「X-ray Diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

The electrophotographic photoreceptor is prepared by using crystalline dichloro-tin phthalocyanine of which the X-ray diffraction spectrum with Cu-Kα ray has peaks at Bragg angles 2θ (±0.3°) of 8.6°, 11.4°, 15.7°, and 25.7°.例文帳に追加

Ｃｕ−Ｋα線に対するＸ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角２θ（±０．３°）＝８．６°、１１．４°、１５．７°及び２５．７°にピークを示す結晶型ジクロロスズフタロシアニン及びそれを用いた電子写真感光体。 - 特許庁

When the center axis of an X-ray polygon crystal 7 is set to [0, 1, -1] of a silicon single crystal, a surface index enabling geometric reflection becomes xhh and a large number of reflecting surfaces are obtained according to an extinction rule of X-ray diffraction of a diamond structure.例文帳に追加

Ｘ線ポリゴン結晶７の中心軸をシリコン単結晶の〔０，１−１〕とすると、幾何学的に反射可能な面指数がｘｈｈとなり、ダイヤモンド構造のＸ線回折の消滅則に従えば、多数の反射面が得られる。 - 特許庁

The alkaline storage battery 1 is constructed so that at least a part of the crystal structure of the anode active material is changed by charge and discharge, and the anode active material is controlled so as to indicate a new diffraction peak at 8.4-10.4° of a diffraction angle 2θ, by X-ray diffraction using a CuKα ray.例文帳に追加

アルカリ蓄電池１は、充放電により正極活物質の結晶構造の少なくとも一部が変化し、正極活物質がＣｕＫα線によるＸ線回折で回折角２θの８．４〜１０．４度の位置に新たな回折ピークを示すようになることを抑制するように構成されている。 - 特許庁

To enhance measurement accuracy of an X-ray diffractometer for measuring an atomic radial distribution function and anomalous diffraction scattering X-rays, by setting the size of a slit within the range specified by this invention.例文帳に追加

スリットサイズを、本発明で指定した範囲内に設定することにより、原子動径分布関数測定用、及び、異常散乱Ｘ線回折用の、Ｘ線回折装置の測定精度を高めること。 - 特許庁

A composite particle having a 40-300 μm average particle size comprises melamine borate, and scale-like boron nitride powder having a ≤2.0 graphitization index (GI) by a powder X-ray diffraction method and a 5-40 μm average particle size.例文帳に追加

ホウ酸メラミンと、粉末X線回折法による黒鉛化指数（ＧＩ）２．０以下、平均粒子径５〜４０μmの鱗片状窒化ホウ素粉末からなり、平均粒子径が４０〜３００μmである複合粒子。 - 特許庁

The distortion application is performed by heating the rolled material RS in a heating furnace 10, and by passing the heated rolled material RS between heated rollers 21 thereby to bend the rolled material RS, so that the bent plate may have a half value width of the (0004) diffraction peak in the monochromatic X-ray diffraction, at 0.20 deg. to 0.59 deg.例文帳に追加

歪みの付与は、圧延材RSを加熱炉10で加熱し、加熱した圧延材RSを加熱したローラ21間に通過させて圧延材RSに曲げを付与し、付与後の板材の単色光X線回折における(0004)回折ピークの半価幅が0.20deg以上0.59deg以下となるように行う。 - 特許庁

Further, the stainless steel wire has a texture in which the ratio of a martensitic phase induced by wire drawing is ≤15 vol.%, and the balance austenitic phase, and the diffraction intensity of the austenitic phase by an X-ray diffraction method in the longitudinal direction satisfies both of I(200)/I(111)≥2.0 and I(220)/I(111)≥3.0.例文帳に追加

また、線引き加工によって誘起されるマルテンサイト相が15体積％以下、残部がオーステナイト相からなると共に、鋼線長手方向のX線回折法によるオーステナイト相の回折強度がI(200)/I(111)≧2.0、及びI(220)/I(111)≧3.0の双方を満たす集合組織を有する。 - 特許庁

Varying the scattering factors is accomplished by using different types of radiation, such as performing both X-ray and neutron diffraction, or by performing neutron diffraction on materials with the same composition but different isotopes. 例文帳に追加

散乱因子を変化させることは、X線回折と中性子回折の両方を行うことなどの異なる種類の放射線を使うことにより、或いは同じ組成であるが異なる同位体をもつ材料について中性子回折を行うことにより、果たされる。 - 科学技術論文動詞集

Diffraction X rays generated are recorded in a two-dimensional X-ray detector at a stroke in a short period of time, thereby visualizing the intensity of diffraction X rays from the ultrafine structure in a reciprocal lattice space to rapidly analyze its structure.例文帳に追加

基板結晶表面上に育成された超微細ナノワイヤ、基板結晶とその表面を覆うキャップ層の間に挟まれた、埋もれた超微細ナノワイヤ、あるいは、薄膜結晶などの超微細構造体に、0.1 nm以下の短波長X線を表面から数°以下の角度で入射させ、生じる回折X線を２次元X線検出器に短時間で一度に記録することにより、前記超微細構造体からの回折X線強度を逆格子空間において可視化し、その構造を迅速に解析する。 - 特許庁

Further, the second cBN sintered compact contains 70 to 99.5 vol.% of cBN, wherein the remaining part comprises a bond phase and an inevitable impurity, a half-value width of the diffraction peak of a face (331) of cBN measured by X-ray diffraction is 1.35 deg or more.例文帳に追加

また、第二のcBN焼結体は、cBNを70体積％以上99.5体積％以下含有し、残部が結合相及び不可避不純物からなり、Ｘ線回折によるcBNの（331）面の回折ピークの半価幅が1.35deg以上である。 - 特許庁

The liquid crystalline resin composition includes two liquid crystalline polyesters (A) and (B), wherein the half width of a crystallization peak is ≥2° at the diffraction angle 2θ of 18-20°observed in X-ray diffraction.例文帳に追加

２種の液晶性ポリエステル（Ａ）と（Ｂ）からなる液晶性樹脂組成物であり、Ｘ線回折によって回折角度２θが１８〜２０°に観測される結晶ピークの半値幅が２°以上である液晶性樹脂組成物。 - 特許庁

This silicon steel sheet has an extra-thin ceramic film consisting of crystallites having dominantly such orientations that a ratio of diffraction peak intensity (222)/(200) by X-ray diffraction can be 1.2 or higher, which is coated on the surface of the grain-oriented silicon steel sheet that has been finish-annealed.例文帳に追加

仕上げ焼鈍済の一方向性珪素鋼板の表面に、Ｘ線回折による（２２２）／（２００）回折ピーク強度比が1.2 以上に優先配向した結晶質に成る、極薄セラミック被膜を被成する。 - 特許庁

The inclusion of the TiC-based compound is confirmed by that a finding the diffraction line peaks at 2θ=36.2°, 42.3°, and 61.6° by X-ray diffraction method of the obtained Ti-C-based material correspond to (111), (200), and (220) in TiC.例文帳に追加

ＴｉＣ系化合物の含有は、得られたＴｉ−Ｃ系材料のＸ線回折法による、２θ＝36.2°、42.3°、および61.6°の回折線ピークがＴｉＣにおける(111)、(200)、および(220)に対応することにより確認された。 - 特許庁

This catalyst for producing the polyester comprises a solid titanium compound obtained by dehydrating and drying a titanium hydroxide and having ≤50% crystallinity calculated from an X-ray diffraction pattern within the range of 18-35° 2θ (angle of diffraction).例文帳に追加

チタン水酸化物を脱水乾燥することにより得られ、２θ（回折角度）が１８°〜３５°の範囲にあるＸ線回折パターンから算出した結晶化度が５０％以下である固体状チタン化合物からなる。 - 特許庁

Crystal A: the crystal of the optically active 4-amino-3-(4-chlorophenyl)butanoic acid having diffraction peaks in 8.7 to 9.4° range, 12.2 to 12.8° range and 24.8 to 25.4° range diffraction angle 2θ in a powder X-ray diffraction measurement at a Cu-Kα wavelength.例文帳に追加

Ａ晶： Ｃｕ−Ｋα波長の粉末Ｘ線回折測定において、回折角２θが８．７°〜９．４°の範囲内、１２．２°〜１２．８°の範囲内および２４．８°〜２５．４°の範囲内に回折ピークを有する光学活性４−アミノ−３−（４−クロロフェニル）ブタン酸の結晶。 - 特許庁

Crystal B: the crystal of the optically active 4-amino-3-(4-chlorophenyl)butanoic acid having diffraction peaks in 20.8 to 21.4° range, 26.7 to 27.3° range and 29.7 to 30.3° range diffraction angle 2θ in the powder X-ray diffraction measurement at the Cu-Kα wavelength.例文帳に追加

Ｂ晶： Ｃｕ−Ｋα波長の粉末Ｘ線回折測定において、回折角２θが２０．８°〜２１．４°の範囲内、２６．７°〜２７．３°の範囲内および２９．７°〜３０．３°の範囲内に回折ピークを有する光学活性４−アミノ−３−（４−クロロフェニル）ブタン酸の結晶。 - 特許庁

This bioactive crystallized glass bead contains Ca and the ratio of the intensity (I2) of diffraction peak at d=2.94 Å spacing of wallastonite and/or diopside over the intensity (I1) of diffraction peak at d= 2.94 Å of apatite satisfies the equation: 0<I2/I1<3/4 in an X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｃａを含有し、Ｘ線回折においてウォラストナイト及び／又はディオプサイドの面間隔ｄ＝２．９４Åの回折ピーク強度（Ｉ_2）とアパタイトの面間隔ｄ＝２．８３Åの回折ピーク強度（Ｉ_1）の比が０＜Ｉ_2／Ｉ_1＜３／４の範囲となることを特徴とする。 - 特許庁

The target for ion plating used for forming the zinc oxide-based electroconductive film comprises a sintered compact mainly containing zinc oxide and has diffraction peaks by (100), (002) and (101) planes in X-ray diffraction pattern, wherein any of the diffraction peaks has a half-value width of ≤0.110°.例文帳に追加

酸化亜鉛主体の焼結体からなり、Ｘ線回折パターンにおいて（１００）、（００２）、（１０１）面による回折ピークを有し、該回折ピークの何れかの半値幅が０．１１０度以下である酸化亜鉛系導電膜形成用のイオンプレーティング用ターゲットを開示する。 - 特許庁

The piezoelectric/electrostrictive body has a ratio between a diffraction peak intensity I_001 of the (001) face and a diffraction peak intensity I_100 of the (100) face of I_001/I_100≤1, in an X-ray diffraction pattern in the same plane after the polarization treatment.例文帳に追加

また、本発明の圧電／電歪体は、分極処理後の、電界の印加方向と垂直な面におけるＸ線回折パターンにおいて、（００ｌ）面の回折ピーク強度Ｉ_００ｌと（ｌ００）面の回折ピーク強度Ｉ_ｌ００との比がＩ_００ｌ／Ｉ_ｌ００≦１である。 - 特許庁

(2) An intensity ratio I_003/I_104 of diffraction peak intensity I_003 of (003) planes in the vicinity of 2θ=19° determined in the X-ray diffraction image and diffraction peak intensity of (104) planes in the vicinity of 2θ=44° is 1.0 to 1.5.例文帳に追加

（２）前記Ｘ線回折像において測定される２θ＝１９゜付近の（００３）面回折ピーク強度Ｉ_００３と２θ＝４４°付近の（１０４）面回折ピーク強度Ｉ_１０４との強度比Ｉ_００３／Ｉ_１０４が、１．０より大きく１．５より小さいこと。 - 特許庁

This X-ray diffraction device has in X-ray measuring instrument for acquiring data for a pole diagram, a memory for storing the measuring data acquired by the X-ray measuring instrument, a display device for displaying an image and an image data forming circuit for forming the image data displayed on the display device based on the data stored in the memory.例文帳に追加

極点図のためのデータを得るＸ線測定装置と、そのＸ線測定装置によって得られた測定データを記憶するメモリと、画像を表示する表示装置と、メモリに記憶されたデータに基づいて表示装置に表示するための画像データを生成する画像データ生成回路とを有するＸ線回折装置である。 - 特許庁

To provide a reflection type diffraction grating hologram which can generate X-ray having orbital angular momentum as diffraction wave, can weaken or completely extinguish unnecessary 0-order light, can easily change an emission direction of diffraction wave, further is capable of enlarging a diffraction grating and is easily prepared.例文帳に追加

軌道角運動量を持ったＸ線を回折波として発生させることができ、不要な０次の光を弱める又は完全に消すことができ、回折波の出射方向を容易に変えることができ、さらに、回折格子の拡大化が可能で、作成が容易な反射型回折格子ホログラムなどを提供する。 - 特許庁

In the protective film 9, a peak is present at a diffraction angle, between a diffraction angle at which a peak generates when only one oxide of two oxides is analyzed in X-ray diffraction analysis on a specific azimuth surface and a diffraction angle at which a peak generates, when only the other oxide is analyzed.例文帳に追加

保護膜９は、特定方位面についてのＸ線回折分析において、２つの酸化物の一方の酸化物単体を分析したときにピークが発生する回折角と、他方の酸化物単体を分析したときにピークが発生する回折角との間の回折角に、ピークが存在するものである。 - 特許庁

When a theoretical diffraction X-ray intensity distribution is calculated based on a diffraction surface normal distribution function P by using overlapped orientation density distribution functions to which periodicity is given as the diffraction surface normal distribution function P(ϕ), its rocking curve reflects excellently an actual diffraction phenomenon.例文帳に追加

回折面法線分布関数Ｐ（φ）として，配向密度分布関数を周期化し，かつ，重ね合わせたものを用いることにより，この回折面法線密度分布関数Ｐに基づいて理論的な回折Ｘ線強度分布を計算すると，そのロッキングカーブは，現実の回折現象を良く反映したものになる。 - 特許庁

The initial characteristics (A): the Y-titanylphthalocyanine crystal has peaks at Bragg's angles 2θ±0.2° of 7.4° and 9.6° in an X-ray diffraction spectrum and, when peak intensities of them are presented as X, Y, the value of X/Y(-) is less than 0.3.例文帳に追加

（Ａ）初期特性 Ｙ型チタニルフタロシアニン結晶が、Ｘ線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角２θ±０．２°＝７．４°及び９．６°にピークを有し、それらのピーク強度をそれぞれＸ及びＹとした場合に、Ｘ／Ｙ（−）の値が０．３未満の値である。 - 特許庁

The carbon catalyst has a crystallinity degree of 41.0% or less as determined by an X-ray diffraction method, a (nitrogen atom)/(carbon atom) ratio of 0.7 or more as determined by an X-ray photoelectron spectroscopy, and oxygen reduction onset potential of 0.774 V (vs. NHE) or more.例文帳に追加

また、本発明に係る炭素触媒は、Ｘ線回折法により得られる結晶化度が４１．０％以下であり、Ｘ線光電子分光により得られる窒素原子／炭素原子比が０．７以上であり、酸素還元開始電位が０．７７４Ｖ（ｖｓ．ＮＨＥ）以上である。 - 特許庁

The displacement of a crystal atom is determined by analyzing an intensity profile of X-ray CTR scattering appearing on both sides in the vertical direction on the surface of an X-ray diffraction peak, and the stress generated in the hetero interface between the crystal and the different kind of material is evaluated from the result.例文帳に追加

Ｘ線回折ピークの表面垂直方向両側に出現するＸ線ＣＴＲ散乱の強度プロファイルを解析して結晶原子の変位量を求め、その結果から結晶と異種物質とのヘテロ界面の生じる応力を評価する。 - 特許庁

To provide an apparatus which can fully, promptly and precisely analyze using an inexpensive and simple structure by preventing diffraction rays, which become interfering rays, from being generated on the side of the X-ray source in an apparatus for X-ray fluorescence analysis analyzing samples having crystal structures.例文帳に追加

結晶構造を有する試料を分析する蛍光Ｘ線分析装置において、妨害線となる回折線をＸ線源側で発生しないようにすることにより、十分迅速で正確な分析ができ、安価で簡単な構造の装置を提供する。 - 特許庁

The drawn wire material is irradiated with an X-ray from a target through an incident collimator, using a 2θ-θ method, and the X-ray diffracted from the drawn wire material is made to get incident into a counter through a photoreception side collimator, to measure diffraction peaks in a plurality of crystal faces in the drawn wire material.例文帳に追加

２θ−θ法を用いて、ターゲットからのＸ線を入射コリメータを通して伸線材に当て、伸線材からの回折したＸ線を受光側コリメータを通して計数器に入射して、伸線材の複数の結晶面による回折ピークを測定する。 - 特許庁

The W sputtering target is characterized in that a half band width of a peak corresponding to a crystal plane (110) of the target is 0.35 or less when a surface of the target to be sputtered is analyzed by X-ray diffraction.例文帳に追加

Ｗスパッタリングターゲットは、スパッタリングされる面のＸ線回折により得られた結晶面（１１０）のピークの半値幅が０．３５以下であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an X-ray diffraction apparatus capable of showing the explanation related to a measuring condition to an operator on the screen of a display device and not making it hard to see the screen.例文帳に追加

測定条件に関する説明を表示装置の画面上でオペレータに提示することができ、しかも、画面が見難くなることのないＸ線回折装置を提供する。 - 特許庁

As compared with a method for measuring the diffraction line intensity of asbestos by scanning the light detection slit 5 and the X-ray detector 8, a measuring time can be shortened largely.例文帳に追加

受光スリット５及びＸ線検出器８のスキャンによってアスベストの回折線強度を測定することに比べて、測定時間を大幅に短縮できる。 - 特許庁

A half width of an x-ray diffraction peak corresponding to a (100) plane of the zirconium crystal is between 0.7° and 1.5°, and an average value of a crystallite size is 3-20 nm.例文帳に追加

ジルコニウム結晶の（１００）面に対応するＸ線回折ピークの半値幅は０．７°から１．５°であり、結晶子サイズの平均値は３ｎｍ以上２０ｎｍ以下である。 - 特許庁

The hemihydrate of the compound shown by an X-ray powder diffraction diagram includes a melting point of Tm.p.=120±5°C (measured by differential scanning calorimetry; evaluation by the peak maximum; and heating rate: 10°C/min).例文帳に追加

Ｔm.p.＝１２０±５℃の融点（示差走査熱量測定法により測定；ピーク最大により評価；加熱速度：１０℃／分）でＸ線粉末回折図で示される半水化物。 - 特許庁

(1) A crystallite size of (110) planes in the vicinity of 2θ=66° determined in an X-ray diffraction image using CuK_α radiation line is 1000Å or more.例文帳に追加

（１）ＣｕＫαを線源とするＸ線回折像において測定される２θ＝６６゜付近の（１１０）面結晶子サイズが、１０００オングストローム以上であること。 - 特許庁

An X-ray diffraction device 1 is constituted by installing a signal processing unit 21 comprised of a DSP (digital signal processor) on the outside of a computer comprised of a CPU 17, a memory 20 and the like.例文帳に追加

ＣＰＵ１７、メモリ２０等から成るコンピュータの外部にＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）から成る信号処理部２１を設置して成るＸ線回折装置１である。 - 特許庁

Moreover, the distribution of the first peak intensity showing the maximum intensity in an X-ray diffraction pattern inside a stimulable phosphor layer face is isotropic from the center of the support 11.例文帳に追加

そして、輝尽性蛍光体層面内のＸ線回折パターンにおいて最大強度を示す第１ピーク強度の分布が支持体中心から等方的である。 - 特許庁

The nucleating agent consists of a compound expressed by formula (1), having ≤10 μm mean particle diameter and essentially exhibits no crystalline peak in an X-ray diffraction analysis.例文帳に追加

下記一般式（１）で表される化合物からなり、平均粒径１０μｍ以下で且つＸ線回折分析で結晶性ピークを実質的に有しない造核剤。 - 特許庁

The primary particle diameter may be 5-10 μm, and the X-ray diffraction peak intensity ratio of I(111)/I(311) may be 1.5-3.0.例文帳に追加

前記一次粒子直径が５ないし１０μｍであり、前記Ｘ線回折ピーク強度のＩ（１１１）／Ｉ（３１１）が、１．５ないし３．０であることを特徴とする。 - 特許庁

An anode active material of the anode 22 contains hardly graphitizable carbon with an interval of (002) face of ≥0.37 nm as measured in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

負極２２の負極活物質は、Ｘ線回折法により測定される（００２）面の面間隔が０．３７ｎｍ以上である難黒鉛化性炭素を含有している。 - 特許庁

To provide a method of analyzing crystal structures, which can be improved in detection sensitivity in comparison with conventional methods, when evaluating degradation of structure using X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法を用いた構造劣化を評価する上で、従来と比較して検出感度の向上が可能な、結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

The cap layer 16 is of a polycrystalline structure in which a half width of an X-ray diffraction rocking curve on a (004) plane is within an angle range of 4,000-12,000 seconds.例文帳に追加

キャップ層１６は、（００４）面におけるＸ線回折ロッキングカーブの半値幅が４０００秒〜１２０００秒の角度範囲内に含まれる多結晶構造とする。 - 特許庁

The IItype crystal of (±) 2-(dimethylamino)-1-{[O-(m-methoxyphenethyl)phenoxy]methyl}ethyl hydrogen succinate hydrochloride that can be characterized by the specific pattern in the powdery X ray diffraction peak shown by Figure.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折スペクトルが図１に示すパターンを有する、（±）２−（ジメチルアミノ）−１−{〔Ｏ−（ｍ−メトキシフェネチル）フェノキシ〕メチル} エチル 水素サクシナート塩酸塩のII形結晶。 - 特許庁

The I type crystal of (±) 2-(dimethylamino)-1-{[O-(m-methoxyphenethyl)phenoxy]methyl}ethyl hydrogen succinate hydrochloride that can be characterized by having the pattern shown in Figure in the powdery X ray diffraction peak.例文帳に追加

粉末Ｘ線回折スペクトルが図２に示すパターンを有する、（±）２−（ジメチルアミノ）−１−{〔Ｏ−（ｍ−メトキシフェネチル）フェノキシ〕メチル} エチル 水素サクシナート塩酸塩のＩ形結晶。 - 特許庁

The particulate niobium (III) oxide includes a peak of a niobium (III) oxide in X-ray diffraction profile and a primary particle diameter of 100 nm to 1 μm.例文帳に追加

Ｘ線回折プロファイルにおいて、酸化ニオブ（ＩＩＩ）のピークを有し、１次粒子径が１００ｎｍ〜１μｍであることを特徴とする微粒子酸化ニオブ（ＩＩＩ）。 - 特許庁