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「Inspection direction」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索
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Inspection directionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 813



例文

To provide an apparatus for inspecting articles which displays a frequency integrated value of determination frequency of an inspection result in every sorting direction of articles and the sortting direction of articles side by side on a display part.例文帳に追加

表示部に物品の振分け方向ごとの検査結果の判定回数の回数積算値を振分け方向と並べて表示する物品検査装置を提供すること。 - 特許庁

In this substrate inspection device 1, a microscope unit 32 is loaded movably on a guide member 30 parallel to the X-direction which is a conveyance direction of a substrate W.例文帳に追加

基板検査装置1は、基板Wの搬送方向であるX方向に平行なガイド部材30に顕微鏡ユニット32が移動自在に搭載されている。 - 特許庁

If bubbles are mixed into the liquid passage 35, the floodlighted inspection light L is totally reflected on the liquid contact face 35a in a direction different from the direction of going toward the light-receiving unit 33.例文帳に追加

液通路35内に気泡が混入すると、投光された検査光Lが接液面35aで受光ユニット33に向かう方向とは異なる方向に全反射される。 - 特許庁

When the contact 23 comes into contact with the electrode P for inspection, the protrusion portion 27 rotates and deflects in an opposite direction to a deflection direction of the beam 22.例文帳に追加

検査時に接触子23が電極Pと接触する際、突出部27は梁部22の撓み方向と逆方向に回転して撓むように構成されている。 - 特許庁

例文

An imaging side polarization section 12 is installed between a front surface of the inspection target and an imaging section, and passes only light vibrating in the direction orthogonal to the specified direction.例文帳に追加

撮影側偏光部12が、検査対象の表面と撮影部との間に設置され、特定方向と直交する方向に振動する光のみを通過させる。 - 特許庁


例文

During inspection of the light emitting element array 16 for Y at the time of production, integrated illuminance of each row is measured in the subscanning direction and illuminance distribution is determined in the main scanning direction.例文帳に追加

Y用発光素子アレイ16は、その製造時の検査において、副走査方向の各列の積算照度が測定され、主走査方向の照度分布が求められる。 - 特許庁

In such a manner, in a position E (photographing position) of a y-axis direction, a member of the inspection apparatus 1 does not abut to the substrate 90 over the whole width of the x-axis direction.例文帳に追加

このようにして、Y軸方向の位置E(撮像位置)においては、X軸方向の全幅に亘って検査装置1の部材が基板90に当接しない構造とする。 - 特許庁

The position of the substrate 1 loaded on the stage is moved in the direction orthogonal to the scanning direction of the inspection light 2, and thereby spots on the substrate 1, supported by the blocks 12 are changed.例文帳に追加

ステージに搭載された基板1の位置を検査光2の走査方向と直交する方向へ移動して、基板1のブロック12で支持される箇所を変更する。 - 特許庁

When the inspection camera 8 is rotated (revolved) in a counterclockwise direction shown in an arrow in Fig. 1 by the rotation of a main shaft 2 by a motor 7, the inspection camera 8 is rotated (on its axis) with this in a clockwise direction shown by an arrow in Fig. 1 according to the angle of revolution of the inspection camera 8 with the rotation of a driven shaft 7.例文帳に追加

検査カメラ8を、モータ7で主軸2を回転することにより図1中の矢印で示す反時計方向に回転(公転)させると、これに伴って当該検査カメラ8は、従軸7の回転に伴って、検査カメラ8が公転する角度に相等して、且つ、図1中の矢印で示す時計方向に回転(自転)する。 - 特許庁

例文

Belt-shaped light is radiated obliquely against the conveyance direction on the surface of an inspection object 10 conveyed in one direction, and the irradiation part on the inspection object is imaged by a linear imaging element 14 arranged similarly obliquely to obtain sequential video signals, and a surface defect of the inspection object is detected based on the video signals.例文帳に追加

一方向に搬送される被検査物10の表面に、帯状の光を搬送方向に対して斜めに照射すると共に、同じく斜めに配置したリニア撮像素子14により被検査物上の該照射部分を撮像して逐次ビデオ信号を得、該ビデオ信号に基づいて、被検査物の表面欠陥を検出する。 - 特許庁

例文

To prevent the breakage of a getting-on-and-off door and an inspection cover for opening/closing an filter inspection opening for an air-conditioning unit, by making the inspection cover automatically rotated in a closing direction from an opening position so as to escape from within an opening rotation range of the getting-on-and-off door.例文帳に追加

空調装置用のフィルタ点検用開口を開閉する点検カバーが、開放位置から閉方向へ自動的に回動して乗降用ドアの開回動範囲内から逃げるようにし、該乗降用ドア及び該点検カバーの破損を防止する。 - 特許庁

To provide a probe assembly not generating large displacement of an inspection object in the lateral direction, and not damaging a device domain, in electric inspection of the inspection object such as a semiconductor wafer having an asymmetric array pattern.例文帳に追加

非対称配列パターンを有する半導体ウエハのような被検査体の電気的検査において、該被検査体に横方向への大きな変位を生じさせることなく、しかもデバイス領域に損傷を与えることのないプローブ組立体を提供する。 - 特許庁

An inspection pattern forming part prints an inspection pattern in which straight line groups G1-G8 each composed of 32 straight lines L1-L32 arranged by an interval of 75 dpi in a main scan direction of an inkjet head extending in a paper conveyance direction are formed.例文帳に追加

検査パターン形成部が、用紙搬送方向に延在しつつインクジェットヘッドの主走査方向に75dpiの間隔で配列された32個の直線L1〜L32からなる直線群G1〜G8が形成された検査パターンを印刷する。 - 特許庁

In the inspection terminal array layer 26, data lines 22 of colors other than a designated color are coated with an insulating film 261 in a direction orthogonal to the lead-out direction of the data lines 22, and data lines 22 of the designated color is exposed as signal input terminals for inspection.例文帳に追加

検査用端子配列層26では、データ線22の引き出し方向とは直交する方向において所定の色以外のデータ線22が絶縁被膜261され、所定の色のデータ線22が検査用の信号入力端子として露出する。 - 特許庁

To provide an inspection method allowing the measurement of a position of a defect of an inspection object in the thickness direction of inspection object in a method of inspecting an optical display unit by emitting light from one direction of the optical display unit provided with an optical film, imaging a transmission optical image of the light in another direction, and detecting a bright spot from an image obtained by the imaging.例文帳に追加

その目的は、光学フィルムが設けられた光学表示ユニットの一方面から光を照射し、その他方面で当該光の透過光像を撮像し、当該撮像した画像から輝点を検出する、光学表示ユニットの検査方法において、検査対象物の欠点の、検査対象物の厚み方向の位置を測定可能とした検査方法を提供することにある。 - 特許庁

The device also has a means (8) of moving the inspection prove in a vertical direction with respect to the wiring board, a sensor which measures the contact between the inspection probe and the inspection point, and a means (15) for making the output of the sensor invalid during the accelerated or decelerated motion of the inspection probe by the moving means.例文帳に追加

また、検査プローブを配線基板に対して垂直方向に移動する手段(8)と、検査プローブと検査点との間の接触を測定するセンサーと、移動する手段により検査プローブが加速度ないしは減速度運動している間はセンサーの出力を無効とする手段(15)と、を有する。 - 特許庁

To make such a structure as to allow simple and easy assembly, fixing of a substrate from one direction, and easy inspection after work.例文帳に追加

一方向から基板の組付けおよび基板の固定が簡単且つ容易に行え、加工後の検査もし易い構造とする。 - 特許庁

Each inspection hole is arranged opposed to each contact in three rows (4 locations, 4 locations, 3 locations) in pitch direction of contacts.例文帳に追加

各検査用穴部は、コンタクトのピッチ方向に3列(4箇所と4箇所と3箇所)に各コンタクトに対向して配設されている。 - 特許庁

The slit inspection device is provided with a base 21 and a sensing pin 25 which is capable of relative displacement to the base 21 in the vertical direction.例文帳に追加

スリット検査装置は、ベース21と、このベース21と上下方向へ相対変位可能な検出ピン25を備えている。 - 特許庁

The inspection target pattern 2 has inclined structures 2sa and 2sb, each of which has a thickness changing along a direction from one end side to the other end side.例文帳に追加

被検査パターン2は、一端側から他端側に向かうにつれて厚みが変化する傾斜構造2sa,2sbを有する。 - 特許庁

Line illumination 4 having a sine wave-shaped intensity distribution is projected in the axial direction of an inspection object 3 by using an illumination unit 2.例文帳に追加

照明ユニット2を用いて、被検物3の軸方向に正弦波状の強度分布を持ったライン照明4を投影する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device capable of controlling simultaneously the moving direction and moving speed by using a mouse.例文帳に追加

マウスを用いて移動方向と移動速度を同時に制御することができるようにしたX線検査装置を提供する。 - 特許庁

A pattern illumination source irradiates a surface to be inspected of a board with light from an oblique direction to form an inspection pattern on the surface to be inspected.例文帳に追加

パターン照明源は、基板の被検査面に斜め方向から光を照射して被検査面に検査パターンを形成させる。 - 特許庁

By moving an inspection target image P in each of x axis direction, y axis direction and θ rotation direction, the degree of coincidence relative to the reference image R and the inspection target image P is calculated using a pixel value at the sparse point position, so that a positioning parameter (x, y, θ) producing the maximum degree of coincidence is obtained.例文帳に追加

検査対象画像Pをx軸方向、y軸方向、θ回転方向にそれぞれ移動させながら、基準画像R及び検査対象画像Pに対し上記スパース点の位置における画素値を用いて一致度を算出し、一致度が最大となる位置合わせパラメータ(x,y,θ)を求める。 - 特許庁

Each inspection terminal 14 is constituted from a wire rod, and each inspection terminal 14 is bent so as to have a circular arc shape fitting on the outside of one end part 18 of the insulator 15 with the line of sight along one direction A.例文帳に追加

各検査用端子14を線材で構成し、一方向Aに沿った視線でみて、各検査用端子14を絶縁体15の一端部18に外嵌する円弧形状となるよう湾曲させる。 - 特許庁

The inspection method for the surface state of the elastic roller includes a process for adjusting load so that penetrated amounts of an inspection roller in the axial direction of the elastic body roller are made equal to each other.例文帳に追加

弾性体ローラの軸方向で検査ローラの侵入量が等しくなるように荷重を調整する工程を含むことを特徴とする弾性体ローラの表面状態の検査方法 - 特許庁

Further, in order to confirm the output direction by visual inspection, a second reflecting part 33 reflects an image of a light receiving part 19a, and a visual field restricting mask 34 for performing visual inspection confirmation through a window part 36 is provided.例文帳に追加

また、出力方向を目視確認するために、受光部19aの像を第2反射部33で反射し、窓部36を通して目視確認するための視野制限マスク34を設けている。 - 特許庁

In an inspection chip 40, when a centrifugal force in a predetermined direction is applied to a specimen, the specimen which has been supplied from a specimen supply port is guided by an inspection supply passage 46 to a metering section 50.例文帳に追加

検査チップ40では、検体に所定方向の遠心力が付与された場合、検体投入口から供給された検体が検体供給路46によって計量部50へ案内される。 - 特許庁

To execute accurate electric inspection by corresponding properly to a nonlinear change of a surface even if a variation of a thickness, a warp or waviness or the like in the facial direction is generated on an inspection object substrate.例文帳に追加

検査対象基板に面方向の厚さのばらつきや反り、うねり等が生じている場合でも、その表面の非直線的な変化に適切に対応して正確な電気検査を実施する。 - 特許庁

An upper side position detector 36a detecting the relative position between the container C and the inspection device 22 along the moving direction of the truck 21 is provided at the upper position than the inspection device 22 of the upper part frame 26c.例文帳に追加

上部フレーム26cの検査装置22よりも上方位置に、台車21の移動方向に沿ったコンテナCと検査装置22との相対位置を検出する上側位置検出器36aを設ける。 - 特許庁

The inspection system also has a second source for providing a second beam of the permeable radial ray in a second beam direction, and the inspection system may have additional sources of additional beams.例文帳に追加

この検査システムは、第2ビームの方向の透過性放射線の第2ビームを提供するための第2の供給源も有し、そして、この検査システムは、さらなるビームのさらなる供給源もまた有し得る。 - 特許庁

At the time of maintenance or inspection of the process unit 13, the movable base 5 and the movement mechanism 7-2 are moved in the Y-axis direction by the predetermined distance to secure a space for the maintenance or inspection in the lower part of the process unit 13.例文帳に追加

プロセスユニット13の保守点検時に、可動ベース5と移動機構7−2をY軸方向に所定距離だけ移動して、プロセスユニット13の下部に保守点検用の空間を確保する。 - 特許庁

By masking the output of the common comparator 22, corresponding to the items of the rotational direction detection, short circuit detection, and disconnection detection, the inspection signals corresponding to the inspection items are outputted.例文帳に追加

そして,共用コンパレータ22の出力を回転方向検出,短絡検出,断線検出の検査項目に応じてマスクすることによりその検査項目に応じた検査信号を出力する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method and an ultrasonic inspection device capable of evaluating a deterioration degree of a subject, and the integrity of a surface layer part of the subject, and detecting the direction of defects with high accuracy.例文帳に追加

被検体の劣化度評価と被検体表層部の健全性評価と欠陥の方向性を高精度に検出できる超音波検査方法及び超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

Individual belt-like regions on the inspection chart 200 are read by one optical detector on a line sensor provided in a reading/inspection part 18 in accordance with reading vertical scanning by inserting the inspection chart 200 from a manual paper feed tray 14 by changing its direction by 90 degrees.例文帳に追加

この検査チャート200を、90度向きを変えて手差しトレイ14から投入することで、検査チャート200上の個々の帯状領域は、読取副走査に伴って、読取・検査部18に設けられたラインセンサ上の同じ光検出器に読み取られる。 - 特許庁

The electric inspection is carried out by supporting the peripheral edge of the inspection target plate at least in such a manner as to suppress a biasing force which is generated by the probes asymmetrically arranged due to an overdrive, and which deviates the inspection target plate along the direction of the biasing force.例文帳に追加

少なくとも、オーバードライブに伴って非対称配列の前記プローブにより生じる前記検査対象板をずらす偏倚力が作用する方向に沿って、当該偏倚力を抑えるように前記検査対象板の周縁部を支えて電気的検査を行う。 - 特許庁

A workpiece conveyance inspection system provided with a conveyance table 2 having a plurality of workpiece storage holes 4 includes: a separation supply part 6; a direction recognition part 7; a direction change part 8; an inspection part 9; and a separation discharge part 10 along the peripheral rim of the conveyance table 2.例文帳に追加

ワーク搬送検査装置は複数のワーク収納孔4を有する搬送テーブル2を備え、搬送テーブル2の周縁に沿って、分離供給部6と、方向判別部7と、方向変換部8と、検査部9と、分離排出部10とが設けられている。 - 特許庁

The inspection ROV 11 having an elongate appearance shape is propelled with the long-axis direction adjusted to the pipe length direction, and transfers an image of an inspection portion photographed by a camera from the secondary cable 12 to a control device 15 through a primary cable 14 and displays it on a display device 16.例文帳に追加

検査用ROV11は長細い外観形状で、配管長さ方向に長軸方向を向けて推進し、カメラで撮影した検査部位の画像を二次ケーブル12から一次ケーブル14を通じて制御装置15へ送り表示装置16に表わす。 - 特許庁

This inspection container is characterized by disposing peeling-guiding protruded portions comprising protruded portions 134 around the dent portions and protruded portions 135 for connecting the protruded portions 134 in a peeling-scheduling direction (longitudinal direction), and then peelably adhering a protection film 4 to close the inspection chambers.例文帳に追加

前記凹部の周囲の凸部134とこの凸部同士を連結する凸部135とで構成される引き剥がし誘導凸部を、引き剥がし予定方向(長手方向)に沿って設け、保護フィルム4を剥離可能に接着して前記検査室を密閉する。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device having a probe structure capable of increasing the number of pins and narrowing a pitch in the X-X direction and in the Y-Y direction.例文帳に追加

本発明は、X−X方向及びY−Y方向に多ピン化及び狭ピッチ化することが可能なプローブ構造を有する半導体検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The water spray head 18 is provided with a turning part for turning the water spray head 18 from a water discharge direction toward the vehicle traveling space to a water discharge direction toward the tunnel wall surface at the time of inspection.例文帳に追加

水噴霧ヘッド18には、点検時に、水噴霧ヘッド18を車両走行空間に向かう放水方向からトンネル壁面に向かう放水方向に旋回させる旋回部を設ける。 - 特許庁

The sensor board is used for the inspection of the board to be inspected, such as a glass board of a display panel, comprising a plurality of circuits extending in a second direction spaced apart in a first direction.例文帳に追加

センサ基板は、第1の方向に間隔をおいて第2の方向へ伸びる複数の電路を備える、表示用パネルのガラス基板のような被検査基板の検査に用いられる。 - 特許庁

The reverse load spring 50 applies a spring force to the speed control spring 32 in the reverse direction to the acting direction of the spring force of the speed control spring as the tool 48 for inspection is mounted on the governor.例文帳に追加

逆荷重ばね50は調速機に対する点検用治具48の取り付けに応じて、調速ばね32にそのばね力の作用方向とは逆向きのばね力を加える。 - 特許庁

An electric adjusting means, an electric inspection means and an electric connection means are arranged in an area where the component mounting parts are not superposed in the outside diameter direction and the optical axis direction, thus workability is improved.例文帳に追加

また、外径方向及び光軸方向に重ならない領域に電気的調整手段、電気的検査手段、電気的接続手段を配置することで作業性を改善する。 - 特許庁

When determined that reinspection of the specimen is necessary, the specimen conveyance device switches a conveyance direction to the opposite direction, and conveys the specimen to a position for taking the specimen into the specimen inspection device 5.例文帳に追加

また、検体の再検が必要であると判定されると、搬送方向を反対方向へと切り換えて、当該検体を検体検査装置5に取り込ませるための位置へ搬送する。 - 特許庁

This sensor for print inspection has a plurality of light receiving elements in the direction crossing the feed direction of a printing surface and receives reflected light from the printing surface via an optical lens.例文帳に追加

印刷面の送り方向を横断する方向に沿って複数の受光素子を配列し印刷面からの反射光を光学レンズを介して受光する印刷検査用センサである。 - 特許庁

The correlation wave fronts of the reference light wave and the signal light wave interfere with each other, and the form information in the deep direction of the inspection target are projected in the lateral direction on the detection surface of the optical array sensor 12.例文帳に追加

参照光波と信号光波の相関波面が干渉し、光アレイセンサ12の検出面上横方向に被検体の深さ方向の形態情報が投影される。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging device, such that leak currents between pixels which are adjacent in a row direction and a column direction can be detected, using a simple configuration and with high accuracy, and to provide an inspection method therefor.例文帳に追加

行方向及び列方向に隣接する画素間のリーク電流を簡単な構成で高精度に検出可能な固体撮像装置及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

The medical image diagnostic apparatus has a video camera changeable of a direction along the moving direction of the subject, scans it by moving it to a scan starting position based on inspection plan data, directs the video camera to the position corresponding to the face of the subject by sequence control based on the inspection plan data when the inspection plan data showing the scan condition of the subject is inputted.例文帳に追加

被検体の移動方向に沿って向きの変更が可能なビデオカメラを備え、被検体のスキャン条件を示す検査プランデータが入力されると、この検査プランデータに基づいて、被検体をスキャン開始位置に移動させてスキャンし、また検査プランデータに基づくシーケンス制御により、ビデオカメラを被検体の顔面に相当する位置に向ける。 - 特許庁

例文

In the background pattern direction calculating step ST4, the comparison of inspection data with respective comparison data is performed while moving the respective comparison data in a scanning direction and the background pattern direction of a taken image is calculated on the basis of the comparison results.例文帳に追加

背景パターン方向算出工程ST4は、検査データおよび各比較データの比較を、各比較データを前記走査方向に移動しながら行い、その比較結果に基づいて撮像画像の背景パターン方向を算出する。 - 特許庁




  
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