「defect discrimination」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The device is also characterized by determining the defect generation cause by performing defect discrimination from frequency component information of the defect signals.例文帳に追加

この欠陥信号の周波数成分情報から、欠陥弁別をおこない欠陥の発生原因を判定する。 - 特許庁

LENS, OPTICAL PICKUP, OPTICAL DISK DRIVE AND TRANSFER DEFECT DISCRIMINATION METHOD例文帳に追加

レンズ、光ピックアップ、光ディスク装置及び転写不良判別方法 - 特許庁

A discrimination method by a threshold is used for defect detection as hitherto.例文帳に追加

欠陥の検出には、従来同様、閾値による判別手法を用いる。 - 特許庁

A discrimination number is imparted respectively to each common defect, and existence of a common defect corresponding to the discrimination number is determined relative each substrate.例文帳に追加

各共通欠陥にそれぞれ識別番号を付与しておき、各基板毎に識別番号に対応する共通欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

To improve discrimination between normality and defect of a device, and heighten yield.例文帳に追加

デバイスの正常及び欠陥の識別を改善し、歩留りを高める。 - 特許庁

To provide a defect discrimination device and a defect discrimination method capable of effectively discriminating a kind of an irregularity defect which has generated on a surface of a sheet-like material with light permeability, and a sheet-like material which has been discriminated for defect.例文帳に追加

光透過性を有するシート状物表面に生じた凹凸欠陥の種類を効果的に判別できる欠陥判別装置、欠陥判別方法、及び欠陥判別されたシート状物を提供する - 特許庁

Then, a generation cause of the common defect is specified from a common defect distribution corresponding to the discrimination number.例文帳に追加

そして、識別番号に対応する共通欠陥分布から、当該共通欠陥の発生原因を特定する。 - 特許庁

In fatal defect automatic extracting processing, X line relief discrimination processing and Y line relief discrimination processing are continuously performed, X line relief discrimination processing is performed considering defect in the direction of Y line, Y line relief discrimination processing is performed considering defect in the direction of X line.例文帳に追加

致命不良自動抽出処理は、Ｘライン救済判定処理及びＹライン救済判定処理を連続して行い、Ｘライン救済判定処理はＹライン方向の不良を考慮して行い、Ｙライン救済判定処理はＸライン方向の不良を考慮して行われる。 - 特許庁

The detected defect signals are transmitted to defect discrimination devices 13a, 13b, and each frequency component thereof is calculated.例文帳に追加

さらに、検出された欠陥信号は、欠陥弁別装置１３ａ、１３ｂに送られ、その周波数成分が計算される。 - 特許庁

Discrimination between the VC defect and the surface defect is enabled by paying attention to the difference between displacement of a VC defect generation position to a hole pattern and displacement of a surface defect generation position, to thereby enable classification into each defect.例文帳に追加

穴パターンに対するＶＣ欠陥発生位置のずれ量と表面欠陥発生位置のずれ量との違いに着目することで，ＶＣ欠陥と表面欠陥とを弁別することを可能にし、それぞれに分類するようにした。 - 特許庁

To improve the efficiency of defect discrimination processing of a semiconductor memory and to specify a defective part.例文帳に追加

半導体記憶装置の不良判定処理の効率向上、及び不良箇所の特定を可能とする。 - 特許庁

To provide a leakage flux flaw detection method and a leakage flux flaw detection device having a defect discrimination function for determining a defect generation cause.例文帳に追加

欠陥の発生原因を判定する欠陥弁別機能を有する漏洩磁束探傷法および漏洩磁束探傷装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Resultantly, a state is acquired, wherein the discrimination number corresponding to the common defect is imparted only to a substrate determined that the common defect exists thereon.例文帳に追加

その結果、当該共通欠陥が存在すると判定された基板のみに、当該共通欠陥に対応する識別番号が付与された状態となる。 - 特許庁

To discriminate a defect generated on a rolled film according to its characteristics, and to execute defect detection accurately and surely without erroneous-discrimination.例文帳に追加

ロール状フィルムに生じる欠陥をその特性に応じて判別できるようにして、誤判別することなく、正確、かつ確実に欠陥検出できるようにする。 - 特許庁

The defect pixel detection section 112b conducts defect pixel discrimination on the basis of priority, where defect pixel objects resident adjacent to each other with lower priority are not discriminated to be defective.例文帳に追加

欠陥画素検出部１１２ｂでは、複数の欠陥画素候補が隣接した場合には優先順位の低いものは欠陥と判定しないという、優先度に基づく欠陥画素判定が行われる。 - 特許庁

A phase difference is determined by comparing each waveform, and discrimination of an optional machine defect which may exists can be supported.例文帳に追加

これら波形を比較して位相差を決定し、存在するかもしれない任意のマシン欠陥の識別を支援できる。 - 特許庁

To detect a low and flat LAD (large area defect) through discrimination from particles in the surface test of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハの表面検査において、高さが低くフラットなLAD（広域欠陥）をパーティクルから区別して検出する。 - 特許庁

Thereby processing efficiency can be improved and specification of a defective level which cannot be relieved is made possible by performing defect analysis and defect relieving discrimination processing independenlty of the tester and a defect analyzing device.例文帳に追加

このように、不良解析及び不良救済判定処理をテスタ及び不良解析装置から独立して行うことで、処理効率を向上させることができ、また不良救済不可となった不良レベルの特定が可能である。 - 特許庁

Then a defect rate of residual degenerartion FBM is collated with a defective shape discrimination rule, and a defective shape is specified.例文帳に追加

そして、残りの縮退ＦＢＭについての不良率を不良形状判定ルールと照合して不良形状を特定する。 - 特許庁

To eliminate a disk discrimination information area in a disk, by using defect address information recorded in a defect information area of the disk to discriminate the disk, with respect to disk discrimination information which has been conventionally recorded in a management area of the disk.例文帳に追加

ディスクの管理領域に従来記録されていたディスク識別情報について、ディスクの欠陥情報領域に記録されている欠陥アドレス情報を利用することによってディスク識別を行ってディスク内でディスク識別情報領域を無くすること。 - 特許庁

In a defect detection processing part 7, the difference in pixel value units, between the inspection object image 6a and the reference image 6b decomposed into space elements, is determined based on the detection gradation threshold set in a defect discrimination condition file 8, and thereby defect is detected.例文帳に追加

欠陥検出処理部７においては、欠陥判別条件ファイル８に設定されている検出諧調閾値を基に、空間要素に分解した被検物体像６ａとリファレンス画像６ｂの画素値単位に相違を求め、欠陥を検出する。 - 特許庁

Then, for example, defect discriminating information is recorded in the alternated packet, and alternation discrimination information is recorded in the alternating packet (S013).例文帳に追加

そして、例えば交替元のパケットに欠陥識別情報を記録し、また交替先のパケットに交替識別情報を記録する（Ｓ０１３）。 - 特許庁

A nondefective/defective discrimination section 9 reads the fail/pass signal written in the defect analysis memory 8 to discriminate the propriety of the tested sample 2.例文帳に追加

良／不良判定部９は、不良解析メモリ８に書き込まれたフェイル／パス信号を読み出して被試験試料１２の良／不良を判定する。 - 特許庁

This defect relieving means comprises preventing an inverse current for a latch power source, non-conduction of a transistor for discrimination, discrimination by a forced setting circuit (7), inversion of latch data, change of a current detector, and the like.例文帳に追加

この不良救済手段としては、ラッチ電源の逆流防止、判定用トランジスタの非導通化、強制設定回路（７）による判定、およびラッチデータの反転および電流検出器の交換などを含む。 - 特許庁

The device is also characterized by heightening defect discrimination accuracy by combining the frequency component information with the intensity/ratio/differential value of leakage flux signals having different magnetization conditions and the length/width/area or the like of the defect signals.例文帳に追加

また、周波数成分情報と、磁化条件の異なる漏洩磁束信号の強度・比・差分値、欠陥信号の長さ・幅・面積等とを組み合わせることで、欠陥の弁別精度を上げることができる。 - 特許庁

To provide a device for assisting inspection of a defect in casting can improve discrimination precision in the kind of internal defect of casting by aligning blowhole models before and after heat treatment, and a method therefor.例文帳に追加

加熱処理前、後の鋳巣モデルの位置合わせを行うことにより鋳造品の内部欠陥の種類の判別精度向上を図ることができる鋳造内部欠陥検査支援装置及び方法を提供する。 - 特許庁

A system control section 18 controls defect discrimination and interpolation processing of a signal processing section 36 of a digital camera 10 to compensate data with respect to a defective pixel.例文帳に追加

ディジタルカメラ10は、システム制御部18により信号処理部36に対する欠陥判定、補間処理の制御を受けて、欠陥画素に対するデータ補償を行う。 - 特許庁

To avoid loss of learning processing time based on registration of incorrect teacher data, in a defect type discrimination system having a neural network.例文帳に追加

この種のニューラルネットワークを有する欠陥種別判別システムにおいて、誤った教師データを登録することに基づく学習処理時間のロスを回避すること。 - 特許庁

To provide a printing method having an inspecting and modifying technique which does not require a high-level defect discrimination system, can easily correct a high-precision defect and hardly causes the loss of a substrate to be printed when forming a defect-free image pattern on the substrate to be printed by using a printing process.例文帳に追加

印刷法を用いて被印刷基板に欠陥のない画像パターンを形成するに当たり、高度な欠陥識別システムが不要で、容易に高精度な欠陥修正が可能で、被印刷基板のロスが少ない検査・修正技術を備える印刷方法を提供する。 - 特許庁

To discrimination-determine a kind and a place of abnormality generated in a pattern formed periodically, and to determine a defect while taking the significance of the abnormality into account.例文帳に追加

周期性をもって形成されたパターンに発生した異常の種類や場所を判別することができ、その異常の重要度を考慮して欠陥判定できるようにする。 - 特許庁

A signal detection circuit 211 and a controller 212 receive a signal from an imaging element and determine a pixel with a signal level in excess of a prescribed defect discrimination level to be a defective pixel.例文帳に追加

信号検出回路２１１とコントローラ２１２は、撮像素子からの信号を受信し、所定の欠陥判定レベルを越える信号レベルの画素を欠陥画素と判定する。 - 特許庁

A piercing discrimination means 11, which generates an action defect signal when a voltage level of the induction voltage induced to the coil does not reach a prescribed level, is additionally provided.例文帳に追加

このコイルに誘起された誘起電圧の電圧レベルが所定レベルに到達しない場合に動作不良信号を発生する穴あけ判断手段１１を付属させる。 - 特許庁

In step S1, a defect detection processing for extracting the ordinates of a new defect and a detection size by a prescribed process is performed, after a prescribed process by using an area reducing function of an inspection device, and in step S3, existence of a new defect is determined in chip unit by a discrimination condition validating all detected new defects.例文帳に追加

ステップＳ１で、検査装置の面積縮小機能を用いて所定の工程後に所定の工程による新規欠陥の座標及び検出サイズを抽出する欠陥検出処理を行い、ステップＳ３で、検出されたすべての新規欠陥を有効とする識別条件で新規欠陥の有無をチップ単位に判定する。 - 特許庁

Adjustment by human hand is facilitated and reflection of knowledge about the defect other than the sample data of the defect is enabled by using discrimination by a logic table in which discriminating conditions are specified by every kind of defects.例文帳に追加

判別手段として、各欠陥の種類毎に判別条件を明記したロジックテーブルによる判別を用いることで、人間の手による調整が容易となり、欠陥のサンプルデータ以外の欠陥に関する知識を反映させることを可能にする。 - 特許庁

To enable displaying a test discrimination result of defect of each unit of mixed LSIs incorporated in a plurality of memory units and/or a logic circuit units.例文帳に追加

複数のメモリユニット及び／又は論理回路ユニットを搭載した混載ＬＳＩの各ユニットの不良の検査判別結果を、最小限のアドレスサイズで１つのビットマップで表示可能とする。 - 特許庁

A controller 19 makes discrimination that the servo error signal is fluctuated by a defect when the servo error signal exceeds the prescribed threshold and when the fluctuation of the error signal fluctuation rate is large.例文帳に追加

コントローラ１９は、サーボエラー信号が所定の閾値を越え、かつ、エラー信号変動速度の変動が大きい場合、サーボエラー信号がディフェクトによって変動したものであると判別する。 - 特許庁

Thus, since the class of the defect is discriminated by clustering processing based on the feature value calculated from the information of the differential, in comparison with a case where an operator discriminates a defect class by individually and qualitatively inspecting the output image, for example, discrimination accuracy is not affected by operator's superior/inferior capability of estimating the defect class.例文帳に追加

この構成によれば、差分の情報から算出した特徴値に基づいてクラスタリング処理により欠陥種別を判定するため、例えば、オペレータが個別的かつ定性的に出力画像を検査して欠陥種別を判別する場合と比べて、判別精度がオペレータの欠陥種別を推測する能力の優劣に影響を受けることがない。 - 特許庁

Defect discrimination circuits 11R, 11G, 11B for each color discriminate whether or not processing target pixels R11, G11, B11 are defective on the basis of pixel values of the processing target pixels R11, G11, B11 for each color and pixel values of the surrounding pixels and generate discrimination signals SR, SG, SB.例文帳に追加

各色の欠陥判定回路１１Ｒ，１１Ｇ，１１Ｂは、各色の処理対象画素Ｒ１１，Ｇ１１，Ｂ１１の画素値及び周辺画素の画素値に基づいて処理対象画素Ｒ１１，Ｇ１１，Ｂ１１に欠陥があるか否かを判定し、判定信号ＳＲ，ＳＧ，ＳＢを生成する。 - 特許庁

To solve the problem wherein, when inspecting a defect by an image acquired by imaging a surface of a polycrystal silicon wafer such as a solar cell wafer by an imaging device, a pattern of a crystallite of the silicon wafer is imaged in a normal visible light illumination, and thereby discrimination from a defect existing on the surface is difficult.例文帳に追加

太陽電池ウェーハなどの多結晶シリコンウェーハの表面を撮像装置で撮像した画像によって欠陥検査を行う場合、通常の可視光照明では、シリコンウェーハの結晶体の模様が撮像されて、表面にある欠陥との判別が困難である。 - 特許庁

To provide a board for a display device that comprises wiring for repair to restore disconnection defect occurring in a data bus line, actualizes a repaired data bus line when the wiring for repair is short-circuited, and easily performs discrimination with line defect occurring due to another cause, and to provide a liquid crystal display panel and device as well as a defect inspection method of wiring for repair.例文帳に追加

本発明は、データバスラインに生じた断線欠陥を修復するリペア用配線を備え、リペア用配線が短絡した場合にはリペア処理を施したデータバスラインを顕在化させ、他の原因で生じる線欠陥との識別を容易に行える表示装置用基板、液晶表示パネル及び液晶表示装置並びにリペア用配線の欠陥検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Therefore, erroneous discrimination in the relative moving direction between an information reading beam and a recording medium caused by defect is previously prevented, and braking operation can be surely performed at the time of pulling in a tracing loop.例文帳に追加

したがって、欠陥に起因する情報読取ビームと記録媒体との相対的な移動方向の誤判別を未然に防止することとなり、トラッキングループへ引き込む際の制動動作を確実に行うことができる。 - 特許庁

To provide a method and a device for correcting a mask defect which realize the reduction of liquid chemicals for use in washing and the facilitation of discrimination between foreign matters and black defects to thereby realize efficient correction of mask defects with a high reliability.例文帳に追加

洗浄に使用する薬液を減少させることができ、かつ、異物および黒欠陥の判定を容易にして、効率的かつ信頼性のあるマスク欠陥修正装置およびマスク欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

An optical information recording and reproducing apparatus using holography includes an optical pickup, a phase conjugate optical system, a disc cure optical system, and a defect discrimination optical system; and an optical detector that receives light emitted from the defect discrimination optical system and transmitted through or reflected from an optical information recording medium.例文帳に追加

そのため、光情報記録媒体についたゴミや傷、もしくは光情報記録媒体の内部にある、気泡や不純物等の欠陥の有る位置で記録や再生を行おうとすると、欠陥や光情報記録媒体、光情報記録再生装置による光の拡散、反射により記録再生位置近辺の記録媒体が変質してしまい記録可能量の低下といった影響を与えてしまう、そのため欠陥部分での記録や再生は情報記録媒体の信頼性を低下させる。 - 特許庁

In an image processing device 4, two-dimensional fast Fourier transformation processing is executed by a two-dimensional fast Fourier transformation processing part 10, relative to an original image imaged by the image input device 3, and existence of a defect of the rolled film is discriminated by a defect discrimination part 15, based on the processing result of the two-dimensional fast Fourier transformation processing part 10.例文帳に追加

そして、画像処理装置４が、その２次元高速フーリエ変換処理部１０によって画像入力装置３により撮像された原画像に対して２次元高速フーリエ変換処理を行ない、欠陥判別部１５によって２次元高速フーリエ変換処理部１０の処理結果に基づいてロール状フィルムの欠陥の有無を判別する。 - 特許庁

The inspection process time can be reduced, because an image processing part 120 including a defective pixel determination part 127 and a back foreign matter determination part 128 is required only discrimination a defect portion corresponding to some of the back foreign matter, the inside foreign matter and the defective pixel.例文帳に追加

不良画素判定部１２７と裏面異物判定部１２８とを含む画像処理部１２０は、裏面異物、内部異物、または、不良画素のうちの何れかに対応する欠陥部位を識別すればよいので、検査タクトが少なくてすむ。 - 特許庁