「ion source」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

An ion source and a method are provided in which molecular ion is generated in a cold operation mode and atomic ion is generated in a hot operating mode.例文帳に追加

コールド動作モードで分子イオンを生成し、ホット動作モードで原子イオンを生成するイオン源と方法が提供される。 - 特許庁

The gas contamination sensor includes an ion source which produces ion beam from the sample of gas to be tested, a first and a second ion detectors while respective first and second ion detectors receive ion from ion beams deflected in different ranges.例文帳に追加

ガス汚染センサは、試験されるガスのサンプルからイオンビームを生成するイオン源と、第１及び第２イオンディテクタとを含み、第１及び第２イオンディテクタの各々は異なる範囲で偏向されたイオンビームからのイオンを受ける。 - 特許庁

The focused ion beam device comprises the ion source 2, focusing lens 4 to finely focus the ion beam generated from the ion source 2 on the material 3 to be processed, a deflector 5 for secondary scanning on the sample by means of the ion beam and so forth.例文帳に追加

イオン源２、イオン源２から発生したイオンビームを被加工材料３上に細く集束するための集束レンズ４、及び、イオンビームにより被加工材料３上を二次元的に走査するための偏向器５等を備える。 - 特許庁

Thus, mechanical vibration of the refrigerator propagated to the gas field ionization ion source is reduced, and an ion source brightness is enhanced compatibly as well as to enhance ion beam convergence performance.例文帳に追加

本発明により、ガス電界電離イオン源に伝播する冷凍機の機械振動を低減でき、イオン源輝度の向上と、イオンビームの集束性能向上と、を両立できる。 - 特許庁

In the focusing ion beam device, a convergent lens is arranged on the subsequent stage of the liquid metal ion source, and a beam limiting device is provided on the subsequent stage of the liquid metal ion source.例文帳に追加

液体金属イオン源の後段に収束レンズを配置し、かつ前記収束レンズの後段にビーム制限絞りを設けたことを特徴とする集束イオンビーム装置。 - 特許庁

To provide a microwave ion source capable of changing kinds and the number of charges of the ion as well as operating modes without changing a plasma generating room or an ion source as a whole.例文帳に追加

プラズマ生成室又はイオン源全体を交換せずとも、イオンの種類及び荷数、並びに操作モードを変化させることが可能なマイクロ波イオン源の提供。 - 特許庁

To provide an ion source to accomplish a high density of a high-frequency plasma.例文帳に追加

高周波プラズマの高密度化を図ったイオン源を提供する。 - 特許庁

EMITTER TIP ACUMINATION METHOD AND DEVICE OF FIELD IONIZATION TYPE GAS ION SOURCE例文帳に追加

電界電離型ガスイオン源のエミッタティップ先鋭化方法及び装置 - 特許庁

CATHODE ASSEMBLY USED FOR INDIRECTLY HEATED CATHODE ION SOURCE例文帳に追加

間接的に加熱されるカソードイオン源に使用されるカソード組立体 - 特許庁

ISOTOPE RATIO ANALYSIS METHOD USING PLASMA ION SOURCE MASS SPECTROSCOPE例文帳に追加

プラズマイオン源質量分析装置を用いた同位体比分析方法 - 特許庁

OBSERVING METHOD OF NUCLEAR REACTOR NEUTRINOS BY CAPACITOR-TYPE HYDROGEN ION BEAM SOURCE例文帳に追加

コンデンサー型水素イオンビーム源による原子炉ニュートリノの観測法 - 特許庁

LITHIUM-ION SECONDARY BATTERY AND POWER SOURCE FOR ELECTRIC AUTOMOBILE USING IT例文帳に追加

リチウムイオン二次電池及びそれを用いた電気自動車用電源 - 特許庁

FILM REMOVING DEVICE OF BEAM IRRADIATION ELECTRODE IN ION SOURCE, ION SOURCE EQUIPPED WITH THIS, AND MEMBER FOR FILM REMOVING OF BEAM IRRADIATION ELECTRODE例文帳に追加

イオン源におけるビーム照射電極の被膜除去装置、これを備えたイオン源、及びビーム照射電極の被膜除去用部材 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a low-cost liquid metal ion source.例文帳に追加

低コストの液体金属イオン源の製造方法を提供する。 - 特許庁

Therefore, the ion source 7 is prevented from becoming a negative pressure.例文帳に追加

これにより、大気圧イオン源７が陰圧になることが防止される。 - 特許庁

To easily and efficiently carry out a centering adjustment of an ion source device.例文帳に追加

イオン源装置のセンタリング調整を容易に効率よく行うこと。 - 特許庁

ION SOURCE FOR TIME-OF-FLICHT MASS SPECTROMETER FOR GAS SAMPLE ANALYSIS例文帳に追加

ガスサンプル分析用の飛行時間型質量分析計用のイオン源 - 特許庁

To provide a galium liquid metal ion source which works stably for a long time.例文帳に追加

ガリウム液体金属イオン源を長期間、安定して稼働させる。 - 特許庁

METHOD AND TOOL FOR POSITIONING OF ION SOURCE FOR MASS SPECTROSCOPY例文帳に追加

質量分析装置用イオン源のカラム位置決め方法および治具 - 特許庁

This ion milling device is provided with an ion beam source radiating ion beams to the specimen, an acceleration electrode accelerating ions of the ion beam source and functioning as a secondary electron suppressor, and an ion beam current measurement apparatus measuring electric current of the ion beams, and the acceleration electrode is installed between the specimen and the ion beam source.例文帳に追加

本発明は、試料にイオンビームを照射するイオンビーム源と、前記イオンビーム源のイオンを加速させるとともに二次電子サプレッサとして機能する加速電極と、前記イオンビームの電流を測定するイオンビーム電流測定器とを備え、前記試料と前記イオンビーム源との間に前記加速電極を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

Impurity gas is introduced to an ion source 2 from an impurity gas source 1 and is ionized.例文帳に追加

不純物ガス源１から不純物ガスをイオン源２に導入し、不純物ガスをイオン化させる。 - 特許庁

Thermal conductivity of the ion layer is enhanced by the thickness of the ion layer and through use of a heat absorption source (26) fixed to the ion layer.例文帳に追加

イオン層からの熱伝導性はイオン層の薄さにより及びイオン層に取り付けられた吸熱源（２６）の使用により向上される。 - 特許庁

This ion implantation device 10 comprises a mechanism from an ion source part 11 through a beam line part 12 to an ion chamber 13.例文帳に追加

イオン注入装置１０は、イオンソース部１１からビームライン部１２を介してイオン注入室１３に至る機構が構成されている。 - 特許庁

A mass spectrometer 10 is configured with an ion source 1, an ion introduction part 2, a mass separation part 3, an ion detector 4, and the like.例文帳に追加

質量分析装置１０をイオン源１、イオン導入部２、質量分離部３、およびイオン検出部４などによって構成する。 - 特許庁

A negative ion source S containing hydride ions is heated at a predetermined temperature by an ion supply unit 21.例文帳に追加

イオン供給ユニット２１は、水素化物イオンを含有するマイナスイオンソースＳを所定温度で加熱する。 - 特許庁

This ion beam irradiation device is equipped with an ion source to generate an ion beam 4, an electron beam source G to emit an electron beam two-dimensionally scanned in the ion source 2, a power supply 14 for it, an ion beam monitor 10 to measure the two-dimensional beam current distribution of the ion beam 4 at a position equivalent to the substrate, and a control device 12.例文帳に追加

このイオンビーム照射装置は、イオンビーム４を発生するイオン源２と、イオン源２内で２次元で走査される電子ビームを放出する電子ビーム源Ｇと、それ用の電源１４と、基板相当位置におけるイオンビーム４の２次元のビーム電流分布を測定するイオンビームモニタ１０と、制御装置１２とを備えている。 - 特許庁

Ion particles are injected from a prescribed ion source to be captured by a line of magnetic force of the earth.例文帳に追加

所定のイオン源より地球の磁力線に捕捉されるようにしてイオン粒子を噴射させる。 - 特許庁

When an ion beam 4 is extracted from an ion source 2 by using a gas containing boron trifluoride for an ion source gas 50 supplied into a plasma chamber vessel 20 of the ion source 2, a bias voltage V_B of a plasma electrode 31 to the plasma chamber vessel 20 of the ion source 2 is set at a positive voltage by a bias circuit 64.例文帳に追加

イオン源２のプラズマ室容器２０内に供給するイオン源ガス５０として三フッ化ホウ素を含むガスを用いてイオン源２からイオンビーム４を引き出すときに、バイアス回路６４によって、イオン源２のプラズマ室容器２０に対するプラズマ電極３１のバイアス電圧Ｖ_B を正電圧にする。 - 特許庁

This ion microscope includes the gas field ionization ion source, is constituted to install a refrigerator for cooling the gas field ionization ion source independently of an ion microscope body, and is provided with a refrigerant circulation circuit cooling mechanism for circulating a refrigerant between the gas field ionization ion source and the refrigerator.例文帳に追加

本発明は、ガス電界電離イオン源を備えたイオン顕微鏡において、ガス電界電離イオン源を冷却する冷凍機をイオン顕微鏡本体とは独立に設置し、ガス電界電離イオン源と冷凍機の間で冷媒を循環させる冷媒循環回路冷却機構を設けることに関する。 - 特許庁

A storage section 20 repeatedly performs a storing operation for storing an ion generated by the ion source 10 and a discharging operation for discharging the stored ion as an ion pulse.例文帳に追加

蓄積部２０は、イオン源１０で生成されたイオンを蓄積する蓄積動作と、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出する排出動作と、を繰り返し行う。 - 特許庁

To provide an ion guide which has a high ion transport efficiency by the ion guide while preventing reduction of the degree of vacuum in a chamber at the maintenance time or the like of an ion generation source.例文帳に追加

イオン発生源のメンテナンス時等におけるチャンバ内の真空度の低下を防止しながらもイオンガイドによるイオン輸送効率の高いイオンガイドを提供する。 - 特許庁

To provide an ion source for an ion implantation device for containing a solid material source for sputtering and minimizing influence of the change of this material source.例文帳に追加

スパッタ用ソリッド材料源を包含し、さらに、この材料源の変更による影響を最小限にするためのイオン注入装置用のイオン源を提供すること。 - 特許庁

To provide an ion source device and an ion generation method, for stabilizing a supply volume of a raw material, eventually for stably generating ion, and an ion implantation device equipped with the ion source device, as well as an ion implantation method generating ions by the ion generation method.例文帳に追加

原材料の供給量を安定化することができ、ひいてはイオンを安定して発生させることができるイオン源装置およびイオン発生方法、ならびに前記イオン源装置を備えるイオン注入装置および前記イオン発生方法によってイオンを発生させるイオン注入方法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the ion gun 2 has an ion deflection part 23 which deflects ion beams I out of the ion beam I extracted from the plasma source 21 to the extraction electrode 22 and light emitted together with the ion beams I from the plasma source 21, in the direction of the processed object W.例文帳に追加

更にイオン銃２は、プラズマ源２１から引き出し電極２２に引き出されたイオンビームＩ、及びプラズマ源２１からイオンビームＩと共に放射された光のうち、イオンビームＩを被加工物Ｗの方向に偏向するイオン偏向部２３を有する。 - 特許庁

In a mass spectrometry device having an ion source, an ion guide part, and an ion trap, ions and ions with reverse polarity trapped in the ion trap are introduced to the ion guide part while the ions are discharged from the ion trap at a mass-selective state.例文帳に追加

イオン源と、イオンガイドと、イオントラップとを有する質量分析装置において、イオントラップから質量選択的にイオンを排出している間に、イオンガイド部に、イオントラップにトラップされているイオンと逆極性のイオンを導入する。 - 特許庁

OBSERVATION METHOD OF SOLAR NEUTRINO BY CAPACITOR TYPE HEAVY HYDROGEN ION BEAM SOURCE例文帳に追加

コンデンサー型重水素イオンビーム源による太陽ニュートリノの観測法 - 特許庁

A form in which a sulfate ion source is either calcium sulfate or aluminum sulfate and a form in which a barium ion source is barium chloride, etc., are preferable.例文帳に追加

硫酸イオン源が、硫酸カルシウム及び硫酸アルミニウムのいずれかである態様、バリウムイオン源が、塩化バリウムである態様、などが好ましい。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR FILM DEPOSITION BY NEGATIVE ION IRRADIATION AND MULTI-SOURCE EVAPORATION例文帳に追加

負イオン照射・同時蒸着による膜形成方法とその装置 - 特許庁

To improve the performance of an electric power storage device provided with an ion supply source.例文帳に追加

イオン供給源を備える蓄電デバイスの性能を向上させる。 - 特許庁

The magnetic field strength is continuously kept at a constant value or higher (nonzero) from a cyclotron 50 to an ECR ion source (ion source) 20.例文帳に追加

サイクロトロン５０からＥＣＲイオン源（イオン源）２０までの磁場の強度が連続的に一定値以上に保たれている（零とならない）点である。 - 特許庁

STRUCTURE FOR PREVENTING GAS FROM DISCHARGE IN PIPING AND GAS ION SOURCE HAVING SAME例文帳に追加

管内ガスの放電防止構造及びその構造を備えるガスイオン源 - 特許庁

A source part 1 generates a gas cluster ion beam 10 as a neutral beam.例文帳に追加

ソース部１は、中性ビームであるガスクラスターイオンビーム１０を生成する。 - 特許庁

ION SOURCE FOR MASS SPECTROMETER AND MASS SPECTROMETER HAVING THE SAME例文帳に追加

質量分析計用のイオン源及びこれを備えた質量分析計 - 特許庁

First, a source diffusion layer is formed through ion implantation and thermal diffusion.例文帳に追加

まず、イオン注入及び熱拡散によりソース拡散層を形成する。 - 特許庁

METHOD FOR QUANTITATIVELY DETERMINING BRANCHED PARAFFIN, ION SOURCE, AND MASS SPECTROSCOPE例文帳に追加

分岐パラフィンの定量方法、並びにイオン源及び質量分析装置 - 特許庁