stack testとは 意味・読み方・使い方

An engagement member 106 housed in the vessel comes to contact with one of the stack of the test strips.例文帳に追加

係合部材１０６は、容器内に配置され、かつ試験ストリップのスタックの１つの試験ストリップと接触するように構成される。 - 特許庁

The test structure for accurate characterization of an MOS stack includes two semiconductor devices DT1 and DT2 including MOS transistors.例文帳に追加

ＭＯＳスタックの正確な特性化のためのテスト構造は、ＭＯＳトランジスタを含む２つの半導体装置ＤＴ１、ＤＴ２を含む。 - 特許庁

The radio communication terminal 1 loads a radio communication system for test/a communication protocol stack for test of which the operations are not yet completely guaranteed and both of an operation confirmed radio communication system/the communication protocol stack for test of which the operations are already completely guaranteed and stores a log indicating detailed information of the operations of itself in a nonvolatile memory 11 for log collection.例文帳に追加

無線通信端末１は、未だ動作が完全に保証されない試験用無線通信方式・試験用通信プロトコルスタック、および、既に動作が完全に保証される動作確認済無線通信方式・試験用通信プロトコルスタックの両方を搭載し、自身の動作の詳細情報を示すログをログ採取用不揮発性メモリ１１にストアする。 - 特許庁

A phase difference between the current signal and an application voltage signal is amplified to a proper largeness, to thereby test integrity of the high-voltage rectifier stack 13.例文帳に追加

この電流信号と印加電圧信号の位相差を適当な大きさに増幅して、高電圧整流器スタック１３の健全性を試験する。 - 特許庁

The test program is defined as a function with which the language for generating a test program is not provided, and a generic function is designated in a stack part 50 for calling a function with which the general function is provided, and the general argument is saved.例文帳に追加

テスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語が備えていない関数であって、汎用関数が備えている関数を呼び出すべく、スタック部５０に汎用関数を指定し、汎用引数を待避させる。 - 特許庁

A path from a memory means 2091 of the boundary scan test circuit 1063 to a flip-flop 213 in the logic block 210 is verified by using a selection circuit 202 for inputting an output of the flip-flop 213 into the boundary scan test circuit 1063, to thereby enable to test a stack fault of an aiming path only by operation control of boundary scan, and to simplify a test pattern.例文帳に追加

バウンダリスキャンテスト回路１０６３の記憶手段２０９１から論理ブロック２１０内のフリップフロップ２１３へのパスを、前記フリップフロップ２１３の出力をバウンダリスキャンテスト回路１０６３へ入力する選択回路２０２を用いて検証し、バウンダリスキャンの動作制御のみで目的としているパスの縮退故障をテストすることができ、テストパターンを簡略化できる。 - 特許庁

In a state that gas for reaction is supplied to power generation cells 13, a test signal is applied between both ends in the laminating direction of the cell stack 20, impedances between separators 11 are measured, and the soundness of the cell stack 20 is evaluated by comparing those impedance characteristics mutually.例文帳に追加

発電セル１３の各々に反応用のガスを供給した状態で、セルスタック２０の積層方向における両端間に試験信号を印加して、各セパレータ１１間のインピーダンスを測定し、そのインピーダンス特性を相互に比較することによりセルスタック２０の健全性を評価する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing cracking of a power generation cell in which a cracking test of a circular flat plate type power generation cell is performed under the same temperature condition as that of an actual fuel cell stack.例文帳に追加

円形平板型の発電セルを、実際の燃料電池スタックと同じ温度条件下おいて割れ試験を行うことができる発電セルの割れ試験装置および割れ試験方法を提供する。 - 特許庁