defects inspectionとは 意味・読み方・使い方

To provide an inspection apparatus which detects minute real defects on a photomask while maximally preventing spurious defects from occurring.例文帳に追加

擬似欠陥の発生を最大限抑えながら、フォトマスク上の微細な実欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of easily inspecting defects of a transparent plate product.例文帳に追加

透明な平板状製品の欠陥を容易に検査する。 - 特許庁

To provide an inspection method for internal defects of a substrate.例文帳に追加

本発明は基板の内部欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The inspection system is specifically intended and designed for second optical wafer inspection for such defects as metallization defects, such as scratches, voids, corrosion and bridging, as well as diffusion defects, passivation layer defects, scribing defects, glassivation defects, chips and cracks from sawing, solder bump defects, and bond pad region defects.例文帳に追加

この検査システムは、特に、スクラッチ、ボイド、腐食およびブリッジング、などの金属化欠陥、ならびに拡散欠陥、被覆保護層欠陥、書きこみ欠陥、ガラス絶縁欠陥、切込みからのチップおよびクラック、半田隆起欠陥、ボンドパッド領域欠陥、などの欠陥のための第二の光学的ウェハ検査のために意図され、そして設計される。 - 特許庁

The inspection system is specifically intended and designed for a second optical wafer inspection for such defects as metalization defects, such as scratches, voids, corrosion and bridging, as well as diffusion defects, passivation layer defects, scribing defects, glassivation defects, chips and cracks from sawing, solder bump defects, and bond pad area defects.例文帳に追加

この検査システムは、特に、スクラッチ、ボイド、腐食およびブリッジング、などの金属化欠陥、ならびに拡散欠陥、被覆保護層欠陥、書きこみ欠陥、ガラス絶縁欠陥、切込みからのチップおよびクラック、半田隆起欠陥、ボンドパッド領域欠陥、などの欠陥のための第二の光学的ウェハ検査のために意図され、そして設計される。 - 特許庁

The inspection system is specifically intended and designed for a second optical wafer inspection for such defects as metalization defects, such as scratches, voids, corrosion and bridging, as well as diffusion defects, passivation layer defects, scribing defects, glassivation defects, chips and cracks from sawing, solder bump defects, and bond pad area defects.例文帳に追加

この検査システムは、特に、スクラッチ、ボイド、腐食およびブリッジング、などの金属化欠陥、ならびに拡散欠陥、被覆保護層欠陥、書きこみ欠陥、ガラス絶縁欠陥、切込みからのチップおよびクラック、半田隆起欠陥、ボンドパッド領域欠陥、などの欠陥のための第二の光学的ウェハ検査のために意図され、そして設計される。 - 特許庁

To provide a visual inspection device which facilitates checking the positions of defects in an inspection and can reduce the inspection period of time.例文帳に追加

検査時の欠陥の位置確認を容易にし、検査時間を削減することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To suppress detection of false defects, and to enlarge an inspection region.例文帳に追加

疑似欠陥の検出を抑制し、且つ検査領域を拡大する。 - 特許庁