defect responseとは 意味・読み方・使い方

To provide a means for inspecting a response to only an OFF stimulus in an inspection of advancing a visual field defect.例文帳に追加

視野欠損の進行の検査において、ＯＦＦ刺激のみに対する応答を検査する手段を提供する。 - 特許庁

A defect correcting circuit 64 corrects the pixel defect of the CCD 42 with respect to the image through the use of the normal defect information or highly-sensitive defect information, in response to the setting of the light reception sensitivity concerning the CCD 42 when the image is picked up by the CCD 42.例文帳に追加

欠陥補正回路６４は、ＣＣＤ４２による画像の撮像時におけるＣＣＤ４２に対する受光感度の設定に応じて通常欠陥情報若しくは高感度欠陥情報を用い、ＣＣＤ４２の画素欠陥の補正を当該画像に対して施す。 - 特許庁

The optimum photoreceiving system is selected in response to the form of the inspected specimen to detect the defect precisely.例文帳に追加

被検査体の品種に応じて最適な受光方式が選択可能になり、欠陥を精度よく検出することができる。 - 特許庁

Then, the defect inspection device is enabled to recalculate an inspection result in response to change in a threshold coefficient from the inspection result data, display it on an assist tool picture (GUI), and observe a detection defect.例文帳に追加

次に、検査結果データから、しきい値係数の変更による検査結果の再計算を可能とし、アシストツール画面(ＧＵＩ)上に表示させ、検出欠陥の観察も可能とする。 - 特許庁

To provide a pixel defect correction device, a pixel defect detector and a pixel defect detecting method that can correct a defective pixel and stably detect the defective pixel without increasing the circuit scale in response to a color filter of an image pickup element.例文帳に追加

撮像素子の有する色フィルタに応じて、回路規模が増大することなく、欠陥画素を補正でき、また、欠陥画素を安定して検出することのできる画素欠陥補正装置および画素欠陥検出装置ならびに方法を提供。 - 特許庁

To provide a marking controller which marks a label with a pattern for identifying an inspecting device which has detected a defect in response to a plurality of defect detection signals in defect inspection of printed matter and attaches it onto the printed matter, or puts a mark on the printed matter.例文帳に追加

印刷物の欠陥検査において、複数の欠陥検出信号に対し、欠陥を検出した検査装置の判別が可能なパターンを、ラベルにマーキングし印刷物に貼付、あるいは印刷物にマーキングするマーキング制御装置を提供する。 - 特許庁

A host computer calculates the feature quantity of each defect image (step S203), and each defect image is tentatively classified in response to a Euclidean distance between the teacher image in a feature quantity space (step S204).例文帳に追加

ホストコンピュータは、各欠陥画像の特徴量を算出し（ステップＳ２０３）、特徴量空間における教師画像とのユークリッド距離に応じて各欠陥画像を仮分類する（ステップＳ２０４）。 - 特許庁

METHOD FOR SCREENING PRESENCE OF HEREDITARY DEFECT RELATED TO WEAK ANTICOAGULANT RESPONSE TO THROMBOSIS AND/OR ACTIVATED PROTEIN C例文帳に追加

血栓症及び／又は活性化プロテインＣに対する弱い抗凝血応答に関連した遺伝性欠陥の存在をスクリーニングする方法 - 特許庁