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final inspection processとは 意味・読み方・使い方
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「final inspection process」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 17件
The final process contains a complete vehicle inspection process 44 and the additional repair process 46.例文帳に追加
最終工程は完検工程４４と加修工程４６を含む。 - 特許庁
Final defect distributions on each substrate are sorted into defect-distribution patterns P1 and P2 by using final defect-distribution information in a final inspection process 10g.例文帳に追加
最終検査工程１０ｇにおける最終欠陥分布情報を用いて、各基板上の最終欠陥分布を欠陥分布パターンＰ１、Ｐ２毎に分類する。 - 特許庁
The substrate, similar to the layer defect distributions in the in-line inspection process 10e to the final defect distribution 26a, is extracted from the substrates through the in-line inspection process 10e.例文帳に追加
そのインライン検査工程１０ｅを経た基板の中から、その最終欠陥分布２６ａに対してそのインライン検査工程１０ｅでのレイヤ欠陥分布が類似しているような基板を抽出する。 - 特許庁
The sorted final defect distributions and layer defect distributions obtained by each in-line inspection process 10a, 10e and 10f are compared, respectively, and the in-line inspection process 10e obtaining the layer defect distributions (such as 31b) similar to the final defect distributions (such as 26a) is specified.例文帳に追加
分類された最終欠陥分布と各インライン検査工程１０ａ、１０ｅ、１０ｆによって得られたレイヤ欠陥分布とをそれぞれ比較して、最終欠陥分布（例えば２６ａ）に対して類似するレイヤ欠陥分布（例えば３１ｂ）が得られたインライン検査工程１０ｅを特定する。 - 特許庁
To set easily a criterion whereby such a frequency that the inconsistency between the inspection results obtained in an intermediate process and a final process is generated thereat approaches to an allowable value.例文帳に追加
中間工程における検査結果と最終工程における検査結果との間に不整合が生じる頻度が許容値付近までに収められるような判定基準値を、容易に設定できるようにする。 - 特許庁
A test lot P is selected from a batch A which finished a process 2, an epitaxial growth process and the test lot P is subjected to a process 3 to a final inspection process precedent to other lots of the batch A, and a finished product of a semiconductor laser device is manufactured.例文帳に追加
エピタキシャル成長工程である工程２を終えたバッチＡから、先行ロットＰを選択し、この先行ロットＰを、バッチＡの他のロットに先行して工程３から最終検査工程までを進ませて、半導体レーザ装置の完成品を製作する。 - 特許庁
In the final stage of a preparation of the APTT measuring reagent, i.e. an inspection process after the reagent is prepared, an inspection method for reflecting differences of measured values between the lots and/or between the vials is introduced.例文帳に追加
ＡＰＴＴ測定試薬調製の最終段階、つまり試薬製造後の検査工程において、ロット間及び／又はバイアル間における測定値の違いを反映しうる検査方法を導入することによる。 - 特許庁
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「final inspection process」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 17件
To provide a defect extraction method and a printed wiring board final appearance inspection device, supressing generation of false information due to fluctuation in manufacturing process for an object board to be inspected.例文帳に追加
被検査対象基板の製造工程のバラツキによる虚報の発生をおさえた欠陥抽出手法及びプリント配線板最終外観検査装置を提供すること。 - 特許庁
Consequently, the wafers for which burn-in inspection is performed in the final test process can be collected, and burn-in simplification can be performed efficiently.例文帳に追加
したがって、ファイナルテスト工程においてバーンイン検査を行なうべきウェハを１つのロットに集めることができ、バーンイン簡略を効率的に行なうことが可能となる。 - 特許庁
With respect to the substrates whose decision results of the inspection machine of a final soldering process are "good" and "faulty", the histograms of the positional discrepant quantities of the respective components are created which are measured in their positional-discrepant-quantity inspections.例文帳に追加
最終のはんだ付け工程の検査機の判定結果が「良」の基板、「不良」の基板について、それぞれ部品の位置ずれ検査で計測された位置ずれ量のヒストグラムを作成する。 - 特許庁
A method and device for manufacturing bearing are used for inspecting a cylindrical bearing 20 which becomes a slide bearing or dynamic bearing in the state of a single bearing or bearing unit in the inspection step of the final process.例文帳に追加
滑り軸受ないし動圧軸受となる円筒状の被検査軸受２０を、最終工程の検査工程で、軸受単体、または軸受ユニットの状態で検査する製造方法および装置である。 - 特許庁
To provide an electronic apparatus wherein a cover member can be fitted to an outer package member after the end of final inspection in the manufacturing process, and the cover member does not easily fall off after the fitting.例文帳に追加
製造工程上、最終検査が終わってからカバー部材を外装部材に取り付けることができ、かつ取り付けた後にカバー部材が簡単に抜けることがない電子機器を提供する。 - 特許庁
An acquisition apparatus 27 acquires a final adjustment value of a series of adjustments of the adjustment values s, z and adjustment values in a changing process up to the final adjustment value from the adjustment values s, z outputted at the inspection terminal 17, and transmits them to a storage device 29.例文帳に追加
取得装置２７は、検査用端子１７に出力されている調整値ｓ，ｚから、これらの調整値ｓ，ｚの一連の調整における最終調整値及びこの最終調整値に至るまでの変化の過程にある調整値を取得し、蓄積装置２９に送る。 - 特許庁
Faults of the electrode pattern and their locations are grasped by conducting appearance inspection immediately after formation of the electrode on a glass substrate, correction of the electrode is conducted standing on information obtained with the appearance inspection, then following formation process of each composing layer is executed, followed by a non-contact continuity test is performed as the final inspection before shipment.例文帳に追加
ガラス基板上に電極を形成した直後に外観検査を実施して電極パターンの欠陥及びその位置を把握し、その外観検査で得た情報を基にして電極の修正を実施し、それ以降の各構成層の形成工程を経た後に、出荷前の最終検査として非接触による電極の導通検査を行う。 - 特許庁
First, a measurement value obtained inaccurately from the parasitic components R1, R2 is compensated during a manufacturing process, such as an electrical final inspection in an electronic power circuit, regarding the current/temperature dependency or voltage dependency of the components.例文帳に追加
初めに、該寄生構成要素Ｒ１、Ｒ２から不正確に得られた測定値を、該構成要素の電流／温度依存性または電圧依存性に関して、製造工程（例えば、電子電力回路での電気系最終検査）中に補償する。 - 特許庁
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