±０．２°）６．６°及び２６．９°などに回折ピークを有する、１−ベンジル−４−［（５，６−ジメトキシ−１−インダノン）−２−イル］メチルピペリジンの臭化水素塩又はその溶媒和物の結晶。 - 特許庁

The carbon material is insoluble in an organic solvent and has the highest peak at diffraction angles of 10 to 18° in a range of diffraction angle of 3 to 30° in X-ray diffraction measurement results using the CuKα-line.例文帳に追加

有機溶媒に不溶であり、かつ、ＣｕＫα線を使用したＸ線回折測定結果における回折角３〜３０°の範囲内で、最も強いピークが回折角１０〜１８°の範囲に存在する炭素材料。 - 特許庁

The cellulose I type crystallinity (%)=[(I_22.6-I_18.5)/I_22.6]×100 wherein, I_22.6 is a diffracted intensity of a lattice plane (angle of diffraction 2θ= 22.6°) in X-ray diffraction; and I_18.5 is a diffracted intensity of an amorphous portion (angle of diffraction 2θ= 18.5°).例文帳に追加

セルロースＩ型結晶化度（％）＝〔（Ｉ_22.6−Ｉ_18.5）／Ｉ_22.6〕×１００〔Ｉ_22.6は、Ｘ線回折における格子面（回折角２θ＝２２．６°）の回折強度、及びＩ_18.5は、アモルファス部（回折角２θ＝１８．５°）の回折強度を示す〕 - 特許庁

An Ni_3Sn_4 film, in which the thin film X-ray diffraction peak intensity ratio between SnO and Ni_3Sn_4, that is, SnO/Ni_3Sn_4 satisfies ≤0.046, is formed on the surface of a metal plate.例文帳に追加

金属板の表面に、SnＯとNi_3Sn_4の薄膜Ｘ線回折ピーク強度比SnＯ／Ni_3Sn_4が0.046以下を満足するNi_3Sn_4系皮膜を形成する。 - 特許庁

The values (lattice spacings d/Å) of the X-ray diffraction pattern are 12.3±0.3, 9.0±0.3, 6.8±0.3, 3.9±0.2, 3.5±0.1 and 3.4±0.1.例文帳に追加

Ｘ線回折パターン 格子面間隔ｄ／Å（オングストローム） １２．３±０．３ ９．０±０．３ ６．８±０．３ ３．９±０．２ ３．５±０．１ ３．４±０．１ - 特許庁

To judge the presence of a twist distribution becoming important in the same material system by measuring the X-ray diffraction with respect to a GaN type sample.例文帳に追加

ＧａＮ系試料に対してＸ線回折測定をすることにより、同材料系で重要となるtwist 分布の存在を判定する。 - 特許庁

Relative C-axial strength ratio = percentage of integrated strength of planes (002), (004) and (008) by X-ray diffraction to integrated strength of planes (002), (004), (100), (101), (102), (103), (105), (110), and (008).例文帳に追加

相対Ｃ軸強度比＝Ｘ線回折による(002)、(004)、(100)、(101)、(102)、(103)、(105)、(110)、(008)面の積算強度に対する(002)、(004)、(008)面の積算強度の百分率。 - 特許庁

More preferably, the compound has an X-ray powder diffraction pattern comprising peaks, in terms of 2θ, at about 13.7° and about 14.9°.例文帳に追加

この化合物は、より好ましくは、２θに関して、約１３．７°および約１４．９°にピークを含むＸ線粉末回折パターンを有する。 - 特許庁

To provide a method capable of precisely and rapidly analyzing crystal structure of a fiber cord for tires by X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｘ線回折によるタイヤ用繊維コードの結晶構造解析を精度良く且つ迅速に行うことが可能な方法を提供する。 - 特許庁

The negative electrode active material for a lithium ion secondary battery has a crystal phase showing peaks at 2θ=28.9°, 32.8°, 41.4°, 42.6°, and 44.3° by the powder X-ray diffraction method.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折法において、２θ＝２８．９°、３２．８°、４１．４°、４２．６°及び４４．３°にピークを持つ結晶相を有する。 - 特許庁

The electrolytic slime is mixed with an ethylenediaminetetraacetic acid ammonium solution, and a sulfate which influences the X-ray diffraction method is dissolved and removed.例文帳に追加

電解スライムをエチレンジアミン四酢酸アンモニウム溶液と混合して、Ｘ線回折に影響を与える硫酸鉛を溶解除去する。 - 特許庁

The fullerene whose half-width of peak of maximum intensity measured by X-ray diffraction is 0.20 ° or larger is reacted with the reactive gas.例文帳に追加

Ｘ線回折測定における最大強度のピークの半値幅が０．２０°以上であるフラーレン類と反応性ガスとを反応させる。 - 特許庁

The plate particles have a peak intensity ratio [003]/[104] of 1.6 or less in X-ray diffraction, and an aspect ratio of 2.1 to 20.例文帳に追加

板状粒子においては、Ｘ線回折におけるピーク強度比［００３］／［１０４］が１．６以下であり、アスペクト比が２．１〜２０である。 - 特許庁

In the carbon power, it is preferable to have <3370 nm distance between surface (d002) of the graphite layers measured by the X-ray diffraction method.例文帳に追加

炭素粉末は、Ｘ線回折法による黒鉛層間の面間隔（ｄ００２）が０．３３７０ｎｍ未満であることがより好ましい。 - 特許庁

Further, the half peak width obtained by the X-ray diffraction analysis of martensite of the rolling element 3 is ≤7.6° for all rolling elements.例文帳に追加

また、転動体３のマルテンサイトのＸ線回折分析により得られたピークの半価幅は、全転動体ともに７．６°以下である。 - 特許庁

The reciprocal lattice map measurement of X-ray diffraction requires setting of the measuring range of 2θ/ω and setting of the measuring range of ω.例文帳に追加

Ｘ線回折の逆格子マップを測定するには，２θ／ωの測定範囲とωの測定範囲を設定する必要がある。 - 特許庁

To provide a membrane X-ray diffraction apparatus capable of obtaining the crystal data of the minute area in a polycrystal membrane sample.例文帳に追加

多結晶薄膜試料における微小領域の結晶情報を得ることの可能な薄膜Ｘ線回折装置を提供する。 - 特許庁

When the X-ray diffraction measurement is performed on the anode side electrode 14, a pattern showing that the particles 28 are amorphous is obtained.例文帳に追加

このアノード側電極１４についてＸ線回折測定を行うと、粒子２８が非晶質であることを示すパターンが得られる。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction device with which pole figure measurement is exactly performed even when a two-dimensional detector is used.例文帳に追加

２次元検出器を用いた場合であっても極点図測定を正確に行うことが可能なＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

The spread shapes in the peaks A, B measured by the X-ray diffraction are standardized again, thus newly creating a profile for comparison.例文帳に追加

Ｘ線回折で測定されたピークＡ、Ｂの拡がりの形状を規格化しなおすことにより、比較用プロファイルを新たに作製する。 - 特許庁

The α-Mn_2O_3 has a new crystal structure in which peak intensity of lattice planes in X-ray diffraction satisfies (222)<(400).例文帳に追加

Ｘ線回折における格子面のピーク強度が（２２２）＜（４００）である新規な結晶構造を有するα−Ｍｎ_２Ｏ_３を用いる。 - 特許庁

This coloring composition comprises a benzimidazolone mixed pigment composed of a pigment (I) represented by formula (I) and a pigment (II) represented by formula (II) and having a strong diffraction intensity at a diffraction angle (2θ±0.2°) of 27.0°and weak diffraction intensities at 18.1° and 22.0°in the X-ray diffraction by Cu-K α ray.例文帳に追加

式（Ｉ）で示される顔料（Ｉ）と、式（ＩＩ）で示される顔料（ＩＩ）とからなり、Ｃｕ−Ｋα線によるＸ線回折において、回折角（２θ±０．２°）２７．０°に強い回折強度を有し、１８．１°、および２２．０°に弱い回折強度を有するベンツイミダゾロン系混晶顔料を含有する着色組成物。 - 特許庁

To provide a micro-portion X-ray irradiation device and its method of an X-ray diffraction device having an unchanged irradiation field even when a sample is tilted at a tilt angle of 15-30 degrees with respect to an incident beam and subjected to in-plane rotation.例文帳に追加

試料を入射ビームに対し１５〜３０度の傾斜角度で傾けて面内回転しても照射野の変化のないＸ線回折装置の微小部Ｘ線照射装置とその方法を提供する。 - 特許庁