Field ion microscopeとは 意味・読み方・使い方

FORMING METHOD OF NEEDLE-LIKE BODY USED IN ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE, AND NEED-LIKE BODY USED IN THE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE例文帳に追加

電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体の形成方法及び電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体 - 特許庁

To provide an ion microscope capable of assessing quality of a conductive tip (needle-like electrode tip) used in a gas field ion source (electrical field ionization gas ion source).例文帳に追加

気体電界イオン源（電界電離ガスイオン源）の導電性先端（針状電極先端）の品質を評価できるようにしたイオン顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This ion microscope includes the gas field ionization ion source, is constituted to install a refrigerator for cooling the gas field ionization ion source independently of an ion microscope body, and is provided with a refrigerant circulation circuit cooling mechanism for circulating a refrigerant between the gas field ionization ion source and the refrigerator.例文帳に追加

本発明は、ガス電界電離イオン源を備えたイオン顕微鏡において、ガス電界電離イオン源を冷却する冷凍機をイオン顕微鏡本体とは独立に設置し、ガス電界電離イオン源と冷凍機の間で冷媒を循環させる冷媒循環回路冷却機構を設けることに関する。 - 特許庁

GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

ガス電界電離イオン源，走査荷電粒子顕微鏡，光軸調整方法、及び試料観察方法 - 特許庁

To provide a field-ion microscope for atom probes in which evaporated atomic elements from a sample by application of electric field are always drawn to a mass spectrometry system.例文帳に追加

試料から電界蒸発した原子が常に質量分析系に導かれるアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide an ion microscope having an ion beam with a spot size of 10 nm or less at a surface of a sample using a gas field ion source, and excellent in versatility and long term reliability.例文帳に追加

気体電界イオン源を用いて試料表面でスポットサイズ１０ｎｍ以下のイオンビームを有する汎用性、長器信頼性に優れたイオン顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide an ion microscope excellent in versatility and long-term reliability having an ion beam with a spot size of 10 nm or less at a surface of a sample using a gas field ion source.例文帳に追加

気体電界イオン源を用いて試料表面でスポットサイズ１０ｎｍ以下のイオンビームを有する汎用性、長器信頼性に優れたイオン顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a gas field ionization ion source of high stability capable of obtaining a large current, and to provide an ion microscope of high resolution and deep focal depth.例文帳に追加

本発明の目的は、大電流が得られ、高安定なガス電界電離イオン源、及び高分解能でかつ大焦点深度のイオン顕微鏡を提供することに関する。 - 特許庁