例文 (388件) |
evaluation sampleの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 388件
SAMPLE EVALUATION METHOD AND SAMPLE EVALUATING DEVICE例文帳に追加
試料評価方法及び試料評価装置 - 特許庁
To raise the precision of structural analysis of evaluation patterns by making a thin filmlike evaluation sample surely contain the evaluation patterns, and moreover thinning the membrane of the evaluation sample.例文帳に追加
薄膜状の評価サンプルに確実に評価パターンを含ませるようにする。 - 特許庁
CROSS SECTION EVALUATION DEVICE OF SAMPLE AND CROSS SECTION EVALUATION METHOD OF SAMPLE例文帳に追加
試料の断面評価装置及び試料の断面評価方法 - 特許庁
EVALUATION DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE SAMPLE例文帳に追加
半導体デバイス試料評価装置。 - 特許庁
SAMPLE EVALUATION METHOD, SUBSTRATE FOR EVALUATION, AND SUBSTRATE FORMING METHOD FOR EVALUATION例文帳に追加
試料評価方法、評価用基板及び評価用基板形成方法 - 特許庁
MASK PATTERN, EVALUATION SAMPLE MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND EVALUATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR EVALUATION SAMPLE例文帳に追加
マスクパターン、半導体装置の評価サンプル作成方法および半導体評価サンプルの評価方法 - 特許庁
SAMPLE CONTAINER FOR THERMAL ANALYSIS EVALUATION AND METHOD FOR THERMAL ANALYSIS EVALUATION例文帳に追加
熱分析評価用試料容器及び熱分析評価方法 - 特許庁
FRICTION EVALUATION DEVICE, FRICTION EVALUATION METHOD AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
摩擦評価具、摩擦評価方法及びサンプルの製造方法 - 特許庁
CERAMIC CHARACTERISTIC EVALUATION SAMPLE AND CERAMIC CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD例文帳に追加
セラミック特性評価用サンプル及びセラミック特性評価方法 - 特許庁
To provide an evaluation device and an evaluation method capable of evaluating quickly a feature of a sample.例文帳に追加
試料の特徴を迅速に評価することができる。 - 特許庁
SAMPLE FOR ORIENTATION STATE EVALUATION, MANUFACTURING METHOD OF THE SAMPLE FOR ORIENTATION STATE EVALUATION, AND ORIENTATION STATE EVALUATION METHOD例文帳に追加
配向状態評価用試料、配向状態評価用試料の製造方法、及び配向状態評価方法 - 特許庁
ENERGIZATION CHARACTERISTIC TESTING APPARATUS FOR EVALUATION SAMPLE例文帳に追加
評価用試料の通電特性試験装置 - 特許庁
PROBE HOLDING DEVICE, SAMPLE ACQUIRING DEVICE, SAMPLE WORKING DEVICE, SAMPLE WORKING METHOD, AND SAMPLE EVALUATION METHOD例文帳に追加
プローブ保持装置、試料の取得装置、試料加工装置、試料加工方法、および試料評価方法 - 特許庁
METALLIC COATING SURFACE EVALUATION METHOD AND DEVICE, AND EVALUATION REFERENCE SAMPLE例文帳に追加
メタリック塗装表面評価方法および装置並びに評価基準標本 - 特許庁
DECONTAMINATION CAPACITY EVALUATION METHOD, AND SIMULATION SAMPLE FOR EVALUATION USED THEREFOR例文帳に追加
除染能力評価方法及びこれに用いられる評価用模擬試料 - 特許庁
To provide a sample evaluation device and a sample evaluation method capable of evaluating a crystalline sample without tilting the crystalline sample.例文帳に追加
結晶性試料を傾斜させずに該結晶性試料を評価することが可能な試料評価装置及び試料評価方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of an evaluation sample capable of obtaining a precise measured result, the evaluation sample, a production method of an electronic component, the electronic component and an evaluation sample manufacturing apparatus for manufacturing the evaluation sample.例文帳に追加
精密な測定結果が得られる評価試料の作製方法、評価試料、電子部品材料の生産方法、電子部品、このような評価試料を作製するための評価試料作製装置を提供する。 - 特許庁
The evaluation sample containing the photosynthesis sample is irradiated with the first excitation light in the first irradiation condition, when the evaluation sample is evaluated.例文帳に追加
評価試料を評価する場合、まず、光合成サンプルを含む評価試料に第1の励起光を第1の照射条件で照射する。 - 特許庁
COLOR DIFFERENCE EVALUATION METHOD AND COLORIMETRIC SYSTEM FOR ANISOTROPIC SAMPLE例文帳に追加
異方性試料の色差評価方法及び測色システム - 特許庁
SAMPLE EVALUATION METHOD USING ELECTRON BEAM AND ELECTRON BEAM DEVICE例文帳に追加
電子線を用いた試料評価方法及び電子線装置 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF EVALUATION SAMPLE, ANALYZING METHOD, PRODUCTION METHOD OF ELECTRONIC COMPONENT MATERIAL, ELECTRONIC COMPONENT AND EVALUATION SAMPLE MANUFACTURING APPARATUS例文帳に追加
評価試料の作製方法、分析方法、電子部品材料の生産方法、電子部品及び評価試料作製装置 - 特許庁
PREPARATION METHOD FOR EVALUATION SAMPLE, ANALYTICAL METHOD, PRODUCTION METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT MATERIAL, ELECTRONIC COMPONENT, AND EVALUATION SAMPLE PREPARATION DEVICE例文帳に追加
評価試料の作製方法、分析方法、電子部品材料の生産方法、電子部品及び評価試料作製装置 - 特許庁
METHOD AND SERVER FOR DECIDING EVALUATION SAMPLE NUMBER FOR SUBJECTIVE EVALUATION OF TELEPHONE CALL QUALITY例文帳に追加
通話品質の主観評価のための評価サンプル数を決定する方法及びサーバ - 特許庁
To properly evaluate a photosynthesis function of a photosynthesis sample contained in an evaluation sample.例文帳に追加
評価試料に含まれる光合成サンプルの光合成機能を適切に評価すること。 - 特許庁
To provide a preparation method for an evaluation sample, capable of obtaining an accurate and precise measured result, the evaluation sample, a production method for an electronic component material, an electronic component, and an evaluation sample preparation device for preparing evaluation samples.例文帳に追加
精密な測定結果が得られる評価試料の作製方法、評価試料、電子部品材料の生産方法、電子部品、このような評価試料を作製するための評価試料作製装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sample for the quality evaluation of a quartz glass crucible, a production method of the sample, an evaluation method of the quality and the like using the sample, and a production apparatus of the sample.例文帳に追加
石英ガラス製ルツボの品質評価用の試料およびその試料の作製方法とその試料を用いた品質等の評価方法およびその試料の作製装置とを提供する。 - 特許庁
MAGNETIC CHARACTERISTICS EVALUATION DEVICE AND MAGNETIC CHARACTERISTICS MEASUREMENT SAMPLE PIECE例文帳に追加
磁気特性評価装置および磁気特性測定用試料片 - 特許庁
SAMPLE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND EVALUATION METHOD例文帳に追加
評価用試料およびその製造方法、ならびに評価方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF ADSORBATE OR INCLUSION ON SPECIFIC PART ON SAMPLE SURFACE例文帳に追加
試料表面の特定部における吸着物,含有物の評価方法および評価装置 - 特許庁
SAMPLE SURFACE SHAPE/INFRARED SPECTROSCOPE COMBINED EVALUATION APPARATUS, EVALUATION METHOD, AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
試料表面形状・赤外分光複合評価装置および評価方法並びに測定方法 - 特許庁
Finally the evaluation sample is drawn out based on the light emission quantity measured in a measuring step, and the evaluation sample is evaluated based on an evaluation value and a standard data.例文帳に追加
最後に、測定ステップにおいて測定された発光量に基づいて評価値を導出し、評価値と標準データとに基づいて評価試料を評価する。 - 特許庁
The selection point evaluation calculating means calculates an evaluation point (a selection point evaluation value) of a sample point (a selection point) of a selected delay amount.例文帳に追加
選択点評価計算手段は、選択された遅延量のサンプル点(選択点)の評価値(選択点評価値)を計算する。 - 特許庁
STANDARD SAMPLE FOR EVALUATION OF ANTIBACTERIAL EFFECT AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME例文帳に追加
抗菌効果評価用標準試料及びその製造方法 - 特許庁
EVALUATION METHOD AND DEVICE FOR CONDUCTIVE SAMPLE例文帳に追加
導電性試料の評価方法及び導電性試料の評価装置 - 特許庁
METHOD OF EVALUATING PHOTOSYNTHESIS SAMPLE, AND EVALUATION PROGRAM FOR SAME例文帳に追加
光合成サンプルの評価方法及び光合成サンプルの評価プログラム - 特許庁
FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS METHOD AND EVALUATION METHOD OF SAMPLE STRUCTURE例文帳に追加
蛍光X線分析方法及び試料構造の評価方法 - 特許庁
DEVICE EVALUATING METHOD AND EVALUATION SAMPLE USING ELECTRON-BEAM HOLOGRAPHY例文帳に追加
電子線ホログラフィーによる素子評価方法及び評価用試料 - 特許庁
EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST SAMPLE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体試料の評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
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