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BHF-1の意味・使い方・読み方 | Weblio英和辞書
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BHF-1とは 意味・読み方・使い方

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遺伝子名称シソーラスでの「BHF-1」の意味

BHF-1

human遺伝子名BHF-1
同義語(エイリアス)neurogenic differentiation 1; NeuroD1; NeuroD; NEUROD1; BETA2; Neurogenic differentiation factor 1; NEUROD
SWISS-PROTのIDSWISS-PROT:Q13562
EntrezGeneのIDEntrezGene:4760
その他のDBのIDHGNC:7762
mouse遺伝子名BHF-1
同義語(エイリアス)Neurod1; NeuroD1; neurogenic differentiation 1; Neurod; BETA2; Neurogenic differentiation factor 1
SWISS-PROTのIDSWISS-PROT:Q60867
EntrezGeneのIDEntrezGene:18012
その他のDBのIDMGI:1339708
rat遺伝子名BHF-1
同義語(エイリアス)neurogenic differentiation 1; Neurod1; NeuroD1; Neurod; Basic helix-loop-helix factor 1; Neurogenic differentiation factor 1
SWISS-PROTのIDSWISS-PROT:Q64289
EntrezGeneのIDEntrezGene:29458
その他のDBのIDRGD:3165

本文中に表示されているデータベースの説明

SWISS-PROT
スイスバイオインフォマティクス研究所欧州バイオインフォマティクス研究所によって開発運営されているタンパク質アミノ酸配列データベース
EntrezGene
NCBIによって運営されている遺伝子データベース染色体上の位置配列発現構造機能、ホモロジーデータなどが含まれている
HGNC
HUGO遺伝子命名法委員会により運営されるヒト遺伝子に関するデータベース
MGI
様々なプロジェクトによる研究マウス遺伝的生物学的なデータを提供するデータベース
RGD
ウィスコンシン医科大学により運営されるラット遺伝子ゲノム情報データベース

「BHF-1」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 5



例文

An etching grade when etching the SiO_2 of the gate oxide film 5 with a buffered hydrofluoric acid (BHF about 7%) is 1 nm/sec or more and 3 nm/sec or less.例文帳に追加

ゲート酸化膜5であるSiO_2をバッファードふっ酸(BHF約7%)でエッチングした場合のエッチングレートを、1 nm/sec以上3 nm/sec以下とした。 - 特許庁

Furthermore, it is desirable that the chemical liquid (HCl/O3/H2O/BHF or DHF) be a substance that DHF or BHF of 1% or less is added to the HCl/O3 water.例文帳に追加

また、薬液(HCl/O_3/H_2O/BHF又はDHF)は、HCl/O_3水に1%以下のDHF又はBHFを添加したものであることが望ましい。 - 特許庁

After a semiconductor layer 1 is formed on a substrate 60 and a gate insulting film 2 which can be etched with BHF at an etching rate of ≤4 nm/sec is formed to cover the semiconductor layer 1, a titanium film 34, an aluminum-containing film 35, and a titanium nitride film 36 are successively formed on the insulating film 2.例文帳に追加

基板上60に、半導体層1、これを覆うようにBHFによるエッチングレートが4nm/秒以下のゲート絶縁膜2を形成し、ゲート絶縁膜2上にチタン膜34、アルミニウムを含む膜35、窒化チタン膜36を順次成膜する。 - 特許庁

A semiconductor layer 1 is formed on a substrate 60, a gate insulation film 2 with an etching rate of 4 nm/sec or less by BHF is formed so that the semiconductor layer 1 can be covered, a titanium film 34, a film 35 containing aluminum, and a titanium nitride film 36 are successively formed on the gate insulation film 2.例文帳に追加

基板上60に、半導体層1、これを覆うようにBHFによるエッチングレートが4nm/秒以下のゲート絶縁膜2を形成し、ゲート絶縁膜2上にチタン膜34、アルミニウムを含む膜35、窒化チタン膜36を順次成膜する。 - 特許庁

例文

According to the manufacturing process, an inter-layer insulating film 9 is subjected to wet etching with 10:1 BHF followed by dry etching using the same resist mask 10 for the wet etching, to form contact holes 11, 12 consecutively on the inter-layer insulating film 9 and a gate insulating film 4.例文帳に追加

層間絶縁膜9に対する10:1 BHFによるウェットエッチングに続いて、同一レジストマスク10を用いたドライエッチングを行うことにより、層間絶縁膜9およびゲート絶縁膜4にコンタクトホール11,12を連続して形成する。 - 特許庁

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