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JP3513793B2 - Tape structure for pressure bonding - Google Patents
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JP3513793B2 - Tape structure for pressure bonding - Google Patents

Tape structure for pressure bonding

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JP3513793B2
JP3513793B2 JP36574997A JP36574997A JP3513793B2 JP 3513793 B2 JP3513793 B2 JP 3513793B2 JP 36574997 A JP36574997 A JP 36574997A JP 36574997 A JP36574997 A JP 36574997A JP 3513793 B2 JP3513793 B2 JP 3513793B2
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flexible film
bonding
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semiconductor chip
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浩徳 小野
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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  • Wire Bonding (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、半導体装置の製
造の際に該半導体装置の保護のために半導体チップの表
面に保護層を形成するためのフレキシブルフィルムを圧
着する際に用いられる圧着介在用テープ構造に関するも
のである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pressure-bonding interposition used when pressure-bonding a flexible film for forming a protective layer on a surface of a semiconductor chip for protection of the semiconductor device during manufacturing of the semiconductor device. It relates to the tape structure.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の信頼性を向上させるために
は、耐熱性や耐湿性などを備えさせることが必要とな
り、そのためには半導体チップの表面を保護層で被覆す
ることが行なわれている。この保護層には熱接着性樹脂
層を備えたフレキシブルフィルムが用いられ、半導体チ
ップとこのフレキシブルフィルムとを加熱しながら圧着
することにより半導体チップを保護層で被覆する。この
加熱圧着に際しては、加熱圧着装置の加熱ステージ上に
載置された半導体チップ付きフレキシブルフィルムのフ
レキシブルフィルム側から加圧ヘッドを押圧して行な
う。このとき、フレキシブルフィルムに直接加圧ヘッド
を押し付けると、圧着した際に熱によって加圧ヘッドに
フレキシブルフィルムが密着してしまい、加圧ヘッドを
降温させなければフレキシブルフィルムを剥離させるこ
とができないので、作業性が劣っていた。このため、加
圧ヘッドとフレキシブルフィルムとの間にポリイミドや
シリコンゴム、テフロンシートなどによる単層の介在用
テープを介在させて行なっていた。
2. Description of the Related Art In order to improve the reliability of a semiconductor device, it is necessary to provide it with heat resistance and moisture resistance. For that purpose, the surface of a semiconductor chip is covered with a protective layer. . A flexible film having a heat-adhesive resin layer is used as the protective layer, and the semiconductor chip and the flexible film are pressure-bonded while being heated to cover the semiconductor chip with the protective layer. The thermocompression bonding is performed by pressing the pressure head from the flexible film side of the flexible film with a semiconductor chip placed on the heating stage of the thermocompression bonding apparatus. At this time, if the pressure head is directly pressed against the flexible film, the flexible film adheres to the pressure head due to heat when pressure-bonded, and the flexible film cannot be peeled off unless the temperature of the pressure head is lowered. Workability was poor. Therefore, a single layer intervening tape made of polyimide, silicon rubber, Teflon sheet or the like is interposed between the pressure head and the flexible film.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の圧着介在用テープ構造では、次のような問題が
生じるおそれがある。半導体チップ1の表面はフレキシ
ブルフィルム2に覆われるが、このフレキシブルフィル
ム2は、図4に示すように、ベースフィルム部2aに回路
3が組み込まれ、これをカバーフィルム2bで覆ってあ
る。このフレキシブルフィルム2の上から介在用テープ
4を被せ、加圧ヘッド5を押し当てて圧着する。このた
め、フレキシブルフィルム2が半導体チップ1の表面に
対して大きな凹凸が生じている場合には、加圧ヘッド5
を押し当てた場合であっても回路3による凹凸がフレキ
シブルフィルム2を半導体チップ1の表面に密着させる
際の邪魔となって、フレキシブルフィルム2と半導体チ
ップ1との間に密着されない部分が生じてしまうおそれ
がある。この密着されない部分が生じる原因は、図4
(a)に示すように、半導体チップ1とフレキシブルフィ
ルム2と間に大きな凹凸がある場合のほか、同図(b)に
示すように、加圧ヘッド5と半導体チップ1などとの平
行が保たれていない状態での加熱圧着作業が行なわれた
場合などがある。
However, the above-described conventional pressure-bonding intervening tape structure may cause the following problems. The surface of the semiconductor chip 1 is covered with a flexible film 2, and the flexible film 2 has a circuit 3 incorporated in a base film portion 2a and is covered with a cover film 2b as shown in FIG. The flexible tape 2 is covered with the interposing tape 4, and the pressure head 5 is pressed against the pressure-sensitive adhesive to press it. Therefore, when the flexible film 2 has large irregularities on the surface of the semiconductor chip 1, the pressure head 5
Even when pressing, the unevenness due to the circuit 3 becomes an obstacle when the flexible film 2 is adhered to the surface of the semiconductor chip 1, and a part which is not adhered is generated between the flexible film 2 and the semiconductor chip 1. There is a risk that The cause of this non-adhered portion is shown in FIG.
As shown in (a), in addition to the case where there is a large unevenness between the semiconductor chip 1 and the flexible film 2, as shown in (b) of the same figure, the pressure head 5 and the semiconductor chip 1 are kept parallel to each other. In some cases, the thermocompression bonding work is performed in the state where the product is not dripping.

【0004】また、図5に示すように、半導体チップ1
とフレキシブルフィルム2とを仮接合部2cで仮接合させ
て加熱圧着装置の加熱ステージ6上に載置し、フレキシ
ブルフィルム2と加圧ヘッド5との間に介在させる介在
用テープ4として硬度50のシリコンゴムを用いた場合に
は、シリコンゴムの弾性変形や熱膨張によってフレキシ
ブルフィルム2に、該フレキシブルフィルム2を延べ広
げる方向の力が作用する。ところが、フレキシブルフィ
ルム2は上記仮接合部2cで半導体チップ1に仮接合され
ているから、この仮接合部2cが上記力に抗することにな
り、仮接合部2cの近傍でフレキシブルフィルム2に皺な
どが発生するおそれがある。しかも、この際に発生した
皺は以後の工程において修正することができない。
Further, as shown in FIG. 5, the semiconductor chip 1
And the flexible film 2 are temporarily joined at the temporary joining portion 2c and placed on the heating stage 6 of the thermocompression bonding apparatus, and the intervening tape 4 having the hardness of 50 is interposed between the flexible film 2 and the pressure head 5. When silicon rubber is used, a force in the direction of expanding the flexible film 2 acts on the flexible film 2 due to elastic deformation or thermal expansion of the silicon rubber. However, since the flexible film 2 is temporarily bonded to the semiconductor chip 1 at the temporary bonding portion 2c, the temporary bonding portion 2c resists the force, and the flexible film 2 is wrinkled near the temporary bonding portion 2c. May occur. Moreover, the wrinkles generated at this time cannot be corrected in the subsequent steps.

【0005】そこで、この発明は、半導体チップとフレ
キシブルフィルムとを加熱圧着する際にこれら半導体チ
ップとフレキシブルフィルムとに密着されない部分を生
じさせず、またフレキシブルフィルムに皺が発生するの
を抑制することができる圧着介在用テープ構造を提供す
ることを目的としている。
Therefore, according to the present invention, when the semiconductor chip and the flexible film are heated and pressure-bonded, a portion which is not adhered to the semiconductor chip and the flexible film is not generated, and wrinkles are prevented from being generated on the flexible film. It is an object of the present invention to provide a tape structure for pressure-bonding intervention.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの技術的手段として、この発明に係る圧着介在用テー
プ構造は、熱接着性樹脂層を有するフレキシブルフィル
ムを半導体チップに加圧ヘッドで押圧して加熱圧着する
際に、フレキシブルフィルムと加圧ヘッドの間に介在さ
せる圧着介在用テープ構造において、流動性を備える流
動層を、耐熱性を有する合成樹脂による伝熱層で挟んだ
構造を備えていることを特徴としている。
As a technical means for achieving the above object, the tape structure for press-bonding interposition according to the present invention has a flexible film having a heat-adhesive resin layer applied to a semiconductor chip as a pressure head. In the pressure-bonding intervening tape structure that is interposed between the flexible film and the pressure head when pressing and thermocompression bonding, a structure in which a fluidized layer having fluidity is sandwiched between heat transfer layers made of heat-resistant synthetic resin It is characterized by having.

【0007】加熱ステージ上に半導体チップを載置し、
その上にフレキシブルフィルムを被せてこの圧着介在用
テープを被せる。その上から加圧ヘッドを押し付けて、
加熱圧着する。圧着時には前記流動層の流動性によって
フレキシブルフィルムや回路などの形状に応じて変形
し、フレキシブルフィルムを均一に加圧し、その熱接着
性によって半導体チップに均一に密着して接着される。
このため、密着されない部分が生じることがない。
A semiconductor chip is placed on the heating stage,
A flexible film is covered on this, and this tape for press-bonding is covered. Press the pressure head from above,
Apply heat and pressure. At the time of pressure bonding, the fluidity of the fluidized layer deforms according to the shape of the flexible film or the circuit, the flexible film is uniformly pressed, and its thermal adhesiveness evenly adheres to the semiconductor chip.
For this reason, there will be no part that is not adhered.

【0008】また、この発明に係る圧着介在用テープ構
造は、前記伝熱層の肉厚を前記流動層の表裏において変
更し、前記加圧ヘッドに接触する側の伝熱層を厚肉のも
のとしたことを特徴としている。
Further, in the tape structure for pressure-bonding interposition according to the present invention, the thickness of the heat transfer layer is changed between the front and back sides of the fluidized bed, and the heat transfer layer on the side in contact with the pressure head is thick. It is characterized by

【0009】加圧ヘッドに肉厚の伝熱層を接触させるこ
とにより、熱圧着される際の該伝熱層の変形が少なく、
また加熱、加圧された場合に加圧ヘッドからの剥離性が
良好なものとなる。そして、フレキシブルフィルムに薄
肉の伝熱層を接触させることによって、流動層と共に容
易に変形し、フレキシブルフィルムの表面形状に馴染
み、しかも熱膨張と弾性率が小さいためフレキシブルフ
ィルムを延べ広げる方向への力の作用がほとんどなく、
フレキシブルフィルムに皺が発生することを抑制する。
By bringing the thick heat transfer layer into contact with the pressure head, deformation of the heat transfer layer during thermocompression bonding is small,
Further, when heated and pressed, the peelability from the pressing head becomes good. Then, by contacting the flexible film with a thin heat transfer layer, it is easily deformed together with the fluidized bed and conforms to the surface shape of the flexible film, and since the thermal expansion and elastic modulus are small, the force in the direction of spreading the flexible film Has almost no effect,
Suppresses wrinkles on the flexible film.

【0010】また、請求項2の発明に係る圧着介在用テ
ープ構造は、前記流動層を加熱によって流動性を備える
合成樹脂で構成したことを特徴としている。
The pressure-bonding intervening tape structure according to the invention of claim 2 is characterized in that the fluidized bed is made of synthetic resin having fluidity by heating.

【0011】半導体チップとフレキシブルフィルムの圧
着時に、前記流動層が加熱されてその粘性が低下して流
動性を増加される。圧着作業が終了して降温すると粘性
が復元されて、フレキシブルフィルムを覆った状態とな
る。
When the semiconductor chip and the flexible film are pressure-bonded, the fluidized bed is heated to lower its viscosity and increase its fluidity. When the pressure-bonding work is completed and the temperature is lowered, the viscosity is restored and the flexible film is covered.

【0012】また、請求項3の発明に係る圧着介在用テ
ープ構造は、前記流動層をシリコン系粘着剤によって構
成したことを特徴としている。
Further, the tape structure for press-bonding interposition according to the invention of claim 3 is characterized in that the fluidized layer is constituted by a silicon-based adhesive.

【0013】さらに、請求項4の発明に係る圧着介在用
テープ構造は、前記伝熱層をポリイミド樹脂によって構
成したことを特徴としている。
Further, the tape structure for press-bonding interposition according to the invention of claim 4 is characterized in that the heat transfer layer is made of a polyimide resin.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、図示した好ましい実施の形
態に基づいて、この発明に係る圧着介在用テープ構造を
具体的に説明する。図1はこの発明に係る圧着介在用テ
ープ10の断面図で、第1伝熱層11と第2伝熱層12との間
に流動層13が挟持された3層構造を備えている。第1伝
熱層11と第2伝熱層12は、いずれもポリイミド樹脂によ
って構成されており、この実施形態では東レデュポン社
製カプトン(商品名)を使用している。そして、第1伝
熱層11の肉厚を第2伝熱層12の肉厚よりも大きくしてあ
る。前記流動層13は、加熱されると粘性が低下して流動
性を備える材質によって構成されており、より好ましく
は時間経過と共に降温して適宜に硬化する材質を選定す
ることがよく、この実施形態ではシリコン系粘着剤を使
用している。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The tape structure for pressure-bonding interposition according to the present invention will be specifically described below based on the illustrated preferred embodiments. FIG. 1 is a sectional view of a pressure-bonding intervening tape 10 according to the present invention, which has a three-layer structure in which a fluidized layer 13 is sandwiched between a first heat transfer layer 11 and a second heat transfer layer 12. The first heat transfer layer 11 and the second heat transfer layer 12 are both made of a polyimide resin, and Kapton (trade name) manufactured by Toray DuPont is used in this embodiment. The thickness of the first heat transfer layer 11 is made larger than the thickness of the second heat transfer layer 12. The fluidized bed 13 is made of a material that has a fluidity by decreasing its viscosity when heated, and it is more preferable to select a material that is appropriately hardened by lowering the temperature over time. Uses a silicone adhesive.

【0015】図3はこの圧着介在用テープ10を使用して
半導体チップ1とフレキシブルフィルム2とを圧着する
加熱圧着装置20の概略を示す図で、ベッド21の上には傾
斜機構22を介して下側ヒータブロック23が設けられてお
り、この下側ヒータブロック23の上に加熱ステージ24が
設けられている。この加熱ステージ24には上面には吸着
孔24a が設けられており、この吸着孔24a が図示しない
吸引装置に連通させてある。加熱ステージ24の載置され
た半導体チップ1は吸着孔24a から吸引され、該加熱ス
テージ24に吸着される。加熱ステージ24の上方には加圧
ヘッド25が上側ヒータブロック26の下部に固定されて配
されている。上側ヒータブロック26は加圧のための圧力
を検出する荷重計27の下部に固定されており、この荷重
計27は駆動腕28の先端部に取り付けられている。
FIG. 3 is a schematic view of a thermocompression bonding apparatus 20 for crimping the semiconductor chip 1 and the flexible film 2 using the pressure-bonding intervening tape 10. The bed 21 has a tilting mechanism 22 on it. A lower heater block 23 is provided, and a heating stage 24 is provided on the lower heater block 23. An adsorption hole 24a is provided on the upper surface of the heating stage 24, and the adsorption hole 24a communicates with a suction device (not shown). The semiconductor chip 1 on which the heating stage 24 is mounted is sucked from the suction holes 24a and sucked by the heating stage 24. A pressure head 25 is fixedly arranged below the upper heater block 26 above the heating stage 24. The upper heater block 26 is fixed to a lower portion of a load meter 27 that detects pressure for pressurization, and the load meter 27 is attached to a tip end portion of a drive arm 28.

【0016】前記駆動腕28の基端部にはスライダ部29が
設けられており、フレーム30に鉛直に掛け渡された回動
自在な駆動スクリュー31とこのスライダ部29とが螺合し
ている。駆動スクリュー31の上端部には適宜な変速機構
を介して駆動用モータ32が連繋している。したがって、
この駆動用モータ32が作動すると駆動スクリュー31が回
動し、これと螺合したスライダ部29が上下方向に移動す
る。この移動によって駆動腕28を介してスライダ部29に
連繋している前記加圧ヘッド25が同方向に移動し、下降
した場合には前記加熱ステージ24と協働してこれら加熱
ステージ24と加圧ヘッド25との間に配した半導体チップ
1やフレキシブルフィルム2が加熱押圧されることにな
る。
A slider portion 29 is provided at the base end portion of the drive arm 28, and a rotatable drive screw 31 vertically suspended on the frame 30 and the slider portion 29 are screwed together. . A drive motor 32 is connected to the upper end of the drive screw 31 via an appropriate speed change mechanism. Therefore,
When the drive motor 32 operates, the drive screw 31 rotates, and the slider portion 29 screwed with the drive screw 31 moves in the vertical direction. By this movement, the pressure head 25 linked to the slider portion 29 via the drive arm 28 moves in the same direction, and when the pressure head 25 descends, it cooperates with the heating stage 24 to apply pressure to the heating stage 24. The semiconductor chip 1 and the flexible film 2 arranged between the head 25 and the head 25 are heated and pressed.

【0017】図2は、半導体チップ1とフレキシブルフ
ィルム2とを圧着するために前記加熱ステージ24にこれ
らを載置し、前記加圧ヘッド25を下降させた状態を示す
図である。フレキシブルフィルム2は、半導体チップ1
に接着されるベースフィルム部2aに回路3が組み込ま
れ、これにカバーフィルム2bが被せられて構成されてい
る。半導体チップ1はこのフレキシブルフィルム2に粘
着されて供給され、これに圧着介在用テープ10が被せら
れて、この圧着介在用テープ10の上から加圧ヘッド25で
これらを加熱押圧するようにしてある。このとき、圧着
介在用テープ10は肉厚側である前記第1伝熱層11が加圧
ヘッド25に臨むように配する。
FIG. 2 is a view showing a state in which the semiconductor chip 1 and the flexible film 2 are placed on the heating stage 24 for pressure bonding, and the pressure head 25 is lowered. The flexible film 2 is the semiconductor chip 1
The circuit 3 is incorporated in the base film portion 2a which is adhered to, and the cover film 2b is covered on the circuit 3. The semiconductor chip 1 is supplied while being adhered to the flexible film 2 and covered with the pressure-bonding intervening tape 10 so that the pressure-bonding head 25 heats and presses them on the pressure-bonding intervening tape 10. . At this time, the pressure-bonding intervening tape 10 is arranged so that the first heat transfer layer 11 on the thick side faces the pressure head 25.

【0018】以上により構成したこの発明に係る圧着介
在用テープ構造の実施形態について、その作用を以下に
説明する。
The operation of the embodiment of the pressure-bonding intervening tape structure according to the present invention constructed as described above will be described below.

【0019】前述したように、加熱ステージ24上に載置
され吸着孔24a で吸引されることにより加熱ステージ24
の表面に吸着された半導体チップ1とフレキシブルフィ
ルム2とに圧着用介在テープ10を被せ、加圧ヘッド25を
下降させてこれらを押圧し、適宜な圧力を加える。この
とき、加熱ステージ24と加圧ヘッド25とによって圧着介
在用テープ10を加熱する。この熱が伝熱層11から流動層
13に伝達されると流動層13の粘性が低下して流動性を備
えることになる。流動層13の流動性によって流動層13が
フレキシブルフィルム2の表面形状に沿って変形するこ
とになる。伝熱層12は薄肉で形成されているから、この
伝熱層12も流動層13の変形に伴われてフレキシブルフィ
ルム2の表面に馴染んで変形する。この状態で加熱押圧
されるから、半導体チップ1とフレキシブルフィルム2
とが全域に亙って均等に加圧されると共に加熱され、こ
れらが確実に密着して、密着されない部分が生じること
がない。そして、加熱されることによりフレキシブルフ
ィルム2の熱接着性樹脂層が接着性を発揮して、半導体
チップ1と接着されることになる。
As described above, the heating stage 24 is placed on the heating stage 24 and sucked by the suction holes 24a.
The semiconductor chip 1 and the flexible film 2 adsorbed on the surface of the are covered with the interposition tape 10 for pressure bonding, and the pressure head 25 is lowered to press them, and an appropriate pressure is applied. At this time, the pressure intervening tape 10 is heated by the heating stage 24 and the pressure head 25. This heat is transferred from the heat transfer layer 11 to the fluidized bed.
When the fluidized bed 13 is transmitted to the fluidized bed 13, the viscosity of the fluidized bed 13 is reduced to provide fluidity. The fluidity of the fluidized bed 13 causes the fluidized bed 13 to deform along the surface shape of the flexible film 2. Since the heat transfer layer 12 is formed to be thin, the heat transfer layer 12 is also deformed by conforming to the deformation of the fluidized layer 13 on the surface of the flexible film 2. In this state, the semiconductor chip 1 and the flexible film 2 are heated and pressed.
And are evenly pressed and heated over the entire area, and they are surely brought into close contact with each other, and there is no occurrence of a non-closed portion. Then, by being heated, the thermoadhesive resin layer of the flexible film 2 exhibits adhesiveness and is bonded to the semiconductor chip 1.

【0020】半導体チップ1とフレキシブルフィルム2
との加熱圧着後に加圧ヘッド25を上昇させる。加圧時の
加圧ヘッド25には圧着介在用テープ10の第1伝熱層11が
密着しており、この第1伝熱層11は厚肉で形成されて、
適宜な剛性を有しているから、加圧ヘッド25の表面から
容易に剥離させることができる。また、圧着介在用テー
プ10をフレキシブルフィルム2から剥離させる。このた
め、該圧着用介在テープ10とフレキシブルフィルム2の
カバーフィルム2bとは、これらの剥離性が良好となるよ
うな材質を選択する。
Semiconductor chip 1 and flexible film 2
The pressure head 25 is raised after the thermocompression bonding with. The first heat transfer layer 11 of the pressure-bonding intervening tape 10 is in close contact with the pressurizing head 25 at the time of pressurization, and the first heat transfer layer 11 is formed to be thick,
Since it has appropriate rigidity, it can be easily peeled from the surface of the pressure head 25. Moreover, the tape 10 for pressure interposition is peeled off from the flexible film 2. For this reason, the pressure-bonding intervening tape 10 and the cover film 2b of the flexible film 2 are selected from materials that have good releasability between them.

【0021】そして、この実施形態では、この第1伝熱
層11に約50μmのポリイミド樹脂を使用しており、良
好な剥離性が得られた。また第2伝熱層12は、前述した
ように、流動層13の流動性に対応してフレキシブルフィ
ルム2の表面形状に応じて適宜に変形することができる
程度の肉厚であることが望ましく、本実施形態では約2
5μmのポリイミド樹脂を使用したところ、半導体チッ
プ1とフレキシブルフィルム2とを確実に密着させるこ
とができた。しかも、半導体チップ1とフレキシブルフ
ィルム2との圧着後にこの圧着介在用テープ10をフレキ
シブルフィルム2から容易に剥離させることができた。
また、流動層13には、前述したように加熱時に流動性を
備えることが望ましく、経時して適宜に硬化するもので
あればさらに好ましい。本実施形態では、この流動層13
に肉厚を約45μmとしたシリコン系粘着剤を使用した
ところ、フレキシブルフィルム2の表面形状に応じて変
形し、前記第2伝熱層12を適宜に変形させることができ
て、半導体チップ1とフレキシブルフィルム2とを確実
に密着させることができた。
In this embodiment, a polyimide resin having a thickness of about 50 μm is used for the first heat transfer layer 11, and good peelability is obtained. Further, as described above, the second heat transfer layer 12 is preferably thick enough to be appropriately deformed according to the surface shape of the flexible film 2 in accordance with the fluidity of the fluidized layer 13, In this embodiment, about 2
When the polyimide resin of 5 μm was used, the semiconductor chip 1 and the flexible film 2 could be surely brought into close contact with each other. Moreover, after the semiconductor chip 1 and the flexible film 2 are pressure-bonded, the pressure-bonding intervening tape 10 could be easily peeled off from the flexible film 2.
Further, it is desirable that the fluidized bed 13 has fluidity when heated as described above, and it is more preferable that the fluidized bed 13 is appropriately hardened over time. In the present embodiment, this fluidized bed 13
When a silicon-based adhesive having a thickness of about 45 μm is used as the semiconductor chip 1, the second heat transfer layer 12 can be appropriately deformed by being deformed according to the surface shape of the flexible film 2. The flexible film 2 could be surely brought into close contact.

【0022】また、この圧着介在用テープ10は、圧着時
に流動層から流動体が漏洩した場合であってもフレキシ
ブルフィルム2に付着してしまうことがないように、圧
着させるべき半導体チップ1を十分に包含できる程度の
面積であることが望ましい。
Further, the pressure-bonding intervening tape 10 has a sufficient amount of the semiconductor chip 1 to be pressure-bonded so that it does not adhere to the flexible film 2 even if the fluid leaks from the fluidized layer during pressure-bonding. It is desirable that the area be such that it can be included in

【0023】さらに、熱圧着を行なう準備として、この
圧着介在用テープ10を約160℃で数十秒間加熱し乾燥
させることが好ましい。これは、流動層が吸湿している
場合には、これを加熱圧着装置に供して加熱した場合、
急激な温度変化によって発泡するおそれがあり、加圧ヘ
ッド25から加えられた圧力が緩衝されてしまい、フレキ
シブルフィルム2を半導体チップ1に均一に密着させら
れなくなってしまうおそれがあるからである。
Further, as a preparation for thermocompression bonding, it is preferable to heat the pressure-bonding intervening tape 10 at about 160 ° C. for several tens of seconds to dry it. This is because when the fluidized bed absorbs moisture, when it is heated in a thermocompression bonding apparatus,
This is because foaming may occur due to a sudden temperature change, the pressure applied from the pressure head 25 may be buffered, and the flexible film 2 may not be brought into close contact with the semiconductor chip 1 uniformly.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上説明したように、この発明に係る圧
着介在用テープ構造によれば、伝熱層の間に流動性を有
する流動層を挟んだ3層構造としたから、加熱圧着時に
この流動層の流動性によって半導体チップに被せられた
フレキシブルフィルムの形状に応じて変形する。この状
態で、この圧着介在用テープを介してフレキシブルフィ
ルムと半導体チップとを加熱圧着するから、フレキシブ
ルフィルムに均一に加圧でき、これらを確実に密着した
状態で接着させることができる。
As described above, according to the tape structure for pressure interposition according to the present invention, the three-layer structure in which the fluidized layer having fluidity is sandwiched between the heat transfer layers is used. The fluidity of the fluidized bed causes the flexible film to be deformed according to the shape of the flexible film covered with the semiconductor chip. In this state, the flexible film and the semiconductor chip are thermocompression-bonded through the pressure-bonding intervening tape, so that the flexible film can be uniformly pressed and can be securely adhered to each other.

【0025】また、請求項2の発明に係る圧着介在用テ
ープ構造によれば、加圧ヘッドには厚肉の伝熱層が接触
するから、圧着作業の終了後において該伝熱層を加圧ヘ
ッドから容易に剥離することができる。またフレキシブ
ルフィルムには薄肉の伝熱層を接触させるから、前記流
動層の変形に応じて該伝熱層が容易に変形する。このた
め、該伝熱層がフレキシブルフィルムの表面形状に合致
して変形して、フレキシブルフィルムをその全域に亙っ
て均等に加圧することができる。
Further, according to the tape structure for pressure-bonding interposition according to the invention of claim 2, since the thick heat transfer layer comes into contact with the pressure head, the heat transfer layer is pressed after completion of the pressure bonding work. It can be easily peeled off from the head. Further, since the thin film heat transfer layer is brought into contact with the flexible film, the heat transfer layer is easily deformed according to the deformation of the fluidized bed. Therefore, the heat transfer layer is deformed in conformity with the surface shape of the flexible film, and the flexible film can be uniformly pressed over the entire area.

【0026】また、請求項3の発明に係る圧着介在用テ
ープ構造によれば、流動層は加熱されることによって流
動性を備えるため、この圧着用介在テープの保管の際な
どには流動性を有していないので、その管理が簡便とな
る。
Further, according to the tape structure for pressure-bonding interposition according to the third aspect of the present invention, since the fluidized bed has fluidity by being heated, the fluidity of the fluid-bonded tape is maintained when the pressure-bonding interposition tape is stored. Since it does not have it, its management becomes simple.

【0027】また、請求項4の発明に係る圧着介在用テ
ープ構造によれば、流動層が加熱されることによって流
動性を備え、フレキシブルフィルムと半導体チップとを
確実に密着させることができる。
According to the tape structure for pressure-bonding interposition according to the fourth aspect of the present invention, the fluidized layer is provided with fluidity by being heated, and the flexible film and the semiconductor chip can be reliably brought into close contact with each other.

【0028】さらに、請求項5の発明に係る圧着介在用
テープ構造によれば、特に加圧ヘッド側を厚肉にした構
成と相俟って、圧着後に加圧ヘッドから容易に剥離する
ことができ、またフレキシブルフィルム側を薄肉にした
構成と相俟って、熱膨張及び弾性率が小さくなり、フレ
キシブルフィルムを延べ広げる方向への力を抑制でき、
フレキシブルフィルムに皺が発生するのを防止すること
ができる。
Further, according to the tape structure for pressure-bonding interposition according to the invention of claim 5, in combination with the structure in which the pressure head side is made thicker, the tape structure can be easily peeled from the pressure head after pressure bonding. In addition, in combination with the structure in which the flexible film side is thin, thermal expansion and elastic modulus are reduced, and it is possible to suppress the force in the direction in which the flexible film is expanded.
It is possible to prevent wrinkles from occurring on the flexible film.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明に係る構造を備えた圧着介在用テープ
の断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a pressure-bonding intervening tape having a structure according to the present invention.

【図2】この発明に係る構造を備えた圧着介在用テープ
によってフレキシブルフィルムと半導体チップとを圧着
する状態を説明する概略図で、一部を切断して示してあ
る。
FIG. 2 is a schematic view for explaining a state in which a flexible film and a semiconductor chip are pressure-bonded by a pressure-bonding intervening tape having a structure according to the present invention, a part of which is cut and shown.

【図3】半導体チップとフレキシブルフィルムとの圧着
を行なう加熱圧着装置の一例の概略図である。
FIG. 3 is a schematic view of an example of a thermocompression bonding apparatus for bonding a semiconductor chip and a flexible film to each other.

【図4】従来の圧着作業の際の問題を説明するための図
で、図2に相当する一部断面図である。
FIG. 4 is a view for explaining a problem in the conventional crimping work, and is a partial cross-sectional view corresponding to FIG.

【図5】従来の圧着作業の際の問題を説明するための図
で、図2に相当する一部断面図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining a problem in the conventional crimping work, and is a partial cross-sectional view corresponding to FIG. 2.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体チップ 2 フレキシブルフィルム 10 圧着介在用テープ 11 第1伝熱層 12 第2伝熱層 13 流動層 20 加熱圧着装置 24 加熱ステージ 25 加圧ヘッド 1 semiconductor chip 2 flexible film 10 Crimping tape 11 First heat transfer layer 12 Second heat transfer layer 13 Fluidized bed 20 Thermocompression bonding equipment 24 heating stage 25 pressure head

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】熱接着性樹脂層を有するフレキシブルフィ
ルムを半導体チップに加圧ヘッドで押圧して加熱圧着す
る際に、フレキシブルフィルムと加圧ヘッドの間に介在
させる圧着介在用テープ構造において、流動性を備える
流動層を、耐熱性を有する合成樹脂による伝熱層で挟ん
だ構造を備え、 前記伝熱層の肉厚を前記流動層の表裏
において変更し、前記加圧ヘッドに接触する側の伝熱層
を厚肉のものとしたことを特徴とする圧着介在用テープ
構造。
1. When a flexible film having a heat-adhesive resin layer is pressed against a semiconductor chip by a pressure head to heat-compress it, a flow is generated in a tape structure for pressure-bonding interposed between the flexible film and the pressure head. A fluidized bed having heat resistance is sandwiched between heat transfer layers made of heat-resistant synthetic resin , The thickness of the heat transfer layer is set to the front and back of the fluidized bed.
The heat transfer layer on the side in contact with the pressure head
Tape for press-fitting interposition, characterized in that
Construction.
【請求項2】前記流動層を加熱によって流動性を備える
合成樹脂で構成したことを特徴とする請求項1に記載の
圧着介在用テープ構造。
2. The tape structure for pressure-bonding interposition according to claim 1, wherein the fluidized bed is made of synthetic resin having fluidity when heated.
【請求項3】前記流動層をシリコン系粘着剤によって構
成したことを特徴とする請求項1ないし請求項2のいず
れかに記載の圧着介在用テープ構造。
3. A process according to claim 1 or claim 2 noise, characterized in that the fluidized bed constituted by a silicon-based adhesive
The tape structure for press-bonding intervention described therein.
【請求項4】前記伝熱層をポリイミド樹脂によって構成
したことを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれ
かに記載の圧着介在用テープ構造。
4. Any of claims 1 to 3, characterized in that the heat transfer layer was composed of the polyimide resin
The tape structure for pressure-bonding interposition according to Crab .
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