diffraction dataとは 意味・読み方・使い方

The following processes are performed on each acquired electronic diffraction pattern D_xy to obtain each one piece of magnetization distribution image data M_xy for each electronic diffraction pattern D_xy.例文帳に追加

取得した電子回折図形Ｄ_ｘｙ毎に次の処理が行われて、１つの電子回折図形Ｄ_ｘｙに対して１つの磁化分布像データＭ_ｘｙが求められる。 - 特許庁

PROCESSING METHOD OF TWO-DIMENSIONAL X-RAY DETECTION DATA, TWO-DIMENSIONAL X-RAY DETECTION DEVICE, AND X-RAY DIFFRACTION DEVICE例文帳に追加

二次元Ｘ線検出データの処理方法、二次元Ｘ線検出装置、およびＸ線回折装置 - 特許庁

An electron density distribution is found by applying the MEM structural analysis to an X-ray diffraction data obtained experimentally, and an X-ray diffraction data not observed is predicted based thereon to find the electrostatic potential.例文帳に追加

実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め，これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。 - 特許庁

The X-ray intensity data are improved by measuring diffraction X rays from the metallic phase contained in the plated layer at a plurality of positions to the same Debey ring and integrating the obtained diffraction X-ray intensity data.例文帳に追加

めっき層に含まれる金属相からの回折Ｘ線を、同一のデバイ環に対して複数の位置で測定し、得られる回折Ｘ線強度データを積算することにより、Ｘ線強度データを高める。 - 特許庁

METHOD OF FINDING EXPERIMENTALLY ELECTROSTATIC POTENTIAL BY MEM STRUCTURAL ANALYSIS OF X-RAY DIFFRACTION DATA OF CRYSTAL SUBSTANCE例文帳に追加

結晶物質のＸ線回折データのＭＥＭ構造解析により静電ポテンシャルを実験的に求める方法 - 特許庁

A calculator 19 detects a diffraction angle θ from an intensity distribution of the diffraction X-ray 5 measured by the detector 6, the diffraction angle when no influence of refraction of X-ray exists from the data of the angles α, θ is obtained, and an internal stress of the sample 3 is calculated base on the diffraction angle.例文帳に追加

算出部１９は、Ｘ線検出器６で測定された回折Ｘ線５の強度分布から回折角度θを検出し、入射角度αと回折角度θのデータから、Ｘ線の屈折による影響がないときの回折角度を求め、それに基づいて試料３の内部応力を算出する。 - 特許庁

One magnetic domain structural image data M_xy against one electron diffraction figure D_xy is calculated by performing the following (a)-(c) processing on each obtained electron diffraction figure D_xy.例文帳に追加

取得した電子回折図形Ｄ_ｘｙ毎に以下の（ａ）〜（ｃ）の処理を行って、１つの電子回折図形Ｄ_ｘｙに対して１つの磁区構造画像データＭ_ｘｙを求める。 - 特許庁

The processing device performs interpolation processing for pixel data (step S415) after correcting time information on pixel data based on the inclination angle θ of the diffraction image (step S413).例文帳に追加

処理装置は、回折像の傾斜角θに応じて、画素データの時間情報を補正した（ステップＳ４１３）後、画素データの補間処理を行う（ステップＳ４１５）。 - 特許庁