「Defect Resolution」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a substrate processing method capable of performing exposure processing with few defect and high resolution.例文帳に追加

欠陥が少なく、解像性能の高い露光処理を可能とする基板処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a lens module which suppresses a resolution defect while attaining improvement in manufacture workability.例文帳に追加

製造作業性の向上を図りつつ、解像度不良を抑止するレンズモジュールを提供する。 - 特許庁

DEFECT DETECTION METHOD FOR FLAT PANEL LIGHT- RELATED PLATE ELEMENT IN LOW AND HIGH RESOLUTION IMAGES例文帳に追加

低解像度および高解像度映像におけるフラットパネル用光関連板要素の欠陥検出方法 - 特許庁

An image high in resolution and reduced in a noise on the defect inspection is thereby detected.例文帳に追加

これにより、解像度が高く、欠陥検査上のノイズも低減した画像を検出することを可能にした。 - 特許庁

To improve resolution by imaging of an internal defect by water immersion C scan ultrasonic flaw detection.例文帳に追加

水浸Ｃスキャン超音波探傷による内部欠陥の映像化における分解能を向上させる。 - 特許庁

To provide a pattern defect inspection apparatus and an inspection method having enhanced pixel resolution and high defect detection performance, by excluding the noise due to radiation.例文帳に追加

画素分解能を高め、また、放射線によるノイズを排除することで、欠陥検出能力の高いパターン欠陥検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

Also, by having both a low resolution optical system and a high resolution optical system, both a circular or a rectangular pattern defect and a defect of fine line width such as an CD error can be detected simultaneously.例文帳に追加

さらに、低解像度光学系と高解像度光学系の両方を具えることにより、円形又は矩形のパターン欠陥とＣＤエラーのような微細線幅の欠陥の両方を同時に検出することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection method and a semiconductor inspection system that can improve resolution precision associated with a defect etc.例文帳に追加

欠陥等の分類精度を向上し得る半導体検査方法及び半導体検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an image defect correction apparatus which makes a white vertical line invisible that is generated by a point defect of a vertical CCD while suppressing the deterioration of substantial resolution.例文帳に追加

垂直ＣＣＤの点欠陥により発生する白縦線を、実質的な解像度の低下を抑えつつ目立たなくすることができる画像欠陥補正装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of automatically detecting a defect and observing high resolution without requiring to specify a defect position by using an inspection device in advance.例文帳に追加

予め検査装置を用いて欠陥位置を特定する必要なく、欠陥の検出及び高分解能観察を自動的に行うことのできる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The defect correction processing portion 42a set corresponding to the luminance processing portion 36 sets the correction level at a middle level and conducts a correction of a pixel defect while maintaining a resolution.例文帳に追加

輝度処理部３６に対応して設けられた欠陥補正処理部４２ａは、補正レベルを中程度に設定され、解像度を維持しつつ画素欠陥の補正を行う。 - 特許庁

To provide a defect inspection method that improves pseudo resolution by image processing and detects a defect in a workpiece to be inspected with high accuracy.例文帳に追加

画像処理による擬似的な解像度の向上を実現し、検査対象であるワークに存在する欠陥を高精度に検出可能な欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a photoelectric conversion element capable of accelerating processing and changing a resolution without increasing costs, and a defect inspection device and a defect inspection method using it.例文帳に追加

コストを増加させずに処理の高速化と解像度の変更が可能な光電変換素子と、それを用いた欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern defect repairing device where a problem when a laser beam is adopted as a light source of an inspection device of a pattern defect, the defect of a pattern is inspected with higher resolution and the defect of the mask pattern can highly precisely be repaired.例文帳に追加

レーザ光をパターン欠陥の検査装置の光源として採用した場合の問題点を解決し、より高い分解能でパターンの欠陥を検査し、これにより高精細なマスクパターンの欠陥修復を行なえるパターン欠陥修復装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern defect repair apparatus capable of repairing the defect of a higher fineness mask pattern by solving the problem of the case a laser beam is employed as a light source for an inspection apparatus for the pattern defect and by inspecting the defect of the pattern with higher resolution.例文帳に追加

レーザ光をパターン欠陥の検査装置の光源として採用した場合の問題点を解決し、より高い分解能でパターンの欠陥を検査し、これにより高精細なマスクパターンの欠陥修復を行なえるパターン欠陥修復装置を提供する。 - 特許庁

To provide a process for producing a semiconductor device capable of forming fine patterns and reducing the occurrence rate of a resolution defect.例文帳に追加

微細なパタンが形成でき、解像不良の発生率を現象できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a solid-state image pickup device with which a defect can be more exactly detected by preventing a detection error caused by the time change of a pixel defect and the defect can be corrected without deteriorating a spatial resolution.例文帳に追加

画素欠陥の時間変化による検出誤りを防止することを通じてより正確な欠陥検出を行い、また、空間解像度を劣化させることなく欠陥補正を行うことのできる固体撮像装置を提供する。 - 特許庁

Based on the search domains in the series of resolution-enhanced visible images, pattern analysis is performed by a visible image defect part decision means 6 by using density differences of images to determine a defect part.例文帳に追加

可視画像欠陥部位特定手段６は、高解像度化された一連の可視画像の検索領域に基づいて、画像の濃度差によってパターン解析を行い、欠陥部位を特定する。 - 特許庁

To provide a photosensitive resin composition which excels in concealing properties of, for example, an appearance defect for a circuit, and which excels in coloring power and resolution which enables formation of a high resolution solder mask layer.例文帳に追加

回路の外観不良などの隠蔽性に優れ、且つ高解像性のソルダーレジスト層を形成可能な着色力と解像性に優れる感光性樹脂組成物を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for detecting a defect by inspecting a microscopic circuit pattern with high resolution.例文帳に追加

本発明は，微細な回路パターンを高い分解能で検出し，欠陥を検出する方法及び装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method and a device for detecting a minute circuit pattern with high resolution to detect a defect.例文帳に追加

本発明は、微細な回路パターンを高い分解能で検出し、欠陥を検出する方法及び装置を提供することにある。 - 特許庁

To suppress deterioration of resolution by erroneous correction by suppressing defect correction at an edge of an image pattern.例文帳に追加

画像パターンのエッジではキズ補正を抑制することで誤補正による解像度低下を抑制することを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

Resolution of the imaging means 4 is made to be the size of the defect or less, and the micro-defect having the condensing action is detected precisely by narrowing the width of light emitted to the transparent plate 3.例文帳に追加

撮像手段４の分解能は、欠点のサイズ以下とし、透明板状体３に照射される光の幅を狭くすることにより、集光作用を有する微小欠点を精度良く検出する。 - 特許庁

A low resolution optical system is formed by arranging space low-pass filters (10a and 10b) which enlarge or average the image of a defect in an optical path, and the image of the defect is enlarged on a camera device.例文帳に追加

欠陥の画像を拡大又は平均化する空間ローパスフィルタ（１０ａ，１０ｂ）を光路中に配置して低解像度光学系を形成し、欠陥の画像を撮像装置上において拡大する。 - 特許庁

To provide a semiconductor crystal defect testing method, etc. which uses cathode luminescence (CL) that enables checking of the measurement position at a high spacial resolution, and a sample analysis at a high spacial resolution.例文帳に追加

高空間分解能で測定位置の確認ができ、且つ高空間分解能で試料分析ができるカソードルミネッセンス（ＣＬ）を用いた半導体結晶欠陥検出方法等を提供する。 - 特許庁

On the basis of captured images which are captured at the imaging positions, a resolution improved image is produced through pixel displacement and on the basis of the resolution improved image, a defect in the liquid crystal panel L is detected.例文帳に追加

そして、各撮像位置で撮像された各撮像画像に基づいて、画素ずらしにより高解像度化画像を生成し、その高解像度化画に基づいて液晶パネルＬにおける欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor which provides an image of high resolution, reduces the occurrence of an image defect even in repeated use, makes such image defect inconspicuous even under severe conditions for the high resolution, and is excellent in electrical characteristics, and an image forming method using the electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加

解像性の高い画像を得ることができ、繰り返し使用においても画像欠陥の発生が少なく、高解像性という厳しい条件下でも、かかる画像欠陥が目立たず、また電気特性に優れた電子写真プロセスを用いた画像形成方法を提供すること。 - 特許庁

In addition, the resist composition obtains a high resolution pattern since the dissolution speed is remarkably improved and can prevent substrate defect formation such as development inferiority.例文帳に追加

また、溶解速度が著しく向上することから高解像度なパターンが得られ、現像不良などの基板欠陥形成を防止できる。 - 特許庁

To provide a signal processing circuit capable of correcting a fixed noise, a flaw such as a pixel defect, and a random noise without degrading in the resolution.例文帳に追加

解像度の低下を招くことなく、固定ノイズや画素欠陥のようなキズ並びにランダムノイズを補正できる信号処理回路を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of detecting a fine pattern with high resolution, and a device therefor, and a method of manufacturing a semiconductor substrate with a high yield.例文帳に追加

微細なパターンを高い分解能で検出する欠陥検査方法、その装置及び半導体基板を高歩留まりで製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting device that embodies high resolution and a fast inspection speed for a technique for inspecting a pattern on a wafer by using an electron beam.例文帳に追加

電子ビームを用いたウェハ上パターンを検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for easily obtaining an anisotropic substance consisting of a partial structure which is free of an alignment defect and has high resolution and different optical anisotropy.例文帳に追加

配向欠陥がなく、解像度の高い異なった光学異方性を有する部分構造からなる光学異方体を、簡便に得る方法を提供する。 - 特許庁

To provide a resin compound which is a raw material of a printing plate for laser engraving which enables production of a printing plate superior in resolution without causing printing defect.例文帳に追加

印刷不良を生じずかつ解像度に優れた印刷版を製造できるレーザー彫刻用印刷原版の原料となる樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

This analyzer includes the analytical tool 202 for for imaging a defect on a sample, and for generating a high-resolution image, and a display unit 211.例文帳に追加

装置は、前記試料上の欠陥を画像化し、高解像度画像を生成するよう構成された分析ツール（２０２）、およびディスプレイ装置（２１１）を含む。 - 特許庁

To provide a positive resist composition having excellent sensitivity and resolution, hardly generating development residue or development defect and exhibiting excellent shape of pattern profile.例文帳に追加

感度、解像力が優れ、現像残査又は現像欠陥の発生が抑制され、更にパターンプロファイルの形状も優れたポジ型レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁

To obtain required resolution and prescribed scanning velocity (exposure velocity) in a main scanning direction and a subscanning direction and further to obtain a compensation function of illumination unevenness and pixel defect.例文帳に追加

主・副走査方向に必要な分解能と所定の走査速度（露光速度）を得ると共に、照明ムラ、画素欠陥の補正機能を得ることを課題とする。 - 特許庁

To provide a positive photoresist composition having excellent resolution and edge roughness of line pattern and hardly causing developing defect in the manufacture of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造において解像力、ラインパターンのエッジラフネスに優れ、現像欠陥の少ないポジ型フォトレジスト組成物を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device realizing high resolution and an increase in an inspection speed in a technology for inspecting a pattern defect, foreign matter, residue, a step and the like on a wafer in a production process of a semiconductor by an electron beam.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a structure inspection apparatus and inspection method therefor which provides an inspection image in which the visibility of a defect is improved by preparing a video image having a resolution higher than a pixel resolution that a TV camera itself has.例文帳に追加

ＴＶカメラ自体が有する画素分解能よりも高い分解能を有する映像を作成することにより、欠陥の視認性を向上させた検査画像を得構造物の検査装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a radiation-sensitive resin composition, capable of producing a resist film hardly causing liquid blot and pattern failure defect while maintaining excellent resolution and sensitivity.例文帳に追加

優れた解像度及び感度を維持しつつ、液痕、及びパターン不良欠陥が発生し難いレジスト膜を形成可能な感放射線性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

The size of an image or the number of pixels in re-detection is changed in accordance with the accuracy distribution of defect position information in an external inspection device without changing resolution.例文帳に追加

解像度を変更することなく、外部の記検査装置における前記欠陥位置情報の精度分布に応じて再検出の際の画像サイズまたは画素数を変更する。 - 特許庁

To provide an image reading apparatus capable of accurately detecting a printing defect without being affected by a setting value of a document scan resolution designated by a user.例文帳に追加

ユーザが指定した原稿の読取解像度の設定値に影響を受けることなく、印字不良を精度よく検出することができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

To dispense with terminal connection to the outside, and to visualize a current path and a defect with submicron space resolution, when analyzing a failure of a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップの故障を解析する際に、外部との端子接続を不要とし、サブミクロンの空間分解能で電流経路と欠陥の可視化を可能にすること。 - 特許庁

To provide toner with which a stable image is formed over a long term and a high-resolution and high-definition image having no image defect such as fogging.例文帳に追加

長期にわたって安定した画像を形成することができ、カブリなどの画像欠陥の発生の無い、高解像で高精細な画像を形成するトナーを提供する。 - 特許庁

Since the image pick-up part 18 uses a high-resolution line CCD 21, it can detect even a small defect that could not be detected by a conventional surface-inspecting device.例文帳に追加

撮像部１８は、高解像度のラインＣＣＤ２１を使用しているため、従来の表面検査装置では検出できなかった小さな欠陥も検出する。 - 特許庁