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surface recombinationとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 表面再結合
「surface recombination」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 46件
METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING SURFACE CARRIER RECOMBINATION SPEED例文帳に追加
表面キャリア再結合速度の測定方法及び測定装置 - 特許庁
Near the surface of the high resistance area, a recombination layer 17 is formed.例文帳に追加
高抵抗領域の表面付近には再結合層17を形成した。 - 特許庁
To provide a preprocessing method for recombination lifetime evaluation in which a suitable recombination lifetime is measured by suppressing a recombination process on a wafer surface of a low-contamination and long-lifetime silicon wafer.例文帳に追加
低汚染で高ライフタイムのシリコンウェーハにおいてウェーハ表面での再結合過程を抑制し、適切な再結合ライフタイムが測定できるような前処理方法を提供する。 - 特許庁
The low carrier-mobility semiconductor material can greatly suppress surface recombination of carriers.例文帳に追加
低キャリア移動度の半導体材料はキャリアの表面再結合を効果的に抑制できる。 - 特許庁
To determine metal contamination in a wafer substrate by discriminating between surface recombination and recombination of the bulk, and discriminatingly measuring a recombination lifetime τ_r of minority carriers of the bulk.例文帳に追加
表面再結合とバルクの再結合とを区別することを可能とし、バルクの少数キャリアの再結合ライフタイムτ_r を区別して測定できる事を可能とし,ウェハ基板内の金属汚染であるかどうかの選別できるようにする。 - 特許庁
The recombination life time of the epitaxial layer or the SOI layer is obtained by employing a first recombination life time measured after applying a first surface non-activation process with respect to the wafer, and a second recombination life time measured after applying a second surface non-activation process with respect to the wafer after measuring the first recombination life time.例文帳に追加
エピタキシャル層またはSOI層の再結合ライフタイムを、前記ウェーハに対して第一の表面不活性化処理を行った後に測定される第一の再結合ライフタイムと、前記第一の再結合ライフタイム測定後のウェーハに対して第二の表面不活性化処理を行った後に測定される第二の再結合ライフタイムを用いて求める。 - 特許庁
Also, PXLEDs formed from GaN have a low surface recombination velocity and hence a high efficiency.例文帳に追加
また、GaNから形成されたPXLEDは、表面再結合速度が低く、従って効率が高い。 - 特許庁
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「surface recombination」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 46件
To further reduce the recombination of carriers on the surface of a semiconductor substrate such as a silicon substrate by further inactivating the surface of the semiconductor substrate.例文帳に追加
シリコン基板等の半導体基板の表面を一層不活性化し、基板表面でのキャリアの再結合を一層低減する。 - 特許庁
To provide a solar battery having a high energy conversion efficiency in which recombination of optical carriers on the back surface can be suppressed and recombination of optical carriers in a light absorption layer can be suppressed.例文帳に追加
裏面での光キャリアの再結合が抑制され、且つ光吸収層内での光キャリアの再結合も抑制された、エネルギー変換効率の高い太陽電池を提供する。 - 特許庁
Additionally, on the upper surface of the base region 14, a recombination layer 17, which functions as the recombination center of minority carriers(electrons in this case), is formed, and a groove section 18 is formed at the side of the emitter region 15 and at the side of the collector region 16 in the recombination layer 17.例文帳に追加
更に、ベース領域14の上面には、少数キャリア(ここでは、電子)の再結合中心として機能する再結合層17が形成され、再結合層17のエミッタ領域15側及びコレクタ領域16側に溝部18が形成されている。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for measuring surface carrier recombination speed capable of obtaining surface Fermi level even from FK oscillation influenced by probe light having relatively large intensity and at the same time capable of determining surface recombination speed.例文帳に追加
比較的強度の強いプローブ光の影響を受けたFK振動からであっても表面フェルミ準位を求めることができると同時に表面再結合速度を決定できる表面キャリア再結合速度の測定方法及び測定装置を提供する。 - 特許庁
To provide a novel surface recombination technology for expressing heterodimeric recombinant gene products on the surface of a filamentous phage containing a recombinant gene.例文帳に追加
組換え遺伝子を含む繊維状ファージの表面上でヘテロ二量体組換え遺伝子産物を発現させる新しい表面組込み技術を提供すること。 - 特許庁
Chemical passivation for inhibiting surface recombination is executed by coating the semiconductor sample surface by wax or resin for setting the surface to a passivation state.例文帳に追加
表面再結合を抑制するためのケミカル・パッシベーションを、ワックス又は樹脂にて半導体試料の表面をコーティングして同表面を前記パッシベーション状態にすることで実施する。 - 特許庁
To provide HBT without deterioration of reliability, resulting from recombination of carriers of surface in the emitter/base junction region.例文帳に追加
エミッタ−・ベース接合領域におけるキャリアの表面再結合に起因する信頼性劣化のないHBTを提供する。 - 特許庁
Consequently, generation of heat (surface recombination) instead of light, due to recombination of the holes and electrons near the inner wall of the holes 16 can be suppressed and thereby the light emission efficiency and energy efficiency can be improved.例文帳に追加
これにより、空孔16の内壁付近において正孔と電子が再結合して光ではなく熱を発生すること(表面再結合)を抑えることができ、発光効率及びエネルギー効率を高めることができる。 - 特許庁
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