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ion trackの意味・使い方・読み方 | Weblio英和辞書
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ion trackとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 イオントラック; イオン飛跡


「ion track」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 23



例文

Various kinds of ion generated at an ion source 1 are put on a revolving track P, differences of the target ion and the other kinds of ion are enlarged during the process of revolution, and unnecessary kinds of ion are discarded out of the track by a deflection electrode.例文帳に追加

イオン源1で発生させた各種イオンを周回軌道Pに乗せ、周回させる過程で目的イオンとそれ以外のイオンとの差を拡大させ、不要なイオンを偏向電極2により軌道P外に廃棄する。 - 特許庁

Performing the ion implantation twice by changing the tilt angle increases the probability for a first beam track to be different from a second beam track.例文帳に追加

チルト角度を変えてイオン注入を2回行えば、2回目のビーム軌跡は、1回目と異なる確率が高い。 - 特許庁

Besides, when recording is instructed, the CPU 11 records a voice inputted from a microphone on an empty track or ion a designated track.例文帳に追加

また、録音が指示されると、CPU11は、マイクから入力された音声を、空きトラック或いは指定されたトラックに記録する。 - 特許庁

The ion track is moved downward at every circling by the electric fields E_i and E_i'.例文帳に追加

イオン軌道は、偏向電場Ei,Ei’によって周回ごとに下方に移動して行く。 - 特許庁

Then, the substrates 1 and 2 having the track width regulating grooves 10 and 10 formed therein are placed to face an ion beam irradiation device, subjected to etching by ion beams, and the width L of the width deciding wall 32 is formed to be equal to the desired track width.例文帳に追加

次に、トラック幅規制溝10、10を形成した基板1、2を、イオンビーム照射装置に対向させ、イオンビームにてエッチング処理し、幅決め壁32の幅Lを所望のトラック幅に形成する。 - 特許庁

Both side faces of the 2nd pole part 220 are then subjected to ion milling to obtain a track width W21 smaller than the track width W20 by photolithography.例文帳に追加

次に、第2のポール部220の両側面に対し、イオンミリングを施して、フォトリソグラフィによるトラック幅W20から更に縮小されたトラック幅W21を得る。 - 特許庁

例文

To provide an ion analyzer, different from a conventional ion analyzer that uses a solid track detecting element, eliminating the need for preprocesings, and that enables high-speed reading.例文帳に追加

従来の固体飛跡検出素子を使用するイオン分析装置と異なりその前処理が不要で、しかも高速読み取りができるイオン分析装置を提供することにある。 - 特許庁

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ウィキペディア英語版での「ion track」の意味

「ion track」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 23



例文

Thereby, the target ion alone is left on the track with a high mass resolution, and a higher performance is realized with a function virtually equal to ion trapping.例文帳に追加

それによって高い質量分解能で以て目的イオンのみを軌道P上に残し、実質的にイオントラップと同様の機能で且つより一層高い性能を実現する。 - 特許庁

A detector 5 of an ion-nondestructive type is set on a go-around track A of ion, times of flight are measured for each round until the ion as an object for analysis goes around for N times, and time-of-flight spectra are made where a peak at each going around shows itself.例文帳に追加

イオンの周回軌道A上にイオン非破壊型の検出器5を設け、分析対象のイオンがN回周回するまでの周回毎に飛行時間を測定し、周回毎のピークが現れる飛行時間スペクトルを作成する。 - 特許庁

The spin torque generator having a self-matching structure may be formed using the same ion milling process for demarcating the track width.例文帳に追加

トラック幅を画定する同じイオンミリング工程を用いて、自己整合構造を有するスピントルク発振器を形成してもよい。 - 特許庁

Between the electric fields E_3 and E_4, deflection electric fields E_i and E_i' for shifting the ion track in parallel with the axial direction of the cylindrical electric fields are disposed.例文帳に追加

電場E3とE4の間には、イオン軌道を円筒電場の軸方向に平行にずらすための偏向電場Ei,Ei’が配置されている。 - 特許庁

A boundary condition is set on the basis of data of an ion track or the like (step S11), and a model expression is used to calculate voltage pulse width of an error signal (step S12).例文帳に追加

イオンの飛跡等のデータに基づいて、境界条件を設定し(ステップS11)、モデル式を使用してエラー信号の電圧パルス幅を計算する(ステップS12)。 - 特許庁

To solve the problems of both the correction of track disturbance of circulating ion beam in an accelerator and the improvement in cooling of an electron beam cooling device.例文帳に追加

加速器における周回イオンビームの軌道擾乱の補正と、電子ビーム冷却装置の冷却性能向上の両方の課題を解決することが要望されている。 - 特許庁

Then, the frame is removed and, further, the unnecessary part of the substrate film 21 other than a part present blow the track width defining layer 12a is removed by using dry etching such as ion milling.例文帳に追加

次に、フレームを除去し、更に、下地膜21のうち、トラック幅規定層12aの下に存在する部分以外の不要な部分をイオンミリング等のドライエッチングを用いて除去する。 - 特許庁

例文

Thereby, when an unnecessary ion beam 11B is collided to a vertical wall surface 30 of a constitution particle of a wall surface generated accompanying with this is deposited on a surface of the protection plate 27 without flying toward the track of an ion beam 11A selected.例文帳に追加

これにより、不要なイオンビーム11Bが突出壁部28の垂直壁面30に衝突したとき、これに伴って発生する壁面の構成粒子などの不純物32が、選択したイオンビーム11Aの軌道に向かって飛来することなく保護板27の表面に堆積する。 - 特許庁

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