「EDX」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

In fact, with edx, when we were teaching our first course例文帳に追加

実際 私たちがedXで 最初のクラスである - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Is becoming somewhat of a cult symbol at edx.例文帳に追加

edXのカルト的シンボルのようなものになっています - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Is becoming somewhat of a cult symbol at edx.例文帳に追加

edxのカルト的シンボルのようなものになっています - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To measure the presence of an objective element by a TEM-EDX, in a thermoplastic resin.例文帳に追加

熱可塑性樹脂において、対象元素の有無をＴＥＭ−ＥＤＸで測定できる方法の提供。 - 特許庁

The sample is introduced in a sample chamber in the EDX analyzer 9 and irradiated with electron rays, and then a characteristic X-ray peak of a nitrogen element is analyzed from an EDX spectrum, thereby checking the presence of the lithium.例文帳に追加

ＥＤＸ分析装置９内の試料室へ試料を導入し、試料に電子線を照射しＥＤＸスペクトルより、窒素元素の特性Ｘ線のピークを分析することにより、リチウムの存在が可能となる。 - 特許庁

Such a CCD array supplies better energy resolution than that of a conventional EDX detector.例文帳に追加

このようなＣＣＤアレイは従来のＥＤＸ検出器と比較して良好なエネルギー分解能を供給する。 - 特許庁

To provide a sample allowing simultaneous observation/EDX measurement of an index sample and an analyte sample under the same condition.例文帳に追加

同一条件の下で指標試料と検体試料を同時に観察・ＥＤＸ測定できる試料を提供する。 - 特許庁

By also using the EDX, inorganic/organic foreign bodies can be identified, and thereby the foreign body can be analyzed with high throughput.例文帳に追加

またＥＤＸとの併用で無機／有機異物ともに同定可能となり、異物分析を高スループットに行うことができる。 - 特許庁

An electron beam apparatus has an electron beam diffraction image analyzing part 3 for calculating lattice spacing based on a diffraction image taken in by a TV camera 10 for observing the electron beam diffraction image, an EDX analyzing part 2 connected to an EDX detector 9 to find a substance composition, and a substance identifying part 4 provided with a database for retrieval for identifying the substance and a database retrieving function.例文帳に追加

電子線装置に、電子線回折像観察用ＴＶカメラ１０によって取り込んだ回折像から格子面間隔を算出する電子線回折像解析部３、ＥＤＸ検出器９に接続され物質組成を求めるＥＤＸ分析部２、物質同定のための検索用データベースとデータベース検索機能を備えた物質同定部４を有する。 - 特許庁

This system has an electron beam diffraction image analytical part 3 for calculating a lattice spacing from an electron beam diffraction image picked up by a TV camera 10 for observing the electron beam diffraction image, in an electron beam device, an EDX analytical part 2 connected to an EDX detector 9 to find a substance composition, and a substance identification part 4 provided with a database for retrieval for substance identification, and a database retrieval function.例文帳に追加

電子線装置に、電子線回折像観察用ＴＶカメラ１０によって取り込んだ回折像から格子面間隔を算出する電子線回折像解析部３、ＥＤＸ検出器９に接続され物質組成を求めるＥＤＸ分析部２、物質同定のための検索用データベースとデータベース検索機能を備えた物質同定部４を有する。 - 特許庁

In the electrochemical element, the aluminum porous body has a purity of 99.9% or higher, and the amount of oxygen on the surface determined by EDX analysis under an acceleration voltage of 15 kV is 3.1 mass% or less.例文帳に追加

アルミニウム多孔体が、純度９９．９％以上であり、かつ、１５ｋＶの加速電圧でのＥＤＸ分析により定量した表面の酸素量が３．１質量％以下のアルミニウム多孔体である電気化学素子。 - 特許庁

The substance identification part 4 retrieves the database for the retrieval to identify the substance, based on the lattice spacing transmitted from the electron beam diffraction image analytical part 3 and an element data transmitted from the EDX analytical part 2.例文帳に追加

物質同定部４は、電子線回折像解析部３から送信された格子面間隔データ、ＥＤＸ分析部２から送信された元素データをもとに検索用データベースを検索して物質を同定する。 - 特許庁

In this electron beam analyzer, when one of X-ray is detected, EDX 5 generates an electrical pulse, and the pulse is amplified by an amplifier 6, and then its height is converted to a digital value by an A/D converter 7 and taken in a histogram memory 10.例文帳に追加

一つのＸ線が検出されるとＥＤＸ５は電気的なパルスを発生し、このパルスは増幅器６により増幅されそのパルス高さがＡ／Ｄ変換器７によりデジタル値に変換されヒストグラムメモリ１０に取り込まれる。 - 特許庁

To provide an electron microscope holder having high X-ray detection efficiency even in an EDX analysis by an X-ray analyzer of a low angle for extracting a sample for TEM observation in cross section produced by the FIB processing and to provide a spacer for use therefor.例文帳に追加

ＦＩＢ加工により作製した断面ＴＥＭ観察用試料の、低取り出し角のＸ線分析器によるＥＤＸ分析においても、高いＸ線検出効率を有する電子顕微鏡ホルダー及びこれに用いるスペーサーを提供する。 - 特許庁

The each scrap silicon is analyzed nondestructively by an energy-dispersive fluorescence X-ray spectrometer (EDX), the presence of the specified addition element is determined based on an obtained spectral data, and the silicon scraps containing the specified addition element are selected based on a determination result therein.例文帳に追加

各スクラップシリコンをエネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置（ＥＤＸ）による非破壊分析にかけ、得られたスペクトルデータから前記特定の添加元素を含んでいるか否かを判定し、この判定結果に基づいて特定の添加元素を含むスクラップシリコンを選別する。 - 特許庁

The alloy carrying material is formed in such a manner that alloy particles composed of two or more metals are carried by a carrier, and an A-value indicating a variation of a composition rate which is obtained by measuring a constituent metal ratio of the carrying alloy particles by TEM-EDX is not larger than 0.12.例文帳に追加

２種以上の金属よりなる合金粒子が担体に担持されてなる合金担持物であって、ＴＥＭ−ＥＤＸによって担持合金粒子の構成金属比率を測定して求められた組成比のばらつきを示すＡ値が０．１２以下である合金担持物。 - 特許庁

Since the height of the pulse generated by the EDX 5 is proportional to the energy of the detected X-ray, the digital output of the A/D converter 7 shows the energy of the X-ray, while the strength of the X-ray is measured by counting the number of the X-ray per unit time.例文帳に追加

ＥＤＸ５で発生したパルスの高さは検出されたＸ線のエネルギーに比例しているから、Ａ／Ｄ変換器７のデジタル出力がＸ線のエネルギーを表し、一方で単位時間あたりのＸ線の数を数えることでＸ線の強度が測定される。 - 特許庁

To enable sample preparation capable of shortening a time for preparing a micro-sample, having high reliability at the EDX analysis time, and having a clean processing surface competent for high power observation, concerning a sample preparation device enabling analysis or observation of a micro-region by extracting a fine sample from a parent sample by utilizing FIB.例文帳に追加

ＦＩＢを利用して母試料から微細試料を摘出して微小領域の分析や観察を可能にする試料作製装置において、微小試料を作製する時間を短縮でき、ＥＤＸ分析時に高い信頼性を有し、高倍率の観察に耐えられる清浄な加工面を有する試料作製を可能とする。 - 特許庁

To provide an imaging device (a device according to an aberration correction device) for a charge particle beam device as an electron microscope or the like used for the inspection and measurement of a semiconductor, in which a small deviation beam with a high probe current is formed to improve the resolution and throughput in EDX analysis, WDX analysis, or defect inspection.例文帳に追加

半導体の検査および計測に使用される電子顕微鏡等の荷電粒子ビーム装置用の「撮像装置」（収差補正装置に準ずる装置）であって、ＥＤＸ分析、ＷＤＸ分析、欠陥検査等の分解能およびスループットを向上させるために高プローブ電流で分散の小さいビームを形成できるようにする。 - 特許庁

To provide an analytical method in which a lithium-containing sample is exposed to a high-purity nitrogen atmosphere, and lithium nitride is made through reacting with nitrogen at normal temperature, and then it is introduced to an EDX or EPMA analyzer while being in the nitrogen atmosphere without being exposed to atmospheric air, and the presence of lithium can be checked qualitatively by analyzing the nitrogen of the lithium nitride.例文帳に追加

リチウムが存在する試料を高純度の窒素雰囲気中にさらし、窒素と常温で反応させることによって窒化リチウムを生成させ、その後、大気に曝すことなく窒素雰囲気のままＥＤＸ或いはＥＰＭＡ分析装置に導入し、窒化リチウムの窒素の分析により、定性的にリチウムの存在を確認可能な分析方法を提供することにある。 - 特許庁

This kind of electrode catalyst is a new catalyst and can be specified by numerical values, such as the adsorption quantity of carbon monoxide which is 14 Ncc or more per 1 gram of platinum, the ratio of the number of Pt atoms to the number of Fe atoms by EDX analysis which is 0.14 or more, or the ratio of the number of coupling of both atoms by EXAFS analysis which is 0.1 or more.例文帳に追加

かかる電極触媒は、新規な触媒であり、一酸化炭素の吸着量が白金１グラム当たり１４Ｎｃｃ以上であり、ＥＤＸ分析によるＰｔ原子とＦｅ原子の数の比が０．１４以上であり、あるいはＥＸＡＦＳ分析による両原子の結合数の比が０．１０以上である、といった数値により特定可能である。 - 特許庁