irradiation defectsとは 意味・読み方・使い方

To provide a measuring device for a beam irradiation heating resistance change inspecting the defects of a sample, or the like, for supplying a large current.例文帳に追加

大電流を供給する試料などの欠陥の検査を行うことができるビーム照射加熱抵抗変化測定装置を提供する。 - 特許庁

Through the above heat treatment, crystalline defects generated by the proton irradiation can be restored and protons present in the crystal can be converted to donors when irradiated.例文帳に追加

上記熱処理により、プロトンの照射により生じた結晶欠陥は回復し、なおかつ、照射されて結晶中に存在するプロトンがドナー化する。 - 特許庁

At the irradiation step, an irradiation condition for ions of light elements or electron beams is so set that the content of a silicon cluster may exceed 0.06 times the content of carbon-oxygen composite defects in the region to be irradiated with ions of light elements or electron beams.例文帳に追加

この照射工程では、前記照射対象領域においてシリコンクラスタの含有量が炭素−酸素複合欠陥の含有量の０．０６倍を超えるように、軽元素イオン又は電子線の照射条件を設定する。 - 特許庁

To obtain a weld zone free of welding defects and also superior in mechanical characteristics by controlling the relation between the irradiation position and the welding speed of a high energy beam.例文帳に追加

高エネルギービームの照射位置と溶接速度との関係をコントロールすることによって、溶接欠陥がなく、しかも、機械的性質に優れた溶接部を得ることができる。 - 特許庁

By carrying out reflow of the silica glass around the concave failure heated by the irradiation of the carbon oxide gas laser 21, and the concave defects buried in, the optical surface 11 is planarized.例文帳に追加

炭酸ガスレーザ２１の照射により加熱された凹欠点の周囲の石英ガラスがリフローして凹欠点が埋まることによって、光学面１１が平滑化される。 - 特許庁

A plurality of slits of various forms corresponding to various shapes of defects is previously prepared, and irradiation of laser beams of these shapes is collectively performed to form a conductive film.例文帳に追加

あらかじめ種々の欠陥形状に合わせたスリット形状を複数用意しておき、その形状で一括してレーザー光を照射して導電膜を形成する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor element capable of preventing variations in an amount of carbon impurity defects due to variations in an amount of charged particle irradiation.例文帳に追加

本発明は、荷電粒子照射量のばらつきによる炭素不純物欠陥量のばらつきを防止できる半導体素子の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A potential contrast image is acquired to detect defects, in a state of enhancing an electric resistance difference between a normal part and a defective part sufficiently, taking advantage of the electric charges induced by irradiation with an electron beam.例文帳に追加

電子ビーム照射による帯電を利用し、正常部と欠陥部の電気抵抗値の差を十分増大させた状態で電位コントラスト像を取得し、欠陥を検出する。 - 特許庁