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defect pairとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 欠陥対
「defect pair」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 32件
To perform a stress test detecting defect between a pair of bit lines in a short time.例文帳に追加
ビット線対間の不良を顕在化するストレス試験を短時間で行う。 - 特許庁
A defect element pair determining part 53 performs Delaunay triangulation with the typical point of the respective defect elements as base point, and determines a defect element pair constituted of the defect elements of both end points of the respective sides that constitute a plurality of triangles.例文帳に追加
欠陥要素ペア決定部53では各欠陥要素の代表点を母点としてドローネ三角形分割を行い、複数の三角形を構成する各辺の両端点の欠陥要素により構成される欠陥要素ペアが求められる。 - 特許庁
A defect factor pair decision part 53 performs Delaunay triangulation with the representative points of the respective defect factors used as generatrices to find defect factor pairs comprising defect factors of both end points of respective sides forming a plurality of triangles.例文帳に追加
欠陥要素ペア決定部53では各欠陥要素の代表点を母点としてドローネ三角形分割を行い、複数の三角形を構成する各辺の両端点の欠陥要素により構成される欠陥要素ペアが求められる。 - 特許庁
The inspection unit 2 comprises a complement electrode pair 22 that detects a defect against a conductive pattern portion that faces an electrode of an inspection electrode pair 21.例文帳に追加
検査部2は、検査電極対21の電極が対向する導電パターン部分に対して欠陥を検出する補完電極対22とで構成される。 - 特許庁
In the defect correction device 1, a pair of substrate end supporting tables 3 is arranged on which a glass substrate 99 is placed.例文帳に追加
欠陥修正装置1では、ガラス基板99が載置される1対の基板端支持台3が配設されている。 - 特許庁
To provide a test method of semiconductor device which reflects possibility of having potential defect in test result of a bit line pair which can be a defect, and the semiconductor device.例文帳に追加
不良となり得るビット線対のテスト結果に、潜在的な不良を有する可能性を反映する半導体装置のテスト方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁
To prevent connection defect between optical fibers by visually confirming insertion/removal of an interposing member between a pair of elements of an optical connector.例文帳に追加
介挿部材が光コネクタの一対の素子の間に挿脱しているか否かを目視確認して、光ファイバ同士の接続不良を防止する。 - 特許庁
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「defect pair」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 32件
OPTICAL INSPECTION DEVICE HAVING LENS UNIT WITH AT LEAST A PAIR OF BEAM PATHS INSIDE, AND METHOD OF DETECTING SURFACE DEFECT OF SUBSTRATE USING SAME例文帳に追加
内部に少なくとも一対のビーム経路を有するレンズユニットを具備する光学的検査装置及びこれを用いて基板の表面欠陥を検出する方法 - 特許庁
In the display device which has a pair of substrates 1 and 5 and a display medium layer intervening between the pair of substrates 1 and 5 and in which a display defect exists, at least one substrate of the pair of substrates 1 and 5 has the closed low transmittance layer 9 lowering the transmittance so that the transmittance is lower than the transmittance in the other region in a region corresponding to the display defect.例文帳に追加
一対の基板1、5と、前記一対の基板1,5間に介在する表示媒体層とを有し、表示欠点が存在する表示装置であって、前記一対の基板1,5のうち少なくとも一方の基板は、前記表示欠点に対応する領域に、他の領域での透過率よりも透過率を低下させる、密閉された低透過率層9を有する。 - 特許庁
To provide a machine for inspecting a glass container, capable of performing a pair of different inspections for inspecting a defect in a bottom part of a bottle in a single inspection station.例文帳に追加
単一の検査ステーションにおいてボトルの底部内の欠陥を検査する一対の異なる検査を行うことができるガラス容器を検査するための機械の提供。 - 特許庁
A repair method repairs the bright spot defect in a pixel area (10a) when manufacturing an electrooptical device sandwiching an electrooptical substance (50) between a pair of substrates (10, 20).例文帳に追加
一対の基板(10、20)間に電気光学物質(50)を挟持してなる電気光学装置の製造の際、その画素領域(10a)における輝点不良をリペアする。 - 特許庁
In the first to third superlattice defect reduction layers 30, 40, and 50, five pairs where an InGaN film and an AlGaN film are formed in a pair in this order are laminated.例文帳に追加
第1〜第3の超格子欠陥低減層30,40,50は、InGaN膜およびAlGaN膜がこの順で形成されて対になったものが5対積層されてなる。 - 特許庁
To solve the problem that a memory defect cannot be decided only from the data outputted through latch circuits from a pair of read data buses, when a memory test is carried out by address degradation.例文帳に追加
アドレス縮退によりメモリテストを行った時は、1対のリードデータバスからにラッチ回路を通じて出力されるデータだけではメモリ不良を判定できない。 - 特許庁
To provide an alignment method of ferroelectric liquid crystal which efficiently reduces a zigzag defect occurring in the ferroelectric liquid crystal held between a pair of substrates.例文帳に追加
一対の基板間に挟持された強誘電性液晶に発生したジグザグ欠陥を効率良く減少させることが可能な強誘電性液晶の配向方法を提供する。 - 特許庁
A form of a pair of redundant row can be specified to replace any one of rows consisting of memory cells having defect in a redundant row decoding circuit.例文帳に追加
本発明によれば、冗長行デコード回路が欠陥を有するメモリセルからなるいずれか1つの行を置換するために一対の冗長行を形態特定させることが可能である。 - 特許庁
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