circle Tとは 意味・読み方・使い方

The recession 2001 whose inner peripheral surface is positioned between the root circle T and the addendum circle S of the inner teeth 133 is arranged in the forming dies 1004 and 1006 for molding the back surface side of the ratchet 130.例文帳に追加

ラチェット１３０の背面側を形成する金型１００４，１００６に、内歯１３３の歯底円Ｔと歯先円Ｓとの間に内周面が位置する凹部２００１を設ける。 - 特許庁

The control part 60 changes the strength of micro vibration driving performed by the first jetting part J1 in the control circle T according to whether the second jetting part J2 nearest the first jetting part J1 among the plurality of jetting parts J jets the liquid in the control circle T when the first jetting part J1 among the plurality of jetting parts J does not jet the liquid in the control circle T.例文帳に追加

制御部６０は、複数の噴射部Ｊのうちの第１噴射部Ｊ1が制御周期Ｔにて液体を噴射しない場合に、複数の噴射部Ｊのうち第１噴射部Ｊ1に最も近い第２噴射部Ｊ2が制御周期Ｔにて液体を噴射するか否かに応じて、制御周期Ｔにて第１噴射部Ｊ1が実行する微振動駆動の強度を変化させる。 - 特許庁

By radially holding the tool T in a condition turning its tip end toward the center of the circle, a tool magazine 11 compactly formed.例文帳に追加

工具Ｔの先端が円の中心を向いた状態で放射状に保持されるので、工具マガジン１１がコンパクトになる。 - 特許庁

The mark group may have the target mark t provided along one large circle and composed of a single or two or more marks and a side mark s provided on the side part of the target mark t.例文帳に追加

マーク群は、一つの大円に沿って設けられた単一又は複数のマークよりなるターゲットマークｔと、このターゲットマークｔの側方に設けられた側方マークｓとを有していてもよい。 - 特許庁

At a correction value calculation section 125, the phase error Δθ[t n] of each pilot carrier calculated by a phase error calculation section 124 is mapped onto a unit circle of an IQ plane.例文帳に追加

補正値算出部１２５においては、位相誤差算出部１２４により算出されたそれぞれのパイロットキャリアの位相誤差Δθ[t・n]がIQ平面の単位円上にマッピングされる。 - 特許庁

By correcting the pitch error S and the axial displacement T of the measurement position, the radius of the pitch circle is correctly measured.例文帳に追加

ピッチ誤差Ｓ及び軸方向の測定位置のズレＴを補正することにより、ピッチ円半径を正確に測定することができる。 - 特許庁

When the surface unevenness ratio of the particles is T/D (in the formula, D is a diameter of an inscribed circle to an outline of the particles in a projection drawing to the plane of particles, and T is the maximum value of the distance between the outline and the inscribed circle), the surface unevenness ratio of the conductive particles is 0.01-0.6.例文帳に追加

ここで、粒子の表面凹凸比をＴ／Ｄ（式中、Ｄは粒子の平面への投影図における粒子の外形線に対する内接円の直径、Ｔは前記外形線と内接円との距離の最大値）とした場合に、導電性粒子の表面凹凸比が0.01〜0.6である。 - 特許庁

The mark group can be provided with the target mark t provided along one large circle and composed of a single or two or more marks and a side mark s provided on the side part of the target mark t.例文帳に追加

このマーク群は、一つの大円に沿って設けられた単一又は複数のマークよりなるターゲットマークｔと、このターゲットマークｔの側方に設けられた側方マークｓとを有していてもよい。 - 特許庁