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si-3とは 意味・読み方・使い方
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遺伝子名称シソーラスでの「si-3」の意味 |
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「si-3」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 822件
Si of 1×1016 cm^-3 to 1×1018 cm^-3 is contained in a p-type layer.例文帳に追加
p型層にはSiが1×1016cm-3以上1×1018cm-3未満含有されている。 - 特許庁
(A); wherein [TS objective value] is the set value of the strength of the steel sheet with Mpa as a unit, and [Si] is the mass% of Si.例文帳に追加
(0.0012×[TS狙い値]-0.29-[Si])/1.45<Al<1.5-3*[Si] ・・・(A) ここに、[TS狙い値]は鋼板の強度設計値で単位はMpa、[Si]はSiの質量% - 特許庁
An ONO gate insulating film G of three-layered structure composed of Si oxide film 6/Si nitride film 5/Si oxide film 4 is formed on the surface of an N-type CCD channel region 3, and a poly-Si transfer electrode 7 is provided on the ONO gate insulating film G.例文帳に追加
n型CCDチャネル領域3表面に、Si酸化膜6/Si窒化膜5/Si酸化膜4の3層構造のONOゲート絶縁膜Gが形成され、ONOゲート絶縁膜G上に、ポリSi転送電極7を設けている。 - 特許庁
In the Al base coated layer, 3-15 mass% Si can be contained.例文帳に追加
溶融Al系めっき層には、Si:3〜15質量%を含むことができる。 - 特許庁
Incident luminous energy of the a-Si TFT 1 is reduced by a filter 3 to delay the progress of light deterioration in the a-Si TFT 1.例文帳に追加
a-Si TFT1の入射光量をフィルタ3で減らし、a-Si TFT1の光劣化の進行を遅らせる。 - 特許庁
An LD 1 is fixed to an Si substrate 3 and 3 the Si substrate 3 is fixed to a frame 6.例文帳に追加
LD1をSi基板3に固定し、このSi基板3をフレーム6に固定する。 - 特許庁
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「si-3」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 822件
Cr(%)≤(1/3)(6.5-Ni(%))1/2...(1) Pcm=C+ Si/30+Mn/20+Cu/20+Ni/60+Cr/20+Mo/15+V/10...(2).例文帳に追加
Cr (%) ≦(1/3)(6.5 −Ni (%))^1/2 ・・・・・(1) Pcm =C+Si/30 +Mn/20 +Cu/20 +Ni/60 +Cr/20 +Mo/15 +V/10・・・・・(2) - 特許庁
A film containing Ar in a Si oxide amorphous insulator film wherein a quantity of Ar in the film is 3% or more in an atomicity ratio for Si (Ar/Si≥3 at.%) is prepared.例文帳に追加
Si酸化物アモルファス絶縁体膜中にArを含有し、その膜中のAr量がSiに対して原子数比で3%以上(Ar/Si ≧ 3 at.%)である膜を作製する。 - 特許庁
An Si oxide film 2 and an Si nitride film 3 are successively formed on an Si substrate 1.例文帳に追加
Si基板1の上に、Si酸化膜2及びSi窒化膜3を順次形成する。 - 特許庁
The coating layer consists of a material containing Si and has a thickness of 3 to 100 μm.例文帳に追加
この被覆層は、Siを含有する材料で構成され、厚さが3〜100μmである。 - 特許庁
Then, the Si nitride film 3 and the Si oxide film 2 are subjected to an etching process.例文帳に追加
次いで、Si窒化膜3及びSi酸化膜2をエッチングする。 - 特許庁
The Si single crystal 1 is curved and the position of the probe 6 is displaced by the bimetal operation between the PZT thin film 3 and the Si single crystal 1.例文帳に追加
PZT薄膜3とSi単結晶1とのバイメタル作用により、Si単結晶1が湾曲して探針6の位置が変位する。 - 特許庁
Si (silicon) may be contained in the ionization layer 3.例文帳に追加
イオン化層3にはSi(シリコン)を含めてもよい。 - 特許庁
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