「formation test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

When projection data are acquired by the CT scanning, an image formation section 20 forms test images from the projection data by two-dimensional image reconstruction.例文帳に追加

ＣＴ撮影により投影データが得られると、画像形成部２０は、２次元画像再構成により投影データからテスト画像を形成する。 - 特許庁

The stored main signal data is converted into a text file, which is usable in the test pattern formation for the simulator 4 by a data processing part 33.例文帳に追加

データ処理部３３は格納された主信号データをシミュレータ４用のテストパターン作成に使用可能なテキストファイルに変換して出力する。 - 特許庁

The water-soluble phosphate of polysaccharides inhibit the formation of precipitation of calcium salt in test tube, and promote absorption of calcium in intestinal tract.例文帳に追加

得られた水溶性リン酸化多糖は試験管内でカルシウム塩の沈殿形成を阻害し、腸管においてカルシウムの吸収を促進する。 - 特許庁

The image forming apparatus has at least one test print consisting of a designated pattern used for correction processing after image formation, and the white level of the test print on a form is detected to correct correction processing based upon the detected value.例文帳に追加

画像形成された補正処理に使用する為の所定のパターンから成る少なくともひとつのテストプリントを有し、前記テストプリントの用紙の白レベルを検知し、その値によって補正処理に補正をかける。 - 特許庁

Moreover, the semiconductor device equipped with decoding means which decodes the plurality of internal implementation test signals and a signal formation means which forms the plurality of internal implementation test signals according to each voltage level of the plurality of implementation test signals which are input from outside is offered.例文帳に追加

また、外部から入力される複数の実装テスト信号のそれぞれの電圧レベルに応じて、複数の内部実装テスト信号を生成する信号生成手段と、前記複数の内部実装テスト信号をデコードするデコード手段とを備える半導体装置を提供する。 - 特許庁

The time Q is defined as the total time of the conveyance time Q_1 of a test pattern from the exposure position of the test pattern to a sensor and the time Q_2 since the test pattern is detected by the sensor until the color shift correction value calculated based on the detection results is set for the system and reflected to image formation.例文帳に追加

時間Ｑを、テストパターンの露光位置からセンサまでのテストパターンの搬送時間Ｑ_1と、センサでテストパターンが検知されてから、検知結果に基づき算出される色ズレ補正値がシステムに対して設定され画像形成に反映されるまでの時間Ｑ_2の合計時間とする。 - 特許庁

To prevent false recognition of a chip coordinate correction value due to an unstabilized electrical contact test of an inspection start chip, caused by defective pattern formation in a wafer outermost circumference.例文帳に追加

ウェハ最外周でのパターン形成不備による検査スタートチップの電気接触試験の不安定化によるチップ座標補正値の誤認識を防止する。 - 特許庁

The frequencies of operation tests are reduced by simplification of the fastening torque estimation model and formation of test parameters based on a D optimization program and a confidence interval.例文帳に追加

また、締付けトルク推定モデルの簡略化、Ｄ最適計画、信頼区間に基づくテストパラメータの生成により、動作テストの回数は減少する。 - 特許庁

To provide an inspection device having high detection precision, capable of preventing the influence of a formation spot of a test body, and detecting a defect even if the defect having very little difference in reflectance between itself and the test body exists.例文帳に追加

被検査体の地合い斑の影響を防止するとともに、被検査体と反射率の差がほとんどない欠陥が存在するような場合にも、このような欠陥を検出可能な検出精度の高い検査装置を提供する。 - 特許庁

The fixing member 41 is used to arrange the marked line formation plane with the marked line 43 in the marked line formation member 42 on almost the same plane as a plane going through a diameter in the round bar-shaped test piece 10.例文帳に追加

この固定部材４１は、標線形成部材４２における標線４３が形成された標線形成面を、丸棒状試験片１０における直径を通る面と略同一平面上に配置するために使用される。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which can carry out test-printing to confirm a trimmed sheet and the condition of images printed on the sheet before starting image formation relating to a job.例文帳に追加

ジョブに係る画像形成の開始前に、確認出力により断裁後の用紙と用紙に対する画像形成状態を確認可能な画像形成装置の提供。 - 特許庁

The processing up to the formation of the cumulated probability distribution is repeated by sequentially changing the number to form a graph showing the relation between the test number and necessary life difference (J25).例文帳に追加

個数を順次変えて、上記累積確率分布作成までの処理を繰り返し、試験個数と必要寿命差の関係を示すグラフを作成する（Ｊ２５）。 - 特許庁

As a result, when an aqueous surface treatment agent containing alcohol is applied, it is possible to suppress the formation of white rusting for 72 hours or longer in the salt spray test.例文帳に追加

これにより水性（アルコールを含む）の表面処理剤などを塗布したときに塩水噴霧試験で７２時間以上に亙って白錆の発生を抑止することができる。 - 特許庁

To provide a volatile matter measuring apparatus capable of preventing the occurrence of dew formation in a test chamber, when the temperature and the humidity are regulated.例文帳に追加

本発明は、温度および湿度の調整時に試験槽内に結露が発生するのを防止することができる揮発物測定装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an information processing device and an image formation device capable of easily executing test printing and real printing without executing a complicated operation.例文帳に追加

煩雑な操作を実行することなく簡易にテスト印刷および本番印刷を実行することが可能な情報処理装置および画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To allow a semiconductor device having an external connection terminal to have an electrode structure with which an electric characteristic test, a burn-in test and formation of the external connection terminal can be collectively executed in a wafer state without causing a damage on each portion.例文帳に追加

外部接続端子を有する半導体装置に、電気特性試験とバーンイン試験と外部接続端子の形成とをウェハ状態で一括して、かつ各部に損傷を与えることなく行うことが出来る電極構造を具備させる。 - 特許庁

In other words, the test pattern CP is printed so that the formation position of a sub-pattern printed by using a second ink lighter than a first ink comes to the center side of the paper S more than the formation position of a first sub-pattern printed by using the first ink.例文帳に追加

つまり、第一インクよりも淡い第二インクを用いて印刷されるサブパターンの形成位置が、第一インクを用いて印刷される第一サブパターンの形成位置よりも、用紙Ｓの中央側に来るように、テストパターンＣＰは印刷される。 - 特許庁

Wiring 105 to be measured is placed at the center, and wiring width W, wiring interval S, wiring formation region X/Y, and data ratio D of wiring to be actually wired in the wiring formation region X×Y are variably changed so that the test pattern of wiring can be prepared.例文帳に追加

被測定配線１０５を中心に置き、配線幅Ｗ、配線間隔Ｓ、配線の形成領域Ｘ、Ｙ、配線形成領域Ｘ×Ｙに実際に配線される配線のデータ率Ｄを種々変えた配線のテストパターンを作成する。 - 特許庁

To diagnose a service provision status of an image formation system while network connection for operating the image formation system is kept as it is without changing a connection configuration or the like without installing a testing device, and without performing test packet transmission work by a user.例文帳に追加

画像形成システムを運用するネットワーク接続のままの状態で、接続構成等を変更することなく、試験用の装置を設置することなく、ユーザによるテストパケット送信作業もなく、画像形成システムのサービス提供状況を診断すること。 - 特許庁

The image formation condition setting device 117 determines the ink concentration and the discharge amount to be installed in the recording head 111 on the basis of measured data of a test image formed by the printer 110.例文帳に追加

画像形成条件設定装置１１７は、プリンタ１１０により形成されたテスト画像の測定データをもとに、記録ヘッド１１１に搭載されるインク濃度と吐出量を決定する。 - 特許庁

To realize downsizing of an apparatus and to reduce the decrease in productivity due to carrying out of a patch formation which does not receive any shock from a rotary or the like in a patch test in continuous operation.例文帳に追加

連続時のパッチ検においてロータリー等のショックを受けないパッチ形成を行い、装置の小型化の実現と連続時にパッチ形成を行うことによるプロダクティビティダウンを低減する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which controls conditions for toner image formation by performing a test image measuring mode without consuming a recording medium or extending the interval between images.例文帳に追加

記録材を消費することも、画像と画像の間隔を拡大することもなく、テスト画像測定モードを実行してトナー像形成条件を制御できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To perform quasi-formation of a recordable optical disk by using a playback-only optical disk and to provide an optical disk for a test in a state suitable for adjustment of an optical pickup of an optical disk device.例文帳に追加

記録可能な光ディスクを再生専用の光ディスクによって擬似的に構成し、光ディスク装置の光ピックアップの調整に適した状態のテスト用光ディスクを実現する。 - 特許庁

This syncytium formation assay comprises mixing a test cell typically producing an HCV protein, and a target cell based on a condition for promoting the syncytium formation mediated by the HCV protein discovered by the inventors to bring them near or into contact with each other, and detecting the syncytium formation caused after incubation.例文帳に追加

本発明者らが発見したＨＣＶタンパク質が媒介するシンシチウム形成を再現性を持って促進する条件に基づいて、典型的にはＨＣＶタンパク質を提示した試験細胞と標的細胞を混合し、それらを互いに近接および／または接触させ、インキュベート後に起こったシンシチウム形成を検定することを含むシンシチウム形成アッセイ。 - 特許庁

Next, the density of the developer image attached to the non subject region in formation of the test pattern is detected, the ghost occurrence level and a transfer bias level in which no ghost phenomenon occurs based on the density level of the developer in the non subject region of the test pattern are estimated and the transfer bias level for image formation according to the estimate is set.例文帳に追加

そして、テストパターンの形成の際に非対象領域に付着した現像剤像の濃度を濃度検出センサ７１によって検知し、ゴースト発生レベルと、テストパターンにおける非対象領域の現像剤像の濃度レベルとに基づいてゴースト現象が発生しない転写バイアスレベルを推測し、その推測に応じた画像形成用の転写バイアスレベルを設定する。 - 特許庁

(B) The material is tested by either of (a) acceleration test for promoting formation and consolidation of ettringite and (b) construction test for two years or more, then the ettringite content and compressive strength of the sample are measured, and the measured value satisfies [compressive strength (MPa)<-3.75×ettringite content (mass%)+15].例文帳に追加

（ロ）材料を、（a）エトリンガイト生成と固結を促進させる加速試験、（b）２年以上の施工試験、のいずれかの試験に供した後、その供試体のエトリンガイト含有率と圧縮強度を測定し、該測定値が［圧縮強度（MPa）＜−3.75×エトリンガイト含有率（mass％）＋15］を満足する。 - 特許庁

This invention relates to a method for treating the test object having diseases characterized with the formation of mucin and comprises the step for administering an effective amount of the composition including at least one of compounds that can lower the synthesis or the level of mucin in the test object.例文帳に追加

ムチンの産生によって特徴付けられる疾患を有する被験体の処置方法であって、該被験体におけるムチンの合成またはレベルを減少させる少なくとも１つの化合物を含む組成物の有効量を該被験体に投与する工程を包含する、方法。 - 特許庁

Before outputting the test pattern in the calibration, the number of using times of an element exerting influence on image formation such as the cumulative number of drum using times is acquired (s101), and the number of sampling times in the case of reading the test pattern of every element is obtained in accordance with the number of using times (s102).例文帳に追加

キャリブレーションにおいてテストパターンを出力する前に、累積的なドラム使用回数など画像形成に影響を及ぼす要素の使用回数を取得し(Ｓ１０１)、それぞれの使用回数に応じて要素ごとのテストパターン読取りにおけるサンプリング回数を求める(Ｓ１０２)。 - 特許庁

Execution of non-contact inspection in place of a conventional continuity test can eliminate contact on the electrode surface of the display portion and shorten inspection process for formation of the electrode, making it possible to inspect faults of the electrode developed in processes after the electrode formation to improve the quality.例文帳に追加

導通検査に代えて非接触検査を行うことにより、表示部の電極表面に接触せずに済み、また電極形成時の検査工程を短縮することができ、電極形成以降の工程において発生する電極欠陥の検査が可能となり、品質の向上が図れる。 - 特許庁

In the test pattern, a first region where the formation density of first dots is higher than that of second dots, and a second region where the formation density of second dots is higher than of the first dots are mixed in main and sub-scanning directions.例文帳に追加

このテストパターンは、第１のドットの形成密度が第２のドットの形成密度よりも高い第１の領域と、第２のドットの形成密度が第１のドットの形成密度よりも高い第２の領域とが、主走査方向および副走査方向に混在するテストパターンである。 - 特許庁

A plurality of minute dot marks M consisting of upheaved projections whose length along the mark formation surface of which the part upheaves is 1.0-15.0 μm and whose height is 0.01-5.0 μm are formed on the area 9 except the micro array formation area 8 of the chip 7 for the gene test.例文帳に追加

遺伝子試験用チップ(7) のミクロアレイ形成領域(8) 以外の領域(9) に、一部が隆起するマーク形成面に沿った長さが１．０〜１５．０μｍであり、その高さが０．０１〜５．０μｍである隆起状突起からなる複数の微小なドットマークＭを形成している。 - 特許庁

The apparatus for inspecting the surfaces of the disks is provided at least with a mounting substrate 1 for mounting a disk 2 for test; a steam supplying means 4 for supplying a gas 5 containing steam for the surface of the disk 2; and a dew formation observing means 8 for observing droplets caused by the dew formation of the steam over the surface of the disk 2.例文帳に追加

試験用のディスク２を装着する装着基板１、前記ディスク２の表面に蒸気を含んだガス５を供給する蒸気供給手段４、前記ディスク２の表面に前記蒸気が結露した液滴を観察する結露観察手段８を少なくとも備える。 - 特許庁

The integral formation of the reaction vessel and the burner and/or the reaction vessel and the exhaust hole makes it possible to produce a fine glass particle deposit showing extremely excellent screening test results.例文帳に追加

反応容器とバーナーを一体形成する、および／又は反応容器と排気口を一体形成することにより、ファイバ化した後のスクリーニング試験結果の極めて高いガラス微粒子堆積体を製造できる。 - 特許庁

The first reference line 104 and second reference line 106 formed to the image-receiving paper 40 are detected by a reflecting type photosensor 148, so that the formation position of the test image 102 is automatically grasped.例文帳に追加

反射型フォトセンサ１４８により、受像紙４０に形成された第１基準ライン１０４および第２の基準ライン１０６を検知し、テスト画像１０２の形成位置を自動的に把握する。 - 特許庁

The effect of formation of the protective film can impart flame retardancy performance which meets the range of V-0 to V-2 according to the UL 94 flammability test to the target material.例文帳に追加

これにより、難燃性付与対象材料に対してＵＬ９４燃焼性試験にてテストしたときに、同法のＶ−０〜Ｖ−２の範囲を充足する難燃性能を付与することが可能となる。 - 特許庁

The image forming apparatus of the embodiment executes a continuous image formation test to specify the model of the self apparatus when a system controller is connected to an engine controller in an assembly process.例文帳に追加

本実施形態に係る画像形成装置は、組立工程において、システム制御部とエンジン制御部とが接続されると、自装置の機種を特定するための連続画像形成のテストを実行する。 - 特許庁

To reduce downtime for an apparatus due to processing control for an image formation using a test pattern; and to obtain a stable image quality while employing an intermediate transfer method with high image superposing accuracy.例文帳に追加

画像重ね精度が高い中間転写方式を採用しながら、テストパターンを用いた画像形成のためのプロセス制御による装置のダウンタイムを低減し、かつ安定した画像品質を得る。 - 特許庁

Of SCAN test circuits implementing scan test in semiconductor integrated circuits, the SCAN test circuit is characterized by generating scan cell enable signal of a plurality of timings from a scan enable external input signal and controlling formation of a launch clock and a capture clock for detecting delay failure from real operation speed based on the scan cell enable signal of the plurality of timings.例文帳に追加

半導体集積回路におけるスキャンテストを行うＳＣＡＮテスト回路であって、スキャンイネーブル外部入力信号から複数タイミングのスキャンセルイネーブル信号を生成し、上記複数タイミングのスキャンセルイネーブル信号により、実動作速度による遅延故障検出のためのラウンチクロック及びキャプチャクロックの生成が制御されることを特徴とするＳＣＡＮテスト回路を開示する。 - 特許庁

This MRI apparatus executes pulse sequences including a saturation recovery sequence impressing a high frequency magnetic field to a test subject to excite a nuclear magnetization; and an image acquisition sequence impressing the high frequency magnetic field and a gradient magnetic field to the test subject in a predetermined process and allowing a predetermined slice to emit MR signals for use in an image formation.例文帳に追加

検査対象に高周波磁場を印加して核磁化を励起する飽和回復シーケンスと、前記検査対象に所定の手順で前記高周波磁場と傾斜磁場とを印加して画像作成に使用するMR信号を所定のスライスから発生させる画像取得シーケンスとを含むパルスシーケンスを行う。 - 特許庁

Since a non-conductor coating 6 can be formed on only the first flat region 14a when a semiconductor device determined as an unacceptable product in the electric characteristic test is electrically disconnected from a common wiring, the burn-in test and the formation of the external connection terminal can be positively and stably formed.例文帳に追加

電気特性検査によって不良と判定された半導体装置を共通配線から電気的に切り離す際に第１の平坦領域１４ａのみに不導体被膜６を形成することができ、バーンイン試験および外部接続端子の形成を確実に安定して行うことが可能となる。 - 特許庁

Further, at the time when primary inspection is performed before the formation of the electroconductive GL layer as the outermost surface layer, the generation of pinholes can be inspected by a discharge test, thus the quality of its quality control can be improved as well.例文帳に追加

さらに、最表層の導電性ＧＬ層を形成する前に一次検査を行えば、ピンホールの発生を放電試験により検査することが可能なため、品質管理の質を向上させることも可能である。 - 特許庁

A test print 1 is formed (S101), the correction coefficient Ka of the contrast potential of image formation is optimized by density information obtained in a step S102 (S103) and a grid potential and a development bias potential are set so as to obtain the contrast potential (S104).例文帳に追加

テストプリント1を形成し(S101)、ステップS102で得られた濃度情報により画像形成のコントラスト電位の補正係数Kaを最適化し(S103)、コントラスト電位が得られるようにグリッド電位および現像バイアス電位を設定する(S104)。 - 特許庁

The elevation mechanism 14 has a thread formation region S that is engaged with a support section 122 of a support rod 141 and the test head 12 at both ends, and is elevated accurately by rotary control at the side of the support rod 141.例文帳に追加

昇降機構１４は、両端の支持棒１４１及びテストヘッド１２の支持部１２２に互いに噛合うネジ目形成領域Ｓがあり、支持棒１４１側の回転制御により高精度に昇降する。 - 特許庁

In an operation mode which is performed by an engine part alone, such as a density control mode accompanied with patch image formation, a test pattern offset value Tot is obtained as the amount of toner consumption corresponding to the formed image pattern (step S141).例文帳に追加

一方、パッチ画像形成を伴う濃度制御モードのように、エンジン部が単独で行う動作モードでは、形成する画像パターンに応じたトナー消費量としてテストパターンオフセット値Ｔｏｔを求める（ステップＳ１４１）。 - 特許庁

To provide an epoxy resin composition for sealing an LED providing a resin in which crack formation by a thermal cycle test is reduced and which has excellent light resistance, and to provide the LED device sealed by the composition.例文帳に追加

冷熱サイクルによるクラックの発生が改良され、耐光性に優れた樹脂を与えることができるＬＥＤ封止材用エポキシ樹脂組成物、及びその組成物で封止されたＬＥＤ装置を提供する。 - 特許庁