probe proveとは 意味・読み方・使い方

In a measurement, the probe 10 is rotated around the rotary shaft A by a prove rotating mechanism 100, and hot wire outputs of the probe 10 at three or more different rotational angles are obtained.例文帳に追加

測定では、プローブ回転機構１００により回転軸Ａ回りに回転させ、３以上の異なる回転角度におけるプローブ１０の熱線出力を得る。 - 特許庁

The configuration to facilitate the exchanging of the bumped probe is equipped with a probe block which makes the probe freely attachable and detachable to and from the probe card 1 and a pressure welding connecting part 7 which connects the flexible printed circuit boards by pressure welding the flexible printed circuit boards to each other and fixes the flexible printed circuit boards to the prove card.例文帳に追加

バンププローブの交換を容易とする構成は、プローブカード１に対してプローブを着脱自在とするプローブブロックと、フレキシブルプリント基板間を圧接して接続すると共に、このフレキシブルプリント基板をプローブカードに固定する圧接接続部７とを備える。 - 特許庁

A voltage prove 6 detects an output voltage VR of the rectifier 2 and a current probe 5 detects a current I flowing in the battery set 1.例文帳に追加

電圧プローブ６は、整流装置２の出力電圧ＶＲを検出し、電流プローブ５は組電池１を流れる電流Ｉを検出する。 - 特許庁

To provide a prove finger structure which can be used for the various testing structures, and to provide a manufacturing method for the probe finger structure.例文帳に追加

種々の試験用構造体に使用することができるプローブフィンガ構造体及びプローブフィンガ構造体を製造する方法を提供する。 - 特許庁

The ion current detector 1 includes a probe part 10, a compensation electrode 40, and an electric circuit 50 including an electric power source 51 and a current measuring part 52, and is constituted to bring a probe 11 of the prove part into contact with a flame F.例文帳に追加

イオン電流検出装置(1)は、プローブ部(10)、補償極(40)、電源(51)及び電流測定部(52)を含む電気回路(50)を備え、プローブ部の探針(11)を火炎(F)に接触させるように構成される。 - 特許庁

To provide a vibration-type probe sensor in which a sharpened fiber prove itself is used as a vibrator and whose attachment to another vibrating element such as a tuning fork or the like is not required.例文帳に追加

先鋭化ファイバプローブ自体が振動子となり、チューニングフォーク等の他の振動素子に取り付ける必要のない振動型プローブセンサを提供する。 - 特許庁

The first drive part 4 moves a prove 2 for forming dents in directions XYZ and the second drive part 34 a probe 32 for measurement in directions XYZ.例文帳に追加

第１駆動部４が圧痕形成用プローブ２をＸＹＺ方向に移動させ、第２駆動部３４が測定用プローブ３２をＸＹＺ方向に移動させる。 - 特許庁

The present invention relates to a probe contacting electrode 110 which is formed on a surface of a package of an electronic device and with which a probe of a prove device is brought into contact, wherein an upper layer part 2 of the probe contacting electrode is made of a softer conductive material than a conductive material that forms a lower layer part 1.例文帳に追加

電子デバイスのパッケージ面に形成されてプローブ装置のプローブが当接されるプローブ接触用電極１１０であって、プローブ接触用電極の上層部分２が下層部分１よりも軟質の導電性物質にて構成されている。 - 特許庁