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si-3の意味・使い方・読み方 | Weblio英和辞書
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si-3とは 意味・読み方・使い方

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遺伝子名称シソーラスでの「si-3」の意味

si-3

fly遺伝子名si-3
同義語(エイリアス)ski 3; si3
SWISS-PROTのID---
EntrezGeneのIDEntrezGene:252644
その他のDBのIDFlyBase:FBgn0003405

本文中に表示されているデータベースの説明

SWISS-PROT
スイスバイオインフォマティクス研究所欧州バイオインフォマティクス研究所によって開発運営されているタンパク質アミノ酸配列データベース
EntrezGene
NCBIによって運営されている遺伝子データベース染色体上の位置配列発現構造機能、ホモロジーデータなどが含まれている
FlyBase
米英大学のショウジョウバエ研究者などにより運営されるショウジョウバエ生態遺伝子情報に関するデータベース

「si-3」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 822



例文

Si of 1×1016 cm^-3 to 1×1018 cm^-3 is contained in a p-type layer.例文帳に追加

p型層にはSiが1×1016cm-3以上1×1018cm-3未満含有されている。 - 特許庁

(A); wherein [TS objective value] is the set value of the strength of the steel sheet with Mpa as a unit, and [Si] is the mass% of Si.例文帳に追加

(0.0012×[TS狙い値]-0.29-[Si])/1.45<Al<1.5-3*[Si] ・・・(A) ここに、[TS狙い値]は鋼板の強度設計値で単位はMpa、[Si]はSiの質量% - 特許庁

An ONO gate insulating film G of three-layered structure composed of Si oxide film 6/Si nitride film 5/Si oxide film 4 is formed on the surface of an N-type CCD channel region 3, and a poly-Si transfer electrode 7 is provided on the ONO gate insulating film G.例文帳に追加

n型CCDチャネル領域3表面に、Si酸化膜6/Si窒化膜5/Si酸化膜4の3層構造のONOゲート絶縁膜Gが形成され、ONOゲート絶縁膜G上に、ポリSi転送電極7を設けている。 - 特許庁

In the Al base coated layer, 3-15 mass% Si can be contained.例文帳に追加

溶融Al系めっき層には、Si:3〜15質量%を含むことができる。 - 特許庁

Incident luminous energy of the a-Si TFT 1 is reduced by a filter 3 to delay the progress of light deterioration in the a-Si TFT 1.例文帳に追加

a-Si TFT1の入射光量をフィルタ3で減らし、a-Si TFT1の光劣化の進行を遅らせる。 - 特許庁

The steel sheet also may contain 0.2-3 mass% Si.例文帳に追加

また本発明の鋼板には、更にSiを0.2 〜3 質量%含有しても良い。 - 特許庁

例文

An LD 1 is fixed to an Si substrate 3 and 3 the Si substrate 3 is fixed to a frame 6.例文帳に追加

LD1をSi基板3に固定し、このSi基板3をフレーム6に固定する。 - 特許庁

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「si-3」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 822



例文

Cr(%)≤(1/3)(6.5-Ni(%))1/2...(1) Pcm=C+ Si/30+Mn/20+Cu/20+Ni/60+Cr/20+Mo/15+V/10...(2).例文帳に追加

Cr (%) ≦(1/3)(6.5 −Ni (%))^1/2 ・・・・・(1) Pcm =C+Si/30 +Mn/20 +Cu/20 +Ni/60 +Cr/20 +Mo/15 +V/10・・・・・(2) - 特許庁

A film containing Ar in a Si oxide amorphous insulator film wherein a quantity of Ar in the film is 3% or more in an atomicity ratio for Si (Ar/Si≥3 at.%) is prepared.例文帳に追加

Si酸化物アモルファス絶縁体膜中にArを含有し、その膜中のAr量がSiに対して原子数比で3%以上(Ar/Si ≧ 3 at.%)である膜を作製する。 - 特許庁

An Si oxide film 2 and an Si nitride film 3 are successively formed on an Si substrate 1.例文帳に追加

Si基板1の上に、Si酸化膜2及びSi窒化膜3を順次形成する。 - 特許庁

The coating layer consists of a material containing Si and has a thickness of 3 to 100 μm.例文帳に追加

この被覆層は、Siを含有する材料で構成され、厚さが3〜100μmである。 - 特許庁

Then, the Si nitride film 3 and the Si oxide film 2 are subjected to an etching process.例文帳に追加

次いで、Si窒化膜3及びSi酸化膜2をエッチングする。 - 特許庁

An Si microphone 1 is provided with a sensor 3.例文帳に追加

Siマイク1は、センサ部3を有している。 - 特許庁

The Si single crystal 1 is curved and the position of the probe 6 is displaced by the bimetal operation between the PZT thin film 3 and the Si single crystal 1.例文帳に追加

PZT薄膜3とSi単結晶1とのバイメタル作用により、Si単結晶1が湾曲して探針6の位置が変位する。 - 特許庁

例文

Si (silicon) may be contained in the ionization layer 3.例文帳に追加

イオン化層3にはSi(シリコン)を含めてもよい。 - 特許庁

>>例文の一覧を見る

si-3のページの著作権
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