意味 | 例文 (82件) |
cross section observationの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 82件
To provide a method that has a means for easily and rapidly removing a machining damage layer, remaining on the observation surface of a sample for cross-section observation and prepares the sample, capable of precisely executing a two-dimensional carrier distribution measurement.例文帳に追加
断面観察用試料の観察面に残存する加工ダメージ層を簡単かつ迅速に除去する手段を備え、2次元キャリア分布測定を精度よく実施することが可能な断面観察用試料を作製する方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a focused ion beam device that allows machining and efficient observation of a specimen while securing machining accuracy even in machining of a large cross-section of an electronic component or the like, and a specimen machining method.例文帳に追加
電子部品などの大断面加工においても、加工精度を確保しつつ効率良く観察し、加工することが可能な集束イオンビーム装置、及び、試料の加工方法を提供する。 - 特許庁
Projections by the roughening particles are preferably distributed approximately uniformly so that 6-35 projections 1-5 μm high are distributed in a range of an observation cross section of 25 μm.例文帳に追加
粗化粒子による突起物は、その高さが1μm〜5μmの突起物が観察断面25μmの範囲に6〜35個の個数で、略均等に分布しているものがこのましい。 - 特許庁
An irradiation axis of an FIB irradiation system 16 and an irradiation axis of a STEM observation electron beam irradiation system 5 are made almost orthogonal, and the sample 7 is arranged at the intersection position and the FIB cross-section working face of the sample is made a thin-film face of the STEM observation sample.例文帳に追加
FIB照射系16の照射軸とSTEM観察用電子ビーム照射系5の照射軸をほぼ直交させ、その交差位置に試料7を配置して、試料のFIB断面加工面をSTEM観察用試料の薄膜面にとる。 - 特許庁
When the length of perpendiculars drawn from the centers of the exit pupils of two observation optical systems to the normal cross section of the center of the image display element is defined as EW, it satisfies [27≤EW≤35].例文帳に追加
2つの観察光学系の射出瞳中心から画像表示素子中心法線断面に下ろした垂線の長さをEWとした時、[27≦EW≦35]を満たす画像観察装置。 - 特許庁
In morphological observation of the membrane cross-section by an electron microscope, the width of the lamella structure composed of the polymer segment (B) to form the micro-phase separation structure shows that it is in the range of 5-200 nm.例文帳に追加
膜断面の電子顕微鏡によるモルフォロジー観察において、ミクロ相分離構造を形成するポリマーセグメント(B)からなるラメラ構造の幅が、5〜200nmの範囲にあることを示す。 - 特許庁
An adhesive is applied to the surface to be observed of a material (a), which is a cross section sample for microscopic observation, and this coated material (a) is bonded to a material (dummy material) (b) same to the material (a) or having hardness which is about the same as that of the material (a) (i).例文帳に追加
顕微鏡観察用断面試料である材料(a)の、観察される表面に接着剤を塗布し、材料(a)と同じか、硬度が同程度である材料(ダミー材料)(b)と貼り合わせる(i)。 - 特許庁
When an arbitrary observation viewing field is taken within 1,000 nm×1,000 nm in the cross section of this Cu-Ag alloy wire, the area ratio of crystalline precipitate, in which a maximum length of a straight line that cuts the crystalline precipitate does not exceed 100 nm, is at least 40%, in the crystalline precipitate of Ag existing in the observation viewing field.例文帳に追加
このCu-Ag合金線の断面において1000nm×1000nm以内で任意の観察視野をとったとき、この観察視野中に存在するAgの晶析出物のうち、晶析出物を切断する直線の最大長さが100nm以下である晶析出物の面積率が40%以上である。 - 特許庁
To provide an apparatus and a method for observing the processing of a minute sample where the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction can be performed with a high resolution, high precision and high throughput, without breaking a wafer being the sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a device for processing and observing a microscopic sample and a method for processing and observing the same, whereby the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross-section can be performed with high resolution, high precision and high throughput from various directions from horizontality to verticality without breaking a wafer used as a sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
The observation device 100 includes a sample holder 8 for holding a sample P, a blade 7 for cutting the sample P and sequentially forming a new cross-section, an optical system 3 having a first objective 11 and a second objective 12, and an electronic camera 2 for capturing an image of the cross sections of the sample P.例文帳に追加
観察装置100は、サンプルPを保持するサンプルホルダー8と、サンプルPを切断し、順次新たな切断面を形成するブレード7と、第1の対物レンズ11及び第2の対物レンズ12を有する光学系3と、サンプルPの切断面を撮像する電子カメラ2とを有する。 - 特許庁
Thereby, it becomes easy to confirm re-crystallized grains formed over the bonded surface between the Au fine crystal film and the Au bump by enlarging the cross section of a first electrode and the Au bump for observation and the quality is determined.例文帳に追加
これにより第1電極とAuバンプの断面を拡大観察し、Au微細結晶膜とAuバンプとの接合面を渡って形成された再結晶粒を確認することが容易になり、良否判定を行うことができる。 - 特許庁
Snow coverage cross section information indicating the distribution of the amount of snow coverage over the entire width of a road 11 is detected by a fallen snow sensor 13 at an observation site 1 that is arranged at a road network and is transmitted to a construction office 3.例文帳に追加
道路網に配置した観測場所1で、積雪センサ13により道路11の全幅員にわたる積雪量分布を示す積雪断面図情報を検出して、土木事務所3に送信する。 - 特許庁
This method of preparing a cross-sectional specimen for microscopic observation is characterized in that a specimen is not embedded in resin, etc. but directly fixed to a specimen arm when cutting off the specimen by using ultramicrotome, the specimen is cut off with a knife boat not filled with liquid such as water, and a cross section formed on the specimen block side by the cutting is used for microscopic observation.例文帳に追加
ウルトラミクロトームを用いて試料を切断する際、試料を樹脂等に包埋せず直接試料アームに固定し、ナイフボートには水等の液体を満たさない状態で前記試料を切断し、この切断によって形成された試料ブロック側の断面を顕微鏡観察に用いることを特徴とする顕微鏡観察用断面試料の作成方法。 - 特許庁
To provide a minute sample processing/observing device and a minute sample processing/observing method, which execute cress section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
In this river observation document preparing system, calculation conditions set for the purpose of calculating numerical values are stored in a calculation condition data base CD, and according to these calculation conditions, data related to river flow rate generated from river observation data and cross section data are stored in an observed flow data base FD.例文帳に追加
この発明による河川観測書類作成システムでは、数値算出のために設定された計算条件が計算条件データベースCDに格納され、この計算条件に従い河川観測データ乃至断面データから生成された河川流量関係データが観測流量データベースFDに格納される。 - 特許庁
This observation sample is used for observing the cross section of the inorganic porous body by using electron microscopy, and the pores of the inorganic porous body are filled with a metal of secondary electron emission rate which is higher than that of the inorganic porous body.例文帳に追加
無機多孔体の断面を電子顕微鏡で観察するための観察試料であって、前記無機多孔体よりも二次電子放出率の高い金属が前記無機多孔体の細孔に充填されていることを特徴とする。 - 特許庁
To provide an ion beam processing-observing technology in which, in a technology for observing a cross-section of an electronic component, a test piece is processed and an observation of the processed portion of the test piece can be made possible by using ion beam taken out of a same ion source.例文帳に追加
電子部品の断面を観察するための技術において、同一のイオン源から引き出したイオンビームを用いて、試料を加工し、試料の被加工部分の観察を可能にするイオンビーム加工・観察技術を提供する。 - 特許庁
The highly oriented graphite layered sheet is obtained from a polyimide film having ≤20 ppm/°C coefficient of linear expansion in the range of 20-200°C, has a graphite layered structure by cross-section observation with a SEM and has 1-50 μm thickness.例文帳に追加
20〜200℃における線膨張係数が20ppm/℃以下であるポリイミドフィルムから得られ、SEMによる断面観察によってグラファイト層状構造を有し、厚みが1〜50μmである高配向グラファイト層状シ−ト物。 - 特許庁
Since the images of the intermediate regions show the shapes of the oblique surfaces in the wiring patterns forming a trapezoidal cross section, the detection of the wiring patterns such as shorts f1, breaks f2 or the like can be performed in an extremely easy manner by the visual observation of the intermediate regions.例文帳に追加
中間領域の画像は、断面が台形をなす配線パターンにおける斜面の形状を表すので、中間領域の目視観察により、ショートf1、欠けf2等の配線パターンの検出が極めて容易に行える。 - 特許庁
In the protrusion 5, a plurality of foams 3 with the maximum diameter acquired by cross-section observation in a range of 50-300 μm are formed and a large number of fine holes 4 with the maximum diameter in a range of 1 to 10 μm are formed between the foams 3.例文帳に追加
凸部5には、断面観察における最大径が50μm〜300μmの範囲の複数の気泡3が形成されており、気泡3の間に最大径が1μm〜10μmの範囲の多数の細孔4が形成されている。 - 特許庁
To provide an electron microscope holder having high X-ray detection efficiency even in an EDX analysis by an X-ray analyzer of a low angle for extracting a sample for TEM observation in cross section produced by the FIB processing and to provide a spacer for use therefor.例文帳に追加
FIB加工により作製した断面TEM観察用試料の、低取り出し角のX線分析器によるEDX分析においても、高いX線検出効率を有する電子顕微鏡ホルダー及びこれに用いるスペーサーを提供する。 - 特許庁
The electrons accumulated by irradiation of electron rays when the observation surface 107 of the body to be observed 105 is observed by SEM is released, and thus a disorder of a cross section image due to charge-up is inhibited.例文帳に追加
被観察体105の観察面107をSEM観察する際の電子線の照射により蓄積された電荷を効率的に導電体103に逃がすことができるため、チャージアップによる断面像の乱れを抑制することができる。 - 特許庁
The zinc-base-plated steel sheet has an oxide layer existing on at least one side of the surface of the plated layer, which has a bulk height of 100-2,000 nm when measured through observation for the cross section and has 3Zn(OH)_2-ZnSO_4-xH_2O.例文帳に追加
少なくとも一方の面のめっき層表面に、断面観察から測定される嵩高さが100〜2000nmの3Zn(OH)_2・ZnSO_4・xH_2Oを有する酸化物層が存在することを特徴とする亜鉛系めっき鋼板。 - 特許庁
The photosensitive resin composition has a sea-island structure comprising sea and island parts in which two phases different from each other in horizontal force are present in cross-section observation with a horizontal force microscope (LFM) and ≥60% of the island part has ≤4 μm2 average domain area.例文帳に追加
水平力顕微鏡(LFM)で断面観察した場合、水平力の異なる相が二相存在する、海部分と島部分とからなる海島構造であり、前記島部分の60%以上がドメイン平均面積を4μm^2以下とする感光性樹脂組成物。 - 特許庁
To form the cross section of an ink transfer part by a focusing ion beam device, in the observation of the transfer and penetration of the ink transferred to a printed matter wherein ink is printed on paper or a written matter written by using a ball point pen or a marking pen, to observe the same by an electron microscope or an electron probe microanalyser.例文帳に追加
紙に印刷された印刷物や、ボールペンやマジックなどを用いて筆記された筆記物に転移したインキ等の転移及び浸透状態を、集束イオンビーム装置等により断面を作製し、該断面を電子顕微鏡或いはエレクトロンプローブマイクロアナライザーにより観察する。 - 特許庁
When an Si single crystal ingot is manufactured by CZ method, the concentration distribution of atomic vacancies, which are on a cross section of the Si single crystal ingot previously grown, is detected by direct observation of atomic vacancies, the obtained concentration distribution is fed back for the subsequent pulling process, and the speed profile of the subsequent pulling is adjusted.例文帳に追加
CZ法によるSi単結晶インゴットの製造に際し、先行して育成されたSi単結晶インゴットの横断面における原子空孔の濃度分布を、原子空孔の直接観測法によって検出し、それを後続の引き上げ処理にフィードバックして、後続の引き上げにおける速度プロファイルを調整する。 - 特許庁
The apparatus is provided with a seawater introducing pipe 2 to take seawater, a marine life adhesion chamber 4 having a flow channel cross-section larger than that of the seawater introducing pipe 2 and furnished with a transparent observation window 3 at one side wall, and a seawater discharging pipe 5 to discharge the seawater introduced into the adhesion chamber 4.例文帳に追加
海水を導入する海水導入配管2と、前記海水導入配管2の流路断面よりも広い流路断面を有し、一側壁を透明の観察窓3にした生物付着室4と、前記生物付着室4に導入された海水を排出する海水排出配管5とを備えたものである。 - 特許庁
To provide a solder joining quality inspecting method for securing a joining area and a joining strength of electrodes even when solder is joined to a flexible substrate with high flexibility and reducing a cycle time and a cost since a tension test and a cross section observation test in 100% inspections on a joined specimen and sampling inspection at every prescribed period become unnecessary, and to provide a solder joining apparatus.例文帳に追加
柔軟性が高いフレキシブル基板にはんだ接合を行う場合でも、電極どうしの接合面積や、接合強度を確保することができ、接合した試験体に対して行う全数検査における引張試験や断面観察試験や、一定期間ごとの抜き取り検査が不要となるため、サイクルタイムやコストを低減させることのできる、はんだ接合品質検査方法、及び、はんだ接合装置を提供する。 - 特許庁
The present invention relates to the electromagnetic wave-shielding materials 10 including a transparent substrate 1 and a projection pattern layer 2 composed of a conductive composition formed in a prescribed pattern on the transparent substrate 1, wherein the conductive composition contains conductive particles and a binder resin, and in observation of a transverse cross section of the projection pattern layer 2 by electron microscopic photography, at least a part of the conductive particles has a fused continuation.例文帳に追加
透明基材1と、透明基材1上に所定のパターンで形成された導電性組成物からなる凸状パターン層2を有する電磁波シールド材10であって、該導電性組成物は導電性粒子とバインダー樹脂を含んでなり、凸状パターン層2の横断面の電子顕微鏡写真による観察において、該導電性粒子の少なくとも一部が融合した連なりを有する。 - 特許庁
With respect to an Al alloy member for open rack vaporizer provided with the Al-Zn sprayed coating on a surface of an Al alloy base material, pores existing near an interface of the base material and the sprayed coating, of the sprayed coating are impregnated with a filler including carbon so that a carbon of 0.3 mass% or more is detected as a result of cross-section observation by EPMA.例文帳に追加
Al合金基材の表面にAl−Zn溶射皮膜が形成されているオープンラックベーパライザ用のAl合金部材であって、この溶射皮膜は、少なくとも、基材と溶射皮膜との界面近傍に存在する気孔においては、EPMAによる断面観察結果として、0.3質量%以上の炭素が検出されるように、炭素を含む充填剤によって含浸処理がなされていることを特徴とするAl−Zn溶射皮膜含有Al合金部材である。 - 特許庁
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