Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
「flaw inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索
[go: Go Back, main page]

1153万例文収録!

「flaw inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > flaw inspectionに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

flaw inspectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 813



例文

FLAW INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

傷検査装置 - 特許庁

FLAW INSPECTION DEVICE例文帳に追加

疵検査装置 - 特許庁

FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

キズ検査方法 - 特許庁

FLAW INSPECTION SYSTEM AND FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査システムおよび方法 - 特許庁

例文

FLAW INSPECTION DEVICE AND FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および方法 - 特許庁


例文

FLAW INSPECTION DEVICE, FLAW INSPECTION SYSTEM AND FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

傷検査装置、傷検査システム、及び傷検査方法 - 特許庁

FLAW INSPECTION METHOD, LIGHT SOURCE FOR FLAW INSPECTION AND FLAW INSPECTION INSTRUMENT例文帳に追加

傷検査方法、傷検査用光源、傷検査装置 - 特許庁

FLAW INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査装置 - 特許庁

FLAW INSPECTION DEVICE AND FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

疵検査装置及び疵検査方法 - 特許庁

例文

FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

探傷検査方法 - 特許庁

例文

ULTRASONIC FLAW INSPECTION METHOD AND ULTRASONIC FLAW INSPECTION DEVICE例文帳に追加

超音波探傷方法及び装置 - 特許庁

INTERNAL FLAW INSPECTION METHOD AND INTERNAL FLAW INSPECTION DEVICE例文帳に追加

内部欠陥検査方法および装置 - 特許庁

SURFACE FLAW INSPECTION DEVICE AND SURFACE FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

表面欠陥検査装置及び方法 - 特許庁

FLAW INSPECTION DEVICE AND FLAW INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

欠陥検査装置及び欠陥検査プログラム - 特許庁

FLAW INSPECTION METHOD, FLAW INSPECTION DEVICE AND FLAW INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

欠陥検査方法及び欠陥検査装置並びに欠陥検査システム - 特許庁

FLAW INSPECTION DEVICE AND FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

FLAW INSPECTION SYSTEM AND FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置および欠陥検査方法 - 特許庁

FLAW INSPECTION SYSTEM AND FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

欠陥検査システムおよび欠陥検査方法 - 特許庁

SURFACE FLAW INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

表面疵検査装置 - 特許庁

ULTRASONIC FLAW INSPECTION SYSTEM例文帳に追加

超音波探傷システム - 特許庁

FLAW INSPECTION DEVICE OF MULTIPLE PIPE AND FLAW INSPECTION DEVICE例文帳に追加

多重管の欠陥検査方法及び装置 - 特許庁

SURFACE FLAW INSPECTION DEVICE例文帳に追加

表面疵検査装置 - 特許庁

SURFACE FLAW INSPECTION DEVICE例文帳に追加

表面傷検査装置 - 特許庁

MASK FLAW INSPECTION DEVICE例文帳に追加

マスク欠陥検査装置 - 特許庁

FLAW INSPECTION METHOD OF CERAMIC PLATE AND FLAW INSPECTION DEVICE THEREFOR例文帳に追加

セラミック板の欠陥検出方法と装置 - 特許庁

SURFACE FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

表面疵検査方法 - 特許庁

WORK SURFACE FLAW INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ワーク面キズ検査装置 - 特許庁

FLAW INSPECTION DEVICE, FLAW INSPECTION METHOD AND FILM例文帳に追加

欠点検査装置、欠点検査方法およびフィルム - 特許庁

FLAW INSPECTION APPARATUS FOR STEEL PLATE例文帳に追加

鋼板の疵検査装置 - 特許庁

FLAW INSPECTION METHOD AND FLAW INSPECTION DEVICE OF MAGNETIC COMPONENT例文帳に追加

磁性部品の傷検査方法および傷検査装置 - 特許庁

INSPECTION APPARATUS FOR FLAW ON PLANE例文帳に追加

平面の傷検査装置 - 特許庁

LIGHT TABLE FOR FLAW INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査用ライトテーブル - 特許庁

GOLF-BALL FLAW INSPECTION DEVICE例文帳に追加

ゴルフボールの傷検査装置 - 特許庁

FLAW INSPECTION METHOD OF SUBSTRATE AND FLAW INSPECTION PROGRAM例文帳に追加

基板の欠陥検査方法及び欠陥検査プログラム - 特許庁

INSPECTION DEVICE OF PATTERN FLAW AND PATTERN FLAW INSPECTING METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置および方法 - 特許庁

RETICLE FLAW INSPECTION DEVICE AND RETICLE FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

レチクル欠陥検査装置およびレチクル欠陥検査方法 - 特許庁

LIGHT SOURCE FOR FLAW INSPECTION AND LIGHT SOURCE UNIT FOR FLAW INSPECTION例文帳に追加

傷検査用光源及び傷検査用光源ユニット - 特許庁

FLAW DETECTING INSPECTION COIL ELEMENT AND COIL FOR FLAW DETECTING INSPECTION例文帳に追加

探傷検査用コイル素子および探傷検査用コイル - 特許庁

FLAW INSPECTION METHOD FOR STEEL PLATE例文帳に追加

鋼板の疵検査方法 - 特許庁

FLAW INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND FLAW INSPECTION DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁

IMAGE FLAW INSPECTION METHOD AND IMAGE FLAW INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像欠陥検査方法および画像欠陥検査装置 - 特許庁

ULTRASONIC FLAW INSPECTION DEVICE AND ULTRASONIC FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

超音波探傷装置および超音波探傷方法 - 特許庁

FLAW INSPECTION DEVICE OF FILM例文帳に追加

フィルムの欠陥検査装置 - 特許庁

FLAW INSPECTION DEVICE OF IMAGE, AND FLAW INSPECTION METHOD OF IMAGE例文帳に追加

画像欠陥検査装置及び画像欠陥検査方法 - 特許庁

EDDY CURRENT FLAW INSPECTION DEVICE AND EDDY CURRENT FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

渦電流探傷装置と渦電流探傷方法 - 特許庁

PATTERN FLAW INSPECTION DEVICE AND PATTERN FLAW INSPECTION METHOD例文帳に追加

パターン欠陥検査装置及びパターン欠陥検査方法 - 特許庁

ULTRASONIC FLAW DETECTOR FOR FLAW INSPECTION OF BOLT例文帳に追加

ボルトの欠陥検査用超音波探傷器 - 特許庁

FLAW INSPECTION RESULT DISPLAY DEVICE例文帳に追加

疵検査結果表示装置 - 特許庁

ULTRASONIC FLAW DETECTION INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

超音波探傷検査装置 - 特許庁

例文

FLAW INSPECTION METHOD OF COLOR LIQUID CRYSTAL PANEL AND FLAW INSPECTION DEVICE THEREFOR例文帳に追加

カラー液晶パネルの欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2025 GRAS Group, Inc.RSS