defect detection techniqueとは 意味・読み方・使い方

To provide an image defect detecting technique which enables the accurate detection of defect pixels of an image formed on a recording medium, and grasp of the defect pixels with precision.例文帳に追加

画像記録媒体に形成された画像の欠陥画素を高精度に検出すると共に、的確に欠陥画素を把握することができる画像欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection testing technique capable of evaluating a shape of a defect, even when a direction of the defect existing in a testing object 4 is unknown.例文帳に追加

試験体４に存在する欠陥の向きが不明である場合にも、欠陥の形状を評価することができる超音波探傷試験技術を提供する。 - 特許庁

Defects in repetitive patterns in a multilayer substrate are detected by a defect detection part provided in the defect correcting device, and when the defects detected by the defect detection part overlap with a region where an occurrence of the interlayer short-circuit defect is assumed, a control part 301 provided in the defect correcting device generates an object corresponding to a defect correction technique for the interlayer short-circuit defect.例文帳に追加

欠陥修正装置が備える欠陥検出部により多層基板における繰り返しパターン内の欠陥を検出し、欠陥検出部で検出された欠陥が層間ショート欠陥の発生が想定される領域に重なる場合、欠陥修正装置が備える制御部３０１により層間ショート欠陥用の欠陥修正手法に対応するオブジェクトを生成する。 - 特許庁

To provide a technique that allows a sample surface with an insulation region and a conduction region formed thereon to be observed under high contrast, and that facilitates detection of a deletion defect and an open defect and classification of the defect types.例文帳に追加

絶縁領域と導電領域が形成されている試料面の観察を高コントラストで行い、且つ、欠落欠陥や開放欠陥の検出と欠陥種類の分類を容易なものとする技術を提供すること。 - 特許庁

To provide an improved method of defect detection and reporting technique for detecting and differentiating defects of interest that are difficult to detect accurately, using current inspection techniques, while minimizing the reporting of non-defective areas reported as being defective.例文帳に追加

非欠陥の範囲を欠陥として報告することを最小にしながら、現在の検査技術を用いて、正確に検出するのが困難である関心の欠陥を検出し且つ見分ける。 - 特許庁

To provide a flaw type classification boundary setting method in surface defect detection allowing even an operator without having a special technique to simply realize complicated defect classification, and enabling evaluation capable of remarkably reducing work and of rapidly responding to change of an operation state.例文帳に追加

特殊な技術をもたないオペレータでも簡便に複雑な欠陥分類が実現され、労力が大幅に削減されるとともに操業状態の変化に迅速に対応した評価が可能となるような表面欠陥検出における疵種分類境界設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of determining a defect with a proper criterion in accordance with the proportion of included colors, even when the defect includes a pixel of a plurality of colors, in a technique for detecting defects of a display panel, by picking up by a camera an image displayed on the display panel, including pixels of a plurality of colors such as a color LCD panel.例文帳に追加

本発明は、カラーＬＣＤパネル等の複数の色の絵素を備える表示パネルに表示された画像をカメラで撮像し、表示パネルの欠陥を検出する技術に関し、欠陥が複数の色の絵素を含む場合においても、含まれる色の割合に応じて適切な基準で判断することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁