「inspection free」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To achieve long-term maintenance-free and inspection-free properties by preventing dehumidification capacity from dropping and at the same time outputting the fault alarm of a Peltier element.例文帳に追加

除湿能力の低下を防止するとともに、ペルチェ素子の故障警報を出力し、長期間の無保守・無点検を達成する。 - 特許庁

To provide an inspection matrix generation method that can generate a data collision-free inspection matrix, an encoder, and a decoder.例文帳に追加

データ衝突を発生させない検査行列を作成可能な検査行列作成方法および符号化器並びに復号器を提供する。 - 特許庁

To prevent the illicit shift of a charge-free guarantee period and to enable the valid receipt of a charge-free inspection or charge-free repair for purchased equipment within a guarantee period.例文帳に追加

無償の保証期間が不正にずらされるのを防止でき、且つ、保証期間内であれば、購入した機器に対し、正当に無料検査や無料修理を受けることができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection apparatus and a semiconductor inspection method capable of inspecting a semiconductor device appropriately in a bias-free state.例文帳に追加

半導体デバイスに対して無バイアス状態での検査を好適に行うことが可能な半導体検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device free from moisture condensation at vacuum piping of an auxiliary exhaust room.例文帳に追加

予備排気室の真空排気時に結露が生じることがない検査装置を提供することにある。 - 特許庁

CONTACT ANGLE-MEASURING METHOD OF POWDER, SURFACE FREE ENERGY DETERMINATION METHOD OF POWDER, INSPECTION METHOD OF POWDER, AND POWDER例文帳に追加

粉体の接触角測定方法、該粉体の表面自由エネルギー求出方法、該粉体の検査方法及び粉体 - 特許庁

To provide an endoscope equipped with UV illumination and a deflected distal inspection system, and free from conventional faults.例文帳に追加

紫外線照明と遠位端偏向検視システムとを備える、従来の短所がない内視鏡を提供する。 - 特許庁

Upon inspection, it is not required to move the work piece 10 between the cart 20 and the vibration-free platform 40.例文帳に追加

このため、検査を行う際、ワーク１０を台車２０と除振台４０との間で移載する必要がない。 - 特許庁

To provide a tire inspection system free to easily control by using vehicle discriminating information even when a pneumatic tire is exchanged, a tire inspection device and a vehicle side device used for this tire inspection system.例文帳に追加

空気入りタイヤを交換した場合であっても、容易に車両識別情報を用いて管理することができるタイヤ点検システム、タイヤ点検装置及び当該タイヤ点検システムに用いられる車両側デバイスを提供する。 - 特許庁

It is arranged so that the proper inspection standard data free from deposited flaw or smudge as seen in the case of making out inspection standard data by scanning printed matter with a reading means 7, can be obtained without printing by the inspection standard image data.例文帳に追加

印刷物を読み取り手段７でスキャンして検査基準データを作成する場合のような傷や汚れの付着のない適正な検査基準データが、検査基準画像データが印刷を行うことなく得られるようにする。 - 特許庁

A pixel inspection step is used after the initial ink hardening step, and an amount of ink applied by the inkjet printer is adjusted in accordance with inspection information to manufacture a patterned body free from poor uniformity.例文帳に追加

また、初期インク硬化工程後に画素検査工程を用い、その情報に応じてインクジェット塗工量を調整することでむら不良のないパターン形成体が製造できる。 - 特許庁

When a flaw inspection is continuously conducted to the plurality of inspection objects, the flaw detector can flexibly cope with a change in waveform due to a change in peripheral conditions or manufacturing lots by using the Lissajous waveform of the latest inspection object determined to be free of flaw as the reference waveform, or by using an average waveform of the Lissajous waveforms of the plurality of latest inspection objects determined to be free of flaw.例文帳に追加

複数の被検査物に対して連続的に探傷検査を行う場合には、無傷と判定された直近の被検査物のリサージュ波形を基準波形としたり、無傷と判定された直近の複数個の被検査物のリサージュ波形の平均波形を基準波形とすることにより、周囲環境や製造ロットの変化等による波形の変化にも柔軟に対応可能となる。 - 特許庁

To provide an analytical inspection device capable of reducing the possibility of generating contamination between inspections of samples, and free from the requirement of securing a proper alignment of an illumination source and/or a detecting optics with the sample under inspection, during an inspection process.例文帳に追加

試料の検査と検査の間に汚染が生じる可能性が低く、照明源及び／又は検出用オプティクスの被検下にある試料との適正なアライメントを保証することが、検査プロセス中に要求されない分析検査デバイスを提供する。 - 特許庁

To provide an automatic ticket inspection machine that detects a user who tries to illegally pass pretending to be an infant who is charged free.例文帳に追加

無賃扱いの乳幼児を装って不正に通行しようとする利用者を検出することができる自動改札機を提供する。 - 特許庁

To provide an inspecting method and an apparatus with respect to property inspection of a barreled beverage wherein accurate sample inspection can be performed without waste in the beverage and free from troubles of a preservation space and handling heavy objects.例文帳に追加

樽詰め飲料の性状検査に関して、飲料の無駄、保存場所および重量物取扱いの問題がなく厳密なサンプル検査を実施できる検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an aluminum alloy sheet for a can body free from incorrect ejection by inner surface inspection for a can after being made, and capable of improving productivity.例文帳に追加

製缶後の缶内面検査による誤排出がなく、生産性の向上が可能な缶ボディ用アルミニウム合金板を提供すること。 - 特許庁

Free channels of A/D input port parts of the input/output ICs 21-1 to 21-3 for keyboard control are assigned for input of monitor signals and free channels of D/A output port parts are assigned to output of inspection signals.例文帳に追加

鍵盤制御用入出力ＩＣ２１-1〜２１-3のＡ／Ｄ入力ポート部の空きチャンネルをモニタ信号の入力用に割り当て、Ｄ／Ａ出力ポート部の空きチャンネルろ検査信号の出力に割り当てる。 - 特許庁

To provide a surface inspection device capable of obtaining a cyclic two-dimensional image free from density irregularities, even if the rotary axial line of an inspection head is not made to strictly coincide with the center line of a cylindrical body.例文帳に追加

検査ヘッドの回転軸線と被検査物である円筒体の中心線とを厳密に一致させなくても、周期的な濃淡のない二次元画像を得ることができる表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive inspection kit for bacterial or the like having high productivity, free from mistake of a using order of liquid and mixing of liquid during storage.例文帳に追加

液体の使用順序を間違えることがなく保管中に液体の混ざることがない、生産性が高く低コストな細菌等の検査キットを提供。 - 特許庁

To provide a suspension device for a trolley wire with a damper function free from frequent maintenance, inspection and member replacement, which has a simple structure and can be easily manufactured.例文帳に追加

頻繁な保守点検、部材交換の必要がなく、簡易構造で製造が容易なダンパ機能を備えたトロリ線の吊架装置を提供する。 - 特許庁

To remove an electric charge charged in a measuring system from an inspection unit such as an SMU and a VMU to a probe tip, to make a device free from being damaged, and to obtain a correct measured value.例文帳に追加

ＳＭＵやＶＭＵなどの検査ユニットからプローブ先端までの測定系に帯電した電荷を除電し、デバイス破壊が無く、正しい測定値を得る。 - 特許庁

To make a free moving inspection (navigation) and reinspection (review) easy in a medical image displaying system and method for assisting a rapid and correct diagnosis.例文帳に追加

医用画像を表示するシステム及び方法について、自由移動閲覧（ナビゲート）及び再閲覧（レビュー）を容易にして、適正な診断を迅速に下すのを助ける。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device and method of high reliability for a fuel rod for a nuclear reactor free from a personal error by a determining person, exact and excellent in reproducibility.例文帳に追加

判定者による個人差がなく、信頼性が高く、厳密で再現性のある原子炉用燃料棒の検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

A fan filter unit 16b is disposed at the upper part of an inspection part frame 15, and the optical system 40 and a stage 300 are arranged on a vibration-free base 20.例文帳に追加

検査部筐体１５の上部にファンフィルタユニット１６ｂが設けられ、除振台２０の上には光学系４０及びステージ３００が配置されている。 - 特許庁

An inspection device which uses surface a sum frequency generating device is introduced to monitor and control the amount of the fixed layer and the free layer in the lubricating film.例文帳に追加

表面和周波発生装置を用いた検査装置を導入し、これにより潤滑膜中の固定層量とフリー層量を管理、制御する。 - 特許庁

To provide a suspension device for a trolley wire with a damper function free from frequent maintenance, inspection and member replacement, easily manufacturable and relatively inexpensively obtainable.例文帳に追加

頻繁な保守点検、部材交換の必要がなく、製造が容易で比較的安価に得られるダンパ機能を備えたトロリ線の吊架装置を提供する。 - 特許庁

The production pathway navigation system is configured to calculate the percentage of defect-free product for every manufacturing history and model based on manufacturing history information transmitted from a manufacturing process management device and inspection history information transmitted from the inspection process management device, and determines the optimal production pathway from the calculated percentage of defect-free product.例文帳に追加

この生産経路ナビゲートシステムは、まず、製造工程管理装置から送信された製造履歴情報と、検査工程管理装置から送信された検査履歴情報とに基づいて、製造履歴、機種毎に直行率を算出し、算出した直行率から最適な生産経路を決定しておく。 - 特許庁

The free channels of the A/D converter input port sections of input/output ICs 21-1 to 21-3 for controlling the keyboard are allocated for the input of the monitor signal and the free channels of the D/A output port sections are allocated to the output of the inspection signal.例文帳に追加

鍵盤制御用入出力ＩＣ２１-1〜２１-3のＡ／Ｄ入力ポート部の空きチャンネルをモニタ信号の入力用に割り当て、Ｄ／Ａ出力ポート部の空きチャンネルを検査信号の出力に割り当てる。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection unit for a ceramic roller which is capable of inspecting surface defect and an internal defect in a single sitting, in a short time, and free from restrictions due to the surface hue of the ceramic roller.例文帳に追加

表面の欠陥と内部の欠陥との両方を１度に、短時間で検査でき、かつ転動体の表面の色相による制約を受けない、セラミックス製の転動体の検査方法および検査ユニットを提供すること。 - 特許庁

To provide a Barkhausen noise inspection device which is capable of performing accurate inspection without being affected by the variance of a gap between a sensor head including an excitation coil and a noise detection sensor and an inspection object and allows miniaturization of the sensor head and is free from the problem of interference between AC magnetic field in noise detection and gap detection.例文帳に追加

励磁コイルおよびノイズ検出センサを含むセンサヘッドと、検査対象物との間のギャップの変動に影響されず、高精度の検査を行えると共に、センサヘッドの小形化を図れ、ノイズの検出とギャップの検出とに交流磁界間の干渉の問題が生じないバルクハウゼンノイズ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an error-free and efficient work system in inspection work on valves to be isolated before carrying out risky piping and repair work in a reactor.例文帳に追加

原子炉内の危険な配管や補修の作業を行う前の隔離する弁の点検作業において、ミスのない、かつ効率的な作業システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a cleaning member or sheet for substrate treatment apparatus such as apparatuses for producing a semiconductor and a flat panel display and an inspection device to be free from foreign materials.例文帳に追加

本発明は、例えば、半導体、フラットパネルディスプレイなどの製造装置や検査装置など、異物を嫌う基板処理装置のクリーニング部材又はシートを提供する。 - 特許庁

In the inspection method, the thin film magnetic head 10 is prepared, which includes magnetoresistive effect films having a free layer 40 whose magnetization direction is varied in response to an external magnetic field and ferromagnetic layers 51 and 52 for applying a bias magnetic field to the free layer.例文帳に追加

本発明の検査方法では、外部磁界に応じて磁化方向が変化するフリー層４０及び該フリー層にバイアス磁界を印加するための強磁性層５１，５２を有する磁気抵抗効果膜を備えた薄膜磁気ヘッド１０を準備する。 - 特許庁

The Lissajous waveform of the inspection object which is beforehand known to be free of flaw is set as a reference waveform, and it is determined whether or not there is a flaw by whether the Lissajous waveform drawn by the inspection object and the reference waveform are within a predetermined error.例文帳に追加

予め無傷であることがわかっている被検査物のリサージュ波形を基準波形として設定しておき、被検査物の描くリサージュ波形と、基準波形とが一定の誤差内に収まっているか否かで有傷又は無傷を判定する。 - 特許庁

To improve a robot platform for remotely controlled and/or autonomous inspection of technical facilities comprising at least drive means, inspection means, means for acquiring position data, and communication means, solve drawbacks of a well-known inspection unit, substantially improve compatibility to various inspection purposes and scenes, and provide extremely simplified and trouble-free data communication.例文帳に追加

技術設備を遠隔操作式および／または自律式に検査するロボット用プラットフォームであって、少なくとも、駆動手段と、検査手段と、位置データを求めるための手段と、通信手段とを備えているものを改良して、公知の検査ユニットの欠点を解消して、様々な検査目的および検査場面に対する適合性を大幅に改善し、著しく簡素化されたトラブルのないデータ通信が得られるものを提供する。 - 特許庁

The inspection result writing section 53 includes an image processing priority writing section 54 for continuing the execution of a control program without writing newly obtained inspection results when free space in the output buffer 56 runs short, and an output processing priority writing section 55 for interrupting the execution of the control program until the inspection results can be written into the output buffer 56 by reading the inspection results.例文帳に追加

検査結果書込み部５３は、出力バッファ５６内の空き容量が不足した場合に、新たに得られた検査結果を書き込まずに制御プログラムの実行を継続させる画像処理優先書込み部５４と、検査結果が読み出されることによって出力バッファ５６に検査結果が書き込めるようになるまで制御プログラムの実行を中断させる出力処理優先書込み部５５とからなる。 - 特許庁

The controller box 16 is integrated with the upper frame 15, and thereby a free space capable of being used as a scaffold for installation or maintenance/inspection work of other parts can be provided on a surface of the car chamber 12.例文帳に追加

また、コントローラボックス１６が上部フレーム１５と一体化されるため、かご室１２の上面には他部品の設置や保守・点検作業時の足場として利用できるフリースペースができる。 - 特許庁

To detect a flaw with high sensitivity by calculating different strains produced at each time of imaging and correcting the different strains at each image to output a strain-free inspection image.例文帳に追加

撮像する度に発生する異なる歪を算出し、画像毎に異なる歪補正をすることによって、高感度での欠陥検出を可能とし、かつ、歪の無い検査画像を出力する。 - 特許庁

To provide a rooftop greening planter to be used for greening a rooftop of a building, making a user free from the need of inspection task of a dry condition of soil, and capable of supplying water for a long period.例文帳に追加

ビルの屋上緑化に用いる屋上緑化プランターにおいて、土壌の乾燥状態の監視作業をしなくても良く、かつ、長期間に亘って水を供給できるようにする。 - 特許庁

The semiconductor device S is inspected in a bias-free state using electromagnetic waves generated by the irradiation of pulse laser beams, an inspection range is set by referring to layout information for the semiconductor device S, and two-dimensional scanning is performed by inspection light L1 of the pulse laser beams within the range.例文帳に追加

半導体デバイスＳに対し、パルスレーザ光の照射によって発生する電磁波を利用して無バイアス状態で検査を行うとともに、半導体デバイスＳのレイアウト情報を参照して検査範囲を設定し、その範囲内でパルスレーザ光の検査光Ｌ１による２次元走査を行う。 - 特許庁

Thereby, the visual inspection of a multiple layers phase defect becomes possible by an easy and practical through-put in a hole pattern which cannot be inspected easily by a mask inspection, and the yield is improved by supplying a defect free mask which is performed with a defective relief according to classification of the cause of failure.例文帳に追加

これにより、マスク検査では容易に検査できないホールパターンにおける、多層膜位相欠陥を容易かつ実用的なスループットで外観検査が可能となり、欠陥の原因の分類に応じた欠陥救済を行った無欠陥マスクを供給することで歩留まりが向上する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and device capable of identifying at high speed surface state of an inspection object part as whether being "color irregularity" or "fault spot accompanied by unevenness, such as flaws" caused by surface processing, or "both of them" or "non-defective free of either".例文帳に追加

被検査部品の表面状態を表面処理の結果生じた「色むら」なのか、「キズ等の凹凸を伴う不良箇所」であるのか、あるいは、「その両方である」のか、「何れでもない良品」であるのかを高速で識別することが可能な外観検査方法及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁

The contact part 2 has a contact base part 21 bonded to the free end of the beam part 3, and a projection part 22 formed on the end face 21a facing to the inspection object 102 on the contact base part 21.例文帳に追加

コンタクト部２は、ビーム部３の自由端部に接合されたコンタクトベース部２１と、コンタクトベース部２１の検査対象物１０２と対向する端面２１ａに形成される突起部２２とを有する。 - 特許庁

To provide a maintenance-free light source device, for inspection, of a long life and a reduced size capable of preventing missing in a spectral distribution, having a uniform illuminance distribution, and capable of switching quickly colors and luminous energy levels.例文帳に追加

分光分布に抜けがなく、均一な照度分分布を有し、高速に光量や色の切替が可能で、メンテナンスの不要な長寿命であって、小型化した検査用光源装置を実現する。 - 特許庁

The inspection by the inventors shows that a magnetoresistance change (ΔRA) per unit area increases in at least one of the free magnetic layer 58 and the pinned magnetic layer 56.例文帳に追加

本発明者らの検証によれば、自由磁性層５８および固定磁性層５６の少なくともいずれかで単位面積あたりの磁気抵抗変化量（ΔＲＡ）が増大することが確認された。 - 特許庁