「ion transmission」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an extreme ultraviolet light source apparatus in which the reflectivity of an EUV collector mirror is hard to degrade when the particles of low transmission coefficient against EUV light stick even if a high speed ion released from plasma collides with a structure within a vacuum chamber.例文帳に追加

プラズマから放出される高速イオンが、真空チャンバ内の構造物に衝突しても、ＥＵＶ光に対する透過率の低い粒子の付着により、ＥＵＶコレクタミラーの反射率が低下し難い極端紫外光源装置を提供する。 - 特許庁

This sampling apparatus used in preparing samples for transmission electron microscope observation by a focused ion beam processing apparatus includes a probe which can rotate which its shaft being as an axis of rotation and a rotating means for rotating the probe.例文帳に追加

また、集束イオンビーム加工装置による透過電子顕微鏡観察用試料作製に用いるサンプリング装置は、プローブの軸を回転軸とする回転が可能なプローブと、その回転を行うための回転手段とを備えることを特徴とする。 - 特許庁

This method for making a sample comprises thinning a sample piece 2 that becomes the transmission electron microscopic sample, forming a pattern by a photo resist 3 followed by etching, and polishing a formed etched part 4 by an ion milling device to form an observation part 5.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡観察用の試料となる試料片２を薄片化した後、フォトレジスト３でパターンを形成して、エッチングを行い、形成されたエッチング部４にイオンミリング装置による研磨を行って観察部５を形成する試料作製方法である。 - 特許庁

The transparent electrodes 5, 6 are formed on the glass plates 1, 2 by ion plating method using an evaporation material containing indium as a main component, of which, the light transmission rate at the wave length of 400 nm is not less than 85%, and not less than 70% at 350 nm.例文帳に追加

透明電極５，６は、インジウムを主成分とする被蒸発物質を用いてイオンプレーティング法によりガラス基板１，２に成膜されて成り、さらに、光透過率が波長４００ｎｍで８５％以上、波長３５０ｎｍで７０％以上である。 - 特許庁

To effectively remove an amorphous layer without generating deposits again in relation to a sample-forming apparatus for a transmission type electron microscope which removes the amorphous layer generated to the side face of an observation part when forming the thin-filmed observation part by a convergent ion beam apparatus.例文帳に追加

本発明は、集束イオンビーム装置により薄膜化した観察部を作製する際にその側面に生成される非晶質層を除去する透過型電子顕微鏡用試料作製装置に関し、再デポを生じさせないで有効に非晶質層を除去する。 - 特許庁

To provide a battery comprising a film shape electrolyte which in normal state can be handled as a solid electrolyte with no leakage of liquid and which, when heated, loses ion transmission and demonstrates shutdown function and incorporates this film shape electrolyte as a separator.例文帳に追加

通常は、液漏れのない固体電解質として取り扱うことができ、加熱された場合には、イオン透過性を喪失して、シャットダウン機能を発揮する薄膜状電解質と、このような薄膜状電解質をセパレータとして組み込んでなる電池を提供する。 - 特許庁

Amount of metallic compound layer formed in at least a part of a surface of the nanostructural body by applying different voltages to the first electrode and the second electrode, containing the metallic element included in the nanostructural body, and having a refractive index being different from that of the ion transmission layer differs.例文帳に追加

第１及び第２電極への異なる電圧の印加によって、ナノ構造体の表面の少なくとも一部において形成され、ナノ構造体に含まれる前記金属元素を含み、イオン伝導層とは屈折率が異なる金属化合物層の量が異なる。 - 特許庁

To provide a sample stage for a focused ion beam processing device, using an easy method for inexpensively making a plane-observed semiconductor thin sample, and to provide a method using the same for making the transmission type electron microscope plane-observed semiconductor thin sample.例文帳に追加

簡易な方法で安価に平面観察用半導体薄片試料を作製することを可能にする集束イオンビーム加工装置の試料ステージおよびこの試料ステージを用いた透過型電子顕微鏡平面観察用半導体薄片試料の作製方法の提供。 - 特許庁

This new method for forming a MOS structure having a GaAs base 140 includes the steps of ion implanting after formation of an oxide and thereafter performing slow heating and cooling operations, in such a manner that an interface defect detectable by a high-resolution transmission electron microscope essentially will not be generated.例文帳に追加

ＧａＡｓを基本とするＭＯＳ構造を形成する新しい方法は、酸化物形成後のイオン注入及び高分解透過電子顕微鏡によって検出できる界面欠陥が本質的に形成されないように行われるその後のゆっくりした加熱及び冷却を含む。 - 特許庁

To provide a membrane protein function measuring substrate applicable both to measurement of transmission of ions or molecules other than ions in an ion channel type membrane protein, and to measurement of activity of a metabolic type membrane protein, and a membrane protein function measuring method using the substrate.例文帳に追加

イオンチャネル型膜タンパク質におけるイオンやイオン以外の分子の透過の測定、及び代謝型膜タンパク質の活性の測定の両方に応用できる膜タンパク質機能測定基板、及びそれを用いた膜タンパク質機能測定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Gold plating is applied to the inside surfaces facing to an ion beam R of a quadrupole electrode 13 of this accelerator 10 for irradiating a target 20 with protons by accelerating them by an RFQ 12a and a DTL 12b, and drift tubes 14, the inside surface of a beam transmission duct 15, and a surface of a collimator electrode 15b.例文帳に追加

陽子をＲＦＱ１２ａ、ＤＴＬ１２ｂで加速してターゲット２０に照射する加速器１０の四重極電極１３及びドリフトチューブ１４のイオンビームＲに対向する内面、ビーム伝送ダクト１５の内面、コリメータ電極１５ｂの表面に、金メッキを施す。 - 特許庁

To provide a wiring circuit board assuring excellent long-term reliability by reducing transmission loss through a simplified layer structure, and improving close contact between a metal foil and an insulating layer and conductivity of conductors by preventing generation of ion migration phenomenon generated between the metal foil and insulating layer.例文帳に追加

簡易な層構成により、伝送損失を低減させることができるとともに、金属箔と絶縁層との間に生じるイオンマイグレーション現象の発生を防止して、金属箔と絶縁層との密着性および導体の導電性を向上させて、長期信頼性に優れる配線回路基板を提供すること。 - 特許庁

The sample processing and observing method includes: irradiating a sample 5 with a focused ion beam 3 to form an observed surface; irradiating the observed surface with an electron beam 4 to form an observed image; removing the surface opposite to the observed surface of the sample 5 to form a lamella 5t including the observed surface; and obtaining a transmission electron image of the lamella 5t.例文帳に追加

集束イオンビーム３を試料５に照射し観察面を形成し、電子ビーム４を観察面に照射し、観察像を形成し、試料５の観察面と反対側の面を除去し、観察面を含む薄片部５ｔを形成し、薄片部５ｔの透過電子像を取得する試料加工観察方法を提供する。 - 特許庁

In this method, based on position coordinates of the defect detected by defect detecting means, marking is made in the vicinity of the defect by using an ion beam, etc., sample is monitored with transmission electron microscope to specify the defective section from relative positional relationship between the marking and the defect, and then sample including the target defective section will surely be prepared.例文帳に追加

欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。 - 特許庁

To hold an observation desired portion stably on a sample holder, when extracting surely the observation desired portion from a large sample substrate and performing finishing process for preparing a thin-film sample, in a method for preparing the thin-film sample for performing observation by a transmission electron microscope by using a focused ion beam.例文帳に追加

集束イオンビームを用いて透過型電子顕微鏡で観察をおこなうための薄膜試料を作製する方法において、大きな試料基板から観察所望部位を確実に抽出し、薄膜試料作製のための仕上げ加工を行なう際に、観察所望部位を試料ホルダに安定して保持することができるようにする。 - 特許庁

A sample 2 is cut from a semiconductor chip to be made thin by mechanical polishing and the thin sample is attached to a single-ported mesh 6 for transmission type electron microscope observation and a Pt film 7 is formed to the part with specific depth of an end surface and irradiated with gallium ion beam 8 parallel to the main surface of the sample to make the part other than a principal part thin by etching.例文帳に追加

半導体チップから試料２を切り出し、機械的研磨により薄くした後、透過型電子顕微鏡観察用の単孔メッシュ６に取付け、端面の特定深さの部分にＰｔ膜７を形成し、試料の主面に平行なガリウムイオンビーム８を照射して要部以外の部分をエッチングして薄膜化する。 - 特許庁

Elution of fluorine ions can effectively be suppressed by adopting an electrolyte polymer having large ion exchange capacity in addition to conducting heat treatment pressing and holding in a temperature region from glass transmission temperature to thermal decomposition temperature of the electrolyte polymer to an electrode layer before conducting hot press of the MEA.例文帳に追加

電極層に対し、ＭＥＡのホットプレスを行う前に、電解質ポリマーのガラス転移温度から熱分解温度までの温度領域にて加圧保持する熱処理を行うことに加えて、イオン交換容量が大きい電解質ポリマーを採用することでフッ素イオンの溶出を効果的に抑制できることを見出した。 - 特許庁

In this method, based on position coordinate of the defect detected by defect detecting means, marking through ion beam, etc. is provided around the position coordinate, sample is observed with a transmission electron microscope to identify the defective area from relative positional relationship between the marking and the defect, reliably preparing sample which contains the target defective area.例文帳に追加

欠陥検出手段で検出した欠陥の位置座標を基準にして、その近傍にイオンビームなどによってマーキングし、試料を透過型電子顕微鏡で観察して、マーキングと欠陥との相対位置関係から、欠陥部を特定し、目的とする欠陥部を含む試料を確実に作製する。 - 特許庁

Such as optical waveguide element 10 is manufactured by forming a buried optical waveguide 14 by providing an ion transmission prevention film pattern 26 immediately on an surface type optical waveguide (an increased refractive index portion) 24 formed on the surface of the glass substrate 12 and burying the surface type optical waveguide in the glass substrate by an electric field impression method.例文帳に追加

このような光導波路素子１０は、ガラス基板１２の表面に形成した表面型光導波路（屈折率増加部分）２４の直上にイオン透過防止膜パターン２６を設け、該表面型光導波路を電界印加法によりガラス基板中に埋め込むことによって埋込型光導波路１４を形成することで製造できる。 - 特許庁

To provide a method for preparation of thinned samples that can prevent, when thinned samples are prepared by micro-machining utilizing a focused ion beam for use in transmission electron microscopic observation of sections of a film made up of an aggregate of micro-particulates, micro-particulates exposed on micro-machined end faces from coming off and prevent exposure of thinned regions from being exposed to the atmosphere.例文帳に追加

集束イオンビームを利用する微細加工により、微細粒子の凝集体からなる膜の断面を、透過電子顕微鏡観察する目的の薄片化試料を作製する際、微細加工端面に露呈する微細粒子の剥落を防止でき、また、薄片化された部位の大気暴露を防止可能な、薄片化試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

The actuator element 10 includes an element body 14 comprising a mixture of an elastomer containing silicone and an ion liquid, and having a displacement element 11 to be displaced when applied with voltage and electrodes 12, 13 for applying a voltage to the displacement element 11, and also includes a displacement transmission unit 15 to be displaced in an outside surface direction through the displacement of the displacement element 11.例文帳に追加

アクチュエータ素子１０は、シリコーンを含むエラストマーとイオン液体との混合物からなり、電圧が印加されることにより変位する変位子１１ならびに変位子１１に電圧を印加するための電極１２、１３とを有する素子本体１４と、変位子１１の変位によって面外方向に変位する変位伝達部１５とを具備する。 - 特許庁

The gas sensor element 2 includes a bottomed cylindrical solid electrolyte body 21 having oxygen ion conductivity, a reference electrode 22 arranged on the inside surface 212 of the solid electrolyte body 21 and a measuring electrode 23 arranged on the outside surface 213 of the solid electrolyte body 21, and a protection layer 24 for covering the measuring electrode 23 and allowing transmission of gas to be measured.例文帳に追加

本発明のガスセンサ素子２は、有底筒状の酸素イオン伝導性の固体電解質体２１と、この固体電解質体２１の内側面２１２に配される基準電極２２と固体電解質体２１の外側面２１３に配される測定電極２３と、この測定電極２３を覆うとともに被測定ガスを透過させる保護層２４とを有する。 - 特許庁

In the formation of the transmission electron microscope observation sample for a magnetic material by means of a convergent ion beam machining method, machining is carried out so that a width w1 of the thin piece machined part for observation and a sample thickness t in the part adjacent to the machined part satisfy the relation t<3×w1.例文帳に追加

磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料を集束イオンビーム加工法で作製するにあたり、観察をおこなう薄片加工部の幅ｗ_1 とそれに隣接した部分の試料厚みｔとの間に、ｔ＜３×ｗ_1 なる関係が成り立つように加工することを特徴とする磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法。 - 特許庁

To prevent decrease in the sample transmission capacity of electron beams in a STEM observation with decreased acceleration voltage and the bad influence of a damaged layer generated by the application of ion beams, to remove the damaged layer effectively by minimizing the damage to a desired region in a sample, and to prevent processing failure by detecting an optimum processing completion point in time even if the thickness of a thin-film sample is reduced.例文帳に追加

加速電圧を下げたＳＴＥＭ観察での電子ビームの試料透過能力の低下やイオンビームの照射により生じるダメージ層の悪影響を防ぎ、試料の所望の領域への損傷を最小限にしてダメージ層を効果的に除去すること、および薄膜試料の厚さがより薄くなっても最適な加工終了時点を検出して加工失敗を防ぐ。 - 特許庁