「instruction defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

When the good item indicating button 8 or the garbage instruction button 9 is selected, the inspecting device recognizes that the defect corresponding to the button selected causes no problem, and the inspecting result of the defect is changed from the defect to the good item.例文帳に追加

良品指示ボタン８あるいはごみ指示ボタン９が選択された場合、検査装置は、選択されたボタンに対応する欠陥を問題なしと認識して、この欠陥についての検査結果を欠陥から良品に変更する。 - 特許庁

To analyze the cause of an error if the execution of a test instruction sequence is stopped due to a processor logic defect or if an infinite loop is entered and no execution result is obtained.例文帳に追加

処理装置論理不良により試験命令列が実行停止、もしくは無限ループに陥り実行結果が得られない場合、エラー原因を解析する。 - 特許庁

If the result of processing in a co-processor which receives a calculation instruction is not correct, the co-processor asserts an exceptional flag, and outputs it to a defect detection part.例文帳に追加

たとえば、演算命令を受信したコプロセッサでの処理結果が誤りである場合、そのコプロセッサは例外フラグをアサートし、不良検出部に出力する。 - 特許庁

When an instruction to start correction is sent, the main controller 65 reads thumbnail image data of all defect to be reviewed from the storage section 66 and outputs them to a display 7.例文帳に追加

修正開始の指示が出された場合、主制御部６５は記憶部６６から全てのレビュー対象欠陥のサムネイル画像データを読み出して、ディスプレイ７へ出力する。 - 特許庁

To certainly detect a defect part inside a program not rightly set with a protection section even if the program is a program wherein execution order of an instruction is not uniquely determined.例文帳に追加

命令の実行順序が一意に決まらないプログラムであっても、保護区間が正しく設定されていないプログラム中の欠陥箇所を確実に検出できるようにする。 - 特許庁

To provide an image processor capable of changing a setting value of a print parameter related to a drawing instruction when a defect occurs in a print image to be printed.例文帳に追加

印刷対象の印刷イメージに不具合が発生している場合に、描画に関する命令にかかわる印刷パラメータの設定値を変更することのできる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

Redundancy definition data for realizing a redundancy function of a memory device including arrangement of spare cells in a memory device and position information of a defect relieving range in which defect is relived by the spare cells is preparing by using a programming language A including item names, operation equation, and a repeating instruction.例文帳に追加

メモリデバイスのリダンダンシ機能を実現するための、メモリデバイス内のスペアセルの配置と、このスペアセルによって救済される不良救済範囲の位置情報とを含むリダンダンシ定義データを、項目名、演算式および繰返し命令を含むプログラミング言語Ａを用いて作成する。 - 特許庁

To provide a test having a function for finding out an instruction which is a factor, and an object function when an expected value and an executed result value are not matched and avoiding the occurrence of a defect caused by the same factor.例文帳に追加

期待値と実行結果値とが不一致の場合、要因となった命令及び対象機能を見つけ出し、同一要因による不良の発生を回避する機能を有する試験を提供する。 - 特許庁

A defect correction circuit 114 carrys out correction processing of a defective pixel on the basis of an instruction from a pixel detection circuit 113 and carrys out replacement processing of a pixel signal to an optional pixel designated from an operation section on the basis of pixel designation information set to the defect correction circuit 114 via a microcomputer 117.例文帳に追加

欠陥補正回路１１４は、画素検出回路１１３からの指示に基づいて欠陥画素の補正処理を行うとともに、マイクロコンピュータ１１７を介して欠陥補正回路１１４に設定された画素の指定情報に基づいて、操作部から指定された任意の画素に対して画素信号の置換処理を行う。 - 特許庁

When the defect is caused by a device 32, an instruction for stopping the shipment of the device 32 to terminals 10 to 1n in a factory 60 is transmitted and an advice for stopping of using is transmitted to terminals 2 to n at the customers B to N providing the device 32.例文帳に追加

また、デバイス３２に不良原因がある場合、工場６０の端末１０〜１ｎへデバイス３２の出荷停止命令を送信し、デバイス３２を提供した客先Ｂ〜Ｎの端末２〜ｎへ使用中止勧告を送信する。 - 特許庁

Thereby, the block of the FM for which the write instruction for "all zero" has been issued is kept in an erasure state (all one (ALL FFh)), so that the block can be used for relief of a defect block or for writing of data other than "all zero".例文帳に追加

これによって、オールゼロの書き込み命令がなされたＦＭのブロックを消去状態（オールイチ（ＡＬＬ ＦＦｈ））に保てるため、このブロックを、不良ブロックの救済用や、オールゼロ以外の書き込み用で使用することができる。 - 特許庁

As a result, the measurement of the gamma voltages outputted by the gamma voltage levels generated within a driver IC by using an external output pins of the IC and instruction words is made possible and the effective utilization for gamma tuning, improvement of image quality, defect analysis, and driving analysis, etc., is made possible.例文帳に追加

これによって、ドライバＩＣの外部出力ピン及びテスト用命令語を使用して、ＩＣ内部で生成されるガンマ電圧レベル別に出力されるガンマ電圧を測定可能となり、ガンマチューニング、画質改善、不良分析、及び駆動分析等に活用することができる。 - 特許庁

When the retry requirement-judging means 69 judges that a pattern defect exceeding an amount being specified within a region range that is specified in advance exists during inspection, the repeated inspection instruction means 61 automatically inspects a region including the range at least for two times.例文帳に追加

リトライ必要性判定手段６９により、検査中にあらかじめ指定された領域範囲内に指定された量以上のパターン欠陥があると判定した場合に、繰り返し検査命令手段６１によりそこを含む領域に関して、自動的に２回以上繰り返し検査する。 - 特許庁

To provide a holder which is used for exposing a printing circuit panel to light, efficiently realized to strike an artwork against the printing circuit panel with good accuracy and averts the defect accompanying the presence of a transparent base resembling glass frames within an instruction body for the artwork of the holder for exposure.例文帳に追加

印刷回路パネルを光に晒すためのホルダーであって、当該ホルダーが、アートワークを非常に精度良く印刷回路パネルに当てることを効率良く実現し、ガラス枠や類似した透明支持体が露出用ホルダーのアートワーク用指示体内に存在することに伴う欠点を避けるホルダーを提供する。 - 特許庁

Defects imaged in the respective selected inspection images are correlated, and processing is carried out to compose one two-dimensional composition image 100 from the respective selected inspection images, based on defect position information input as information indicating positions of the defects imaged in the respective selected inspection images, when receiving an instruction to select at least two out of the two or more of inspection images, and the composition image 100 is displayed.例文帳に追加

また、そのうち少なくとも２枚を選択する指示が受け付けられると、選択された各検査画像に写っている欠陥の位置を示す情報として入力される欠陥位置情報に基づいて、選択された各検査画像に写っている欠陥同士を関連付けて、選択された各検査画像から１枚の２次元合成画像１００を合成する処理が行われ、合成画像１００が表示される。 - 特許庁