「emission test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The system acquires two or more synthetic light emission integration images while changing an end test pattern address, and carries out comparison of synthetic light emission integration images on good and defective semiconductor devices in an ascending order of the end test pattern addresses, i.e., in ascending order of the end test pattern addresses close to the starting test pattern address.例文帳に追加

終了テストパターンアドレスを変化させながら複数の合成発光積分画像を取得し、終了テストパターンアドレスが小さい順、すなわち開始テストパターンアドレスに近い終了テストパターンアドレスから順に良品および不良品半導体装置の合成発光積分画像の比較を行う。 - 特許庁

TEST METHOD OF CATHODE PANEL FOR COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMISSION DISPLAY DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF COLD CATHODE FIELD ELECTRON EMISSION DISPLAY DEVICE, AS WELL AS COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMISSION DISPLAY DEVICE例文帳に追加

冷陰極電界電子放出表示装置用のカソードパネルの検査方法、冷陰極電界電子放出表示装置の製造方法、並びに、冷陰極電界電子放出表示装置 - 特許庁

As the various products, articles for nursing care, foodstuffs, a test body for emission test, a test body for inspection, a micro camera, a key, control equipment for pet, a credit card, ink, equipment for animal experiment, toys and cosmetics are exemplified.例文帳に追加

介護用品、食料品、排出試験用試験体、検査用試験体、マイクロカメラ、鍵、ペット用管理備品、クレジットカード、インク、動物実験用備品、遊び道具、化粧品の各種製品。 - 特許庁

To continuously control the intensity of the laser in pulse emission state during data recording with no test emission nor using a fast sample hold circuit.例文帳に追加

データ記録中にパルス発光状態にあるレーザを、テスト発光、または、高速サンプルホールド回路を用いることなく、常時連続的に強度を制御する。 - 特許庁

To provide a positron emission tomography capable of easily positioning a test subject.例文帳に追加

被検体のポジショニングを容易にすることが可能な陽電子放射断層撮像装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Since the emission line projected by the projector 7 is previously adjusted so as to coincide with the load axis, the center axis of the test piece can be brought to coincide with the load axis by only adjusting the position of the test piece while visually checking such that the emission line is located on the center of the test piece.例文帳に追加

投光器７が投影する輝線は負荷軸と一致するようにあらかじめ調整されているので、この輝線が試験片の中心に来るように目視によって確認しながら試験片の位置調整を行うだけで試験片の中心軸を負荷軸と一致させることができる。 - 特許庁

In order to detect light emission having a spectrum component specific for the test compound to be detected, fluorescent light emission from the sample is monitored by a detector within the housing.例文帳に追加

検出されるべき被検化合物に特有のスペクトル成分を有する発光を検出するため、筐体内の検出器によってサンプルからの蛍光発光がモニターされる。 - 特許庁

While the preview button 9 is depressed, whether the built-in type flash unit 5 performs modeling light emission or test light emission for repeating light emission is determined by the custom setting operation of the electronic camera 1.例文帳に追加

プレビューボタン９が押圧されている間に、内蔵式閃光装置５のモデリング発光を行うか、または、リピーティング発光のテスト発光を行うかについては、電子カメラ１のカスタム設定操作によって決定される。 - 特許庁

The light emission substrate 1003 is provided with: a pixel region 110 having bank regions 220 and light emission regions 230 divided by the bank regions 220; a droplet material spotting precision test region 210 disposed besides the pixel region 110; function layers disposed on the light emission regions 230; and a spotting precision test layer 226 disposed on the droplet material spotting precision test region 210.例文帳に追加

本発明の発光用基板１００３は、バンク領域２２０およびバンク領域２２０によって区画された発光領域２３０を有する画素領域１１０と、画素領域１１０以外に設けられた着弾精度試験用領域２１０と、発光領域２３０に設けられた機能層と、着弾精度試験用領域２１０に設けられた着弾精度試験用層２２６と、を備える。 - 特許庁

To provide a light emission substrate and its manufacturing method, to provide a droplet material spotting precision test substrate for light emission substrate and its manufacturing method, to provide a method of measuring droplet material spotting precision, to provide an electrooptical device comprising the light emission substrate, and to provide electronic equipment comprising the electrooptical device.例文帳に追加

発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器を提供する。 - 特許庁

Test light emission in the recording power level is performed during the jump between layers, also is performed in a period in which a focus error signal becomes the prescribed value or more.例文帳に追加

記録パワーレベルでのテスト発光が、層間ジャンプ中であり、かつフォーカスエラー信号が所定値以上になる期間に行われる。 - 特許庁

To provide a test coupon and test method for laser beam machining capable of easily checking the power of laser beam in the manufacturing process of a wiring board to be useful for the machining with a proper degree of emission.例文帳に追加

配線板の製造プロセスにおいてレーザビームのパワーを簡単にチェックして，適切な照射程度での加工に役立てることができるレーザ加工のテストクーポンおよびテスト方法を提供すること。 - 特許庁

The light emission current control circuit 121 of the drive control circuit 12 increases a light emission amount of a light emitting element 1, and the gain changeover circuit A changes over to a value corresponding to an operation test or a non operation test and increases a gain of the operation amplifier for amplifying a light receiving signal.例文帳に追加

駆動制御回路１２の発光電流制御回路１２１は発光素子１の発光量を増大ささせ、ゲイン切り替え回路Ａは受光信号を増幅する演算増幅器のゲインを作動試験又は不作動試験帰に対応した値に切り替えて増大させる。 - 特許庁

According to this invention, the test is performed considering the emission positions (X_1, X_2) of the secondary particles 9 on the substrate relative to the position of the detector 5.例文帳に追加

本発明によれば、検出器５の位置に対する二次粒子９の基板上での放出位置（Ｘ１，Ｘ２）を考慮して試験を行う。 - 特許庁

LIGHT EMISSION SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD, DROPLET MATERIAL SPOTTING PRECISION TEST SUBSTRATE FOR LIGHT EMISSION SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD, METHOD OF MEASURING DROPLET MATERIAL SPOTTING PRECISION, ELECTROOPTICAL DEVICE AND ELECTRONIC EQUIPMENT例文帳に追加

発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器 - 特許庁

The emission position and the luminance level of each stripe of the emission phosphor are calculated from the picked-up image and the luminance distribution of the test pattern in units of stripes (luminescent-non- luminescent-luminescent parts) is calculated by rearranging the luminance levels, based on the light emission position and a display device 52 displays the result of calculation.例文帳に追加

撮像画像から発光螢光体の各縞における発光位置と輝度レベルとが算出され、その発光位置に基いて輝度レベルを並べ替えることでテストパターンの縞単位（発光−非発光−発光の部分）の輝度分布が算出され、その算出結果が表示器５２に表示される。 - 特許庁

An emission part 17 for emitting exciting light to the test container 3 inserted from the insertion port 14 and an imaging part 18 for imaging the fluorescence developed color state of the planar test piece 5 are provided in the housing 11.例文帳に追加

筐体１１の内部には、挿入口１４から挿入される試験容器３に向けて励起光を発する発光部１７、平面試験片５の蛍光発色の状態を撮像する撮像部１８が設けられる。 - 特許庁

In this emission treatment device 1, a masking part 33 is brought close to the internal combustion engine E by driving an arm 32 provided on a test stand 21.例文帳に追加

この排気処理装置１は、試験台２１に備えられるアーム３２の駆動を通じてマスキング部３３を内燃機関Ｅに対して近接させる。 - 特許庁

(xxv) Materials or equipment used in reducing the level of the reflection or emission of acoustic waves (including ultrasound; hereinafter the same), electromagnetic waves, or light, or test equipment therefor 例文帳に追加

（二十五）　音波（超音波を含む。以下同じ。）、電波若しくは光の反射若しくは放射を減少させる材料若しくは装置又はこれらの試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム

An optical disk device is provided, which is capable of preventing writing twice in a test light emitting area by detecting whether a disk is a write-once type and whether writing occurs twice, and switching a power correction method based on test light emission.例文帳に追加

追記型ディスクであるか否か、２度書きになるか否かを検出して、テスト発光によるパワー補正方法を切り替えることでテスト発光領域への２度書きを防止することができる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

The CPU decides the coincidence or noncoincidence of the error detecting address and the optimum recording power emission address after the end of the recording power test and in the case of the coincidence, the CPU makes the recording power test again by lowering the recording speed and determines the recording speed at which the error does not occur.例文帳に追加

記録パワーテスト終了後、上記エラー検出アドレスと最適記録パワー出射アドレスの一致，不一致を判定し、一致する場合は、記録速度を下げて再度記録パワーテストを行い、エラーの発生しない記録速度を求める。 - 特許庁

COLOR FILTER AND ITS MANUFACTURING METHOD, LIQUID DROP STICKING PRECISION TEST SUBSTRATE FOR THE COLOR FILTER AND ITS MANUFACTURING METHOD, SUBSTRATE FOR LIGHT EMISSION AND ITS MANUFACTURING METHOD, LIQUID DROP MATERIAL STICKING PRECISION TEST SUBSTRATE FOR THE SUBSTRATE FOR LIGHT EMISSION AND ITS MANUFACTURING METHOD, MEASURING METHOD FOR LIQUID DROP MATERIAL STICKING PRECISION, ELECTROOPTIC DEVICE, ELECTRONIC EQUIPMENT, AND METHOD AND DEVICE FOR FILMING例文帳に追加

カラーフィルタおよびその製造方法、カラーフィルタ用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置、電子機器、成膜方法並びに成膜装置 - 特許庁

A means 15 is provided, which calculates slope value of the original IL characteristic of semiconductor laser 3 by detecting emission result of erasing power DC in multi-stage recording-power emission recording in test write performed by optimum recording power determination means 10, and stores the slope value.例文帳に追加

最適記録パワー決定手段１０で実施する試し書き領域での記録パワー多段階発光記録の消去パワーＤＣ発光結果を検出することで、半導体レーザー３が持つ本来のＩＬ特性の傾きを算出し、記憶する手段１５を設ける。 - 特許庁

A heat treatment method irradiates emission light from a Xe flash lamp, which serves as a heat source, to a test sample having an interface of a semiconductor substrate 15 including an insulating film containing oxygen, and Si, while at least part of ultra violet rays in the emission light is removed to carry out heat treatment.例文帳に追加

加熱源となるＸｅフラッシュランプの放出光を、前記放出光の内の紫外線の少なくとも一部を除去した状態で酸素を含む絶縁膜とＳｉを含む半導体基体との界面を有する試料に照射して熱処理を行う。 - 特許庁

Then, on the basis of the drive quantity and the measurement result of the element at the time of the test drive, the correction data are determined which correct the variance of the present electron emission characteristics of the subject element.例文帳に追加

次に、そのテスト駆動時の素子の駆動量と測定結果とに基づいて、当該素子の現在の電子放出特性のばらつきを補正する補正データを算出する。 - 特許庁

To provide PET (Positron Emission Tomograph) measuring equipment and vibrometer to be used for it which can obtain more improved experimental results, when applying vibration, such as hypersonic sound, to a test subject.例文帳に追加

ハイパーソニック・サウンド等の振動を被験者に印加するときにより改善された実験結果を得ることができるＰＥＴ計測装置とそれに用いる振動呈示装置を提供する。 - 特許庁

The mode control unit controls to supply the output of the display signal processing unit to the data voltage supply unit in a display mode; while in a light emission characteristics detection mode, the control unit controls to supply a test signal to the data voltage supply unit and supplies an output of the light emission characteristics detection unit to the memory.例文帳に追加

モード制御部は、表示モードでは、表示信号処理部の出力をデータ電圧供給部に供給し、発光特性検出モードでは、テスト信号をデータ電圧供給部に供給し、発光特性検出部の出力をメモリに供給するように制御する。 - 特許庁

A test pattern generated in a function tester 11 is supplied to the good and defective semiconductor integrated circuits, and hot electron is emitted from the failure position of the semiconductor integrated circuit in the operating state, and detected as the emission image by an emission analytic device 12.例文帳に追加

ファンクションテスタ１１で発生されるテストパターンが良品及び不良品の半導体集積回路に供給され、動作状態の半導体集積回路の故障している箇所からホットエレクトロンが放出され、エミッション解析装置１２によって発光像として検出される。 - 特許庁

Each of the (i-1) pieces of elements are test driven which are from the j-th row to the (j+1-1)th row of the k-th column, among the m×n pieces of the electron emission element (hereinafter called the element), during the blanking period of input video signals, and measuring the emission current Ie of these elements.例文帳に追加

入力映像信号のブランキング期間に、ｍ×ｎ個の電子放出素子（以下、素子と称する）のうち、ｋ列目のｊ行目から（ｊ＋ｉ−１）行目までの（ｉ−１）個の各素子をテスト用に駆動し、それらの素子の放出電流Ｉｅを測定する。 - 特許庁

A planar laser beam or the like is irradiated on a test piece 9 and the substance in two dimensional range on the test piece 9 is ionized all at once and the generated ions are mass separated at a TOF mass separator part 4 so as to retain mutual relations of emission position, and introduced into a two-dimension detection part 6.例文帳に追加

面状のレーザ光等を試料９に照射することで試料９上の二次元範囲の物質を一斉にイオン化し、発生したイオンをその出射位置の相互関係を保持するようにＴＯＦ質量分離部４で質量分離して二次元検出部６に導入する。 - 特許庁

To provide a state evaluation method capable of quantitatively evaluating the state of a measuring target in a case for continuously monitoring the destructive behavior of a film, using an acoustic emission (AE) method, for example, in a high-temperature tensile test or a heat cycle oxidation test.例文帳に追加

本発明は、例えば、高温引張試験及び熱サイクル酸化試験にアコースティックエミッション（AE）法を用いて皮膜の破壊挙動を連続的にモニターする場合等において、測定対象物の状態を定量的に評価が可能な状態評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

During reproducing of the recording power test, the CPU 13 determines the optimum recording power and simultaneously stores the address (optimum recording power emission address) recorded with the light beam of the optimum recording power into the memory 15.例文帳に追加

記録パワーテスト領域の再生中、ＣＰＵ１３は最適記録パワーを求め、同時に該最適記録パワーの光ビームで記録されるアドレス（最適記録パワー出射アドレス）をメモリ１５に記憶する。 - 特許庁

A projector 7 which is fixed to a table 1 of a testing machine main body, projects a straight emission line representing the load axis onto the surface of the test piece S which is sandwiched between an upper gripping tool 5 and a lower gripping tool 6.例文帳に追加

試験機本体のテーブル１に固定された投光器７は上掴み具５と下掴み具６に間で挟持される試験片Ｓの表面に負荷軸を示す直線状の輝線を投光する。 - 特許庁

A wireless frequency setting center device transmits a transmission instruction text signal instructing emission of a test radio wave to a radio communication unit of a newly installed channel via a 1st communication channel and the radio communication unit of the newly installed radio channel emits a test radio wave in response to the transmission instruction text signal.例文帳に追加

無線周波数設定センター装置から新設無線回線の無線通信装置に対して試験電波の発射を指示する送信指示電文信号を第１の通信回線を介して送信し、送信指示電文信号に応答して新設無線回線の無線通信装置において試験電波を発射する。 - 特許庁

After color balance adjustment, color pixels 8a to 8d formed at four corners of a display area Z of a display unit 2, out of a plurality of color pixels 8 formed in the display area Z are caused to emit light with high luminance for a set test time, and average emission luminance of the color pixels 8a to 8d immediately after the set test time is measured.例文帳に追加

色バランス調整を行った後に、表示ユニット２の表示エリアＺに形成された複数のカラー画素８のうち、該表示エリアＺの四隅に形成されたカラー画素８ａ〜８ｄを設定検査時間、高輝度で発光させて、設定検査時間直後のカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度を測定した。 - 特許庁

Therefore, even if the emitter deposited at top of the upper holding cylinder evaporates in the producing process or a life test, no unnecessary thermonic emission is generated and no insulation failure occurs between the cathodes.例文帳に追加

このため製造プロセスあるいはライフ試験中に上部陰極保持シリンダの上端部に蒸着したエミッタが蒸発しても不要な熱電子放射は発生せず、陰極相互間の絶縁不良は発生しない。 - 特許庁

The laser beam of a light emission output set to equivalent to a reproducing output is emitted toward the recording medium, from an optical head 1, and the magnetic field according to the test data is applied to the recording medium by the magnetic head 23.例文帳に追加

光学ヘッド１から再生出力相当に設定された発光出力のレーザー光を記録媒体に照射すると共に、磁気ヘッド２３により記録媒体にテストデータに応じた磁界を印加する。 - 特許庁

The acceleration of the container in which the flash is generated is large and the number of light emission display units mounted on the container which illuminate is large, so the container where the flash is generated can easily be specified from the number of the illuminating containers to improve the efficiency of the test operation.例文帳に追加

閃絡が発生した容器の加速度は大きく、当該容器に装着された発光表示器の点灯数が多いので、点灯数から閃絡が生じた容器を容易に特定でき、試験作業の能率が向上する。 - 特許庁

To provide a test method of a cathode panel for a cold-cathode electric field electron emission display device which makes it possible to predict a point of occurrence of a short circuit between a gate electrode, an electron emission part, or the cathode electrode prior to an actual action, which will be caused due to discharge generated between the gate electrode, the electron emitting part, or the cathode electrode.例文帳に追加

ゲート電極と電子放出部やカソード電極との間に生じた放電に起因して発生するであろうゲート電極と電子放出部やカソード電極との間の短絡発生箇所を実際の動作以前に予め予期することを可能とする冷陰極電界電子放出表示装置用のカソードパネルの検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scintillator panel wherein the rates of sharpness degradation and singular faults are low in wetproof test with high luminance (light emission quantity) being maintained and there are less image non-uniformity and linear noise, and to provide a radiation flat panel detector using the same.例文帳に追加

輝度（発光量）を維持した状態で、耐湿試験での鮮鋭性の劣化率及び特異的な故障発生率が低く、画像ムラ及び線状ノイズが少ないシンチレータパネル及びそれを用いた放射線フラットパネルディテクターを提供する。 - 特許庁

A sample to be examined is mounted on a cassette and inserted into a housing in which light is not practically transmissible and, in order to induce fluorescent light emission from a test compound on the sample, light from a light source inside the housing is turned toward the sample.例文帳に追加

検査されるサンプルがカセット上に取付けられ、実質的に光を通さない筐体内へと挿入され、サンプル上の被検化合物からの蛍光発光を誘起するために、筐体内の光源からの光がこのサンプルに向けられる。 - 特許庁

This method for detecting mercury ion includes: acquisition of a solution containing the test sample, a first single-stranded nucleic acid and a second single-stranded nucleic acid; and detection of excimer emission generated by irradiation, by irradiating the acquired solution with excitation light.例文帳に追加

被験試料、第一の一本鎖核酸、及び第二の一本鎖核酸を含む溶液を得ること；及び、得られた溶液に励起光を照射し、該照射により発生するエキシマー発光を検出することを含む、水銀イオンを検出する方法により解決される。 - 特許庁

This polyamide composition is characterized in that the composition comprises an aromatic polyamide having ≥290°C melting point, exhibits V-0 classification in a flammability test according to UL-94 standard and contains ≤400 ppm of sodium ion measured by an inductively coupled plasma emission spectrometry.例文帳に追加

融点が２９０℃以上である芳香族ポリアミドを含んで成り、ＵＬ−９４規格に従って行う燃焼試験において、評価がＶ−０であり、且つ誘導プラズマ発光分析によって測定したナトリウムイオンの量が４００ｐｐｍ以下であることを特徴とするポリアミド組成物。 - 特許庁

A test for this lamp shows that a plurality of spectrum changes causing chromaticity drift during dimming are localized in a narrow frequency band range of a spectrum, and lamp light emission in the range is reinforced (or increased or decreased) as compared with the residual spectrum.例文帳に追加

そのようなランプの試験は、減光中に色度ドリフトを引き起こす複数のスペクトル変化がスペクトルの狭周波数帯域に局在化し、これらの領域におけるランプ発光が、残りのスペクトルに比べて増強される（又は増加されるか又は減少される）ことを明らかにする。 - 特許庁

The evaluation method of the kinase inhibitor includes steps of: (1) preparing a vector including CRE base sequence and/or RLM1 binding sequence and the luciferase gene at a downstream of the sequence; (2) introducing the vector to yeast; and (3) measuring emission intensity by culturing the yeast under the presence or absence of a test compound.例文帳に追加

（１）ＣＲＥ塩基配列および/またはＲＬＭ１結合配列と、その下流にルシフェラーゼ遺伝子を有するベクターを調製し、（２）前記ベクターを酵母に導入し、（３）供試化合物存在下または非存在下で前記酵母を培養して発光強度を測定する工程を含む、キナーゼ阻害剤の評価方法。 - 特許庁