「FIB」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

In this rotary holder for supporting the micro-fine sample, fine dishlike structure is manufactured additionally in a glass tube tip portion having a micron order of diameter, using an FIB-CVD method.例文帳に追加

本発明の微細試料支持回転ホルダは、直径がミクロンオーダーのガラス管先端部分に、ＦＩＢ−ＣＶＤ法を用いて微細な皿状の構造を付加作成する。 - 特許庁

To provide an FIB (focused ion beam) processing device capable of suitably adjusting contrast and brightness of an image acquired to determine a mark for position recognition even though unevenness exists on a processing area.例文帳に追加

加工エリアに凹凸が存在する場合においても、位置認識用マークの判定用に取得する画像のコントラスト又は明るさの調整を適切に行う。 - 特許庁

To provide a constitution method as a composite charged particle beam device capable of preparing a TEM (Transmission Electron Microscope) sample efficiently by using a gas ion beam device, an FIB (Focused Ion Beam) and a SEM (Scanning Electron Microscope).例文帳に追加

気体イオンビーム装置とＦＩＢとＳＥＭを用いて、効率よくTEM試料作製ができる複合荷電粒子ビーム装置としての構成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a fault-analyzing method of a semiconductor device for analyzing the disconnection failure in metal wiring, gate wiring, and the like in the semiconductor device using an FIB apparatus.例文帳に追加

半導体装置における金属配線やゲート配線等の断線不良をＦＩＢ装置を用いて解析する半導体装置の故障解析方法を提供する。 - 特許庁

A metal film 5 for preventing charge-up is applied to the surface of a sample 10 and is subsequently introduced into an FIB device to cut a sample piece 11 from the sample 10.例文帳に追加

試料１０の表面にチャージアップ防止用の金属膜５のコートを施し、その後、ＦＩＢ装置に導入し、試料１０から試料片１１を切り出す。 - 特許庁

After an aerial wiring 7 of a metal deposited film is by focused ion beam (FIB) CVD formed between isolated patterns and electrically conducted to eliminate the influences due to charge-up, a defect 3 is corrected.例文帳に追加

孤立したパターン間に集束イオンビームCVD金属デポジション膜空中配線7を形成して導通させチャージアップの影響を無くしてから欠陥3を修正する。 - 特許庁

To form a narrower slit than a conventional one by a focused ion beam process (FIB) and to suppress change of quality at a beam irradiation part, without using a mask pattern or the like.例文帳に追加

マスクパターン等を用いることなく、集束イオンビーム（ＦＩＢ）加工で従来よりも幅が狭い間隙を形成するとともに、ビーム照射部位の改質を抑制する。 - 特許庁

First, an insulating film 12 on a predetermined LSI wiring 11 is processed and removed by an FIB, and a connection hole 13 is formed for exposing a surface of the LSI wiring 11.例文帳に追加

まず、ＦＩＢによって所定のＬＳＩ配線１１上の絶縁膜１２を加工除去し、ＬＳＩ配線１１の表面を露出する接続穴１３を形成する。 - 特許庁

To improve a transmission efficiency by fixing the number of FIB bits to one bit at minimum and to limitlessly increase the number of peripheral base stations to be monitored in the case of hand-over.例文帳に追加

ＦＢＩビットのビット数を最小の１ビットに固定し、伝送効率の向上を図り、且つハンドオーバ時に監視する周辺基地局の数を制限無く増やすこと。 - 特許庁

To install a micromachining function of an FIB (focused-ion beam) system and a non-destructive and excellent image forming function of an SEM (scanning electron microscope) into a single apparatus suitable for mass production of high-precision nanodevices.例文帳に追加

ＦＩＢシステムのマイクロマシニング機能と、ＳＥＭの非破壊かつ優れた像形成機能とを、高精度なナノデバイスの大量生産に適した１台の装置に組み込む。 - 特許庁

(iii) When creating order forms concerning self-transaction, the term “order received” in Article 158 of the FIB Cabinet Office Ordinance, shall be replaced with “order shipped.” 例文帳に追加

③ 自己の取引の発注に係る注文伝票を作成する場合において、金商業等府令第158条中「受注」とあるのは「発注」と読み替えて作成するものとする。 - 金融庁

(ii) The “reasons for the termination of the relevant financial instruments transaction contract,” as specified under Article 82 (viii) of the FIB Cabinet Office Ordinance shall include items related to the Loss-Cutting Rule. 例文帳に追加

② 金商業等府令第82条第８号に規定する「当該金融商品取引契約の終了の事由」には、ロスカットルールに関する事項を含むものとする。 - 金融庁

(iii) The “methods of investment and types of transactions,” as specified under Article 107(1)(viii) of the FIB Cabinet Office Ordinance, include re-entrusted entities’ methods of investment and types of transaction. 例文帳に追加

③ 金商業等府令第107条第１項第８号の「投資の方法及び取引の種類」には、再委任先の「投資の方法及び取引の種類」を含む。 - 金融庁

For example, it is sufficient to list the types of mutual transactions of managed assets (requirements, etc., prescribed in each item of Article 129(1) of the FIB Cabinet Office Ordinance). 例文帳に追加

例えば、行われた運用財産相互間取引の類型（金商業等府令第129条第１項各号に規定する要件等）を記載することでも足りるものとする。 - 金融庁

(b) In cases where the credit assessment was implemented based primarily on quantitative analysis, and where there exists a significant difference between the results of the credit assessment based on the said quantitative analysis and the credit rating actually determined, has the difference arisen in accordance with the procedures, etc. contained in the policies and processes for determining ratings (315(1)(i)(f) of the FIB Cabinet Office Ordinance)? 例文帳に追加

① 関連業務に係る行為と信用格付業に係る行為が別の類型の行為であることを明確に示しているか。 - 金融庁

(i) Has the supervisory committee been given the authority for ensuring the appropriateness of the measures listed in Article 306(1) (i)-(xvi) of the FIB Cabinet Office Ordinance? 例文帳に追加

① 監督委員会に対して、金商業府令第 306 条第１項第１号から第 16 号までに掲げる措置の適切性を確保するための権限が与えられているか。 - 金融庁

To provide a charged particle beam device and an FIB (focused ion beam) device excellent in performance by reducing an influence on an ion beam by a noise component included in an electrostatic deflection power source.例文帳に追加

静電偏向電源に乗っているノイズ成分によるイオンビームへの影響を軽減して、性能のよい荷電粒子ビーム装置およびＦＩＢ装置を提供すること。 - 特許庁

To simply modify the layout of wiring in a primitive cell that can modify the layout of wiring by FIB machining.例文帳に追加

本発明は、ＦＩＢ加工により配線レイアウトを変更することが可能なプリミティブセルにおいて、配線レイアウトを簡単に変更できるようにすることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁

Open hole parts respectively reaching the internal wiring 17a and 17c provided in the semiconductor element 6 are formed by using a converged FIB(focusing ion beam) 1 and a first plug 65 and a second plug 66 are respectively formed at the respective open hole parts by irradiating them with the FIB 1 while blowing a metal compound gas from a gas nozzle 13.例文帳に追加

収束されたＦＩＢ（集束イオンビーム）１を用いて、半導体素子６に設けられた内部配線１７ａおよび１７ｃにそれぞれ達する開孔部を形成し、ガスノズル１３から金属化合物ガスを吹き付けながらＦＩＢ１を照射することにより、各開孔部に第１プラグ６５および第２プラグ６６をそれぞれ形成する。 - 特許庁

A preliminary processing method for a sample used on atom probe apparatus includes the steps of: cutting the desired observing part of the sample into a block using an FIB equipment; transferring the sample block onto a sample substrate and fixing the sample block in place; and processing the sample block fixed onto the sample substrate into a needle-point shape by FIB etching.例文帳に追加

本発明のアトムプローブ装置用試料の予備加工は、ＦＩＢ装置を用いて試料所望観察部位をブロック状に切り出すステップと、該ブロック状の切り出し試料を試料基板上に移送して固定するステップと、該試料基板上に固定されたブロック状の試料をＦＩＢエッチング加工によって針先形状に加工するステップとからなる。 - 特許庁

This preparation method of the sample for atom probe analysis has a step for preparing a ridged and grooved structure by performing etching machining of FIB onto both of a base needle 2 and an implantation sample piece 1, a step for bonding mutual members, and a step for sticking by deposition processing of FIB so that the ridged and grooved structure has an engaged form.例文帳に追加

本発明のアトムプローブ分析用試料の作製方法は、ベース針２と移植試料片１の双方にＦＩＢのエッチング加工によって凹凸構造を作製するステップと、互いの部材を接合させるステップと、前記凹凸構造が噛合い形態となるようにＦＩＢのデポジション加工によって接着するステップとを踏むものとした。 - 特許庁

To provide a sample holder for focused ion beam machining observation device capable of holding a minute sample piece on a stage kept horizontal without fail, when it is extracted from the sample of FIB machining and processed into the sample for TEM, and capable of holding the stage in a direction without fail.例文帳に追加

FIB加工で試料から、微小な試料片を摘出し、TEM用試料に加工する際に、摘出した前記微小試料片を水平に保たれた前記試料台に確実に固定することが可能であり、前記試料台を一定の方向に確実に固定することが可能な集束イオンビーム加工観察装置用試料ホールダを提供する。 - 特許庁

This fuel injection amount control device predicts an intake air amount KLfwd for a current intake stroke in a specified cylinder in accordance with a predicted throttle valve opening, and then finds a predicted required fuel amount Fcfwd in accordance therewith and finds an uncorrected fuel injection amount Fib for supplying fuel of the predicted required fuel amount Fcfwd from a fuel behavior reverse model.例文帳に追加

この燃料噴射量制御装置は、予測スロットル弁開度に基いて特定気筒の今回の吸気行程に対する吸入空気量KLfwdを予測し、これに基いて予測必要燃料量Fcfwdを求めるとともに、予測必要燃料量Fcfwdの燃料を供給するための補正前燃料噴射量Fibを燃料挙動逆モデルにより求める。 - 特許庁

The pre-processing of the sample for this atom probe device is composed of a step for cutting a sample desired observation region into a block shape using an FIB device, a step for transferring the block-shaped cut sample to a sample substrate to fix the same and a step for processing the block-shaped sample fixed on the sample substrate into a needle tip shape by FIB etching processing.例文帳に追加

本発明のアトムプローブ装置用試料の予備加工は、ＦＩＢ装置を用いて試料所望観察部位をブロック状に切り出すステップと、該ブロック状の切り出し試料を試料基板上に移送して固定するステップと、該試料基板上に固定されたブロック状の試料をＦＩＢエッチング加工によって針先形状に加工するステップとからなる。 - 特許庁

Both end parts of the metal conductor 56 are bonded with the first plug 65 and the second plug 66 by a metal film formed by irradiating them with the FIB 1 while blowing the metal compound gas.例文帳に追加

金属導線５６の両端部は、金属化合物ガスを吹き付けながらＦＩＢ１を照射して形成される金属膜により、第１プラグ６５および第２プラグ６６と接合される。 - 特許庁

In a dual beam system, the FIB is then adjusted accordingly to slice and mill a new face in the subsequent slice and view iteration, and the SEM images the new face.例文帳に追加

デュアル・ビーム・システムでは、次いで、これに応じてＦＩＢを調整して、後続のスライス・アンド・ビューの繰返しにおいて新しいフェースをスライシングし、ミリングし、ＳＥＭが、この新しいフェースを画像化する。 - 特許庁

Then, FIB processing no longer has to be applied to the microcontroller, in order to forcedly transit the microcontroller to a standby mode contrary to the conventional manner, so that a failure analysis can be speeded up.例文帳に追加

したがって、従来のように、マイクロコントローラにＦＩＢ加工を施して強制的にスタンバイモードに遷移させる必要がなくなり、不良解析を迅速に進めることができる。 - 特許庁

The insulator inside this assembly is arranged completely out of the route of the secondary electron so as to avoid generation of arc that will give a bad influence on the FIB secondary electron image forming.例文帳に追加

また、この組立体の中の絶縁体を、ＦＩＢ二次電子画像形成に悪影響を及ぼすアークの発生を避けるように、二次電子の経路から完全に外して配置する。 - 特許庁

To provide an FIB processing method capable of removing a strain generated in a slicing course, and performing finish machining with a sliced part stably fixed.例文帳に追加

薄片化加工の過程で発生する歪みを除去し、かつ薄片化部分が安定して固定された状態で仕上げ加工を行うことができるＦＩＢ加工方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the restoration of a wiring path by freely using microprobe technique, FIB working technique, etc. and the alteration and copying of confidential information inside the semiconductor device by the generation of a pad terminal etc.例文帳に追加

マイクロプローブ技術やＦＩＢ加工技術等を駆使した配線経路の復元や、パッド端子の生成等による半導体装置内部の機密情報の改ざん・コピーを防止可能にする。 - 特許庁

A Pt thin film 403 is formed on the principal plane of a cantilever 402, an FIB (Focused Ion Beam) 405 is radiated from the main surface side, grooves 601A and 601B are formed, and the Pt thin film 403 is divided.例文帳に追加

カンチレバー４０２の主面にＰｔ薄膜４０３を形成し、ＦＩＢ４０５を主面側から照射して、溝６０１Ａ、６０１Ｂを形成しＰｔ薄膜４０３を分割する。 - 特許庁

A relief recess part 17 is provided in the support 11 for preventing interference between the fib 15 and the support 11 when the locking leg piece 13 is inserted into the mounting hole 8 while shrinking.例文帳に追加

取付け孔８へ係止脚片１３が窄みながら差し込まれるときに、リブ１５が支柱１１と干渉しないよう、支柱１１には逃がし凹部１７が設けられている。 - 特許庁

Before machine blade machining is to be executed, a focusing ion beam is used for performing grooving 2 around a sample observation place 1, the observation place is separated from a sample configuration film in a floating island shape, and a thin film for burying is deposited at a grooving part using an ion beam.例文帳に追加

機械刃加工を実行する前に、観察箇所の周囲にFIBを用いて溝加工 を行い、当該観察個所を試料構成膜から切り離し浮島状にする。 - 特許庁

When a sample 1 is bonded to a copper ring 3, the direction of the sample 1 is rotated by 90° with respect to the conventional direction of the sample to set an FIB processing surface toward a dicing processing surface 1b.例文帳に追加

試料１を銅リング３に接着する際、試料１の向きを従来のそれに対して９０°回転させることでＦＩＢ加工面をダイシング加工面１ｂ方向にする。 - 特許庁

(i) The following operations conducted by the securities company, etc. may fall under the category of “operations concerning legal compliance” prescribed in Article 153(3)(i) of the FIB Cabinet Office Ordinance. 例文帳に追加

① 例えば以下のような証券会社等における業務は、金商業等府令第 153条第３項第１号の「法令遵守管理に関する業務」に該当するものと考えられる。 - 金融庁

(ii) The following operations conducted by the securities company, etc. may fall under the category of “operations concerning management of risk of loss” prescribed in Article 153(3)(ii) of the FIB Cabinet Office Ordinance. 例文帳に追加

② 例えば以下のような証券会社等における業務は、金商業等府令第 153条第３項第２号の「損失の危険の管理に関する業務」に該当するものと考えられる。 - 金融庁

(v) Regarding the “counterparty to a cover transaction,” as specified under Article 94(1)(i) of the FIB Cabinet Office Ordinance, all such counterparties shall be indicated when two or more counterparties exist. 例文帳に追加

⑤ 金商業等府令第94条第１項第１号に規定する「カバー取引相手方」については、複数のカバー取引相手方がある場合は、その全てを記載することとする。 - 金融庁

The contracts specified under Article 123(1)(xiii)(b) to (e) of the FIB Cabinet Office Ordinance shall not be deemed to fall under the category of discretionary investment contracts specified under Article 2(8)(xii)(b). 例文帳に追加

金商業等府令第123条第１項第13号ロからホまでに規定する契約は、金商法第２条第８項第12号ロに規定する投資一任契約に該当しない。 - 金融庁

Supervisory responses to problematic conduct (referring to an act in violation of the law prescribed in Article 223(x) of the FIB Cabinet Office Ordinance; the same shall apply hereafter) shall be treated as follows. 例文帳に追加

事故等（金商業等府令第 223条第 10号に規定する法令等に反する行為をいう。以下同じ。）に対する監督上の対応については、以下のとおり取り扱うこととする。 - 金融庁

(12) MEASURES FOR DEALING WITH COMPLAINTS AGAINST THE CREDIT RATING AGENCYAPPROPRIATELY AND QUICKLY (INCLUDING MEASURES CONCERNING THE DEVELOPMENT OF SYSTEMS FOR REPORTING THE COMPLAINT TO AN OFFICER OF THE SAID CREDIT RATING AGENCY) [ARTICLE 306(1)(XIII) OF THE FIB CABINET OFFICE ORDINANCE] 例文帳に追加

② 信用格付を提供し、又は閲覧に供する行為が当該信用格付の付与後、遅滞なく行われているか(金商業府令第 313 条第３項第１号)。 - 金融庁

(i) Have the matters contained in explanatory documents (Article 318 of the FIB Cabinet Office Ordinance) been stated accurately and in a way that does not cause misunderstanding for investors? 例文帳に追加

① 内部監査部門は、被監査部門等におけるリスクの管理状況を把握し、リスクの種類・程度に応じた効率的かつ実効性ある内部監査計画を立案しているか。 - 金融庁

The grasping surface parallel to a charged particle beam such as FIB, or the like, can be formed by applying processing to a grasping member 18, and the dust adhered to the grasping surface is also removed.例文帳に追加

把持体１８をＦＩＢなどの荷電粒子ビームで加工を施すことにより、ビームに対して平行な把持面を形成することができ、また把持面に付着したダストも除去する。 - 特許庁

The charged particle beam device comprises a first element ion beam optical system device performing first FIB processing for forming a sample piece from a sample, a second element ion beam optical system device performing second FIB processing for removing a damage layer formed on the surface of a sample piece, and a first element detector which detects a first element existing in the damage layer.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置は、試料から試料片を形成する第１のＦＩＢ加工を行う第１の元素イオンビーム光学系装置と、試料片の表面に形成されたダメージ層を除去する第２のＦＩＢ加工を行う第２の元素イオンビーム光学系装置と、ダメージ層に存在する第１の元素を検出するための第１の元素検出器と、を有する。 - 特許庁

The sample 1 is cut to a block shape in a chamber of a focused ion beam (FIB) device, the sample block (bulk) 4 is taken out of vacuum and is brought into contact with a glass probe 5 set at the tip of a manipulator to be supported.例文帳に追加

集束イオンビーム装置のチャンバ内で試料１をブロック状に切り出し、その試料ブロック（バルク）４を真空外に取り出して、マニピュレータの先端にセットしたガラスプローブ５に接触させて支持する。 - 特許庁

To provide a sample cross section manufacturing method capable of efficiently detecting a center position of a defective part or a contact hole by an FIB device without having an SEM observation function.例文帳に追加

ＳＥＭ観察機能を備えないＦＩＢ装置でも、欠陥部分やコンタクトホールの中心位置を検出することが効率よく、実行できる試料断面作製方法を提供するものである。 - 特許庁