「specification defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

This defect detection device for the optically transparent film A includes: a defect candidate detection part 20; a presentation means 21; a selection means 22; and a defect specification means 23.例文帳に追加

光透過性フィルムＡの欠陥検出装置は、欠陥候補検出部２０、提示手段２１、選択手段２２、及び欠陥特定手段２３を備える。 - 特許庁

To execute an accurate defect fatalness evaluation, a yield prediction and a fault position specification in an in-line defect checking step.例文帳に追加

インラインの欠陥検査工程において、高精度な欠陥致命性評価、歩留まり予測、故障個所特定を行うこと。 - 特許庁

To prevent deviation of specification relating to optical characteristics of a mask blank and to prevent a pattern defect in a transfer material.例文帳に追加

マスクブランクの光学特性に係る仕様の逸脱や、被転写体のパターン欠陥を防止する。 - 特許庁

The defect detecting device sets and stores a size of a defect subject to a detection, receives a specification of a first direction where the background pattern is uniformly continued and stores it.例文帳に追加

検出対象の欠陥のサイズを設定して記憶し、背景模様が一様に連続している第一の方向の指定を受け付けて記憶する。 - 特許庁

Even when a defect occurs in the photoelectric conversion substrate 12, a radiation image fitting in a specification in relation to the defect can be acquired by cutting a part causing the generation of a defect signal.例文帳に追加

光電変換基板12で欠陥が発生した場合でも、欠陥信号を発生させる原因となっている箇所を切断することで、欠陥に関して規格内に収まる放射線画像を取得できる。 - 特許庁

Since the equipment had defect, it was used only for 2 years and later drawing (Kozaikikaizushiki) specification of equipment for judicial hanging was introduced. 例文帳に追加

だが、この処刑器具には欠陥があり、わずか2年しかつかわれず絞罪器械図式に変更された。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a radiation detector 11 capable of acquiring a radiation image fitting in a specification in relation to a defect even when the defect occurs in a photoelectric conversion substrate 12.例文帳に追加

光電変換基板12で欠陥が発生した場合でも欠陥に関して規格内に収まる放射線画像を取得できる放射線検出器11を提供する。 - 特許庁

In a defective part specification step, a resistance value between partition elements 21 adjacent to each other along the longitudinal direction L of the partition element is measured only in the partition element determined as an element with a structural defect in a defect partition specification step being a preceding step.例文帳に追加

欠陥部位特定工程では、前工程の欠陥区画特定工程において構造欠陥が存在するとされる区画素子に限って、その長手方向Ｌに沿って、隣接する区画素子２１との間の抵抗値を測定する。 - 特許庁

Thereby processing efficiency can be improved and specification of a defective level which cannot be relieved is made possible by performing defect analysis and defect relieving discrimination processing independenlty of the tester and a defect analyzing device.例文帳に追加

このように、不良解析及び不良救済判定処理をテスタ及び不良解析装置から独立して行うことで、処理効率を向上させることができ、また不良救済不可となった不良レベルの特定が可能である。 - 特許庁

To provide a specification defect verification system for operating a state transition model describing product specifications with all parameters, and for easily verifying a defect to be prevented for security.例文帳に追加

製品仕様を記述した状態遷移モデルを、全パラメータにより動作させ、セキュリティ上の起こるべきではない欠陥を、簡易に検証する仕様欠陥検証システムを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for analyzing a defect and a method therefor which enable easy specification of a defective spot of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の不良箇所を容易に特定することができる不良解析装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for analyzing a defect and a method for the same which enable easy specification of a defective spot of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の不良箇所を容易に特定することができる不良解析装置およびその方法を提供する。 - 特許庁

To efficiently carry out production management such as specification of a product number of a product with a machining defect from multiple products.例文帳に追加

多数の製品から加工不良がある製品の製品番号を特定するなど、生産管理を効率的に行なう装置を提供する。 - 特許庁

To provide a dental material characterized in high antimicrobial action and expressing no defect described in the specification.例文帳に追加

高い抗菌作用により特徴付けられ、そして本明細書中に記載される欠点を示さない、歯科材料を提供すること。 - 特許庁

To facilitate specification of a trouble caused by an inspection equipment or process by performing defect distribution state analysis based on defect data detected by the inspection equipment in the production process of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

To provide a method of discriminating an appearance defect with which, a plating cell in which an appearance defect occurs, can be promptly specified by discriminating such an appearance defect from an actual current waveform during electroplating, in place of the specification of a troubled position ( a plating cell where a defect occurred) with a determination based on experiential rules, and trial and error.例文帳に追加

経験則、試行錯誤による判断に伴う不具合箇所（不良発生めっきセル）の特定に替えて、電気めっきの際の実際の電流波形から、外観不良を判別することにより、かかる外観不良が発生しているめっきセルを迅速に特定することができる外観不良判別方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for correcting a defect part, by which a defect part is corrected and a flatness being the specification of a photomask is secured when a defect part such as a crack or chipped part is caused in the peripheral part of a glass substrate, in a glass substrate for a photomask formed of synthetic quartz or a photomask using the glass substrate.例文帳に追加

合成石英からなるフォトマス用のガラス基板や該ガラス基板を用いたフォトマスクにおいて、ガラス基板の周辺部にひび、欠けの欠陥部が生じた場合に、該欠陥部を修正でき、且つ、フォトマスクの仕様であるフラットネスを確保できる方法を提供する。 - 特許庁

A table of correlation between three-dimensional information of a glass defect 11 of the phase shift mask 10 and a CD (minute dimension) error of a transfer pattern is created and a specification in which the glass defect 11 is allowed is determined based on the table.例文帳に追加

位相シフトマスク１０のガラス欠陥１１の３次元情報と転写パターンのＣＤ（微細寸法）誤差との相関関係のテーブルを作成し、このテーブルを基にしてガラス欠陥１１の許容される仕様を決定する。 - 特許庁

A connection part between a thin-film transistor 22 of a defective pixel Pa outputting a defect signal larger than a specification of a photoelectric conversion substrate 12 and a signal wire 26 is cut.例文帳に追加

光電変換基板12の規格よりも大きい欠陥信号を出力する欠陥画素Paの薄膜トランジスタ22と信号配線26との接続箇所を切断する。 - 特許庁

To provide an LSI inspection circuit capable of realizing inspection of an LSI operated with a low voltage at high speed, without being influenced by a capacity component and a resistance component added to an external terminal, and facilitating specification of a defect sport when a defect is generated in the LSI inspection.例文帳に追加

低電圧高速動作するＬＳＩの検査を、外部端子に付加される容量成分、抵抗成分の影響を受けずに実現し、ＬＳＩ検査で不良が発生した場合、不良個所の特定を容易にするＬＳＩ検査回路を提供する。 - 特許庁

A developer sets a recording trigger event (specific operation or the like) which seems to be beneficial for the specification of the occurrence of any defect and an observation object (input/output or the like) prior to a test.例文帳に追加

開発者は、試験前に不具合発生の特定に有用であると思われる記録契機事象（特定の操作など）と観察対象（入出力など）とを設定しておく。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method, which enable potential failures and signs of abnormality to be discovered in order to prevent any defect from occurring in its market, by referring to history information in the inspection process, even in the case of an object to be inspected whose apparent operation is normal or whose characteristic meets a specification.例文帳に追加

検査時に履歴情報も参照することにより、見かけ上正常動作しているまたは規格値に入っている検査対象であっても、潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして市場での不良発生を未然に防止することができる不良検査装置および不良検査方法を提供する。 - 特許庁

A photographic printing apparatus specifies a portion of an image by a pupil specification section 33 when a color tone defect of the pupil part of a human included in the image, i.e. a red eye is corrected.例文帳に追加

写真プリント装置は、画像に含まれる人間の瞳部分の色調不良の補正、いわゆる赤目補正を行う際において、瞳特定部３３が瞳部分として画像の一部分を特定する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display element which enables product management using a panel ID and specification of the cause of a defect using a waveform monitor, and can be made small in size.例文帳に追加

パネルＩＤを用いた製品管理や、波形モニタによる不良原因の特定を行なうことができ、しかも液晶表示素子自体の小型化を図ることのできる液晶表示素子を提供すること。 - 特許庁

The SSTA executing part 5 inputs the information from the circuit net list part 1, the timing asserting part 2, the delay model part 3, and the variable factor statistical information part 4, executes statistical timing analyses, and calculates the defect probability of the semiconductor integrated circuit chip, from a variation reference specification table, generated in advance.例文帳に追加

ＳＳＴＡ実行部５は回路ネットリスト部１、タイミングアサーション部２、遅延モデル部３、及び変動要因統計情報部４から情報を入力し、統計的タイミング解析を実行し、予め作成されたバラツキ基準仕様表から半導体集積回路チップの不良確率を算出する。 - 特許庁

The defects of a plurality of steel materials are detected with the positions, and stored as defect data, and cutting specification data related with the ordering of steel materials are stored, and a yield rate is calculated by using those data, and the sets of a plurality of base materials and a plurality of orders are selected and decided by using the yield rate.例文帳に追加

複数の鋼材の欠陥を位置と共に検出して欠陥データとして記憶しておくと共に、鋼材の注文に係る切断仕様データを記憶しておき、これらデータを用いて歩留率を算出し、この歩留率を用いて複数の母材と複数の注文の組を選択決定する。 - 特許庁

By this arrangement, the real time data are recorded and/or reproduced in such a manner that the linear substitution is not performed when the real time data are recorded while keeping the interchangeability with the defect control method decided by the present specification of DVD-RAM, i.e., information the presence of a block not subjected to linear substitution.例文帳に追加

これにより、現在のDVD−RAM規格で定まっている方法による欠陥管理方法と互換性を維持しながら即ち、線形置換されないブロックがあるということを知らせるようにしながら、リアルタイムデータを記録する場合には線形置換しないことによってリアルタイムデータが記録及び／または再生できる。 - 特許庁

When the CPU 11 determines that the 6σ data range of the p-th lot, out of the 6σ data ranges of first to tenth lots, is determined to be out of a predetermined specification width, it issues warning using a display 18, and displays a time at which a defect can occur in the products on the display 18 using the value of p.例文帳に追加

ＣＰＵ１１は、１番目から１０番目までのロットの６σデータ範囲のうち、ｐ番目のロットの６σデータ範囲が、所定の規格幅から外れると判断したとき、ディスプレイ１８を用いて警告を発生するともに、ディスプレイ１８に製品に不具合が発生すると予測される時期をｐの値を用いて表示する。 - 特許庁

The ink discharge device is provided with a contour specification means and a timing control means, the contour specifying means specifies the contour part of a region (defect pixel 17) to be colored and the timing control means controls the ink-jetting timing of an ink discharge means (ink-jetting part 2) so as to make ink drops 16 land at least on the specified contour part.例文帳に追加

輪郭特定手段およびタイミング制御手段を備え、輪郭特定手段が、着色すべき領域（欠陥画素１７）の輪郭部分を特定し、タイミング制御手段が、すくなくとも上記特定された輪郭部分にインク滴１６を着弾させるように、インク吐出手段（インク吐出部２）によるインク吐出のタイミングを制御する。 - 特許庁

To provide a method and system for setting the destination of a microcomputer by which electronic equipment to be controlled by various specification is surely operated by switching and setting extended specifications added with the most extended functions among the various specifications even when any significant defect is generated since the pin of the select port of the microcomputer comes off a substrate due to any factor.例文帳に追加

本発明は、何等かの原因によりマイコンのセレクトポートのピンが基板から外れる等して重大な欠陥が生じた場合であっても、各仕様の内の最多の拡張機能が付加された拡張仕様に切換え設定するようにして、各仕様で制御する電子機器を確実に動作させることができるマイコンの仕向設定方法およびマイコンの仕向設定システムを提供するものである。 - 特許庁