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instruction defectとは 意味・読み方・使い方
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「instruction defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 20件
METHOD FOR SORTING DEFECT, DEVICE THEREFOR AND METHOD FOR GENERATING DATA FOR INSTRUCTION例文帳に追加
欠陥の分類方法およびその装置並びに教示用データ作成方法 - 特許庁
The picture element defect is moved into the visual field of the magnifying lens 11 in accordance with the approximate picture element defect coordinate determined by this picture element defect position instruction device 25 and the exact coordinate position is measured.例文帳に追加
絵素欠陥位置指示装置25を用いて求めた概略絵素欠陥座標に基づいて拡大レンズ11の視野内に絵素欠陥を移動させ、正確な座標位置を測定する。 - 特許庁
The control instruction value calculation part 32 re-sets the control instruction value which is output to the actuator 20 when a defect occurs in the actuator 20.例文帳に追加
そして、制御指令値算出部32は、アクチュエータ20に不具合が生じた場合に、アクチュエータ20に出力する制御指令値を再設定する。 - 特許庁
To provide an inspection method for normally fetching an instruction which is recorded in a rewritable non-volatile memory, and for inspecting before delivery a defect that the instruction is not performed.例文帳に追加
書き換え可能な不揮発性メモリに記録された命令を、正常に命令フェッチし実行できない不具合を、出荷前に検査する検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a radio frequency (RF) generator in which received data are stored for a predetermined time before receiving a defect instruction.例文帳に追加
不良指示を受信する前に所定時間の間、受信したデータを保存する無線周波発生器を提供する。 - 特許庁
When the good item indicating button 8 or the garbage instruction button 9 is selected, the inspecting device recognizes that the defect corresponding to the button selected causes no problem, and the inspecting result of the defect is changed from the defect to the good item.例文帳に追加
良品指示ボタン8あるいはごみ指示ボタン9が選択された場合、検査装置は、選択されたボタンに対応する欠陥を問題なしと認識して、この欠陥についての検査結果を欠陥から良品に変更する。 - 特許庁
To analyze the cause of an error if the execution of a test instruction sequence is stopped due to a processor logic defect or if an infinite loop is entered and no execution result is obtained.例文帳に追加
処理装置論理不良により試験命令列が実行停止、もしくは無限ループに陥り実行結果が得られない場合、エラー原因を解析する。 - 特許庁
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「instruction defect」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 20件
If the result of processing in a co-processor which receives a calculation instruction is not correct, the co-processor asserts an exceptional flag, and outputs it to a defect detection part.例文帳に追加
たとえば、演算命令を受信したコプロセッサでの処理結果が誤りである場合、そのコプロセッサは例外フラグをアサートし、不良検出部に出力する。 - 特許庁
When an instruction to start correction is sent, the main controller 65 reads thumbnail image data of all defect to be reviewed from the storage section 66 and outputs them to a display 7.例文帳に追加
修正開始の指示が出された場合、主制御部65は記憶部66から全てのレビュー対象欠陥のサムネイル画像データを読み出して、ディスプレイ7へ出力する。 - 特許庁
To certainly detect a defect part inside a program not rightly set with a protection section even if the program is a program wherein execution order of an instruction is not uniquely determined.例文帳に追加
命令の実行順序が一意に決まらないプログラムであっても、保護区間が正しく設定されていないプログラム中の欠陥箇所を確実に検出できるようにする。 - 特許庁
To provide an image processor capable of changing a setting value of a print parameter related to a drawing instruction when a defect occurs in a print image to be printed.例文帳に追加
印刷対象の印刷イメージに不具合が発生している場合に、描画に関する命令にかかわる印刷パラメータの設定値を変更することのできる画像処理装置を提供する。 - 特許庁
Redundancy definition data for realizing a redundancy function of a memory device including arrangement of spare cells in a memory device and position information of a defect relieving range in which defect is relived by the spare cells is preparing by using a programming language A including item names, operation equation, and a repeating instruction.例文帳に追加
メモリデバイスのリダンダンシ機能を実現するための、メモリデバイス内のスペアセルの配置と、このスペアセルによって救済される不良救済範囲の位置情報とを含むリダンダンシ定義データを、項目名、演算式および繰返し命令を含むプログラミング言語Aを用いて作成する。 - 特許庁
To provide a test having a function for finding out an instruction which is a factor, and an object function when an expected value and an executed result value are not matched and avoiding the occurrence of a defect caused by the same factor.例文帳に追加
期待値と実行結果値とが不一致の場合、要因となった命令及び対象機能を見つけ出し、同一要因による不良の発生を回避する機能を有する試験を提供する。 - 特許庁
A defect correction circuit 114 carrys out correction processing of a defective pixel on the basis of an instruction from a pixel detection circuit 113 and carrys out replacement processing of a pixel signal to an optional pixel designated from an operation section on the basis of pixel designation information set to the defect correction circuit 114 via a microcomputer 117.例文帳に追加
欠陥補正回路114は、画素検出回路113からの指示に基づいて欠陥画素の補正処理を行うとともに、マイクロコンピュータ117を介して欠陥補正回路114に設定された画素の指定情報に基づいて、操作部から指定された任意の画素に対して画素信号の置換処理を行う。 - 特許庁
When the defect is caused by a device 32, an instruction for stopping the shipment of the device 32 to terminals 10 to 1n in a factory 60 is transmitted and an advice for stopping of using is transmitted to terminals 2 to n at the customers B to N providing the device 32.例文帳に追加
また、デバイス32に不良原因がある場合、工場60の端末10〜1nへデバイス32の出荷停止命令を送信し、デバイス32を提供した客先B〜Nの端末2〜nへ使用中止勧告を送信する。 - 特許庁
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