defect skippingとは 意味・読み方・使い方

When a track having a defect is detected in the certification of a normal skipping system, operation is switched to scanning having a skipping rate lower than the normal skipping rate in an area in the vicinity thereof.例文帳に追加

通常の飛ばし方式サーティファイで欠陥が存在するトラックを検出したとき、その近傍領域で通常の飛ばし率よりも飛ばし率を下げた走査に切り替える。 - 特許庁

To provide a data recording and reproducing device which records data continuously by skipping a defect on a disk without re-encoding.例文帳に追加

再エンコードしないで光ディスク上の欠陥をスキップして連続的に記録可能なデータ記録再生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for pattern defect inspection which can speed up detailed analysis of detected pattern defect in semiconductor circuit pattern formation process, by skipping visual reinspection through a review device.例文帳に追加

半導体回路パターン形成工程において、レビュー装置による目視再検査を省略して、検出したパターン欠陥の詳細な解析を迅速化する。 - 特許庁

By adding linear replacement control (LRC) bits to an SDL (secondary defect list) entry in order to distinguish defective block information listed in the SDL entry according to a linear replacement algorithm from defective block information listed in the SDL according to a skipping algorithm, the optical recording medium recording/reproducing device transmits correct information to a host.例文帳に追加

リニア交替アルゴリズムに従ってＳＤＬエントリにリストされた欠陥ブロック情報と、スキッピング・アルゴリズムに従ってＳＤＬエントリにリストされた欠陥ブロック情報とを区別するために、リニア交替制御（ＬＲＣ）ビットを２次欠陥リスト（ＳＤＬ）エントリに追加し、これによって光記録媒体記録／再生装置が、ホストに正しい情報を送信できるようにする。 - 特許庁

By adding linear replacement control (LRVC) bits to an SDL (secondary defect list) entry in order to distinguish defective block information listed in the SDL entry according to a linear replacement algorithm from defective block information listed in the SDL entry according to a skipping algorithm, the optical recording/reproducing device transmits correct information to a host.例文帳に追加

リニア交替アルゴリズムに従ってＳＤＬエントリにリストされた欠陥ブロック情報と、スキッピング・アルゴリズムに従ってＳＤＬエントリにリストされた欠陥ブロック情報とを区別するために、リニア交替制御（ＬＲＣ）ビットを２次欠陥リスト（ＳＤＬ）エントリに追加し、これによって光記録媒体記録／再生装置が、ホストに正しい情報を送信できるようにするものである。 - 特許庁

Productivity is thereby enhanced while saving the cost by skipping the photographic step in a process for producing a semiconductor package being used for driving an LCD, reliability of a product is improved by preventing occurrence of a defect in the process for forming the circuit pattern 110 of metallic material and a circuit pattern having a fine line width is produced more efficiently.例文帳に追加

したがって、ＬＣＤ駆動用として使われる半導体パッケージの配線基板を製造する過程で写真工程を省略してコスト節減及び生産性の向上効果が得られ、金属材質の回路パターン１１０を作る過程で発生する欠陥を防止して製品の信頼性を改善し、微細線幅を有する回路パターンをさらに効率的に作られる。 - 特許庁